Resumen

PINA-MONARREZ, Manuel R.; RAMOS-LOPEZ, Miriam L.; ALVARADO-INIESTA, Alejandro  y  MOLINA-ARREDONDO, Rey D.. Tamaño de muestra robusta para planes de demostración weibull. Dyna rev.fac.nac.minas [online]. 2016, vol.83, n.197, pp.52-57. ISSN 0012-7353.  https://doi.org/10.15446/dyna.v83n197.44917.

La eficiencia de un plan de demostración Weibull está completamente determinada por el tiempo total de experimentación (T_a) el cual depende del tamaño de muestra desconocido (n) y del parámetro de forma Weibull (b). De esa forma, una vez que b fue seleccionada, T_a depende sólo de n. Desafortunadamente, debido a que n es estimada a través del método binomial paramétrico, entonces si el nivel de confianza C es mayor de 0.63, n y como consecuencia T_a, son sobre-estimados (para C<0.63, estos son subestimados). Por otro lado, en este artículo, debido a que la intersección entre n y b, para la cual T_a es única, se encontró con n dependiendo sólo de R(t), entonces la estimación de T_a es óptima. Por otro lado, dado que una vez que b fue seleccionada, h está completamente determinada, entonces b y h fueron utilizadas para incorporar los tiempos de falla esperados del nivel operacional en un análisis de prueba de vida acelerada (ALT). Aplicaciones numéricas son dadas.

Palabras clave : Planes de demostración Weibull; Rachas exitosas; Desigualdad de lipson; Pruebas de vida acelerada.

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