Resumo

VELASCO, L; OLAYA, J. J  e  RODRIGUEZ-BARACALDO, R. Resistencia a la corrosión y microestructura de recubrimientos de Nb_xSi_yN_z depositadas con el sistema UBM. Ing. Investig. [online]. 2012, vol.32, n.3, pp.10-13. ISSN 0120-5609.

En este trabajo se produjeron recubrimientos nanoestructurados de Nb_xSi_yN_z sobre acero inoxidable AISI 304 mediante la técnica del UBM (unbalanced magnetrón - sputtering con magnetrón desbalanceado), variando el contenido de Si, y se evaluó su resistencia frente al fenómeno corrosivo por medio de la técnica de polarización potenciodinámica en una solución al 3% de NaCl. La microestructura de los recubrimientos se analizó por medio de XRD (X ray diffraction - difracción de rayos X), SEM (scanning electron microscopy - microscopia electrónica de barrido) y microscopia láser confocal. La composición química se identificó con la técnica XRF (X ray fluorescence - fluorescencia de rayos X). Como resultado las tasas de depósito se incrementaron con la adición de Si, además se observó un cambio en la microestructura para contenidos superiores a 5% de Si, mediante la transición de un recubrimiento cristalino a amorfo. Finalmente, los resultados de corrosión sugieren que los recubrimientos con un alto contenido de silicio tienen un mejor comportamiento frente a la corrosión del sistema.

Palavras-chave : Corrosión; Difracción; Espectroscopia; Fluorescencia; Microestructura; Microscopia; race track; Rayos X; Recubrimientos; Sputtering; Polarización.

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