SciELO - Scientific Electronic Library Online

 
vol.29 issue3The behaviour of a historic masonry arch bridge regarding dynamic loadsA response surface model allowing nitrogen concentration to affect organic waste-derived compost author indexsubject indexarticles search
Home Pagealphabetic serial listing  

Services on Demand

Article

Indicators

Related links

  • On index processCited by Google
  • Have no similar articlesSimilars in SciELO
  • On index processSimilars in Google

Share


Ingeniería e Investigación

Print version ISSN 0120-5609

Abstract

AVILA BERNAL, Alba Graciela  and  BONILLA OSORIO, Ruy Sebastián. Estudio de superficies usando un microscopio de efecto túnel (STM). Ing. Investig. [online]. 2009, vol.29, n.3, pp.121-127. ISSN 0120-5609.

Los microscopios de barrido se han convertido en las manos y los "ojos" de experimentadores de nuestro siglo, son herramientas necesarias en los laboratorios de educación e investigación para la caracterización a nanoescalas. El presente artículo presenta las modificaciones en la implementación electrónica (caracterización de los piezoeléctricos y sistema de barrido) y mecánica (diseño de un sistema de antivibración) de un microscopio de barrido de efecto túnel que han permitido visualización y modificación de superficies a nanoescala. Se describe una metodología para la correcta visualización y caracterización de superficies usando el instrumento implementado, alcanzando la cuantificación bidimensional de características de hasta 1300nm2, con resolución ~15nm. Esta metodología, determinada experimentalmente, tiene en cuenta parámetros críticos para la estabilización de la corriente túnel, como lo son la velocidad de barrido y las geometrías y dimensiones de las agujas del microscopio. La versatilidad del microscopio permite modificar y visualizar los defectos introducidos en muestras de HOPG al aplicar voltajes entre la punta del microscopio y la muestra. Los resultados aquí descritos permiten presentar fácilmente los conceptos de barrido topográfico y litografía.

Keywords : STM; efecto túnel; piezoeléctrico; control PI; bias; histéresis; deriva.

        · abstract in English     · text in Spanish     · Spanish ( pdf )

 

Creative Commons License All the contents of this journal, except where otherwise noted, is licensed under a Creative Commons Attribution License