Resumo

BOTERO-LONDONO, Mónica A et al. Desarrollo de una aplicación para determinar constantes ópticas en películas delgadas semiconductoras no homogéneas. Ing. compet. [online]. 2022, vol.24, n.2, e21711553.  Epub 26-Maio-2022. ISSN 0123-3033.  https://doi.org/10.25100/iyc.v24i2.11553.

En este trabajo se presenta el diseño y desarrollo de una aplicación de software útil en el estudio de las propiedades ópticas de materiales semiconductores, mediante el cual es posible conocer si las películas delgadas semiconductoras sintetizadas son adecuadas para la fabricación de dispositivos semiconductores. Utilizando el algoritmo desarrollado, basado en los métodos de Swanepoel, se logra estimar constantes ópticas de películas semiconductoras no homogéneas tales como: coeficiente de absorción (α), índice de refracción (n) y brecha de energía prohibida (Eg); además, se estima la variación del espesor en ellas. Esta aplicación tiene como insumo la información en las curvas de transmitancia espectral resultantes de procedimientos experimentales. Se encontró que la aplicación propuesta ofrece un alto grado de confiabilidad y que, por tanto, se puede usar para estudiar las propiedades de películas delgadas semiconductoras que se utilicen en la fabricación de dispositivos semiconductores en diversas aplicaciones, entre ellas las energías limpias y renovables como son las celdas solares.

Palavras-chave : Software; Materiales semiconductores; Película delgada; Constantes ópticas.

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