Abstract

AMAVA, Álvaro A. et al. Uso da espectroscopia fo-toeletrônica de raios X como ferramenta analítica para o estudo da contaminação por teflon na síntese de catalisadores Mo(VI)Cl₂O₂Bi-py/TiO₂. Rev.Colomb.Quim. [online]. 2022, vol.51, n.2, pp.11-15.  Epub Jan 12, 2024. ISSN 0120-2804.  https://doi.org/10.15446/rev.colomb.quim.v51n2.101969.

A preparação de catalisadores pode conter diversas fontes de contaminação, as quais podem afeitar seriamente as propriedades dos materiais preparados. No presente trabalho estudou-se um caso de contaminação com flúor numa série de amostras de catalisadores. Usando a técnica da espectroscopia fotoeletrônica de raios X (XPS), evidenciou-se a presença de flúor na superfície dos materiais, o qual estava associado ao polímero Teflon, já que sua energia de ligação correspondia principalmente à da espécie CF2. Além disso, usando a sinal C 1s, foi possível corroborar a presença do grupo CF2, o qual está associado ao componente principal das cadeias carbônicas do Teflon. O uso da informação obtida por XPS permitiu determinar que durante a desidratação do solvente (passo prévio para a obtenção dos catalisadores no qual são usados solventes orgânicos e alta temperatura) tem-se a contaminação com Teflon, já que este componente está presente em diversos acessórios utilizados no processo de desidratação, sendo a fita do Teflon e o agitador magnético as possíveis fontes da contaminação.

Keywords : espectroscopia fotoeletrônica de raios X; Teflon; síntese de catalisadores.

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