Resumen

RIOS GRIEGO, JOHN HENRY. DISEÑO DE UN PLAN DE MUESTREO SIMPLE POR ATRIBUTOS EN BUSCA DE UN OPTIMO SOCIAL. Dyna rev.fac.nac.minas [online]. 2011, vol.78, n.169, pp.53-61. ISSN 0012-7353.

Los planes de muestreo simple son una de las herramientas empleada en la industria para aceptar o rechazar lotes. Normalmente, los parámetros necesarios -riesgo del productor y riesgo del consumidor, y nivel aceptable de calidad y el nivel límite de calidad- son asignados por cada uno productor o consumidor buscando su beneficio personal. Tomar decisiones en esta forma no tiene en cuenta el daño que un producto no-conforme genera a la sociedad, por ejemplo el daño producido por una maquina defectuosa al operador. En el presente estudio desarrollamos un modelo que combina planes de muestreo simple por atributo con la carta de control del número de productos no-conformes. El modelo maximiza el bienestar social encontrando políticas óptimas de precio, tamaño de muestra y número de aceptación. Esta metodología permite identificar cambios inesperados en el proceso de producción e implementar planes de recuperación de clientes afectados por adquirir productos no-conformes. Finalmente, nuestra metodología también permite implementar planes de mejora continua.

Palabras clave : Optimización; Cartas de control; Planes de muestreo simple; Actualización Bayesiana; Programación dinámica.

        · resumen en Inglés     · texto en Inglés     · Inglés ( pdf )