Abstract

DUSSAN CUENCA, Anderon; QUIROZ GAITAN, Heiddy Paola  and  SENA GAIBAO, Neyder Jesús. IDENTIFICACIÓN DE UNA NUEVA FASE EN LA ESTRUCTURA CRISTALINA DEL COMPUESTO CUATERNARIO Cu₂ZnSnSe₄ DURANTE LA ETAPA INCORPORACIÓN DEL ZnSe. Rev.EIA.Esc.Ing.Antioq [online]. 2014, n.spe1, pp.25-29. ISSN 1794-1237.

En este trabajo se presenta un estudio de las propiedades estructurales de películas delgadas del compuesto Cu₂ZnSnSe₄ variando tanto la masa (M_X) como la temperatura del sustrato al cual fue evaporado (T_s) el compuesto binario ZnSe. Todas las muestras fueron depositadas por el método de co-evaporación en tres etapas y manteniendo constante los demás parámetros. A partir de las medidas de difracción de Rayos x fue posible establecer con el incremento de la T_s la presencia de fases binarias asociadas al compuesto cuaternario durante el proceso de crecimiento del material. Se encontró que alrededor del pico principal, 2θ = 27,1°, predominan las fases binarias y la presencia del ZnSe que se forma durante la subsecuente etapa de selenización del material. Una especie de bifurcación en el pico principal (2θ = 27,1°) fue observado para la transición entre M_ZnSe = 0,153 g a 0,171 g. Medidas de difracción de rayos x fueron realizadas al compuesto binarios puro, observándose una correspondencia con los picos encontrados alrededor del pico principal del compuesto. Un estudio a través de espectroscopia Raman evidenció corrimientos raman asociados a los compuestos binarios observados por XRD. A partir de la ecuación de Scherrer se encontró que los tamaños de los cristalitos variaban entre 80 y 90 nm.

Keywords : propiedades estructurales; Rayos X; compuestos cuaternarios.

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