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Ciencia e Ingeniería Neogranadina

Print version ISSN 0124-8170

Abstract

PEREZ TABORDA, Jaime Andrés; RIASCOS LANDAZURI, Henry; JIMENEZ GARCIA, Francy Nelly  and  CAICEDO ANGULO, Julio César. ANÁLISIS ESTRUCTURAL Y MORFOLÓGICO DE PELÍCULAS DE NITRURO DE ALUMINIO OBTENIDAS POR DEPOSICIÓN DE LÁSER PULSADO. Cienc. Ing. Neogranad. [online]. 2010, vol.20, n.2, pp.107-115. ISSN 0124-8170.

En este trabajo, se presentan los resultados preliminares de películas nanoestructuradas de nitruro de aluminio (AIN), que fueron depositadas con el método de deposición por láser pulsado (PLD). Al efecto, se utilizó un láser Nd:YAG (λ=1064nm), que impacto un blanco de aluminio de alta pureza (4N), en una atmósfera de nitrógeno. Se utilizaron como sustratos portaobjetos de vidrio, Si3N4 (100) y Si (100). El tiempo de deposición fue de 15 minutos a una fluencia del láser 7 J/cm2 y a temperatura ambiente. El espesor de las películas fue de 50 nm medido con un perflómetro. Para estudiar la influencia del nitrógeno en las películas delgadas de AIN, se varió la presión del gas ambiente entre (3 y 4) mTorr. Igualmente se estudió la influencia del sustrato en las propiedades morfológicas de las películas delgadas de AIN. La nanoestructura de las películas se determinó mediante microscopia electrónica de barrido (SEM), y microscopia de fuerza atómica (AFM); la composición química, utilizando la técnica de espectroscopía de rayos X por dispersión de energía (EDX). La estructura cristalina fue estudiada con difracción de rayos X (DRX), para la película de 4 mTorr sobre un sustrato de Si3N4 (100), y se encontró una estructura policristalina con reflexiones de los planos (002), asociados a la estructura tipo wurtzita del AIN.

Keywords : nitruro de aluminio (AIN); deposición por láser pulsado (PLD); DRX; SEM; EDX; perflómetro; AFM.

        · abstract in English     · text in Spanish     · Spanish ( pdf )

 

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