SciELO - Scientific Electronic Library Online

 
vol.79 número175EFECTOS ESTRUCTURALES EN EL SEMICONDUCTOR INSB, POR LA APLICACIÓN DE DIFERENTES MÉTODOS DE PRESIÓNVERIFICACIÓN DE TRANSPORTE DE TRAZADOR RADIACTIVO USANDO UN COEFICIENTE FUNCION DEL TIEMPO EN CAUCES NATURALES índice de autoresíndice de materiabúsqueda de artículos
Home Pagelista alfabética de revistas  

Servicios Personalizados

Revista

Articulo

Indicadores

Links relacionados

  • En proceso de indezaciónCitado por Google
  • No hay articulos similaresSimilares en SciELO
  • En proceso de indezaciónSimilares en Google

Compartir


DYNA

versión impresa ISSN 0012-7353

Dyna rev.fac.nac.minas vol.79 no.175 Medellín sep./oct. 2012