Abstract

BAUTISTA RUIZ, Jorge Hernando; APERADOR CHAPARRO, William  and  PENA RODRIGUEZ, Gabriel. Caracterización de recubrimientos sintetizados por el método de los precursores poliméricos. Tecnura [online]. 2012, vol.16, n.31, pp.45-53. ISSN 0123-921X.

Se conformaron películas cerámicas del sistema SiO2-TiO2 sintetizadas por el método de los precursores poliméricos a partir del Tetraethylorthosilicate (TEOS), y Titaniumtetrabutoxide (TBT), un ácido hidroxicarboxílico (ácido cítrico) y alcohol polihidroxílico (etilenglicol). Las películas fueron depositadas, en monocapa, sobre sustratos de ace ro AISI 304 mediante la técnica de inmersión (dipcoating). Se utilizaron como concentraciones de los precursores Si (silicio) 10% Ti (titanio) 90%, Si 30% Ti 70% y Si 50% Ti 50% que conforman el sistema. Se estudió la influencia de los recubrimientos sobre el comportamiento anticorrosivo del sustrato en una solución de ácido clorhídrico (HCI), mediante la técnica de Espectroscopia de Impedancia Electroquímica (EIS). Adicionalmente, se evaluó la topografía por Microscopía Electrónica de Barrido (SEM) y de adhesión de los recubrimientos al sustrato. Se encontró que los valores de los parámetros estudiados cambian sustancialmente en función de las concentraciones de los precursores empleados en la síntesis.

Keywords : Análisis electroquímico; microscopía electrónica; revestimientos protectores; síntesis química.

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