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<article-title xml:lang="es"><![CDATA[IMPEDANCIA ELECTROQUÍMICA - INTERPRETACIÓN DE DIAGRAMAS TÍPICOS CON CIRCUITOS EQUIVALENTES]]></article-title>
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<abstract abstract-type="short" xml:lang="en"><p><![CDATA[In the last time the Electrochemical Impedance (EI) has been increasingly used in the material characterization related to electro-catalysis and corrosion phenomena. This work shows physical, analytic and graphic analysis of one of the equivalent circuits more used for the adjustment of data and diagrams of Electrochemical Impedance. One indicate the way to deduce the values of some useful parameters in the fitting processes to the transfer function of some equivalent circuits, and the relationship between these values and the form of the EI diagrams. The processes displayed here has been applied to the analysis of electrochemical impedance data of a steel AISI 1055 in HCl at 3% and ten CrN/Cr multilayers of period &#923; = 100 nm, deposited on H13 in NaCl at 3%.]]></p></abstract>
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</front><body><![CDATA[ <p align="center"><b><font size="4" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">IMPEDANCIA ELECTROQU&Iacute;MICA - INTERPRETACI&Oacute;N DE DIAGRAMAS T&Iacute;PICOS CON CIRCUITOS EQUIVALENTES </font></b></p>     <p align="center"><i><b><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">ELECTROCHEMICAL IMPEDANCE - INTERPRETATION OF TYPICAL DIAGRAMS WITH EQUIVALENT CIRCUITS </font></b></i></p>     <p align="center">&nbsp;</p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>ULISES PIRATOBA MORALES </b>    <br>   <i>Escuela de F&iacute;sica Universidad Pedag&oacute;gica y   Tecnol&oacute;gica de Colombia, <a href="mailto:upiratobam@unal.edu.co">upiratobam@unal.edu.co</a></i></font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>&Aacute;LVARO MARIÑO   CAMARGO</b>    <br>   Dr rer. Nat. Profesor   Em&eacute;rito de F&iacute;sica Universidad Nacional de Colombia, <a href="mailto:amarinoca@unal.edu.co">amarinoca@unal.edu.co</a> </font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>JOHN JAIRO OLAYA   FL&Oacute;REZ</b>    <br>   Dr Profesor de Ingenier&iacute;a Universidad Nacional   de Colombia, <a href="mailto:jjolaya@unal.edu.co">jjolaya@unal.edu.co</a></font></p>     <p align="center">&nbsp;</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Recibido para revisar Marzo 4 de 2009, aceptado   Septiembre 7 de 2009, versi&oacute;n final Septiembre 15 de 2009</b></font></p>     <p align="center">&nbsp;</p> <hr>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>RESUMEN: </b> La Impedancia Electroqu&iacute;mica (IE) se viene utilizando cada vez m&aacute;s en la   caracterizaci&oacute;n del desempeño de los materiales principalmente en lo   relacionado con electro-cat&aacute;lisis y corrosi&oacute;n. En este trabajo se presenta el   an&aacute;lisis f&iacute;sico, anal&iacute;tico y gr&aacute;fico de uno de los circuitos equivalente m&aacute;s   usado para el ajuste de los datos y diagramas de IE.   Se indica c&oacute;mo deducir de los diagramas,   algunos valores de par&aacute;metros &uacute;tiles en el proceso de ajuste a la funci&oacute;n de   transferencia de circuito equivalente t&iacute;pico, y la relaci&oacute;n entre estos valores   y la forma de los diagramas de impedancia electroqu&iacute;mica. Los procesos   desarrollados se aplican luego al an&aacute;lisis de datos impedancia electroqu&iacute;mica   de un acero AISI 1055 en HCl al 3% y a diez multicapas de periodo &#923; = 100 nm, depositadas sobre H13 en NaCl al 3%.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>PALABRAS CLAVE:</b> Impedancia Electroqu&iacute;mica(IE), Diagramas de IE.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>ABSTRACT: </b>In the last time the Electrochemical Impedance (EI) has   been increasingly used in the material characterization related to electro-catalysis   and corrosion phenomena. This work shows physical, analytic and graphic   analysis of one of the equivalent circuits more used for the adjustment of data   and diagrams of Electrochemical Impedance. One indicate the way to deduce the values of some useful parameters in the   fitting processes to the transfer function of some equivalent circuits, and the   relationship between these values and the form of the EI diagrams. The   processes displayed here has been applied to the analysis of electrochemical   impedance data of a steel AISI   1055   in HCl at 3% and ten CrN/Cr multilayers of period   &#923; = 100 nm, deposited on H13 in NaCl at 3%.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>KEYWORDS:</b> Electrochemical   Impedance (EI), EI diagrams.</font></p> <hr>     <p>&nbsp;</p>     <p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>1. INTRODUCCI&Oacute;N </b></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"> La Impedancia   Electroqu&iacute;mica IE, se aplica a la   evaluaci&oacute;n del comportamiento electroqu&iacute;mico de interfaces de electrodo - electr&oacute;lito y es &uacute;til en la interpretaci&oacute;n de   los fen&oacute;menos del inter&eacute;s cient&iacute;fico y tecnol&oacute;gico como la electro cat&aacute;lisis,   la corrosi&oacute;n, o el comportamiento de recubrimientos sobre substratos met&aacute;licos. </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"> La IE se basa en la aplicaci&oacute;n a la interface de un voltaje arm&oacute;nico <sub><img src="/img/revistas/dyna/v77n164/a08eq002.gif"> </sub>cuya amplitud es de algunos milivoltios y cuya frecuencia se hace variar desde   unos pocos mili Hertz hasta los Mega Hertz; se detecta la corriente <sub><img src="/img/revistas/dyna/v77n164/a08eq004.gif"> </sub>y se despliegan los siguientes diagramas de impedancia <i>Z</i>: el plano complejo de la   impedancia, es decir, su parte imaginaria <i>Z"</i> en funci&oacute;n de la parte real <i>Z'</i> (diagramas de Niquist), o el m&oacute;dulo de la impedancia <i>Z</i> y la diferencia de fase <i>&#966;</i> en funci&oacute;n del logaritmo   de la frecuencia <i>f</i> (diagramas de bode). </font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Para la interpretaci&oacute;n de los   diagramas o para el an&aacute;lisis cuantitativo de procesos en la interface, estos   diagramas son ajustados a la funci&oacute;n de transferencia (impedancia), de algunos circuitos   equivalentes que, adem&aacute;s de los elementos cl&aacute;sicos: resistencias <i>R</i>, capacitancias <i>C</i> e inductancias <i>L</i>, usan elementos de fase constante <i>Q</i>, elementos de Warburg finito <i>T</i>, semi infinito <i>W</i> o de bordes porosos <i>O</i> cuyas impedancias se muestran en   la <a href="#tab01">tabla 1</a>.</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><a name="tab01"></a><b>Tabla 1.</b> Impedancias de elementos usados en IE    <br>   <b>Table 1.</b> Impedances of elements used in EI</font>    <br>   <img src="/img/revistas/dyna/v77n164/a08tab01.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">En este trabajo   se parte de un circuito equivalente t&iacute;pico, utilizado en muchas publicaciones;   se obtienen las expresiones anal&iacute;ticas   de su impedancia, para luego analizarlas y graficarlas. Se generaron y graficaron   los diagramas de Impedancia Electroqu&iacute;mica IE utilizando MATLAB, y se señalan   procedimientos para identificar en estos diagramas algunos de sus par&aacute;metros, o   sea, los valores de los elementos usados en el circuito equivalente.</font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><b><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">2. ANALISIS DE UN CIRCUITO T&Iacute;PICO DE   IMPEDANCIA ELECTROQU&Iacute;MICA</font></b></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Uno de los circuitos m&aacute;s utilizado y al que mejor se le ajustan muchos datos experimentales   de IE, se muestra en la <a href="#fig01">Figura   1</a> [1,2]. En particular, se ajusta a la interface electrodo recubierto -   electr&oacute;lito que se ilustra en la misma figura. Recientemente ha sido aplicado a   la evaluaci&oacute;n de interfaces metal pasivo - electr&oacute;lito o metal con recubrimiento   duro-electrolito [3-13]; en algunas publicaciones se le han hecho ligeras   modificaciones incluyendo alguno de los elementos de Warburg.   En la interface as&iacute; formada, <b><i>R<sub>E</sub></i> </b>representa la resistencia del electr&oacute;lito, puesto que en &eacute;ste, la migraci&oacute;n de iones presenta   un comportamiento &Oacute;hmico; <b><i>C<sub>C</sub></i></b> representa el efecto   capacitivo del recubrimiento aislante, ya que &eacute;ste act&uacute;a como un diel&eacute;ctrico que   separa algunas de las cargas del electr&oacute;lito, de aquellas que son inducidas en   el electrodo met&aacute;lico. Los elementos restantes, representan los defectos o la   porosidad del recubrimiento a trav&eacute;s de los cuales el electr&oacute;lito entra en   contacto con el metal; <b><i>R<sub>P</sub></i></b> representa la   resistencia de poro y el circuito paralelo <b><i>RC</i></b>, representa la interface formada por   electrolito que entra en contacto con el metal: <b><i>R</i></b> representa la   resistencia de polarizaci&oacute;n o resistencia de transferencia de carga y <b><i>C</i></b> la capacitancia de doble capa el&eacute;ctrica. La impedancia de este circuito en   t&eacute;rminos de las cantidades adimensionales. </font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><a name="fig01"></a><b><img src="/img/revistas/dyna/v77n164/a08fig01.gif">    <br>   Figura 1.</b> Representaci&oacute;n de una interface electrodo con recubrimiento   poroso o defectuoso-electrolito, y su cricuito equivalente    ]]></body>
<body><![CDATA[<br>   </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Figure 1.</b> An interface electrode with   defect or porous coating -electrolyte representation, and it&rsquo;s equivalent   circuit</font></p>     <p><img src="/img/revistas/dyna/v77n164/a08eq01.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Las partes real <b><i>Z'</i></b> e imaginaria negativa <b><i>Z"</i></b> de esta impedancia son:</font></p>     <p><img src="/img/revistas/dyna/v77n164/a08eq02.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Las <a href="#fig02">Figuras 2</a> a <a href="#fig06">6</a> indican diferentes diagramas   IE de este circuito b&aacute;sico. Los diagramas de Niquist,   muestran 2 rizos relacionados con las 2 constantes de tiempo: <b><i>RC</i></b> y <b><i>R<sub>P</sub>C<sub>C</sub></i></b>.   La separaci&oacute;n de los rizos, depende de los valores que tomen estas constantes   de tiempo; si por ejemplo <b><i>RC &gt; R<sub>P</sub>C<sub>C</sub></i></b>,   a altas frecuencias puede ser considerada nula la impedancia de <b><i>C</i></b>;   el circuito se reduce a la resistencia <b><i>R<sub>E</sub></i> </b>en serie con el   circuito paralelo <b><i>R<sub>P</sub>C<sub>C</sub></i></b>, conocido como circuito Randles. Conservando en las ecuaciones anteriores solo los   t&eacute;rminos m&aacute;s significativos a altas frecuencias, se obtienen las siguientes expresiones aproximadas:</font></p>     <p><img src="/img/revistas/dyna/v77n164/a08eq03.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Eliminando   en estas 2 igualdades el par&aacute;metro <i>x<sub>C</sub></i>, se obtiene la ecuaci&oacute;n de la curva en el   plano complejo de la impedancia</font></p>     <p><img src="/img/revistas/dyna/v77n164/a08eq04.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">ecuaci&oacute;n que   corresponde a un semic&iacute;rculo de radio <b><i>R<sub>P</sub></i>/2</b>, centro en (<b><i>R<sub>E </sub>+ R<sub>P</sub>/2</i></b><i>, <b>0</b></i>)   y puntos de corte con el eje real en <b><i>R<sub>E</sub></i> y <i>R<sub>E </sub>+</i></b><i> <b>R<sub>P</sub></b><sub>.</sub></i></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">A bajas frecuencias,   puede considerarse a <b><i>C<sub>C</sub></i></b> en circuito abierto; el   circuito remanente es otra vez un circuito Randles, compuesto por   una resistencia de valor <b><i>R<sub>E</sub> + R<sub>P</sub></i></b> en   serie con el circuito paralelo <b><i>RC</i></b>. Conservando de ahora solo los   t&eacute;rminos m&aacute;s significativos a bajas frecuencias en las ecuaciones (2), se   obtiene</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><img src="/img/revistas/dyna/v77n164/a08eq05.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">y eliminando a <i>x</i> de estas ecuaciones se   obtiene</font></p>     <p><img src="/img/revistas/dyna/v77n164/a08eq06.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Nuevamente   corresponde a la ecuaci&oacute;n de un semic&iacute;rculo de radio <b><i>R/2</i></b>, centro en (<b><i>R<sub>E </sub>+ R<sub>P </sub>+ R/2</i></b><i>, <b>0</b></i>) y puntos de corte con el eje real en <b><i>R<sub>E </sub>+ R<sub>P</sub></i></b> y <b><i>R<sub>E </sub>+ R<sub>P </sub>+ R</i></b>. </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Para obtener   los diagramas representados en las <a href="#fig02">figuras 2</a> a <a href="#fig06">6</a>, se parti&oacute; de un circuito base (curva A   en cada uno de ellos), obtenido con los valores de par&aacute;metros que se muestran   en la segunda fila de la <a href="#tab02">tabla 2</a>. <b><i>R<sub>E</sub></i></b> se tom&oacute; igual a cero.</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="tab02"></a>Tabla 2.</b> Par&aacute;metros usados en el trazado de las <a href="#fig02">figuras   2</a> a <a href="#fig06">6</a>, y obtenidos del ajuste a las <a href="#fig07">figuras 7</a> a <a href="#fig10">10</a>    <br>   <b>Table 2.</b> Parameters used for the   layout of the <a href="#fig02">figures 2</a> to <a href="#fig06">6</a>, and obtained by the fitting of <a href="#fig07">figures 7</a> to <a href="#fig10">10</a></font>    <br>   <img src="/img/revistas/dyna/v77n164/a08tab02.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">En la <a href="#fig02">Figura 2</a>, se puede observar   que el efecto de la variar los valores de las resistencias, (l&iacute;nea B con <b><i>R</i></b>=   1 k&#937; y <b><i>R<sub>c</sub></i></b> = 0,6 k&#937;; l&iacute;nea C con <b><i>R</i></b>= <b><i>R<sub>C</sub></i></b> = 1 k&#937;), es el de variar los radios y las posiciones de   los bucles aproximadamente semicirculares del plano complejo, en concordancia   con lo afirmado en p&aacute;rrafos anteriores.</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig02"></a><img src="/img/revistas/dyna/v77n164/a08fig02.gif">    ]]></body>
<body><![CDATA[<br>   Figura 2. </b>Diagram de   Niquist (plano complejo) con diferentes valores de <i>R</i> y   de <i>R<sub>C    <br>   </sub></i></font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Figure 2.</b> Niquist Diagram (complex plane) with different values of <i>R</i> and <i>R<sub>C</sub></i></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"> La <a href="#fig03">Figura 3</a>, permite observar   el efecto de variar los valores de las constantes pseudo capacitivas <b><i>Y</i></b> que tienen los elementos de fase constante, y que   corresponden a capacitancias <b><i>C</i></b> cuando <b><i>n</i></b>=1. Fueron obtenidos con <b><i>Y</i></b>=0,1 <sub><img src="/img/revistas/dyna/v77n164/a08eq006.gif"></sub>y <b><i>Y<sub>C</sub></i></b>=0,01 <sub><img src="/img/revistas/dyna/v77n164/a08eq006.gif"></sub> para curva la B, y con <b><i>Y</i></b><i>=<b>Y<sub>C</sub></b>=</i> 0,01 <sub><img src="/img/revistas/dyna/v77n164/a08eq006.gif"></sub> para la curva C. El   aumento de los valores de estas constantes, incrementa la contribuci&oacute;n de la   parte imaginaria de la impedancia, y si las constantes de tiempo, (productos de   capacitancia por resistencia) son muy similares como en la <a href="#fig03">figura 3C</a>, entonces los bucles se superponen. </font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig03"></a><img src="/img/revistas/dyna/v77n164/a08fig03.gif">    <br>   Figura 3.</b> Diagrama de Niquist con   diferentes valores de C y C<sub>C    <br>   </sub></font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Figure 3.</b> Niquist diagram with   different values of C and C<sub>C</sub></font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><b><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">3. SUSTITUCI&Oacute;N   DE CAPACITANCIAS <i>C</i> POR ELEMENTOS DE   FASE CONSTANTE <i>Q</i></font></b></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La sustituci&oacute;n de capacitancias <i>C</i> por elementos de fase constante, en cuyo caso se prefiere usar una constante pseudo capacitiva <i>Y</i>,   ocasiona una disminuci&oacute;n en la parte imaginaria de la impedancia y por ello un   aplanamiento de los diagramas de Niquist, como puede   observarse en la <a href="#fig04">Figura   4</a>. En &eacute;sta se indican los valores de los exponentes <i>n</i>=<i>n<sub>c</sub></i> utilizados en cada caso. </font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig04"></a><img src="/img/revistas/dyna/v77n164/a08fig04.gif">    ]]></body>
<body><![CDATA[<br>   Figura 4.</b> Diagrama de Niquist para los valores b&aacute;sicos y diferentes valores   de <b><i>n</i></b> =<b><i> n<sub>C    <br>   </sub></i></b></font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Figure 4.</b> Niquist diagram for basic circuit and with different <b><i>n</i></b> = <b><i>n<sub>C</sub></i></b> values</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La necesidad de usar elementos de fase constante, ha sido atribuida por   algunos autores a la presencia de rugosidades o a superficies heterog&eacute;neas.   Nuestro an&aacute;lisis, confirma dicha interpretaci&oacute;n, pues cuando en el circuito equivalente deben incluirse varios circuitos <i>RC</i>, la respuesta es una envolvente de   varios semic&iacute;rculos, resultando diagramas de Niquist aplanados, como el que se muestra en la <a href="#fig03">figura   3C</a>. Como se mencion&oacute; antes, el   aplanamiento de los semic&iacute;rculos, es lo caracter&iacute;stico de los elementos de fase   constante. </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Es necesario el uso de las siguientes igualdades para obtener las   expresiones anal&iacute;ticas de las impedancias:</font></p>     <p><img src="/img/revistas/dyna/v77n164/a08eq061.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">El m&oacute;dulo de la impedancia y el &aacute;ngulo de fase <b><i>&#966;</i></b>,   son obtenidos con las expresiones elementales</font></p>     <p><img src="/img/revistas/dyna/v77n164/a08eq051.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Estas expresiones permiten obtener los   diagramas EI ya mencionados: el de Niquist, donde se   grafica la parte imaginaria negativa <b><i>Z"</i></b> contra la real <b><i>Z'</i></b>,   y el de Bode donde se grafican simult&aacute;neamente la impedancia <b><i>Z</i></b> y el &aacute;ngulo de fase <b><i>&#966;</i></b> contra el logaritmo de la frecuencia <sub><img src="/img/revistas/dyna/v77n164/a08eq008.gif"></sub><i>.</i></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Las representaciones gr&aacute;ficas de impedancia o &aacute;ngulo de fase contra el   logaritmo de la frecuencia, <a href="#fig05">figuras 5</a> y <a href="#fig06">6</a>, fueron tomadas con los datos de las <a href="#fig02">figuras 2</a> a <a href="#fig04">4</a> que en las mismas se señalan. Muestran para la <a href="#fig05">figura 5</a>, regiones aproximadamente horizontales que   corresponden a los valores de <b><i>R<sub>E</sub></i></b><i>+<b>R<sub>P</sub></b>+<b>R</b></i>, <b><i>R<sub>E</sub></i></b><i>+<b>R</b> y <b>R<sub>E</sub></b></i> a frecuencias   cada vez mayores.</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig05"></a><img src="/img/revistas/dyna/v77n164/a08fig05.gif">    ]]></body>
<body><![CDATA[<br>   Figura 5.</b> M&oacute;dulo de la impedancia contra el logaritmo de la frecuencia    <br>   </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Figure 5.</b> Impedance Module   against the logarithm of the frequency</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig06"></a><img src="/img/revistas/dyna/v77n164/a08fig06.gif">    <br>   Figura 6.</b> &Aacute;ngulo de fase contra el   logaritmo de la frecuencia    <br>   </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Figure 6.</b> Phase angle versus the   logarithm of the frequency</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">El &aacute;ngulo de fase toma un valor de 90° a altas frecuencias para <b><i>n</i></b>=1   y valores m&aacute;s pequeños para <b><i>n</i></b>=0,6; estos &aacute;ngulos van disminuyendo   luego con la frecuencia con una pendiente proporcional al valor de <b><i>n</i></b> como lo muestra la <a href="#fig06">figura 6</a>.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Al circuito estudiado, se ajustan los datos   experimentales de impedancia electroqu&iacute;mica tomados a un electrodo de acero   AISI 1055, en una soluci&oacute;n de HCl al 3%, resultados   que se muestran indicados con puntos en las <a href="#fig07">figuras 7</a> y <a href="#fig08">8</a>, obtenidos con un   espectr&oacute;metro Gamry modelo PC4. Se obtuvo, luego de   un ajuste iterativo, para la resistencia del electrolito <b><i>R<sub>E</sub></i></b> el valor de   4,363 &#937;, y para los dem&aacute;s par&aacute;metros los valores anotados en la pen&uacute;ltima   fila de la <a href="#tab02">tabla 2</a>, y representados con la l&iacute;nea continua de las <a href="#fig07">figuras 7</a> y <a href="#fig08">8</a>. </font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig07"></a><img src="/img/revistas/dyna/v77n164/a08fig07.gif">    <br>   Figura 7.</b> Diagramas de Bode para un substrato de acero AISI 1055 en HCl al 3%    <br>   </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Figure 7.</b> Bode diagram for un AISI 1055 steel substratum in HCl at 3%</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig08"></a><img src="/img/revistas/dyna/v77n164/a08fig08.gif">    <br>   Figura   8.</b> Diagrama de Niquist para un substrato de acero AISI 1055 en HCl al 3%    <br>   </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Figure   8.</b> Niquist Diagram for un steel AISI 1055substratum in HCl at 3%</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Igualmente, se ajustan los datos experimentales   de un recubrimiento de 10 multicapas CrN/Cr con   per&iacute;odos &#923; de 100 nm sobre acero H13 templado y   revenido, en NaCl al 3%, cuyo diagrama de Bode se muestra en la <a href="#fig09">figura 9</a> y diagrama de Niquist en la <a href="#fig10">figura 10</a>. La resistencia   del electrolito fue de 22,83 &#937;, y los valores de los dem&aacute;s par&aacute;metros se   dan en la &uacute;ltima fila de la <a href="#tab02">tabla 2</a>.</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig09"></a><img src="/img/revistas/dyna/v77n164/a08fig09.gif">    <br>   Figura 9.</b> Diagramas de Bode para 10 multicapas de CrN/Cr sobre H13 en NaCl al 3%    <br>   </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Figure 9.</b> Bode diagram for 10 multilayers CrN/Cr on H13 in NaCl at 3%</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig10"></a><img src="/img/revistas/dyna/v77n164/a08fig10.gif">    <br>   Figura   10.</b> Diagrama de Niquist para 10 multicapas de CrN/Cr sobre H13 en NaCl al 3%    <br>   </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Figure   10.</b> Niquist Diagram for 10 multilayers CrN/Cr on H13 in NaCl at 3%</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>&nbsp;</p>     <p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>4. CONCLUSIONES</b></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">El n&uacute;mero de elementos de fase constante o de capacitancias usadas en el   circuito equivalente, puede coincidir con el de rizos en los diagramas de   impedancia.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Las impedancia en las regiones que son m&aacute;s o menos horizontales las   gr&aacute;ficas de Bode, a medida que la frecuencia aumenta, corresponde   aproximadamente a los siguientes valores: <i>R<sub>E</sub>+R<sub>P</sub>+R</i>, <i>R<sub>E</sub>+R y R<sub>E</sub></i>.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Si los diagramas de Niquist exhiben   aplanamientos, o si el &aacute;ngulo a altas frecuencias es menor a 90°, se deben usar   elementos de fase constante en cambio de capacitancias.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La parte imaginaria de la IE,   aumenta con aumentos en el exponente <b><i>n</i></b> y aumentos en la constante pseudo capacitiva <b><i>Y</i></b> del elemento de fase constante <b><i>Q</i></b>.</font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>5. AGRADECIMIENTOS</b></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Los autores   agradecen el soporte econ&oacute;mico de Conciencias en el proyecto CT-206-2006.</font></p>     <p>&nbsp;</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>REFERENCIAS</b></font></p>     <!-- ref --><p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>[1]</b> C. CORFIAS, N. PEBERE, C. LACABANNE,Corrosion Science 41 (1999) 1539-1555.     &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000104&pid=S0012-7353201000040000800001&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>   <b>[2]</b> M. MAHDAVIAN, M. M. ATTAR, Corrosion Science 48 (2006) 4152-4157.     &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000105&pid=S0012-7353201000040000800002&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>   <b>[3]</b> E. M. GUTMAN, Corrosion Science, 47 (2005), 3086-3096.     &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000106&pid=S0012-7353201000040000800003&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>   <b>[4]</b> C. LIU, et al. Corrosion Science, 45 (2003), 1243-1256.     &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000107&pid=S0012-7353201000040000800004&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>   <b>[5]</b> C. LIU, et al. Corrosion Science, 43 (2001), 1953-1961.     &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000108&pid=S0012-7353201000040000800005&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>   <b>[6]</b> C. LIU, et al. Corrosion Science, 45 (2003), 1257-1273.     &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000109&pid=S0012-7353201000040000800006&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>   <b>[7]</b> M. KAMRUNNAHAR et al. Corrosion Science, 47 (2005), 3111-3139.     &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000110&pid=S0012-7353201000040000800007&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>   <b>[8]</b> S. V. PHADNIS et al. Corrosion Science 45 (2003) 2467-2483.     &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000111&pid=S0012-7353201000040000800008&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>   <b>[9]</b> MASAYUKI ITAGAKI et al. Corrosion Science 48 (2006) 3802-3811.     &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000112&pid=S0012-7353201000040000800009&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>   <b>[10]</b> Ho-Gun Kim et al. Thin Solid Films 475 (2005) 291-297.     &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000113&pid=S0012-7353201000040000800010&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>   <b>[11]</b> J. MASALSKI et al. Thin Solid Films 349 (1999) 186-190.     &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000114&pid=S0012-7353201000040000800011&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>   <b>[12]</b> S. H. AHN et al. Thin Solid Films 515 (2007) 6878-6883.     &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000115&pid=S0012-7353201000040000800012&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>   <b>[13]</b> E. W. BARRERA et al. Revista Colombiana de F&iacute;sica 3(38) (2006), 1331. </font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000116&pid=S0012-7353201000040000800013&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> ]]></body><back>
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