Abstract

MESA, F; BALLESTEROS, V  and  DUSSAN, A. Calculou-se de constantes óticas de películas finas de Cu₃BiS₃ através do método de Wolfe. Univ. Sci. [online]. 2014, vol.19, n.2, pp.123-131. ISSN 0122-7483.

Calculou-se a obtenção de constantes óticas utilizando o método de Wolfe. Estas constantes: coeficiente de absorção (α), índice de refração (n) e espessura de uma película fina (d), são importantes no processo de caracterização ótica do material. Realizou-se uma comparação do método de Wolfe com o método utilizado por R. Swanepoel. Desenvolveu-se um modelo de programação não linear com restrições, de modo que foi possível estimar as constantes óticas de películas finas semicondutores, a partir unicamente, de dados de transmissão conhecidos. Apresentou-se uma solução ao modelo de programação não linear para programação quadrática. Mostrou-se a confiabilidade do método proposto, obtendo valores de α = 10378.34 cm-1, n = 2.4595, d =989.71 nm y Eg = 1.39 Ev, através de experiências numéricas com dados de medidas de transmissão espectral em películas finas de Cu₃BiS₃.

Keywords : Películas finas de Cu₃BiS₃; constantes ópticas; método de Wolfe.

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