Abstract

SINISTERRA, Santiago; CAMARGO-AMADO, Rubén; TRIVINO, Diego  and  MACHUCA-MARTINEZ, Fiderman. Metodología para la elaboración de análisis de patentes y ciclo de madurez tecnológica. Rev. Fac. ing. [online]. 2023, vol.32, n.63, pp.4-4.  Epub July 11, 2023. ISSN 0121-1129.  https://doi.org/10.19053/01211129.v32.n63.2023.14299.

El análisis de patentes y el comportamiento de la tecnología en el tiempo han despertado un gran interés en las instituciones y compañías debido a que sirve como una guía en la toma de decisiones sobre proyectos de investigación e innovación. Basados en lo anterior, una metodología que busca guiar al lector en la elaboración de este tipo de estudios, tanto el cuerpo del documento como su interpretación. Se utilizaron dos softwares para describir la extracción de datos de patentes Orbit Intelligence (Software licenciado) y Lens (Versión de acceso libre) y se presentó la información obtenida a partir del uso de la ecuación de búsqueda. Para el análisis del ciclo de madurez tecnológica se utilizó el modelo logístico y se ejecutó en el algoritmo Loglet Lab 4 para obtener la curva de crecimiento S. Finalmente, se proponen los parámetros de Yoon para dar un concepto predictivo del comportamiento de la tecnología en el tiempo. El caso de estudio que se tomó como ejemplo fue la tecnología de “Superficies antibacteriales y autolimpiantes a base TiO2/ZnO”. Al aplicar esta metodología, se encontró que la fase de madurez en la que se encuentra la tecnología de interés sugiere un alto impacto en el mercado. Este indicador importante para la toma de decisiones enfocadas a la investigación y desarrollo. De acuerdo con lo planteado, la metodología expuesta es una herramienta que permite presentar un concepto más acertado sobre las proyecciones futuras de una tecnología, basadas en el análisis de datos de patentes. No obstante, es importante tener en cuenta las tendencias del mercado y la situación sociopolítica.

Keywords : análisis de patentes; ciclo de madurez tecnológica; forecasting; Lens; Orbit; Loglet Lab 4.

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