SciELO - Scientific Electronic Library Online

 
vol.12 número23Uso de herramientas tecnológicas en el desarrollo de un curso de Matemáticas 1 en la Universidad Tecnológica de PereiraAnálisis modal de material compuesto de resina bioepoxy/fibra de fique índice de autoresíndice de materiabúsqueda de artículos
Home Pagelista alfabética de revistas  

Servicios Personalizados

Revista

Articulo

Indicadores

Links relacionados

  • En proceso de indezaciónCitado por Google
  • No hay articulos similaresSimilares en SciELO
  • En proceso de indezaciónSimilares en Google

Compartir


Entre Ciencia e Ingeniería

versión impresa ISSN 1909-8367

Resumen

YACUB, B.; PATRON, G.; AGAMEZ, M. E.  y  ACEVEDO, D.. Estilos de aprendizagem e sua relação com a repetição e atrasos acadêmicos em Biomédica, Eletrônica e Industrial Engenharia. Entre Ciencia e Ingenieria [online]. 2018, vol.12, n.23, pp.72-77. ISSN 1909-8367.  https://doi.org/10.31908/19098367.3705.

Este trabalho teve como objetivo estabelecer a relação estilos de aprendizagem com repetição e atraso acadêmica de programas estudantis de Engenharia Biomédica, Eletrônica e Industrial. Foi aplicado questionário CHAEA a uma amostra de 69 alunos matriculados no período 2016-1, de modo a identificar os estilos de aprendizagem predominantes. Para estabelecer níveis de repetência escolar e atraso acadêmico foram consultados dados do relatório acadêmicas disponíveis na instituição. A correlação de Pearson foi usada para obter os resultados da relação entre estilos de aprendizagem com repetição e atraso acadêmico. Os resultados mostraram que, em termos de estilos de aprendizagem seguido nesta ordem: alta preferência por estilo teórica e preferência moderada tanto estilos ativos, pensativo e pragmáticas. Além disso, encontrado uma relação estatisticamente significativa entre atraso e repetição académica.

Palabras clave : CHAEA; ensino superior; estilos de aprendizagem; lag; coeficiente de correlação de Pearson.

        · resumen en Español | Inglés     · texto en Español     · Español ( pdf )