Resumo

ARANGO, Jaime; JIMENEZ, Juan  e  SALAZAR, Andrés. Puntos críticos y simetrías en problemas elípticos. Integración - UIS [online]. 2017, vol.35, n.1, pp.1-9. ISSN 0120-419X.  https://doi.org/10.18273/revint.v35n1-2017001.

Se estima una cota superior para el número de puntos críticos de la solución de un problema semilineal elíptico con condición de Dirichlet nula en el borde de un dominio planar. El resultado se obtiene en dominios simétricos con respecto a una recta y convexos en la dirección ortogonal a la misma.

Palavras-chave : Principio del máximo; puntos críticos; componentes conexas; simetría.

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