Abstract

AMAVA, Álvaro A. et al. Uso de la espectroscopia fotoelectrónica de rayos X como una herramienta analítica para el estudio de la contaminación por teflón en la síntesis de catalizadores Mo(VI)Cl₂O₂Bipy/TiO₂. Rev.Colomb.Quim. [online]. 2022, vol.51, n.2, pp.11-15.  Epub Jan 12, 2024. ISSN 0120-2804.  https://doi.org/10.15446/rev.colomb.quim.v51n2.101969.

La preparación de catalizadores puede contener diversas fuentes de contaminación, las cuales pueden afectar seriamente las propiedades de los materiales preparados. En este artículo se estudió un caso de contaminación con flúor en una serie de muestras de catalizadores. Empleando la técnica de espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS) se evidenció la presencia de flúor en la superficie de los materiales, el cual estaba asociado al polímero teflón, ya que su energía de enlace correspondía principalmente con la de la especie CF2. Además, empleando la señal C 1s, se logró corroborar la presencia de la especie CF2, el cual está asociado al componente principal de las cadenas carbonadas de teflón. El uso de la información obtenida por XPS permitió determinar que durante la deshidratación del solvente (paso previo para la obtención de los catalizadores en el cual se emplean solventes orgánicos y alta temperatura) se podría estar llevando a cabo la contaminación con teflón, ya que este componente está presente en diversos accesorios empleados en el proceso de deshidratación, siendo la cinta de teflón y el agitador magnético las posibles fuentes de contaminación.

Keywords : Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X; Teflón; Síntesis de catalizadores.

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