Resumo

QUIROZ GAITAN, Heiddy Paola; LOPEZ OSPINA, Sandra Marcela; CALDERON COMBITA, Jorge Arturo  e  DUSSAN CUENCA, Anderon. MEDIÇÕES DE TRANSMITÂNCIA ESPECTRAL SEM A PRESENÇA DE FRANJAS DE INTERFERÊNCIA: UM MODELO PARA OBTENÇÃO DE CONSTANTES ÓPTICAS DE FILMES FINOS EM SEMICONDUTORES. Rev.EIA.Esc.Ing.Antioq [online]. 2014, n.spe1, pp.61-67. ISSN 1794-1237.

Apresenta-se um modelo para a obtenção das constantes ópticas dos filmes finos de semicondutores quando não é possível observar franjas de interferência no espectro. Obtenção das constantes ópticas, tais como o coeficiente de absorção (α), o índice de refracção (n) o coeficiente de extinção (k) e as propriedades físicas como a largura do fosso proibido «Gap» (por exemplo) e a espessura da Filme (d), foram obtidos para os filmes finos de composto Cu₂ZnSnSe₄ pela desconvolução dos espectros experimental. Para a análise das medidas de transmitância foi tomado como o modelo básico de Bhattacharyya e os elementos básicos da teoria de Sweneapoel. O modelo aqui apresentado leva em conta as considerações de heterogeneidade no filme e da rugosidade da superfície. Os valores para as constantes ópticas obtidas pelo modelo proposto mostrou concordância com os obtidos para as amostras da teoria Sweneapoel sempre que possível implementação. Uma variação de ± 6 % foi observada para valores de espessura, os quais foram corroborados através da realização de medições de perfilometria.

Palavras-chave : filmes finos; propriedades ópticas; semicondutores.

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