Abstract

MESA, F; BALLESTEROS, V  and  DUSSAN, A. Cálculo de constantes ópticas de películas delgadas de Cu₃BiS₃ a través del método de Wolfe. Univ. Sci. [online]. 2014, vol.19, n.2, pp.123-131. ISSN 0122-7483.

Se calculó la obtención de las constantes ópticas usando el método de Wolfe. Dichas contantes: coeficiente de absorción (α), índice de refracción (n) y espesor de una película delgada (d), son de importancia en el proceso de caracterización óptica del material. Se realizó una comparación del método del Wolfe con el método empleado por R. Swanepoel. Se desarrolló un modelo de programación no lineal con restricciones, de manera que fue posible estimar las constantes ópticas de películas delgadas semiconductoras, a partir únicamente, de datos de transmisión conocidos. Se presentó una solución al modelo de programación no lineal para programación cuadrática. Se demostró la confiabilidad del método propuesto, obteniendo valores de α = 10378.34 cm-1, n = 2.4595, d =989.71 nm y Eg = 1.39 Ev, a través de experimentos numéricos con datos de medidas de transmitancia espectral en películas delgadas de Cu₃BiS₃.

Keywords : Películas delgadas de Cu₃BiS₃; constantes ópticas; método de Wolfe.

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