<?xml version="1.0" encoding="ISO-8859-1"?><article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance">
<front>
<journal-meta>
<journal-id>0012-7353</journal-id>
<journal-title><![CDATA[DYNA]]></journal-title>
<abbrev-journal-title><![CDATA[Dyna rev.fac.nac.minas]]></abbrev-journal-title>
<issn>0012-7353</issn>
<publisher>
<publisher-name><![CDATA[Universidad Nacional de Colombia]]></publisher-name>
</publisher>
</journal-meta>
<article-meta>
<article-id>S0012-73532009000400020</article-id>
<title-group>
<article-title xml:lang="es"><![CDATA[DEFORMACIÓN ELÁSTICA RESIDUAL EN LÁMINAS DE ACERO AISI 304 RECUBIERTAS CON UNA PELÍCULA DE NITRURO DE TITANIO DEPOSITADA POR PVD-MAGNETRON SPUTTERING]]></article-title>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[RESIDUAL ELASTIC STRAIN OF AISI 304 STAINLESS STEEL SHEETS COVERED WITH A TITANIUM NITRIDE THIN FILM DEPOSITED BY PVD-MAGNETRON SPUTTERING]]></article-title>
</title-group>
<contrib-group>
<contrib contrib-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[COLORADO]]></surname>
<given-names><![CDATA[H. A.]]></given-names>
</name>
<xref ref-type="aff" rid="A01"/>
</contrib>
<contrib contrib-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[SALVA]]></surname>
<given-names><![CDATA[H. R.]]></given-names>
</name>
<xref ref-type="aff" rid="A01"/>
</contrib>
<contrib contrib-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[GHILARDUCCI]]></surname>
<given-names><![CDATA[A. A.]]></given-names>
</name>
<xref ref-type="aff" rid="A01"/>
</contrib>
</contrib-group>
<aff id="A01">
<institution><![CDATA[,Universidad de Antioquia Departamento de Ingeniería Mecánica ]]></institution>
<addr-line><![CDATA[ ]]></addr-line>
</aff>
<aff id="A02">
<institution><![CDATA[,Centro Atómico Bariloche-CNEA Instituto Baleiro-Universidad Nacional de Cuyo ]]></institution>
<addr-line><![CDATA[Bariloche ]]></addr-line>
<country>Argentina</country>
</aff>
<aff id="A03">
<institution><![CDATA[,Centro Atómico Bariloche-CNEA Instituto Baleiro-Universidad Nacional de Cuyo ]]></institution>
<addr-line><![CDATA[Bariloche ]]></addr-line>
<country>Argentina</country>
</aff>
<pub-date pub-type="pub">
<day>00</day>
<month>12</month>
<year>2009</year>
</pub-date>
<pub-date pub-type="epub">
<day>00</day>
<month>12</month>
<year>2009</year>
</pub-date>
<volume>76</volume>
<numero>160</numero>
<fpage>207</fpage>
<lpage>215</lpage>
<copyright-statement/>
<copyright-year/>
<self-uri xlink:href="http://www.scielo.org.co/scielo.php?script=sci_arttext&amp;pid=S0012-73532009000400020&amp;lng=en&amp;nrm=iso"></self-uri><self-uri xlink:href="http://www.scielo.org.co/scielo.php?script=sci_abstract&amp;pid=S0012-73532009000400020&amp;lng=en&amp;nrm=iso"></self-uri><self-uri xlink:href="http://www.scielo.org.co/scielo.php?script=sci_pdf&amp;pid=S0012-73532009000400020&amp;lng=en&amp;nrm=iso"></self-uri><abstract abstract-type="short" xml:lang="es"><p><![CDATA[se realizó una caracterización mediante difracción de rayos x (DRX) en láminas de acero inoxidable AISI 304 recubierto con una capa de nitruro de titanio de 3 mm de espesor, obtenida mediante deposición física de vapor (PVD-magnetron sputtering) a una temperatura de 200 &#730;C. se tomaron imágenes de microscopía electrónica de barrido (MEB), microscopía óptica (MO) y microscopía de fuerza atómica (MFA) para caracterizar el sustrato, la capa y la zona cercana a la intercara. adicionalmente se determinó la deformación elástica residual asociada con el ensanchamiento de los picos de DRX.]]></p></abstract>
<abstract abstract-type="short" xml:lang="en"><p><![CDATA[X Ray Diffraction characterization was carried out on AISI 304stainless steel sheets covered with a 3mm thick titanium nitride film. The deposition technique used was PVD-Magnetron Sputtering at 200 &#730;C. The resulting microstructures of the substrate, the film and the interface were studied by Optical Microscopy (OM), Scanning Electron (SEM) and Atomic Force (AFM) Microscopes. Residual elastic strain associated with the X- ray diffraction (XRD) broadening peaks was also determined.]]></p></abstract>
<kwd-group>
<kwd lng="es"><![CDATA[Acero AISI 304]]></kwd>
<kwd lng="es"><![CDATA[películas delgadas]]></kwd>
<kwd lng="es"><![CDATA[TiN]]></kwd>
<kwd lng="es"><![CDATA[deformación elástica residual]]></kwd>
<kwd lng="es"><![CDATA[DRX]]></kwd>
<kwd lng="en"><![CDATA[AISI 304 stainless steel]]></kwd>
<kwd lng="en"><![CDATA[thin solid films]]></kwd>
<kwd lng="en"><![CDATA[TiN]]></kwd>
<kwd lng="en"><![CDATA[residual elastic strain]]></kwd>
<kwd lng="en"><![CDATA[XRD]]></kwd>
</kwd-group>
</article-meta>
</front><body><![CDATA[ <p align="center"><font size="4" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>DEFORMACI&Oacute;N EL&Aacute;STICA RESIDUAL EN   L&Aacute;MINAS DE ACERO AISI 304 RECUBIERTAS CON UNA PEL&Iacute;CULA DE NITRURO DE TITANIO DEPOSITADA POR PVD-MAGNETRON SPUTTERING</b></font></p>     <p align="center"><font size="3"><b><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">RESIDUAL ELASTIC STRAIN OF AISI  304 STAINLESS STEEL SHEETS COVERED WITH A TITANIUM NITRIDE THIN FILM DEPOSITED BY  PVD-MAGNETRON SPUTTERING</font></b></font></p>     <p align="center">&nbsp;</p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>H. A. COLORADO</b>    <br>   </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><i>Universidad de Antioquia,     Departamento de Ingenier&iacute;a Mec&aacute;nica, Medell&iacute;n-Colombia, <a href="mailto:hacolora@udea.edu.co">hacolora@udea.edu.co</a></i></font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>H. R. SALVA</b>    <br>   <i>Centro At&oacute;mico Bariloche-CNEA,  Instituto Baleiro-Universidad Nacional de Cuyo, CONICET San Carlos de Bariloche-Argentina, <a href="mailto:friccion@cab.cnea.gov.ar">friccion@cab.cnea.gov.ar</a></i></font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>A. A. GHILARDUCCI</b>    <br>   <i>Centro At&oacute;mico Bariloche-CNEA,  Instituto Baleiro-Universidad Nacional de Cuyo, CONICET San Carlos de Bariloche-Argentina, <a href="mailto:salva@cab.cnea.gov.ar">salva@cab.cnea.gov.ar</a></i></font></p>     <p align="center">&nbsp;</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Recibido para   revisar julio 20 de 2009, aceptado agosto 12 de 2009, versi&oacute;n final septiembre   10 de 2009</b></font></p>     <p>&nbsp;</p> <hr> <font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>RESUMEN:</b> se realiz&oacute;  una caracterizaci&oacute;n mediante difracci&oacute;n de rayos x (DRX) en l&aacute;minas de acero inoxidable AISI 304 recubierto  con una capa de nitruro de titanio de 3 mm de espesor, obtenida mediante  deposici&oacute;n f&iacute;sica de vapor (PVD-magnetron sputtering) a una temperatura de 200 &#730;C. se tomaron  im&aacute;genes de microscop&iacute;a electr&oacute;nica de barrido (MEB), microscop&iacute;a &oacute;ptica (MO) y microscop&iacute;a  de fuerza at&oacute;mica (MFA) para caracterizar el sustrato, la capa y la zona  cercana a la intercara. adicionalmente se determin&oacute; la deformaci&oacute;n el&aacute;stica  residual asociada con el ensanchamiento de los picos de DRX. </font>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>PALABRAS CLAVE:</b> Acero  AISI 304, pel&iacute;culas delgadas, TiN, deformaci&oacute;n el&aacute;stica residual, DRX.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>ABSTRACT:</b> X   Ray Diffraction characterization was carried out on AISI 304stainless steel sheets   covered with a 3mm thick titanium nitride film.   The deposition technique used was PVD-Magnetron Sputtering at 200 &#730;C. The   resulting microstructures of the substrate, the film and the interface were   studied by Optical Microscopy (OM), Scanning Electron (SEM) and Atomic Force (AFM)   Microscopes. Residual elastic strain associated with the X- ray diffraction (XRD) broadening peaks was also determined.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>KEYWORDS</b>: AISI 304 stainless steel, thin solid films, TiN, residual elastic strain, XRD.</font></p> <hr>     <p>&nbsp;</p>     <p><b><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">1. INTRODUCCION</font></b></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Los recubrimientos   obtenidos mediante procesos por deposici&oacute;n f&iacute;sica de vapor (PVD) se encuentran   entre los m&aacute;s duros &#91;1&#93;. Estas capas se forman sobre la superficie a partir de la </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">inserci&oacute;n   mec&aacute;nica de &aacute;tomos (o especies ionizadas). La energ&iacute;a de penetraci&oacute;n depende de factores tales como el &aacute;ngulo de incidencia de </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">las   part&iacute;culas y la masa de los &aacute;tomos de incidencia con relaci&oacute;n a la masa de los &aacute;tomos del sustrato, entre otros. La t&eacute;cnica de PVD </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Magnetron Sputtering tiene como caracter&iacute;sticas </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">&#91;2&#93; una alta tasa de deposici&oacute;n, baja presi&oacute;n de trabajo,   bajo voltaje de descarga y un espesor de la capa obtenida no muy uniforme. Esta   t&eacute;cnica es com&uacute;nmente usada en la obtenci&oacute;n de recubrimientos que van a estar   sometidos a alta fricci&oacute;n y desgaste &#91;3&#93;. Debido a las caracter&iacute;sticas del proceso, las capas obtenidas por PVD pueden tener altos esfuerzos residuales.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Desde que   los recubrimientos de nitruro de titanio (TiN) apareci&oacute; en el mercado en 1980,   se convirti&oacute; en uno de los m&aacute;s populares debido a que asegura alta resistencia   mec&aacute;nica, dureza y resistencia al desgaste para la superficie recubierta. Como   en otros recubrimientos, los esfuerzos y las deformaciones residuales, el tipo   de estructura cristalina, el coeficiente de textura del plano (111) y el factor   de empaquetamiento, entre otros factores, son muy relevantes en sus propiedades   f&iacute;sicas y qu&iacute;micas &#91;2&#93;. Debido a su importancia en las propiedades mec&aacute;nica   y en la vida &uacute;til del recubrimiento, este trabajo se centra en el estudio de las deformaciones residuales.</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Las      tensiones residuales en superficies pueden determinarse de muy diversas formas,   por ejemplo, mediante la curvatura de la capa deformada &#91;5&#93;, o mediante la caracterizaci&oacute;n con rayos X &#91;6&#93;. &Eacute;sta &uacute;ltima se usar&aacute; en este trabajo para caracterizar el sistema AISI 304-TiN. </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La caracterizaci&oacute;n con la t&eacute;cnica   de difracci&oacute;n de rayos X (DRX) permite determinar la presencia de esfuerzos   el&aacute;sticos residuales. Si el ancho a la mitad de la altura de un pico de   intensidad en el espectro de DRX es   mayor a 0.1&#730;, hay un ensanchamiento   &#946; que puede ser debido a las tensiones residuales en la red (&#946;<sub>&#964;</sub>)   o a un tamaño de grano (TG) menor a 1mm (&#946;<sub>&#964;</sub>), &#91;4&#93;. Si el tamaño de grano de la muestra es mucho mayor a   1mm, el   ensanchamiento de los picos puede entonces ser asociado a la deformaci&oacute;n el&aacute;stica residual. </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Ademas,   se presenta la caracterizaci&oacute;n mediante el uso de microscop&iacute;a &oacute;ptica (MO), microscop&iacute;a   de fuerza at&oacute;mica (MFA) y microscop&iacute;a electr&oacute;nica de barrido (MEB), se busca establecer la relaci&oacute;n entre las tensiones   residuales y la microestructura. El acero AISI 304 es de amplio uso industrial, es austen&iacute;tico y puede presentar martensita inducida por deformaci&oacute;n pl&aacute;stica, &#91;7&#93;.</font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>2. EXPERIMENTOS</b></font></p>     <p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"></font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Se cortaron muestras de acero AISI   304, cuya composici&oacute;n qu&iacute;mica se muestra en la <a href="#tab01">Tabla 1</a>, de 3x13x0.2 mm<sup>3</sup> en una   cortadora de disco de diamante de baja velocidad, las cuales se pulieron   mec&aacute;nicamente hasta lograr acabado espejo por ambas caras. Los recubrimientos   se hicieron en un equipo DC/RF- PVD Magnetron Sputtering. Las muestras se   recubrieron en condiciones de alto vac&iacute;o en una atm&oacute;sfera mixta de Arg&oacute;n y   Nitr&oacute;geno, a una temperatura de 200 &#730;C. La limpieza se realiz&oacute; con alcohol isoprop&iacute;lico y acetona. </font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="tab01"></a>Tabla 1.</b> Resultados de composici&oacute;n   qu&iacute;mica del acero inoxidable AISI 304 utilizado</font>    <br>    <font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Table 1.</b> Chemical composition      results for AISI 304 stainless steel</font>    <br>      <img src="/img/revistas/dyna/v76n160/a20tab01.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Posteriormente se enjuagaron con   agua y se secaron con aire a presi&oacute;n. Se llevaron a un horno de convecci&oacute;n a   120°C. En el   reactor se realiz&oacute; un bombardeo i&oacute;nico con arg&oacute;n sobre las muestras con el fin de eliminar la capa de &oacute;xido presente. </font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">En la <a href="#tab02">Tabla 2</a> se resumen los   par&aacute;metros de deposici&oacute;n del recubrimiento. Para obtener el espesor indicado de   3mm, el tiempo de tratamiento fue de 2h aproximadamente. Con el </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">fin de   revelar la capa de TiN en las muestras de acero recubiertas, se cortaron las muestras transversalmente y luego se trataron con Marble durante 1 min. </font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="tab02"></a>Tabla 2.</b> Par&aacute;metros de deposici&oacute;n del recubrimiento    <br> </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Table 2.</b> Deposition parameters for thin films</font>    <br> <img src="/img/revistas/dyna/v76n160/a20tab02.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Las   superficies se caracterizaron con Microscop&iacute;a Electr&oacute;nica de Barrido (MEB) en   un equipo JEOL JSM 5910LV, con Microscop&iacute;a &Oacute;ptica (MO) en un equipo Leyca Q-Win   y con Microscop&iacute;a de Fuerza At&oacute;mica (MFA) en un equipo Autoprobe CP de Park   Scentific Inc. Las fases presentes en el sustrato se caracterizaron mediante Difracci&oacute;n de Rayos X (DRX) en un equipo Philips PW1840. </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Con el   fin de analizar los resultados de DRX sobre las fases presentes en el sustrato,   se obtuvo una muestra con 100% de &#947; mediante tratamiento t&eacute;rmico. Para   ello, se introdujo la muestra sin capa de TiN en una c&aacute;psula herm&eacute;tica de vidrio bajo una atm&oacute;sfera inerte de arg&oacute;n, con el fin de evitar la oxidaci&oacute;n en</font> <font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">caliente   y mediante el arg&oacute;n, incrementar la conducci&oacute;n t&eacute;rmica. Posteriormente se llev&oacute; a una temperatura de 1050&#730;C por 5 minutos y luego se introdujo en un tanque con agua para </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">obtener   un temple, rompiendo inmediatamente la c&aacute;psula de vidrio dentro del agua con el fin de acelerar la tasa de enfriamiento.</font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>3. AN&Aacute;LISIS Y RESULTADOS</b></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">El valor   de macro dureza obtenida para el sustrato fue de 131<img src="/img/revistas/dyna/v76n160/a20eq002.gif">4 HV. La <a href="#fig01">Figura   1</a>, obtenida mediante MO tomada a una de las caras de      mayor &aacute;rea de la l&aacute;mina, muestra las bandas de deformaci&oacute;n presentes en el   acero. Esto indica que el acero est&aacute; deformado pl&aacute;sticamente y puede contener   martensita inducida por deformaci&oacute;n &#91;7&#93;. </font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig01"></a><img src="/img/revistas/dyna/v76n160/a20fig01.gif">    ]]></body>
<body><![CDATA[<br>   Figura 1.</b> Imagen de MO de la cara   longitudinal de la l&aacute;mina de acero atacada con Marble durante 1 min    <br>   </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Figure 1. </b>OM image of the longitudinal face of the steel sample after Marble attack during 1 min</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La <a href="#fig02">Figura 2</a> muestra la secci&oacute;n transversal de una muestra de  acero AISI 304 recubierto con TiN.</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig02"></a><img src="/img/revistas/dyna/v76n160/a20fig02.gif">    <br>   Figura 2</b> a) Vista transversal de   la muestra de acero atacado con Marble durante 1 min obtenida en el MO, donde   se ve la microestructura; b) Imagen del sistema de acero AISI 304/TiN tomada  en el MEB de la secci&oacute;n transversal, atacado con Marble durante 1 min    <br> </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Figure 2 </b>a) OM image in a transversal cut of the steel   sample after chemical attack during 1 min in which appear the microstructure,   b) SEM image of the AISI 304/TiN system  in a transversal cut of the sample after chemical attack during 1 min</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"> La <a href="#fig02">Figura 2-a</a> muestra la presencia de una segunda fase   precipitada, placas de martensita &#945;&#8217;, dentro de los granos de   austenita. La <a href="#fig02">Figura   2-b</a> corresponde a una imagen de MEB de la secci&oacute;n transversal, donde se indican el recubrimiento y el sustrato. La <a href="#fig03">Figura 3</a> es una </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">imagen de   MFA tomada sobre la capa, donde se notan algunos agujeros. El recubrimiento   copi&oacute; la forma de las bandas de deslizamiento presentes en la superficie del   sustrato, mostradas en la <a href="#fig01">Figura   1</a> y en la <a href="#fig02">Figura 2-a</a>.</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig03"></a><img src="/img/revistas/dyna/v76n160/a20fig03.gif">    <br>   Figura 3.</b> Imagen tomada en el MFA  sobre la superficie del TiN    <br> </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Figure  3. </b>AFM image of the TiN surface</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Adicionalmente,   se hicieron pruebas con un im&aacute;n que revelaron que hay una fase magn&eacute;tica en el   acero estudiado. Se ha reportado &#91;7&#93; que este acero deformado pl&aacute;sticamente forma las   martensitas &#949; y &#945;&#8217;, adem&aacute;s de que mediante </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Microscop&iacute;a  Electr&oacute;nica de Transmisi&oacute;n &#91;8&#93; se ha mostrado que el modo m&aacute;s probable de </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">transformaci&oacute;n de austenita a martensita es <img src="/img/revistas/dyna/v76n160/a20eq004.gif">. </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La <a href="#fig04">Figura 4</a> muestra el espectro de DRX del sistema   capa-recubrimiento, medido sobre la capa, donde se aparecen picos   correspondientes a la fase austenita (111, 220, 311); al TiN (111, 200) y a la   fase martensita (200, 211); lo cual confirma el resultado de la prueba  magn&eacute;tica. La </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">posici&oacute;n  de los picos de TiN (111), (200) y (311) </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">coincide   con resultados reportados en la literatura, donde se ha usado el TiN como   recubrimiento &#91;9&#93;. Los picos se enumeraron de izquierda a derecha con   letras de la A a la H.</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig04"></a><img src="/img/revistas/dyna/v76n160/a20fig04.gif">    <br>   Figura 4.</b> Espectro de DRX de la muestra AISI 304/TiN    <br> <b>Figure 4. </b>XRD spectrum of the AISI 304/TiN sample</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">En la  zona de &aacute;ngulos bajos, se nota un fondo t&iacute;pico de un material amorfo, debido al  porta-muestras, el cual es afectado por el haz incidente debido a las pequeñas  dimensiones de la l&aacute;mina examinada, 3x13x0.2mm<sup>3</sup>.</font></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Los picos  de DRX de la <a href="#fig04">Figura  4</a> est&aacute;n ensanchados &#946; respecto al ancho instrumental, </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">puesto  que el ancho a mitad de la altura es mayor a 0.1&#730;, &#91;4&#93;. El  coeficiente de textura (111) encontrado para la capa de TiN &#91;10&#93; fue de 0.7649, puesto que I<sub>111</sub>= 194.644 y I<sub>200</sub>=59.830,  donde I es el &aacute;rea bajo el pico, ajustado con el software &#8216;Peak Fit&#8217;.  Esto significa que la textura (111) es el 76.5% del total de (111) y (200). Los  resultados se resumen en  la  <a href="#tab03">Tabla 3</a>.</font></p>      <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="tab03"></a>Tabla 3.</b> Deformaci&oacute;n el&aacute;stica  residual de los picos correspondientes al sustrato, suponiendo que <img src="/img/revistas/dyna/v76n160/a20eq006.gif"> es debido a las  tensiones residuales de la red, es decir, &#946;=&#946;<sub>&#949;    <br>  </sub></font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Table 3.</b> Residual strain for the substrate peaks assuming &#946;=&#946;<sub>&#949;</sub></font>    <br>  <img src="/img/revistas/dyna/v76n160/a20tab03.gif"></p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>3.1 An&aacute;lisis  de los Picos de DRX para el Sustrato, Acero AISI 304</b>    <br>  </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Se  calcul&oacute; la deformaci&oacute;n residual el&aacute;stica (&#949;) en el sustrato &#91;4&#93; suponiendo que &#946; es debido solo a tensiones  residuales en los picos obtenidos, es decir &#946;=&#946;<sub>&#949;</sub>. Los  resultados se presentan en  la  <a href="#tab03">Tabla 3</a>, donde adem&aacute;s se indica la posici&oacute;n del pico reportada  en la literatura para cada pico cuando no hay tensiones residuales. En esta  tabla se nota que todos los picos est&aacute;n ensanchados, ya que presentan valores  superiores a 0.1&#730;. </font></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Para  determinar el ensanchamiento &#946;<sub>&#964;</sub>, se rest&oacute; 0.1&#730; a cada  valor de ancho de pico y mediante la ecuaci&oacute;n 1 se determin&oacute; la deformaci&oacute;n  residual &#949; &#91;4&#93;, la cual es presentada en la misma tabla, siendo del  orden de 10<sup>-4</sup> para la austenita y la martensita en el plano (211) y  de 10<sup>-3</sup> para la martensita en el plano (200).</font></p>      <p><img src="/img/revistas/dyna/v76n160/a20eq01.gif"></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Cuando el ensanchamiento del pico  es debido al TG, se denomina &#946;<sub>&#964;</sub>. La ecuaci&oacute;n de Scherrer &#91;4&#93;, ecuaci&oacute;n 2, permite estimar el tamaño del grano TG  asociado a un ensanchamiento determinado.</font></p>      <p><img src="/img/revistas/dyna/v76n160/a20eq02.gif"></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Donde K  es el factor de forma dado en radianes, el cual usualmente toma el valor de 0.9 &#91;13&#93;, y &#955; es la longitud de onda de los rayos-X (&#955;  = 0.1542x10<sup>- 9 m, correspondiente al cobre). Si TG es mayor a 1</sup>mm, no produce  ensanchamiento de los picos &#91;4&#93;.</font></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Para  comprobar si el ensanchamiento del pico registrado en la <a href="#tab03">Tabla 3</a>, es debido al TG, se utiliz&oacute; el valor de &#946; para calcularlo (ecuaci&oacute;n 2), es decir, se  tom&oacute; &#946;=&#946;<sub>&#964;</sub>. Los resultados se resumen en  la <a href="#tab04">Tabla 4</a>.</font></p>      <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="tab04"></a>Tabla 4.</b> Tama&ntilde;o de grano <i>TG</i> para el acero suponiendo que el    ensanchamiento de los picos es debido a un <i>TG</i> menor a 1mm, es decir, &#946;=&#946;<sub>&#964;    <br>  </sub></font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Table 4.</b> Grain size for the substrate assuming &#946;=&#946;<sub>&#964;</sub></font>    ]]></body>
<body><![CDATA[<br> <img src="/img/revistas/dyna/v76n160/a20tab04.gif"></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Se  observa que el TG asociado a &#946; estar&iacute;a en magnitudes inferiores a 0.2 mm. Debido al hecho de que  el TG para el acero var&iacute;an entre 10 y 60 mm (ver <a href="#fig02">Figura 2</a> donde se ven los granos originales de austenita, con  presencia de segundas fases en su interior), el ensanchamiento de los picos de  DRX es debido a alg&uacute;n efecto adicional, es decir a tensiones residuales. El  tamaño de grano no fue calculado exactamente debido a que su efecto sobre las  tensiones residuales fue r&aacute;pidamente descartado por estar tan alejado del valor  cr&iacute;tico, de 1mm.</font></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Para analizar los picos de DRX de  la austenita, se realiz&oacute; un tratamiento t&eacute;rmico con el fin de obtener 100% de  austenita y hacer una comparaci&oacute;n con los picos obtenidos previamente para el  acero AISI 304. </font></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">En la <a href="#fig05">Figura 5</a> se presentan los dos espectros obtenidos, superpuestos  para efectos de comparaci&oacute;n, y adem&aacute;s los valores reportados en la literatura  para la austenita, sin ensanchamiento. </font></p>      <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig05"></a><img src="/img/revistas/dyna/v76n160/a20fig05.gif">    <br>   Figura 5.</b> Comparaci&oacute;n del espectro  de DRX de la muestra AISI 304/TiN con un sustrato de AISI 304 con 100% de  austenita y con algunos valores reportados en la literatura &#91;11&#93;, &#91;12&#93; y&#91;14&#93;    <br>  <b>Figure 5.</b> Comparison of XRD spectrum of the AISI 304/TiNwith a substrate with 100%  of austenite</font></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">En esta figura se nota que los picos del espectro obtenido para 100% de  austenita en la probeta de acero, no tienen ensanchamiento. Este espectro est&aacute;  superpuesto con el espectro obtenido para las muestras de AISI 304/TiN, <a href="#fig04">Figura 4</a>, y con l&iacute;neas que indican la posici&oacute;n y altura de los  picos de austenita correspondientes a valores reportados en la literatura &#91;11&#93; cuando no hay ensanchamiento. Se destaca que los  picos asociados con la austenita de la muestra con capa, coinciden exactamente  con los picos de la austenita presentes en la muestra con 100% de austenita,  confirmando la interpretaci&oacute;n hecha sobre los resultados de la l&aacute;mina recubierta con TiN.</font></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>3.2 An&aacute;lisis de  los Picos de DRX para  la Capa  de TiN    <br>  </b></font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Usando la  ecuaci&oacute;n 1 y el mismo procedimiento empleado para el an&aacute;lisis de los picos DRX  del sustrato, se calcul&oacute; la deformaci&oacute;n residual el&aacute;stica, &#949;, en la capa,  con &#946;=&#946;<sub>&#949;</sub>. Los resultados se presentan en la <a href="#fig05">Tabla 5</a>, donde adem&aacute;s se  indica la posici&oacute;n est&aacute;ndar ya reportada en la literatura para cada pico, sin  esfuerzos residuales. En esta tabla se nota que todos los picos est&aacute;n  ensanchados, ya que presentan valores superiores a 0.1&#730; y la deformaci&oacute;n  es del orden de 10<sup>-4</sup> en los planos (200) y de un orden de magnitud  mayor en los planos (111).</font></p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig05"></a>Tabla 5.</b> Deformaci&oacute;n el&aacute;stica  residual de los picos correspondientes a la capa de TiN, suponiendo &#946;=&#946;<sub>&#949;    <br>  </sub></font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Table 5.</b> Residual strain for the  TiN film assuming &#946;=&#946;<sub>&#949;</sub></font>    <br>  <img src="/img/revistas/dyna/v76n160/a20tab05.gif"></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">En resultados previos se ha  planteado, para capas depositas de TiN sobre un sustrato similar, que los  esfuerzos residuales en la capa son debidos a granos compitiendo por crecer durante  la deposici&oacute;n &#91;15&#93;.</font></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Comparando las deformaciones  residuales el&aacute;sticas calculadas en la  <a href="#tab03">Tabla 3</a> para el sustrato y en la <a href="#tab05">Tabla 5</a> para la capa, se  nota que hay diferencias importantes que evidencian el desajuste &#91;2&#93; que hay en la intercara. Adem&aacute;s, en el difractograma  de la <a href="#fig04">Figura  4</a>, tanto el TiN como el acero mostraron picos de DRX  ensanchados debido a tensiones residuales. La deformaci&oacute;n residual fue de 10<sup>-4</sup> para la austenita, para la martensita en  el plano (211) y para el TiN en los planos (200); y 10<sup>-3</sup> para la  martensita en el plano (200) y para el TiN en los planos (111). As&iacute;, en las  zonas de la intercara donde hay TiN(111) unido con austenita, el desajuste es  muy alto, pese a que tanto el TiN como la austenita tienen estructura  cristalina c&uacute;bica centrada en las caras, aunque con diferentes par&aacute;metros de  red &#91;16&#93;. </font></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Con los par&aacute;metros de red del  sustrato y de la capa se puede estimar el desajuste &#91;2&#93; y la longitud media entre las dislocaciones de  desajuste en la intercara. </font></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">El desajuste en la intercara <img src="/img/revistas/dyna/v76n160/a20eq008.gif"> entre las redes  de la austenita y la capa de TiN est&aacute; dado por:</font></p>      <p><img src="/img/revistas/dyna/v76n160/a20eq03.gif"></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Donde <img src="/img/revistas/dyna/v76n160/a20eq010.gif"> y <img src="/img/revistas/dyna/v76n160/a20eq012.gif"> son  respectivamente los par&aacute;metros de red de la capa de TiN (ver &#91;17&#93;) y de la austenita (ver &#91;17&#93;) del sustrato. Este resultado corresponde a un  desajuste del 18.4%. N&oacute;tese que si las redes del sustrato y de la capa fueran  iguales, el desajuste ser&iacute;a igual a cero. </font></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">De otro lado, el desajuste entre  la fase martensita &#945;&#8217; del sustrato (cuyo par&aacute;metro de red es 2.872 Å,  ver &#91;7&#93;) del sustrato y la capa de TiN est&aacute; dado por: </font></p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<p><img src="/img/revistas/dyna/v76n160/a20eq04.gif"></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Este resultado corresponde a un  desajuste del 47.8%. Es decir que el desajuste en la intercara martensita &#945;&#8217;  -TiN es del orden de tres veces el desajuste en la intercara austenita-TiN, lo  cual da una idea de la complejidad en cuanto a la distribuci&oacute;n de defectos que  hay en la intercara acero AISI 304-capa de TiN. Por otro lado, en la intercara  se forman dislocaciones que ayudan a relajar la energ&iacute;a residual debida al  desajuste entre las redes del sustrato y de la capa, a una distancia que es una  funci&oacute;n de la deformaci&oacute;n el&aacute;stica m&aacute;xima que soporta la intercara. Estas  dislocaciones se conocen como dislocaciones de desajuste y son dislocaciones de  borde con su eje sobre la  intercara. La distancia <img src="/img/revistas/dyna/v76n160/a20eq014.gif"> que hay entre  las dislocaciones de desajuste en la intercara austenita-TiN est&aacute; dado en la  ecuaci&oacute;n 5: </font></p>      <p><img src="/img/revistas/dyna/v76n160/a20eq05.gif"></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Este resultado significa que las  regiones coherentes en la intercara austenita-TiN tienen una longitud de 23.3 Å.  Puesto que el sustrato est&aacute; deformado, esta longitud puede ser menor en los  materiales estudiados. </font></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">De igual forma, la distancia <img src="/img/revistas/dyna/v76n160/a20eq016.gif"> que hay entre  las dislocaciones de desajuste en la intercara martensita &#945;&#8217; -TiN  est&aacute; expresada en la ecuaci&oacute;n 4: </font></p>      <p><img src="/img/revistas/dyna/v76n160/a20eq06.gif"></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Lo cual significa que las  regiones coherentes en la intercara martensita &#945;&#8217; -TiN tienen una  longitud de 9.2 Å. De igual forma, como el sustrato est&aacute; deformado, esta  longitud puede ser menor en los materiales estudiados. Los resultados de las  ecuaciones 5 y 6 son coherentes con los obtenidos con las ecuaciones 3 y 4, el  mayor desajuste en la intercara martensita-TiN corresponde una densidad de  dislocaciones de desajuste mayor (menor distancia entre ellas) que en la  intercara austenita-TiN.</font></p>      <p>&nbsp;</p>      <p><b><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">4. CONCLUSIONES </font></b></p>      <p><b><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"></font></b><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">El  an&aacute;lisis de los picos de DRX para el sistema AISI304/TiN mostr&oacute; que el  ensanchamiento de los mismos se deb&iacute;a a tensiones residuales en el sustrato,  presentes en las fases austenita y martensita del sustrato y a una posible  combinaci&oacute;n de grano fino y tensiones residuales en la capa de TiN. </font></p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<p>&nbsp;</p>      <p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>5. AGRADECIMIENTOS </b></font></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Los autores quieren agradecer al  Instituto Colombiano para el Desarrollo de la Ciencia y la Tecnolog&iacute;a COLCIENCIAS y a  la Universidad Nacional  de Colombia Sede Medell&iacute;n. </font></p>      <p>&nbsp;</p>      <p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>REFERENCIAS </b></font></p>      <!-- ref --><p>    <font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>&#91;1&#93;</b> ULF HELMERSSON, MARTINA LATTEMANN, JOHAN BOHLMARK, ARUTIUN P. EHIASARIAN, JON TOMAS GUDMUNDSSON, Thin Solid Films 513 , 1-24, 2006.        &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000108&pid=S0012-7353200900040002000001&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>    <b>&#91;2&#93;</b> M. OHRING, The Materials Science of Thin Films, Academic Press, NY, USA, Second Edition, 750-950, 2002.        &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000109&pid=S0012-7353200900040002000002&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>    <b>&#91;3&#93;</b> J.I. OÑATE, M. BRIZUELA, A. GARC&Iacute;A-LUIS, I. BRACERAS , S. PACHECO Y J.L. VIVIENTE, Rev. Metal. Madrid 37,148-153, 2005.     &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000110&pid=S0012-7353200900040002000003&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>    <b>&#91;4&#93;</b> R. JENKINS, R. L. SNYDER, Chemical Analysis: Introduction to X-Ray Powder Diffractometry. Jhon Wiley and Sons, INC., USA, Vol. 138, 750-950, 1994.        &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000111&pid=S0012-7353200900040002000004&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>    <b>&#91;5&#93;</b> G. PARRY , J. COLIN, C. COUPEAU, F. FOUCHER, A. CIMETIERE, J. GRILHE, Acta Materialia 53, 441-447, 2005.        &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000112&pid=S0012-7353200900040002000005&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>    <b>&#91;6&#93;</b> V. GARC&Iacute;A-NAVAS, I. FERRERES, J.A. MARAÑ&Oacute;N, C. GARC&Iacute;A-ROSALES Y J. GIL-SEVILLANO, Rev. Metal. Madrid 41, 148-153, 2005.     &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000113&pid=S0012-7353200900040002000006&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>    <b>&#91;7&#93;</b> D. PECKNER, I. M. BERNSTEIN, Handbook of Stainless Steels, McGraw-Hill Book Company, USA, Chapter 4, 1-78, 1977.        &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000114&pid=S0012-7353200900040002000007&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>    <b>&#91;8&#93;</b> ISTV&Aacute;N M&Eacute;SZ&Aacute;ROS Y J&Aacute;NOS PROH ASZKA, Journal of Materials Processing Technology, 161, 162–168, 2005.     &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000115&pid=S0012-7353200900040002000008&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>    <b>&#91;9&#93;</b> HARISH C. BARSHILIA Y K. S. RAJAM, BULL. Mater. Sci., 26, 2, 233-237, 2003.        &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000116&pid=S0012-7353200900040002000009&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>    <b>&#91;10&#93;</b> WEN-JUN CHOU, GE-PING YU, JIA-HONG HUANG, Surface Coating Technology, 149, 7-13, 2002.        &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000117&pid=S0012-7353200900040002000010&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>    <b>&#91;11&#93;</b> COLAS, R., DUUNNER, P., SCHMITS-PRANGHE, N., Z. ANGEW, Phys., 23, 245, 1967.        &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000118&pid=S0012-7353200900040002000011&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>    <b>&#91;12&#93;</b> S. S. S. TAVARES, D. FRUCHART, S. MIRAGLIA, Journal of Alloys and Compounds, 307, 311-317, 2000.         &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000119&pid=S0012-7353200900040002000012&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>    <b>&#91;13&#93;</b> KLUG, H. P., Y ALEXANDER, L. E. X-Ray Diffraction, Wiley, NY, USA , Second Edition, 656-670, 1974.        &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000120&pid=S0012-7353200900040002000013&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>    <b>&#91;14&#93;</b> W. WONG-NG, H. MCMURDIE, B. PARETZKIN, C. HUBBARD, A. DRAGOO. ICDD Grant-in-Aid, NBS, GAITHERSBURG, MD, USA , 1987.        &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000121&pid=S0012-7353200900040002000014&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>    <b>&#91;15&#93;</b> M. LEONI, P. SCARDI, S. ROSSI, L. FEDRIZZI, Y. MASSIANI Thin Solid Films 345, 263-269, 1999.        &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000122&pid=S0012-7353200900040002000015&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>    <b>&#91;16&#93;</b> J. KRAFT, O. RATTUNDE , O. RUSU, A. HAFELE, H. HABERLAND, Surface and Coatings Technology, 158-159, 441-447, 2002.        &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000123&pid=S0012-7353200900040002000016&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>    <b>&#91;17&#93;</b> J. M. HOWE, Interfaces in Materials, University of Virginia, John Wiley and Sons, EE.UU. 176-193, 1997. </font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000124&pid=S0012-7353200900040002000017&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> ]]></body><back>
<ref-list>
<ref id="B1">
<label>1</label><nlm-citation citation-type="">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[HELMERSSON]]></surname>
<given-names><![CDATA[ULF]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[LATTEMANN]]></surname>
<given-names><![CDATA[MARTINA]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[BOHLMARK]]></surname>
<given-names><![CDATA[JOHAN]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[EHIASARIAN]]></surname>
<given-names><![CDATA[ARUTIUN P.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[GUDMUNDSSON]]></surname>
<given-names><![CDATA[JON TOMAS]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[Thin Solid Films 513]]></source>
<year>2006</year>
<page-range>1-24</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B2">
<label>2</label><nlm-citation citation-type="book">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[OHRING]]></surname>
<given-names><![CDATA[M.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[The Materials Science of Thin Films]]></source>
<year>2002</year>
<edition>Second</edition>
<page-range>750-950</page-range><publisher-loc><![CDATA[NY ]]></publisher-loc>
<publisher-name><![CDATA[Academic Press]]></publisher-name>
</nlm-citation>
</ref>
<ref id="B3">
<label>3</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[OÑATE]]></surname>
<given-names><![CDATA[J.I.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[BRIZUELA]]></surname>
<given-names><![CDATA[M.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[GARCÍA-LUIS]]></surname>
<given-names><![CDATA[A.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[BRACERAS]]></surname>
<given-names><![CDATA[I.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[PACHECO]]></surname>
<given-names><![CDATA[S.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[VIVIENTE]]></surname>
<given-names><![CDATA[J.L.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[Rev. Metal. Madrid]]></source>
<year>2005</year>
<volume>37</volume>
<page-range>148-153</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B4">
<label>4</label><nlm-citation citation-type="book">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[JENKINS]]></surname>
<given-names><![CDATA[R.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[SNYDER]]></surname>
<given-names><![CDATA[R. L.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[Chemical Analysis: Introduction to X-Ray Powder Diffractometry]]></source>
<year>1994</year>
<volume>138</volume>
<page-range>750-950</page-range><publisher-name><![CDATA[Jhon Wiley and Sons, INC.]]></publisher-name>
</nlm-citation>
</ref>
<ref id="B5">
<label>5</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[PARRY]]></surname>
<given-names><![CDATA[G.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[COLIN]]></surname>
<given-names><![CDATA[J.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[COUPEAU]]></surname>
<given-names><![CDATA[C.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[FOUCHER]]></surname>
<given-names><![CDATA[F.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[CIMETIERE]]></surname>
<given-names><![CDATA[A.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[GRILHE]]></surname>
<given-names><![CDATA[J.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[Acta Materialia]]></source>
<year>2005</year>
<volume>53</volume>
<page-range>441-447</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B6">
<label>6</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[GARCÍA-NAVAS]]></surname>
<given-names><![CDATA[V.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[FERRERES]]></surname>
<given-names><![CDATA[I.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[MARAÑÓN]]></surname>
<given-names><![CDATA[J.A.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[GARCÍA-ROSALES]]></surname>
<given-names><![CDATA[C.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[GIL-SEVILLANO]]></surname>
<given-names><![CDATA[J.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[Rev. Metal. Madrid]]></source>
<year>2005</year>
<volume>41</volume>
<page-range>148-153</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B7">
<label>7</label><nlm-citation citation-type="book">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[PECKNER]]></surname>
<given-names><![CDATA[D.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[BERNSTEIN]]></surname>
<given-names><![CDATA[I. M.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[Handbook of Stainless Steels]]></source>
<year>1977</year>
<page-range>1-78</page-range><publisher-name><![CDATA[McGraw-Hill Book Company]]></publisher-name>
</nlm-citation>
</ref>
<ref id="B8">
<label>8</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[MÉSZÁROS]]></surname>
<given-names><![CDATA[ISTVÁN]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[PROH ASZKA]]></surname>
<given-names><![CDATA[JÁNOS]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[Journal of Materials Processing Technology]]></source>
<year>2005</year>
<volume>161</volume>
<page-range>162-168</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B9">
<label>9</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[BARSHILIA]]></surname>
<given-names><![CDATA[HARISH C.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[RAJAM]]></surname>
<given-names><![CDATA[K. S.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[Mater. Sci.]]></source>
<year>2003</year>
<volume>26</volume>
<numero>2</numero>
<issue>2</issue>
<page-range>233-237</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B10">
<label>10</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[CHOU]]></surname>
<given-names><![CDATA[WEN-JUN]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[YU]]></surname>
<given-names><![CDATA[GE-PING]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[HUANG]]></surname>
<given-names><![CDATA[JIA-HONG]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[Surface Coating Technology]]></source>
<year>2002</year>
<volume>149</volume>
<page-range>7-13</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B11">
<label>11</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[COLAS]]></surname>
<given-names><![CDATA[R.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[DUUNNER]]></surname>
<given-names><![CDATA[P.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[SCHMITS-PRANGHE]]></surname>
<given-names><![CDATA[N.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[ANGEW]]></surname>
<given-names><![CDATA[Z.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[Phys.]]></source>
<year>1967</year>
<volume>23</volume>
<page-range>245</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B12">
<label>12</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[TAVARES]]></surname>
<given-names><![CDATA[S. S. S.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[FRUCHART]]></surname>
<given-names><![CDATA[D.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[MIRAGLIA]]></surname>
<given-names><![CDATA[S.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[Journal of Alloys and Compounds]]></source>
<year>2000</year>
<volume>307</volume>
<page-range>311-317</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B13">
<label>13</label><nlm-citation citation-type="book">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[KLUG]]></surname>
<given-names><![CDATA[H. P.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[ALEXANDER]]></surname>
<given-names><![CDATA[L. E.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[X-Ray Diffraction]]></source>
<year>1974</year>
<edition>Second</edition>
<page-range>656-670</page-range><publisher-loc><![CDATA[^eNY NY]]></publisher-loc>
<publisher-name><![CDATA[Wiley]]></publisher-name>
</nlm-citation>
</ref>
<ref id="B14">
<label>14</label><nlm-citation citation-type="book">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[WONG-NG]]></surname>
<given-names><![CDATA[W.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[MCMURDIE]]></surname>
<given-names><![CDATA[H.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[PARETZKIN]]></surname>
<given-names><![CDATA[B.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[HUBBARD]]></surname>
<given-names><![CDATA[C.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[DRAGOO]]></surname>
<given-names><![CDATA[A.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[ICDD Grant-in-Aid]]></source>
<year>1987</year>
<publisher-loc><![CDATA[GAITHERSBURG^eMD MD]]></publisher-loc>
<publisher-name><![CDATA[NBS]]></publisher-name>
</nlm-citation>
</ref>
<ref id="B15">
<label>15</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[LEONI]]></surname>
<given-names><![CDATA[M.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[SCARDI]]></surname>
<given-names><![CDATA[P.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[ROSSI]]></surname>
<given-names><![CDATA[S.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[FEDRIZZI]]></surname>
<given-names><![CDATA[L.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[MASSIANI]]></surname>
<given-names><![CDATA[Y.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[Thin Solid Films]]></source>
<year>1999</year>
<volume>345</volume>
<page-range>263-269</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B16">
<label>16</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[KRAFT]]></surname>
<given-names><![CDATA[J.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[RATTUNDE]]></surname>
<given-names><![CDATA[O.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[RUSU]]></surname>
<given-names><![CDATA[O.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[HAFELE]]></surname>
<given-names><![CDATA[A.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[HABERLAND]]></surname>
<given-names><![CDATA[H.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[Surface and Coatings Technology]]></source>
<year>2002</year>
<page-range>158-159</page-range><page-range>441-447</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B17">
<label>17</label><nlm-citation citation-type="book">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[HOWE]]></surname>
<given-names><![CDATA[J. M.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<collab>University of Virginia</collab>
<source><![CDATA[Interfaces in Materials]]></source>
<year>1997</year>
<page-range>176-193</page-range><publisher-name><![CDATA[John Wiley and Sons]]></publisher-name>
</nlm-citation>
</ref>
</ref-list>
</back>
</article>
