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<article-title xml:lang="es"><![CDATA[EFECTO DE LAS FORMAS DE ONDAS DE CORRIENTE PULSANTE EN LA ELECTRODEPOSITACIÓN DE NANOCRISTALES]]></article-title>
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<abstract abstract-type="short" xml:lang="en"><p><![CDATA[A mathematical model has been developed for describing the effect of pulse current wave forms on size and hardness of electroplated nanocrystals. The model relates in a direct form the typical wave variables (frequency, duty cycle and peak current) with harness of generated deposits by means of direct current and by four pulse current wave forms: rectangular, ramp up, ramp down and triangular. The results of the model were evaluated for duty cycles of 20 and 80%, with frequencies of 50 and 150 Hz and peak currents of 4 and 8 kA/m².The model predicts that small increases in the concentration overpotential drives to increase the nucleation rate significantly, diminishing the growth of the nanocrystals and generating a hardness increase. The increase of the duty cycle and the wave’s frequency produces a behavior increasingly close to that produced by direct current, with a diminution in the nanocrystals hardness. Any modification in the waveform variables that increases the peak current produces higher hardness values.]]></p></abstract>
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</front><body><![CDATA[ <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><font size="4">EFECTO DE LAS  FORMAS DE ONDAS DE CORRIENTE PULSANTE EN LA ELECTRODEPOSITACIÓN DE  NANOCRISTALES</font></b></font></p>     <p align="center"><i><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>EFFECT  OF PULSE CURRENT WAVEFORMS IN NANOCRYSTALLYNE ELECTRODEPOSITION</b></font></i></p>     <p align="center">&nbsp;</p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>JAROL MOLINA</b>    <br> </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><i>Universidad Nacional de Colombia, Facultad de Minas, Medellín, <a href="mailto:jemolina@unal.edu.co">jemolina@unal.edu.co</a></i></font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>BIBIAN  HOYOS</b>    <br> </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><i>Universidad Nacional de Colombia, Escuela de Procesos y Energía, Medellín,  <a href="mailto:bahoyos@unal.edu.co">bahoyos@unal.edu.co</a></i> </font></p>     <p align="center">&nbsp;</p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Recibido para revisar febrero 18 de  2008, aceptado junio 18 de 2008, versión final julio 2 de 2008</b></font></p>     <p>&nbsp;</p> <hr>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>RESUMEN: </b>Se desarrolló un  modelo matemático para establecer el efecto que tiene la forma de las ondas de  corriente pulsante en el tamaño y dureza de nanocristales electrodepositados. El modelo relaciona de forma directa las  variables típicas de las ondas (frecuencia, ciclo de trabajo y corriente pico)  con la dureza de los depósitos generados mediante corriente continua y con  cuatro tipos de ondas de corriente pulsante: rectangular, rampa ascendente,  rampa descendente y triangular. Se  evaluaron los resultados del modelo para ciclos de trabajo de 20 y 80%, con  frecuencias de 50 y 150 Hz y corrientes pico de 4 y 8 kA/m<sup>2</sup>. El  modelo predice que pequeños aumentos en el sobrepotencial de concentración  incrementan significativamente la velocidad de nucleación, disminuyen el  crecimiento de los nanocristales y generan un aumento en la dureza. El aumento  del ciclo de trabajo y la frecuencia de las ondas produce un comportamiento  cada vez más cercano al producido por la corriente continua, con una  disminución en la dureza de los nanocristales. Cualquier modificación en las  variables de las ondas, que tenga como consecuencia el incremento de la  corriente pico, produce valores de dureza más altos. </font></p>       <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>PALABRAS CLAVE</b>: Ondas de corriente, electrodepositación, nucleación,  crecimiento, Modelo matemático. </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>ABSTRACT: </b>A  mathematical model has been developed for describing the effect of pulse current wave  forms on size and hardness of electroplated nanocrystals. The model relates in  a direct form the typical wave variables (frequency, duty cycle and peak  current) with harness of generated deposits by means of direct current and by  four pulse current wave forms: rectangular, ramp up, ramp down and triangular.  The results of the model were evaluated for duty cycles of 20 and 80%, with  frequencies of 50 and 150 Hz and peak currents of 4 and 8 kA/m<sup>2</sup>.The  model predicts that small increases in the concentration overpotential drives  to increase the nucleation rate significantly, diminishing the growth of the  nanocrystals and generating a hardness increase. The increase of the duty cycle  and the wave’s frequency produces a behavior increasingly close to that produced by direct current, with a diminution  in the nanocrystals hardness. Any modification in the waveform variables that  increases the peak current produces higher hardness values. </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>KEY WORDS:</b> Pulse current,  electroplating, nucleation, growth, Mathematical model. </font></p> <hr>     <p>&nbsp;</p>     <p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>1. INTRODUCCIÓN</b></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Las investigaciones teóricas y experimentales para  mejorar el proceso de electrodepositación han conducido a la propuesta de  emplear técnicas como la electrodepositación por pulsos de corriente, sobre la  cual existe un gran interés en la comunidad científica por comprender y  explicar fenómenos como la formación, crecimiento y </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">coalescencia de los núcleos [1-3]. Estudios de los mecanismos  de nucleación instantánea y progresiva cuando hay control mixto de  transferencia de carga y difusión [4,5] son ejemplos típicos de investigaciones  que se realizan alrededor de este proceso para mejorar su comprensión.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Se ha mostrado que el empleo de pulsos de corriente  conduce al aumento en la pureza de nanocristales [6], con depósitos más  homogéneos y de mayor densidad [7]. Esta técnica también se emplea, entre otras  aplicaciones, en la fabricación de películas delgadas de alta dureza [8], en la  electrodepositación de compuestos como Ni-Co [9] y Ni-SiC [10,11] y en la  fabricación de electrodos para celdas de combustible obteniéndose excelentes  desempeños [12].</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">En los últimos años ha aumentado la investigación encaminada  a producir metales policristalinos y aleaciones de alta dureza mediante la  reducción del tamaño de grano empleando corriente pulsante [9-12]. Como  resultado de esto, se han llegado a producir industrialmente depósitos  metálicos y aleaciones con tamaños de grano inferiores a 5 mm y con técnicas especiales de electrodepositación  se han alcanzado tamaños de grano entre 10 y 20 nm [13]. Este tipo de  materiales de tamaño fino se han denominado indistintamente como  nanocristalinos, nanoestructurados o ultrafinos. Sin embargo, Hansen [13] propuso  recientemente una clasificación para estos materiales teniendo en cuenta sus  diferencias estructurales: cuando los granos están claramente delimitados y no  se presenta prácticamente ninguna dislocación entre ellos, el material se  clasifica como nanocristalino, mientras que materiales con ángulos de borde pequeños  o con una mezcla de ángulos de borde altos y bajos, se denominan nanoestructurados. Los materiales  nanoestructurados se producen típicamente por deformación plástica, mientras  que los nanocristalinos generalmente se producen por condensación de gas o por  electrodepositación.</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">En este artículo se presenta un modelo matemático que describe  el efecto de la forma de la onda de corriente pulsante sobre el tamaño de grano  y la dureza de depósitos nanocristalinos. Las formas de onda consideradas son:  rampa ascendente, rampa descendente, onda triangular y onda rectangular. </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">En la literatura sobre el tema, existen algunos modelos  para la descripción del sobrepotencial o de la velocidad de nucleación [14-17]  pero dentro de nuestro conocimiento no hay uno que presente una relación funcional  directa entre las variables que caracterizan a las ondas (frecuencia, ciclo de  trabajo y corriente pico) con el tamaño de grano y la dureza de los depósitos. Con  este modelo se presenta una nueva propuesta para el cálculo del tamaño final y  promedio de los núcleos. </font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>2. MODELO   MATEMÁTICO</b></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La concentración de especies electro-activas en la superficie  del electrodo en un sistema donde la etapa controlante es la difusión, está  descrita por la segunda ley de Fick (Ecuación 1):</font></p>     <p><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15eq01.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">con condiciones inicial y de frontera:</font></p>     <p><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15eq020304.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La función <i>i(t)</i> está definida por la forma de las ondas de corriente, las cuales se pueden  representar matemáticamente con ayuda de la función impulso unitario o función  de Heaviside, de tal manera que la ecuación diferencial parcial (ec. 1) se  puede resolver empleando transformada de Laplace. En la <a href="#tab01">tabla 1</a> se presenta la  solución para la concentración en la superficie del electrodo y para el  sobrepotencial (detalles de esta solución se pueden encontrar en Molina y Hoyos  [18]).</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="tab01"></a>Tabla   1</b>. Perfiles de   concentraci&oacute;n y sobrepotencial para la onda rectangular, rampa ascendente,   rampa descendente y triangular    ]]></body>
<body><![CDATA[<br>   </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Table     1. </b>Concentration     profiles and overpotential for the rectangular, ramp up, ramp down and     triangular waveforms</font>    <br>     <img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15tab01.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Los  parámetros que caracterizan las ondas de corriente son: el ciclo de trabajo  (&#955;), la frecuencia (<i>f) </i>y la  corriente promedio (<i>i<sub>prom</sub></i>).  Estos parámetros están definidos por las ecuaciones  5 a 8:</font></p>     <p><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15eq0506.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Para la onda de forma  rectangular: </font></p>     <p><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15eq07.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">y para las ondas triangulares: </font></p>     <p><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15eq08.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">con t<sub>b</sub> = 0 para las rampas ascendente y descendente.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">El tamaño de núcleo crítico, <i>n<sub>c</sub></i>, definido como el aglomerado de la nueva fase que  está en equilibrio inestable con la fase madre sobresaturada está definido en  la ecuación 9. </font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Se habla de equilibrio inestable porque la unión de un  átomo a un aglomerado de tamaño <i>n<sub>c</sub></i> lo hace crecer  irreversiblemente convirtiéndose en un aglomerado estable. Por el contrario, si  se separa un átomo del aglomerado, este se disuelve de manera irreversible.</font></p>     <p><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15eq09.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La función de ángulo mojado  &#958;(&#947;<sub>o</sub>) que aparece en la ecuación 9, es la relación entre  el volumen del segmento esférico del nanocristal formado y el volumen de una  esfera completa con el mismo radio R: </font></p>     <p><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15eq10.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Para el caso de nucleación  progresiva (nucleación y crecimiento simultáneos), la corriente total impuesta  al sistema se emplea en los procesos simultáneos de nucleación y crecimiento: </font></p>     <p><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15eq11.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La velocidad de nucleación  está relacionada con la corriente de nucleación mediante la ec. 12:</font></p>     <p><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15eq12.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Para el proceso de  crecimiento de los núcleos, la realización de un balance de masa durante el  crecimiento de un núcleo esférico individual en un proceso controlado por la  transferencia de masa conduce a:</font></p>     <p><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15eq1314.gif"></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La corriente total de  crecimiento de los nanocristales para un sistema con nucleación progresiva está  dada por:</font></p>     <p><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15eq15.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La ecuación 15 es una  integral de convolución que contabiliza la corriente empleada en el crecimiento  de los núcleos desde el momento en el cual nacen (<i>u</i>) hasta el tiempo <i>t.</i></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La relación entre la  sobresaturación electroquímica, &#916;&#956;, y el radio, r<sub>c</sub>, del  nanocristal formado que contiene <sub><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15eq002.gif"></sub> átomos está dada por: </font></p>     <p><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15eq16.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Con la corriente de  crecimiento (ec.15) y la ley de Faraday se puede establecer el aumento del  radio debido al crecimiento del núcleo a partir del momento en el cual nace: </font></p>     <p><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15eq17.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Finalmente la distribución  del tamaño alcanzado por los nanocristales es:</font></p>     <p><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15eq18.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Con la evaluación de un  promedio másico y considerando una desviación estándar igual a cero para el radio de  los núcleos, se puede obtener un diámetro promedio:</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15eq19.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">En este punto se debe resaltar que las ecuaciones 12,  17, 18 y 19 constituyen una nueva propuesta para el cálculo del tamaño final y  promedio de los núcleos. </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Una forma de relacionar el diámetro de los  nanocristales depositados con sus propiedades mecánicas es emplear la relación  Hall-Petch [15] que para el caso de la dureza se puede escribir como:</font></p>     <p><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15eq20.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">donde <i>k<sub>o</sub></i> es un valor que depende del esfuerzo al cual comienza  el movimiento de las dislocaciones, <i>k<sub>l</sub></i> representa la penetrabilidad de la frontera de la dislocación móvil y g es la  gravedad. </font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>3.  RESULTADOS Y DISCUSIÓN </b></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Con el objetivo de  establecer el efecto que tiene la forma de la onda en el tamaño de los  nanocristales y en su dureza, se comparan los resultados del modelo para las  cuatro ondas de corriente pulsante y para corriente continua (modelada como una onda rectangular con un ciclo  de trabajo de 100%). Con las ondas pulsantes se evalúa el efecto de la frecuencia, el ciclo de trabajo y la  corriente pico. Se evaluaron los resultados del modelo para ciclos de trabajo  de 20 y 80%, con frecuencias de 50 y 150 Hz y corrientes pico de 4 y 8 kA/m<sup>2</sup>. Los valores de las constantes  físicas y los parámetros utilizados para la solución del modelo se muestran en  la <a href="#tab02">tabla 2</a>. </font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="tab02"></a>Tabla 2.</b> Propiedades físicas y parámetros empleados  en el modelo    <br> </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Table  2. </b>Physical  properties and parameters used in the model</font>    ]]></body>
<body><![CDATA[<br>  <img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15tab02.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">En la <a href="#fig01">figura 1</a> se puede apreciar el efecto del ciclo  de trabajo sobre la dureza de los nanocristales: Cuando se aumenta el ciclo de  trabajo a porcentajes cercanos al 100%, la forma de las ondas se aproxima cada  vez más a la corriente continua, lo cual genera perfiles de concentración,  sobrepotenciales y tamaños de grano similares a los generados por esta última  forma de corriente. En consecuencia, para todos los casos, un mayor ciclo de  trabajo produce depósitos menos duros (aproximándose al resultado obtenido con  corriente continua). Se puede también observar que, para un mismo ciclo de  trabajo, la rampa ascendente genera durezas levemente mayores a las otras  ondas, pero esta diferencia no es significativa para estas condiciones.</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig01"></a><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15fig01.gif">    <br>   Figura 1</b>. Variación en la dureza por modificación  del ciclo de trabajo (<i>i<sub>prom</sub></i> 2000 A/m<sup>2</sup>): 1 onda rectangular, 2 rampa ascendente, 3 rampa descendente,  4 onda triangular, 5 DC    <br> </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Figure  1</b>.  Hardness variation by modification of the duty cycle (<i>i<sub>prom</sub></i> 2000 A/m2): 1 rectangular, 2 ramp up, 3 ramp down,  4 triangular, 5 DC</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Para el caso del efecto de la frecuencia (<a href="#fig02">fig. 2</a>) se  puede ver que para altas frecuencias el sistema se acerca al caso de corriente  continua y la dureza disminuye con respecto a la utilización de bajas  frecuencias. También se debe observar que para que los cambios de dureza sean  apreciables, hay que disminuir la frecuencia de forma significativa. Esto  indica que el sistema es poco sensible a esta variable.</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig02"></a><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15fig02.gif">    <br>   Figura 2.</b> Variación en la dureza por modificación de  la frecuencia (<i>i<sub>prom </sub></i>2000  A/m<sup>2</sup>): 1 onda rectangular, 2 rampa ascendente, 3 rampa descendente,  4 onda triangular, 5 DC    <br> </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Figure  2</b>.  Hardness variation by modification of frequency (<i>i<sub>prom</sub> </i>2000 A/m2): 1 rectangular, 2 ramp up, 3 ramp down,  4 triangular, 5 DC</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La influencia que tiene la corriente pico o máxima  impuesta al sistema sobre la dureza se puede apreciar en la <a href="#fig03">figura 3</a>. En la  <a href="#fig03">tabla 3</a> se muestran las condiciones de corriente pico y ciclo de trabajo bajo  las cuales fue realizada la simulación y que garantizan una corriente promedio  de 2000 A/m<sup>2</sup>.</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig03"></a><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15fig03.gif">    <br>   Figura 3</b>. Dureza de los dep&oacute;sitos (<i>i<sub>prom</sub> </i>2000 A/m<sup>2</sup>):   1 onda rectangular, 2 rampa ascendente, 3 rampa descendente 4 onda triangular   todos con 50% de ciclo de trabajo, 5 onda rectangular (25% de ciclo de trabajo),   6 DC    <br>   </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Figure     3. </b>Deposit     harndness (<i>i<sub>prom</sub></i> 2000 A/m<sup>2</sup>): 1 rectangular, 2 ramp     up, 3 ramp down, 4 triangular, all the previous with 50% duty cycle, 5 rectangular (25% duty cycle), 6 DC</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="tab03"></a>Tabla 3.</b> Condiciones de ciclo de trabajo y   corriente pico para los resultados de la <a href="#fig03">figura 3</a>    <br>   </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Table     3</b>.     Conditions of duty cycle and peak current for the results of figure 3</font>    <br>     <img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15tab03.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">En la <a href="#fig03">figura 3</a> se observa de forma clara que para la  onda rectangular con un 25% de ciclo de trabajo (barra 5) y 8000 A/m<sup>2</sup>,  el modelo produce un valor de dureza un poco mayor a la de las otras formas de  corriente pulsante. El modelo también reporta que con corriente continua, la  dureza es siempre menor. </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">El modelo desarrollado también permite establecer el  efecto de los diferentes parámetros de la onda en el sobrepotencial (<a href="#fig04">figura 4</a>).  El comportamiento del sobrepotencial es crítico ya que con altos  sobrepotenciales se favorece la formación de nuevos nanocristales (nucleación)  mientras que a bajos sobrepotenciales se favorece el crecimiento de ellos. </font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig04"></a><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15fig04.gif">    <br>   Figura 4.</b> Sobrepotencial de concentraci&oacute;n para la rampa Ascendente   con <i>i<sub>prom</sub></i> = 2000 A/m<sup>2</sup>:   &#9679; &#955;= 20% y 100 Hz; &#9675; &#955; = 80% y 100 Hz; &#9660; &#955;= 50   % y 50 Hz; &#8710; &#955;= 50% y 150 Hz    ]]></body>
<body><![CDATA[<br>   </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Figure     4</b>.     Concentration overpotential for the ramp     up with <i>i<sub>prom</sub></i> 2000 A/m2:     &#9679; &#955;= 20% and 100 Hz;     &#9675; &#955; = 80% and 100 Hz;     &#9660; &#955;= 50% and 50 Hz; &#8710; &#955;= 50% and 150 Hz</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">En la <a href="#fig04">figura 4</a> se puede observar que, para una  corriente promedio constante, el aumento de la frecuencia produce inicialmente  un mayor aumento en el sobrepotencial de concentración, pero el valor máximo que se alcanza es menor que el  alcanzado a bajas frecuencias. Por otra parte, una disminución del ciclo de  trabajo produce inicialmente un drástico aumento en el sobrepotencial y un  mayor valor de sobrepotencial máximo alcanzado, pero al final de la aplicación  de la onda, el sobrepotencial ha caído a valores menores que los obtenidos con  ciclos de trabajo mayores. Este comportamiento es similar para los diferentes  tipos de onda de corriente considerados en este trabajo.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La <a href="#fig05">figura 5</a> muestra que el modelo predice que los aumentos  en el sobrepotencial de concentración incrementan significativamente la  velocidad de nucleación, alcanzando las mayores velocidades de nucleación en  los picos del sobrepotencial, con lo cual se establece que para bajos  sobrepotenciales los nanocristales son de mayor tamaño y los depósitos son más  blandos.</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig05"></a><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15fig05.gif">    <br>   Figura 5.</b> Velocidad de nucleaci&oacute;n para la rampa Ascendente   con <i>i<sub>prom</sub></i> 2000 A/m<sup>2</sup>:   &#9679; &#955;= 20% y 100 Hz; &#9675; &#955; = 80% y 100 Hz; &#9660; &#955;= 50   % y 50 Hz; &#8710; &#955;= 50% y 150 Hz    <br>   </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Figure     5</b>.     Nucleation rate for the ramp up with <i>i<sub>prom</sub></i> 2000 A/m2: &#9679; &#955;= 20% and 100 Hz;     &#9675; &#955; = 80% and 100 Hz;     &#9660; &#955;= 50% and 50 Hz; &#8710; &#955;= 50% and 150 Hz</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Como se observa en la <a href="#fig06">figura 6</a>, los parámetros de la  onda que producen mayores sobrepotenciales y mayores velocidades de nucleación  producen a su </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">vez menores tamaños en la distribución final de los  radios de los nanocristales formados. Como el tamaño de núcleo es más pequeño  para el caso del mayor sobrepotencial, esto confirma el resultado de que la dureza  del depósito sea mayor para el caso de sobrepotenciales más altos.</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig06"></a><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15fig06.gif">    <br>   Figura 6.</b> Radio de núcleo para la rampa Ascendente  con <i>i<sub>prom</sub></i> 2000 A/m<sup>2</sup>:  &#9679; &#955;= 20% y 100 Hz; &#9675; &#955;= 80% y 100 Hz; &#9660; &#955;= 50  % y 50 Hz; &#8710; &#955;= 50% y 150 Hz    <br> </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Figure  6</b>.  Nucleus radii for the ramp up with <i>i<sub>prom</sub></i> 2000 A/m2: &#9679; &#955;= 20% and 100 Hz;  &#9675; &#955;= 80% and 100 Hz;  &#9660; &#955;= 50% and 50 Hz; &#8710; &#955;= 50% and 150 Hz</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Otro resultado del modelo (<a href="#fig07">fig. 7</a>) muestra que la  dureza tiene una relación directa con la corriente pico: cuando la corriente  pico se incrementa ya sea por modificación del ciclo de trabajo o frecuencia,  la dureza de los depósitos también se incrementa.</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig07"></a><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15fig07.gif">    <br>   Figura 7.</b> Perfil de corriente impuesta para rampa ascendente  con <i>i<sub>prom</sub></i> 2000 A/m<sup>2</sup>:  &#9679; &#955;= 20% y 100 Hz; &#9675; &#955;= 80% y 100 Hz; &#9660; &#955;= 50  % y 50 Hz; &#8710; &#955;=50% y 150 Hz    <br> </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Figure  7</b>.  Imposed current profile for ramp up with <i>i<sub>prom</sub></i> 2000 A/m2: &#9679; &#955;= 20% and 100 Hz;  &#9675; &#955;= 80% and 100 Hz;  &#9660; &#955;= 50% and 50 Hz;  &#8710; &#955;=50% and 150 Hz</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Aunque en las <a href="#fig04">figuras 4</a> a <a href="#fig07">7</a> se presenta el comportamiento  del sobrepotencial, la velocidad de nucleación y la distribución de tamaños  para el caso de la rampa ascendente, el comportamiento de estas variables es  similar con los restantes tipos de ondas. </font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>4. CONCLUSIONES</b></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Se desarrolló un modelo  matemático analítico para establecer el efecto de los diferentes parámetros de las  ondas de corriente pulsante sobre la velocidad de nucleación, tamaño y dureza  de nanocristales electrodepositados.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">El modelo predice que pequeños aumentos en el  sobrepotencial de concentración incrementan significativamente la velocidad de  nucleación, disminuyen el crecimiento de los nanocristales y generan un aumento  en la dureza.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">El aumento del ciclo de trabajo y la frecuencia de las  ondas produce un comportamiento cada vez más cercano al producido por la  corriente continua, con una disminución en la dureza de los nanocristales.</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Cualquier modificación en las variables de las ondas,  que tenga como consecuencia el incremento de la corriente pico, produce valores  de dureza más altos. </font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>5. AGRADECIMIENTOS</b></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Este trabajo se pudo llevar a cabo gracias a la  financiación de COLCIENCIAS (código: 1118-08-17212) y de la dirección de  investigación de Universidad Nacional de Colombia – Medellín (DIME)</font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><b><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">NOMENCLATURA</font></b></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><i>Constantes y abreviaturas</i></font></p>     <blockquote>       <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><i>e </i>Carga     elemental del electrón.    <br> </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><i>i</i> Corriente   impuesta al sistema.    ]]></body>
<body><![CDATA[<br>   </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">t Tiempo.    <br>     </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">f Frecuencia.    <br>     </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">g Constante         de gravedad.    <br>     </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><i>x </i>Distancia           al electrodo.    <br>     </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">C Concentración             de iones.    <br>     </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">D Coeficiente               de difusión.    <br>     </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">F Constantes                 de Faraday.    <br>     </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">H Dureza del                   depósito.    <br>     </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">J Velocidad                     de nucleación.    <br>     </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">R Constante                       de los gases ideales.    ]]></body>
<body><![CDATA[<br>     </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><sub><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15eq004.gif"></sub> Radio                         promedio de los nucleos    <br>     </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">T Temperatura.    <br>     </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">C<sub>0</sub> Concentración de iones en el estado                             inicial y en el seno de la solución.    <br>     </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><i>i</i> Corriente impuesta al sistema    <br>     </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><i>i<sub>g </sub></i>Corriente de crecimiento.    <br>     </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><i>i<sub>N</sub> </i>Corriente de enucleación.    <br>     </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><i>i<sub>p</sub></i> Corriente                                     máxima o pico.    <br>     </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><i>i<sub>prom</sub></i> Corriente                                       promedio.    <br>     </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">I<sub>1</sub> Corriente de crecimiento de un núcleo                                         individual.    <br>     </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">k<sub>l</sub> Constante experimental de la ecuación                                           de Hall-Petch.    ]]></body>
<body><![CDATA[<br>     </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">k<sub>0</sub> Constante experimental de la ecuación                                             de Hall-Petch.    <br>     </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">n<sub>c</sub> Tamaño                                               de núcleo critico.    <br>     </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">r<sub>c</sub> Radio                                                 critico de un aglomerado.    <br>     </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">r<sub>f</sub> Radio                                                   final de un aglomerado.    <br>     </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">r<sub>g</sub> Radio                                                     de crecimiento.    <br>     </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">S<sub>k</sub> Función                                                       de Heaviside.    <br>     </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">t<sub>a</sub> Tiempo                                                         de corriente activa.    <br>     </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">t<sub>b</sub> Tiempo de corriente activa (Onda                                                           triangular).    <br>     </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><i>v<sub>M</sub></i> Volumen                                                             molecular.    <br>     </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">z<sub>+</sub> Carga                                                               del ion.</font></p> </blockquote> <font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><i>Símbolos griegos</i></font>     ]]></body>
<body><![CDATA[<blockquote>       <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><font size="2"><sub><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15eq006.gif"></sub> Potencial     electroquímico.    <br> </font><font size="2">&#951; Sobrepotencial (En este caso   particular sobrepotencial de concentración).    <br>   </font><font size="2"><sub><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15eq008.gif"></sub> Sobrepotencial de concentración para la     onda rectangular.    <br>     </font><font size="2"><sub><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15eq010.gif"></sub> Sobrepotencial de concentración para la       onda rampa ascendente.    <br>     </font><font size="2"><sub><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15eq012.gif"></sub> Sobrepotencial de concentración para la         onda rampa descendente.    <br>     </font><font size="2"><sub><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15eq014.gif"></sub> Sobrepotencial de concentración para la           onda triangular.    <br>     </font><font size="2">&#915; Función             Gamma.    <br>     </font><font size="2">&#947;<sub>0</sub> Angulo de contacto o ángulo mojado del               aglomerado con el sustrato.    <br>     </font><font size="2"><sub><img src="/img/revistas/dyna/v76n157/a15eq016.gif"></sub> Función de ángulo mojado.    ]]></body>
<body><![CDATA[<br>     </font><font size="2">&#963; Energía                   libre especifica interracial.    <br>     </font><font size="2">&#955; Ciclo                     de trabajo.    <br>     </font><font size="2">&#964; Tiempo                       total de un ciclo.</font></font></p> </blockquote>     <p>&nbsp;</p>     <p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>REFERENCIAS</b></font></p> <font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">     <!-- ref --><p><font size="2"><b> [1]</b> SCHARIFKER, B. AND HILLS, G. Theoretical and experimental studies of multiple nucleation, Electrochimica Acta, 28, 7, 879-889, 1983.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000168&pid=S0012-7353200900010001500001&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>      <b>[2]</b> MOSTANY, J., SERRUYA, A. AND SCHARIFKER, B. Spatial distribution of electrodeposited lead nuclei on to vitreous carbon beyond their nearest neighbours, J. Electroanalytical Chemistry, 383, 37–41, 1995.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000169&pid=S0012-7353200900010001500002&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>      <b>[3]</b> SERRUYA, A., MOSTANY, J. AND SCHARIFKER, B. The kinetics of mercury nucleation from Hg22+ and Hg2+ solutions on vitreous carbon electrodes, J. Electroanalytical Chem., 464, 39–47, 1999.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000170&pid=S0012-7353200900010001500003&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>      <b>[4]</b> ALEXANDER, M. AND ZAPRYANOVA, T. Nucleation and growth of copper under combined charge transfer and diffusion limitations: Part I, Electrochimica Acta, 51, 2926–2933, 2006.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000171&pid=S0012-7353200900010001500004&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>      <b>[5]</b> MILCHEV, A. AND ZAPRYANOVA, T. Nucleation and growth of copper under combined charge transfer and difusión limitations—Part II, Electrochimica Acta, 51, 4916– 4921, 2006.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000172&pid=S0012-7353200900010001500005&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>      <b>[6]</b> YOUSSEF , KH. M. S., KOCH, C. C. AND FEDKIW, P. S. Influence of Additives and Pulse Electrodeposition Parameters on Production of Nanocrystalline Zinc from Zinc Chloride Electrolytes, J. Electrochemical Soc., 151, 2, C103-C111, 2004.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000173&pid=S0012-7353200900010001500006&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>      <b>[7]</b> KIM, B., RITZDORF, T. Electrical Waveform Mediated Through-Mask Deposition of Solder Bumps for Wafer Level Packaging, J. Electrochemical Soc., 151, 5, C342-C347, 2004.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000174&pid=S0012-7353200900010001500007&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>      <b>[8]</b> IBAÑEZ, A., FATÁS, E. Mechanical and structural properties of electrodeposited copper and their relation with the electrodeposition parameters, Surface & Coatings Techno., 191, 7–16, 2005.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000175&pid=S0012-7353200900010001500008&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>      <b>[9]</b> HANSAL,W. E.G., TURY, B., HALMDIENST, M., VARSÁNYI, M. L. AND KAUTEK, W. Pulse reverse plating of Ni–Co alloys: Deposition kinetics of Watts, sulfamate and chloride electrolytes, Electrochimica Acta., 52, 1145–1151, 2006.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000176&pid=S0012-7353200900010001500009&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>      <b>[10]</b> HU, F. AND CHAN, K. C. Electrocodeposition behavior of Ni–SiC composite under different shaped waveforms, Applied Surf. Sci., 233, 163–171, 2004.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000177&pid=S0012-7353200900010001500010&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>      <b>  [11]</b></b> HU, F. AND CHAN, K. C. Deposition behaviour and morphology of Ni–SiC electro-composites under triangular waveform, Applied Surf. Sci., 243, 251–258, 2005.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000178&pid=S0012-7353200900010001500011&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>      <b>[12]</b> KIM, H. AND NALINI P. Subramanian, Branko N. Popov, Preparation of PEM fuel cell electrodes using pulse electrodeposition, J. Power Sour., 138, 14–24, 2004.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000179&pid=S0012-7353200900010001500012&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>      <b>[13]</b> HANSEN, N. HALL–PETCH relation and boundary strengthening, Scripta Materialia, 51, 801–806, 2004.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000180&pid=S0012-7353200900010001500013&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>      <b>[14]</b> WONG, K. P., CHAN, K. C., AND YUE, T. M. A study of hardness and grain size in pulse current electroforming of nickel using different shaped waveforms, J. Appl. Electrochem., 31, 25-34 2001.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000181&pid=S0012-7353200900010001500014&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>      <b>[15]</b> WONG, K. P., CHAN K. C. AND YUE, T. M. Modelling the effect of complex waveform on surface finishing in pulse current electroforming of nickel, Surface and Coating Technology, 135, 91-97, 2001.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000182&pid=S0012-7353200900010001500015&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>      <b>[16]</b> WONG K. P., CHAN K. C. AND YUE, T. M. Modelling of electrocrytallization for pulse current electroforming of nickel, Appl. Surf. Sci., 178, 178-189, 2001.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000183&pid=S0012-7353200900010001500016&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>      <b>[17]</b> GEORGIADOU M. AND VEYRET, D. Modeling of Transient Electrochemical Systems Involving Moving Boundaries, J. Electrochemical Soc., 149, 6, C324-C330, 2002.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000184&pid=S0012-7353200900010001500017&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>        <b>[18]</b> MOLINA J. E. Y HOYOS B. A. Modelo Matemático de la Nucleación Electroquímica con Ondas de Corriente Pulsante, Información Tecnológica., 18, 5, 31–40 2007. </font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000185&pid=S0012-7353200900010001500018&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> ]]></body><back>
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