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Revista Integración

 ISSN 0120-419X

ARANGO, Jaime; JIMENEZ, Juan    SALAZAR, Andrés. Puntos críticos y simetrías en problemas elípticos. []. , 35, 1, pp.1-9. ISSN 0120-419X.  https://doi.org/10.18273/revint.v35n1-2017001.

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Se estima una cota superior para el número de puntos críticos de la solución de un problema semilineal elíptico con condición de Dirichlet nula en el borde de un dominio planar. El resultado se obtiene en dominios simétricos con respecto a una recta y convexos en la dirección ortogonal a la misma.

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In this paper we estimate an upper bound for the number of critical points of the solution to a semilinear elliptic problem with vanishing Dirichlet condition on a bounded planar domain. The result is obtained assuming that the domain is symmetric with respect to a line and convex in the orthogonal direction to the line of symmetry.

^len

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