<?xml version="1.0" encoding="ISO-8859-1"?><article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance">
<front>
<journal-meta>
<journal-id>0012-7353</journal-id>
<journal-title><![CDATA[DYNA]]></journal-title>
<abbrev-journal-title><![CDATA[Dyna rev.fac.nac.minas]]></abbrev-journal-title>
<issn>0012-7353</issn>
<publisher>
<publisher-name><![CDATA[Universidad Nacional de Colombia]]></publisher-name>
</publisher>
</journal-meta>
<article-meta>
<article-id>S0012-73532013000300005</article-id>
<title-group>
<article-title xml:lang="es"><![CDATA[MÉTRICAS DE SIMILITUD APLICADAS PARA ANÁLISIS DE IMÁGENES DE FOTOELASTICIDAD]]></article-title>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[SIMILARITY METRICS APPLIED TO IMAGE ANALYSIS OF PHOTOELASTICITY]]></article-title>
</title-group>
<contrib-group>
<contrib contrib-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[BRIÑEZ DE LEON]]></surname>
<given-names><![CDATA[JUAN C.]]></given-names>
</name>
<xref ref-type="aff" rid="A01"/>
</contrib>
<contrib contrib-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[RESTREPO MARTÍNEZ]]></surname>
<given-names><![CDATA[ALEJANDRO]]></given-names>
</name>
<xref ref-type="aff" rid="A02"/>
</contrib>
<contrib contrib-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[LÓPEZ GIRALDO]]></surname>
<given-names><![CDATA[FRANCISCO E.]]></given-names>
</name>
<xref ref-type="aff" rid="A03"/>
</contrib>
</contrib-group>
<aff id="A01">
<institution><![CDATA[,ITM  ]]></institution>
<addr-line><![CDATA[ ]]></addr-line>
</aff>
<aff id="A02">
<institution><![CDATA[,ITM Grupo Automática y Electrónica ]]></institution>
<addr-line><![CDATA[ ]]></addr-line>
</aff>
<aff id="A03">
<institution><![CDATA[,ITM Grupo Automática y Electrónica ]]></institution>
<addr-line><![CDATA[ ]]></addr-line>
</aff>
<pub-date pub-type="pub">
<day>00</day>
<month>06</month>
<year>2013</year>
</pub-date>
<pub-date pub-type="epub">
<day>00</day>
<month>06</month>
<year>2013</year>
</pub-date>
<volume>80</volume>
<numero>179</numero>
<fpage>42</fpage>
<lpage>50</lpage>
<copyright-statement/>
<copyright-year/>
<self-uri xlink:href="http://www.scielo.org.co/scielo.php?script=sci_arttext&amp;pid=S0012-73532013000300005&amp;lng=en&amp;nrm=iso"></self-uri><self-uri xlink:href="http://www.scielo.org.co/scielo.php?script=sci_abstract&amp;pid=S0012-73532013000300005&amp;lng=en&amp;nrm=iso"></self-uri><self-uri xlink:href="http://www.scielo.org.co/scielo.php?script=sci_pdf&amp;pid=S0012-73532013000300005&amp;lng=en&amp;nrm=iso"></self-uri><abstract abstract-type="short" xml:lang="es"><p><![CDATA[La mayoría de los trabajos realizados en el campo de la fotoelasticidad se han centrado en el estudio de la distribución de esfuerzos en materiales birrefringentes de espesor definido debido a la complejidad que presenta la relación entre el espesor del material, los índices de refracción y el retardo de fase que se genera en la transmisión de la luz. Existen casos donde la relación antes mencionada presenta cambios en la medida que se aplica fuerza al material en estudio, casos donde realizar una descripción del fenómeno fotoelástico es de mayor dificultad por la complejidad del mismo; la deformación de películas plásticas es uno de estos casos. Este trabajo presenta una técnica basada en métricas de similitud para el análisis de las imágenes obtenidas en estudios de fotoelasticidad de películas plásticas sometidas a deformación por esfuerzos mecánicos. La película plástica es deformada en una máquina de tracción mecánica, las imágenes de fotoelasticidad son capturadas en una cámara de vídeo a través de un montaje óptico. Los resultados del comportamiento mecánico de la deformación del material plástico presentan una dinámica que puede ser relacionada con la dinámica obtenida en las métricas de similitud.]]></p></abstract>
<abstract abstract-type="short" xml:lang="en"><p><![CDATA[Most of the works in the photoelasticity field have been focused on the stress distribution study for birefringent materials of a defined thickness, due to the complexity in the relationship between the material thickness, the refractive indices and the phase delay generated in the transmission of light. There are cases where occur temporal change on the relationship presented above while the force is applied, cases where a make a description of the photoelasticity phenomenon is more difficult by the complexity of it, the deformation of plastic films is one of these cases. This paper presents a technique based in similarity metrics for the image analysis on photoelasticity studies of plastic film deformation under mechanical stress. The plastic film is deformed in a mechanical traction machine, the photoelasticity images are captured in a video camera through of optical assembly. The dynamic behavior of the mechanical deformation in the plastic film can be related whit dynamics behavior obtained in the similarity metrics.]]></p></abstract>
<kwd-group>
<kwd lng="es"><![CDATA[Películas plásticas]]></kwd>
<kwd lng="es"><![CDATA[deformación]]></kwd>
<kwd lng="es"><![CDATA[fotoelasticidad]]></kwd>
<kwd lng="es"><![CDATA[métricas de similitud]]></kwd>
<kwd lng="en"><![CDATA[Plastic film]]></kwd>
<kwd lng="en"><![CDATA[deformation]]></kwd>
<kwd lng="en"><![CDATA[photoelasticity]]></kwd>
<kwd lng="en"><![CDATA[similarity metric]]></kwd>
</kwd-group>
</article-meta>
</front><body><![CDATA[ <p align="center"><font size="4" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>M&Eacute;TRICAS DE SIMILITUD APLICADAS PARA AN&Aacute;LISIS DE IM&Aacute;GENES DE  FOTOELASTICIDAD </b></font></p>     <p align="center"><i><font size="3"><b><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">SIMILARITY METRICS APPLIED TO  IMAGE ANALYSIS OF PHOTOELASTICITY</font></b></font></i></p>     <p align="center">&nbsp;</p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>JUAN C. BRI&Ntilde;EZ DE LEON</b>    <br>     <i>Estudiante Maestr&iacute;a Automatizaci&oacute;n y Control Industrial, ITM, <a href="mailto:juanbrinez@gmail.com">juanbrinez@gmail.com</a> </i></font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>ALEJANDRO RESTREPO MART&Iacute;NEZ</b>    <br>     <i>PhD. en Ing. de Sistemas, Grupo Autom&aacute;tica y Electr&oacute;nica, ITM, <a href="mailto:alejandromartinez@itm.edu.com">alejandromartinez@itm.edu.com</a> </i></font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>FRANCISCO  E. L&Oacute;PEZ GIRALDO</b>    <br>     <i>PhD. en F&iacute;sica, Grupo Autom&aacute;tica y Electr&oacute;nica ITM, <a href="mailto:franciscolopez@itm.edu.co">franciscolopez@itm.edu.co</a></i></font></p>     <p align="center">&nbsp;</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Recibido para revisar Mayo  23  de 2012, aceptado Marzo  14  de 2013, versi&oacute;n final Abril 1 de 2013</b></font></p>     <p>&nbsp;</p> <hr>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>RESUMEN:</b> La mayor&iacute;a de los trabajos realizados en el campo de la fotoelasticidad se han centrado en el estudio de la distribuci&oacute;n de esfuerzos en materiales birrefringentes de espesor definido debido a la complejidad que presenta la relaci&oacute;n entre el espesor del material, los &iacute;ndices de refracci&oacute;n y el retardo de fase que se genera en la transmisi&oacute;n de la luz. Existen casos donde la relaci&oacute;n antes mencionada presenta cambios en la medida que se aplica fuerza al material en estudio, casos donde realizar una descripci&oacute;n del fen&oacute;meno fotoel&aacute;stico es de mayor dificultad por la complejidad del mismo; la deformaci&oacute;n de pel&iacute;culas pl&aacute;sticas es uno de estos casos. Este trabajo presenta una t&eacute;cnica basada en m&eacute;tricas de similitud para el an&aacute;lisis de las im&aacute;genes obtenidas en estudios de fotoelasticidad  de pel&iacute;culas pl&aacute;sticas sometidas a deformaci&oacute;n por esfuerzos mec&aacute;nicos. La pel&iacute;cula pl&aacute;stica es deformada en una m&aacute;quina de tracci&oacute;n mec&aacute;nica, las im&aacute;genes de fotoelasticidad son capturadas en una c&aacute;mara de v&iacute;deo a trav&eacute;s de un montaje &oacute;ptico. Los resultados del comportamiento mec&aacute;nico de la deformaci&oacute;n del material pl&aacute;stico presentan una din&aacute;mica que puede ser relacionada con la din&aacute;mica obtenida en las m&eacute;tricas de similitud.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>PALABRAS CLAVE: </b>Pel&iacute;culas pl&aacute;sticas, deformaci&oacute;n, fotoelasticidad, m&eacute;tricas de similitud.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>ABSTRACT:</b> Most of the works in the photoelasticity field have been focused on the stress distribution study for birefringent materials of a defined thickness, due to the complexity in the relationship between the material thickness, the refractive indices and the phase delay generated in the transmission of light. There are cases where occur temporal change on the relationship presented above while the force is applied, cases where a make a description of the photoelasticity phenomenon is more difficult by the complexity of it, the deformation of plastic films is one of these cases. This paper presents a technique based in similarity metrics for the image analysis on photoelasticity studies of plastic film deformation under mechanical stress. The plastic film is deformed in a mechanical traction machine, the photoelasticity images are captured in a video camera through of optical assembly. The dynamic behavior of the mechanical deformation in the plastic film can be related whit dynamics behavior obtained in the similarity metrics.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>KEYWORDS:</b> Plastic film, deformation, photoelasticity, similarity metric.</font></p> <hr>     <p>&nbsp;</p>     <p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>1.  INTRODUCCI&Oacute;N</b></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Los estudios de fotoelasticidad han pasado de t&eacute;cnicas soportadas en c&aacute;lculos manuales  a t&eacute;cnicas semiautom&aacute;ticas basadas  fotoelasticidad digital. El estudio fotoel&aacute;stico  esta soportado en el efecto &oacute;ptico que crea el paso de luz polarizada a trav&eacute;s de un material birrefringente, este efecto  depende del retardo de fase entre los dos rayos que se producen al interior del material , el espesor del material y  los &iacute;ndices de refracci&oacute;n asociados a los dos ejes de esfuerzos principales  &#91;1, 2&#93;. En (1) se presenta la relaci&oacute;n entre el retardo de fase, el espesor y los &iacute;ndices de refracci&oacute;n.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq01.gif"></font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Donde <img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq84476.gif" /> es la diferencia de fase o retardo, h es el espesor del material, n1 y n2 son los &iacute;ndices de refracci&oacute;n en los ejes principales &#91;1, 2, 3&#93;. En un an&aacute;lisis de tensi&oacute;n &oacute;ptico bidimensional para determinaci&oacute;n de esfuerzos es posible relacionar la expresi&oacute;n (1) con las direcciones principales de los esfuerzos mec&aacute;nicos en el material birrefringente,  como se presenta en la expresi&oacute;n (2).</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq02.gif"></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Donde &lsquo;<img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq86940.gif" />' es el coeficiente fotoel&aacute;stico del material, <img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq86948.gif" /> y <img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq86959.gif" /> son las direcciones de los esfuerzos principales para cada direcci&oacute;n. Se conoce como cambio de fase relativo <img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq86972.gif" /> a la expresi&oacute;n que relaciona el retardo de fase <img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq86983.gif" /> en t&eacute;rminos de la longitud de onda. En (3) se presenta una expresi&oacute;n despejada para el retardo de fase <img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq86992.gif" /> en t&eacute;rminos del cambio de fase relativo y de la longitud de onda.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq03.gif"></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Donde <font face="Symbol">D</font> representa el cambio de fase relativo y <img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq84501.gif" />es la longitud de la onda. Al remplazar (3) en (2) y despejando <img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq84509.gif" /> se obtiene (4):</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq04.gif"></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">De (4) se extraen los par&aacute;metros para el orden de las franjas <img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq84527.gif" /> y el valor de las franjas <img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq84535.gif" />, expres&aacute;ndolos de la siguiente forma: </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq041.gif"></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Por lo tanto la ecuaci&oacute;n (4) se transforma en</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq05.gif"></font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Para la observaci&oacute;n del fen&oacute;meno son utilizados diferentes modelos de polariscopios, la expresi&oacute;n para la intensidad de la luz que emerge del analizador en el caso de un modelo de polariscopio plano es &#91;3&#93;</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq06.gif"></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Donde Im es la intensidad de luz m&aacute;xima transmitida, <img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq84584.gif" /> es el &aacute;ngulo de configuraci&oacute;n para  los platos del polariscopio y <font face="Symbol">D</font> es la diferencia de fase que se presenta en el rayo de luz que atraviesa la muestra &#91;1, 2, 3&#93;. De la expresi&oacute;n (6) se puede decir que la intensidad de la luz que emerge del material birrefringente presenta una dependencia con la configuraci&oacute;n de los platos del modelo de polariscopio plano y el cambio de fase relativo de los dos haces que emergen del material; el factor relacionado con el &aacute;ngulo de configuraci&oacute;n del polariscopio recibe el nombre de patr&oacute;n isocl&iacute;nico, y el factor relacionado con el retardo de fase recibe el nombre de patr&oacute;n isocrom&aacute;tico. </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">En modelos de polariscopios circulares la expresi&oacute;n para la intensidad de la luz que emerge del analizador se presenta en (7), tal expresi&oacute;n s&oacute;lo est&aacute; relaciona con el retardo de fase, es decir, con el patr&oacute;n isocrom&aacute;tico.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq07.gif"></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Para estudios de fotoelasticidad digital la intensidad de la luz es tomada con  diferentes &aacute;ngulos de configuraci&oacute;n en los platos de un polariscopio circular, a trav&eacute;s de c&aacute;maras o dispositivos CCD. Las im&aacute;genes obtenidas brindan informaci&oacute;n correspondiente a la intensidad de la luz que emerge del modelo &oacute;ptico de polarizaci&oacute;n, t&eacute;cnicas para el procesamiento de im&aacute;genes  son utilizadas con el objetivo de simplificar el c&aacute;lculo del retardo de fase que se produce en la transmisi&oacute;n del rayo, tambi&eacute;n se emplea un sistema de ecuaciones obtenidas a partir del c&aacute;lculo de jones que se obtiene de la configuraci&oacute;n del polariscopio &#91;1, 2, 3&#93;. </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">En trabajos recientes sobre estudios de fotoelasticidad se han desarrollado t&eacute;cnicas basadas en procesamiento de im&aacute;genes desde los canales de color RGB con el fin de simplificar los procesos donde se requiere del c&aacute;lculo del retardo de fase; la t&eacute;cnica consiste en crear una tabla de calibraci&oacute;n de colores para obtener valores del retardo a partir de la comparaci&oacute;n de los colores &#91;4, 5, 6&#93;. </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">En m&uacute;ltiples ocasiones en los trabajos realizados en fotoelasticidad digital asumen la intensidad de la luz como el valor del pixel en la imagen obtenida por el CCD, en &#91;7&#93; se propone el uso de la funci&oacute;n de respuesta de la c&aacute;mara para calibrar el valor del pixel con respecto a la intensidad de la luz que se utilizar&aacute; en los c&aacute;lculos del modelo fotoel&aacute;stico.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La mayor&iacute;a de los trabajos que se han realizado  en estudio de la fotoelasticidad han estado orientados al uso de muestras de espesor constante  bajo la aplicaci&oacute;n de cargas fijas, esto se debe a la complejidad que se genera por  la dependencia que existe entre espesor del material, el retardo de fase y los &iacute;ndices de refracci&oacute;n. Existen casos donde el espesor del material, los &iacute;ndices de refracci&oacute;n y el retardo de fase presentan variaciones en el tiempo, son estos casos los que motivan a implementar nuevas t&eacute;cnicas que permitan la descripci&oacute;n de este tipo de fen&oacute;menos; un caso concreto que cumple con las caracter&iacute;sticas anteriormente descritas es la deformaci&oacute;n de pel&iacute;culas pl&aacute;sticas termodeformables.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Las pel&iacute;culas pl&aacute;sticas termodeformables experimentan el fen&oacute;meno de doble refracci&oacute;n &oacute;ptica al ser sometidas a esfuerzos y deformaciones, tal efecto hace posible la observaci&oacute;n de los colores de interferencia a trav&eacute;s de la implementaci&oacute;n de modelos de polarizaci&oacute;n utilizados en estudios de fotoelasticidad &#91;8, 9&#93;.</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">En este trabajo se analizan los cambios que  presentan las im&aacute;genes de una secuencia obtenida durante la deformaci&oacute;n de pel&iacute;culas pl&aacute;sticas termodeformables, a de un montaje de polarizaci&oacute;n basado en un polariscopio plano, implementado en estudios de fotoelasticidad. Los cambios en las im&aacute;genes son analizados mediante la aplicaci&oacute;n de m&eacute;tricas de similitud en el an&aacute;lisis digital de im&aacute;genes.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">El comportamiento que presentan los cambios de las im&aacute;genes a trav&eacute;s de las m&eacute;tricas de similitud describe la presencia de dos zonas generales en el proceso de deformaci&oacute;n del material pl&aacute;stico (Zona con cambios r&aacute;pidos y zona con cambios lentos), lo cual est&aacute; relacionado din&aacute;micamente  con los resultados obtenidos en las gr&aacute;ficas del comportamiento mec&aacute;nico de la deformaci&oacute;n. </font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>2. M&Eacute;TODOS Y PROCEDIMIENTOS</b></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>2.1  Montaje de deformaci&oacute;n</b>    <br> En trabajos realizados desde estudios de fotoelasticidad parten de la aplicaci&oacute;n de fuerzas fijas en muestras de espesor definido &#91;4, 5, 6&#93;, puesto que el comportamiento temporal del fen&oacute;meno &oacute;ptico no es el inter&eacute;s de la observaci&oacute;n; para este trabajo muestras de pel&iacute;culas pl&aacute;sticas termodeformables son sometidas a deformaci&oacute;n por tracci&oacute;n mec&aacute;nica en la m&aacute;quina de tracci&oacute;n Shimadzu AGX de 100KNewton, como se observa en la <a href="#fig01">Figura 1</a>. </font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><a name="fig01"></a></font><img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05fig01.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La muestra es sujetada  en las mordazas de la m&aacute;quina y es deformada longitudinalmente en direcci&oacute;n  a la extrusi&oacute;n del material. Los par&aacute;metros de la prueba se seleccionaron siguiendo la Norma D882-10  que aplica en deformaci&oacute;n de pel&iacute;culas pl&aacute;sticas con espesor inferior a un mil&iacute;metro, mediante la aplicaci&oacute;n de fuerzas por tracci&oacute;n mec&aacute;nica &#91;10, 11&#93;. En la <a href="#tab01">Tabla 1</a> se presentan las dimensiones de la pel&iacute;cula pl&aacute;stica termodeformable utilizada en nuestras pruebas. El la <a href="#fig02">Figura 2</a> se presenta un esquema de las dimensiones utilizadas.</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><a name="tab01"></a></font><img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05tab01.gif"></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><a name="fig02"></a></font><img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05fig02.gif"></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>2.2 Montaje para fotoelasticidad</b>    <br> Aunque existen m&uacute;ltiples montajes desarrollados para estudios en fotoelasticidad &#91;12, 13&#93;, hemos seleccionado un montaje basado en la implementaci&oacute;n de un polariscopio plano por su simplicidad y porque nuestro inter&eacute;s es la observaci&oacute;n del comportamiento de los cambios de las im&aacute;genes obtenidas a trav&eacute;s del modelo, y no la caracterizaci&oacute;n del fen&oacute;meno a trav&eacute;s de la medici&oacute;n de la intensidad de la luz y el c&aacute;lculo del retardo de fase. En la <a href="#fig03">Figura 3</a> se presenta un esquema del montaje.</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><a name="fig03"></a></font><img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05fig03.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Para disminuir el efecto de las franjas oscuras que hacen referencia al patr&oacute;n isocl&iacute;nico manipulamos la configuraci&oacute;n angular de los polarizadores, es decir, se realiz&oacute; una rotaci&oacute;n del analizador hasta obtener un fondo oscuro con la pantalla de iluminaci&oacute;n, el cual es conocido como configuraci&oacute;n cruzada, donde el &aacute;ngulo entre los instrumentos polarizadores es 90&deg;. La configuraci&oacute;n del &aacute;ngulo entre los analizadores influye en la intensidad de los colores percibidos por la c&aacute;mara, y por consecuencia en el an&aacute;lisis de las im&aacute;genes; como lo que se pretende en el trabajo es analizar los cambios en las im&aacute;genes, se debe garantizar una configuraci&oacute;n del &aacute;ngulo de polarizaci&oacute;n, que permita una adecuada observaci&oacute;n de los colores de interferencia.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">El montaje de polarizaci&oacute;n es implementado alrededor de la pel&iacute;cula pl&aacute;stica que  es deformada en la m&aacute;quina de tracci&oacute;n. La pel&iacute;cula es iluminada desde la cara posterior con luz polarizada transmitida de una pantalla LCD, una l&aacute;mina polarizadora es ubicada en la parte frontal del material pl&aacute;stico con una configuraci&oacute;n de fondo oscuro, para suplir las funciones de analizador dentro del montaje &oacute;ptico, y una c&aacute;mara de v&iacute;deo es utilizada para la captura de los cambios que presentan los colores de interferencia durante la deformaci&oacute;n, del proceso se realiza un video que luego es dividido en una secuencia de im&aacute;genes.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Para la toma de im&aacute;genes  se utiliz&oacute; la c&aacute;mara Sony Nex-3, la cual permite la grabaci&oacute;n de v&iacute;deos a una velocidad de 30 im&aacute;genes por segundos. El enfoque de la c&aacute;mara se realiz&oacute; sobre la secci&oacute;n del material sujeto a la mordaza fija. Con el fin de controlar las condiciones de iluminaci&oacute;n en la prueba, el lugar se ilumin&oacute; s&oacute;lo con la fuente de luz polarizada que produce la pantalla LCD, el resto del espacio se aisl&oacute; de la entrada de luz.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>2.3 T&eacute;cnicas para el an&aacute;lisis De im&aacute;genes</b>    <br> A diferencia de las t&eacute;cnicas aplicadas en estudios convencionales de fotoelasticidad &#91;4, 5, 6, 12, 13&#93; donde las im&aacute;genes son obtenidas para un mismo punto de medici&oacute;n con diferentes configuraciones del polariscopio y son analizadas pixel a pixel, en este trabajo se cuenta con una secuencia de im&aacute;genes para una misma configuraci&oacute;n del polariscopio, las cuales son analizadas desde los cambios que cada una va teniendo durante el proceso. Cada imagen de la secuencia es descompuesta en cada de sus componentes del espacio de color RGB. La <a href="#fig04">Figura 4</a> presenta un ejemplo de una imagen descompuesta en cada componente RGB.</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><a name="fig04"></a></font><img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05fig04.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Para describir los cambios que presentan las im&aacute;genes dentro de la secuencia obtenida durante la deformaci&oacute;n de la pel&iacute;cula pl&aacute;stica, una imagen de referencia es comparada de forma ordenada con cada imagen generada dentro de la secuencia a trav&eacute;s de la implementaci&oacute;n de m&eacute;tricas de similitud; se toma como imagen de referencia la imagen inicial de la secuencia, la cual es el punto de partida en la formaci&oacute;n de los colores de interferencia generados por la deformaci&oacute;n del material (imagen sin cambios por la aplicaci&oacute;n de la carga).</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>2.3.1  M&eacute;tricas de similitud</b>    <br> Una m&eacute;trica de similitud es una funci&oacute;n matem&aacute;tica que asocia un valor num&eacute;rico entre un par de descriptores, tal valor num&eacute;rico es conocido con el nombre de distancia. A continuaci&oacute;n se describen las m&eacute;tricas utilizadas para este trabajo.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>2.3.1.1 Correlaci&oacute;n entre im&aacute;genes</b>    <br> La Correlaci&oacute;n describe el grado de dependencia lineal que existe entre una imagen y otra. El coeficiente de correlaci&oacute;n oscila entre -1 y +1 encontr&aacute;ndose en medio el valor 0 que indica que no existe asociaci&oacute;n lineal entre las dos im&aacute;genes en estudio. La expresi&oacute;n (8) representa la ecuaci&oacute;n para el c&aacute;lculo de esta distancia.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq08.gif"></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Donde A es la matriz que representa la imagen inicial y B es la matriz que representa cada imagen que se compara con la imagen inicial, <img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq85060.gif" /> y <img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq85070.gif" /> son las medias de las im&aacute;genes, n es el n&uacute;mero de filas que contiene la imagen y m es el n&uacute;mero de columnas que contiene la imagen &#91;14 - 17&#93;.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>2.3.1.2 Distancia euclidiana para histogramas</b>    <br> Se utiliza con frecuencia para evaluar distancias en espacios num&eacute;ricos, en este caso es utilizada para comparar los histogramas de las im&aacute;genes desde cada plano de color RGB. La expresi&oacute;n (9) se utiliza para el c&aacute;lculo de esta distancia.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq09.gif"></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Donde <img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq85086.gif" /> y <img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq85093.gif" /> son los histogramas de las im&aacute;genes a comparar y L es el valor de la distancia euclidiana &#91;14, 15&#93;.</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>2.3.1.3 Correlaci&oacute;n entre histogramas</b>    <br> Al igual que en la comparaci&oacute;n entre im&aacute;genes, en este caso tambi&eacute;n describe la dependencia lineal; pero con la diferencia que ahora se aplica para comparar los histogramas de las im&aacute;genes. La expresi&oacute;n (10) se utiliza para el c&aacute;lculo de la m&eacute;trica.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq10.gif"></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Donde <img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq85111.gif" /> y <img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq85118.gif" /> son los histogramas a comparar, <img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq85125.gif" /> y <img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq85133.gif" /> son las medias de los histogramas de las im&aacute;genes a comparar y d es el valor de la distancia &#91;14, 15, 16&#93;</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>2.3.1.4  Distancia de Bhattacharyya para histogramas    <br> </b></font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Se utiliza para evaluar la similitud entre 2 distribuciones, el valor 1 representa la distancia mas lejana entre la distribuci&oacute;n de los histogramas de las im&aacute;genes, el valor 0 representa la distancia mas cercana entre la distribuci&oacute;n de los histogramas. La expresi&oacute;n (11) se utiliza para el c&aacute;lculo de la distancia. </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq11.gif"></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Donde <img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq85152.gif" /> y <img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq85163.gif" /> son los histogramas a comparar, <img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq85172.gif" /> y <img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05eq85179.gif" /> son las medias de los histogramas de las im&aacute;genes a comparar y d es el valor de la distancia &#91;14, 15, 16&#93;</font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>3.  RESULTADOS Y AN&Aacute;LISIS</b></font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>3.1  Comportamiento mec&aacute;nico de la deformaci&oacute;n    <br> </b>La tensi&oacute;n que experimenta el material pl&aacute;stico durante la deformaci&oacute;n presenta cambios, los cuales est&aacute;n asociados al comportamiento mec&aacute;nico del material, como se observa en la <a href="#fig05">Figura (5)</a>; los datos de la deformaci&oacute;n son obtenidos mediante el muestreo de la prueba realizado en la m&aacute;quina de tracci&oacute;n. La deformaci&oacute;n en la prueba se llev&oacute; a cabo hasta lograr la rotura de la pel&iacute;cula pl&aacute;stica. </font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><a name="fig05"></a></font><img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05fig05.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La curva de la gr&aacute;fica en la <a href="#fig05">Figura 5</a> presenta un comportamiento din&aacute;mico no uniforme, la cual hemos marcado en 2 zonas, la primera zona denominada El&aacute;stico - Pl&aacute;stico, la cual muestra que se necesitan grandes incrementos de tensi&oacute;n para lograr peque&ntilde;os desplazamientos en la deformaci&oacute;n, la tensi&oacute;n aumenta hasta alcanzar el l&iacute;mite el&aacute;stico de tensi&oacute;n (Punto de fluencia), luego decae r&aacute;pidamente y empieza de nuevo el incremento. La segunda zona denominada viscoel&aacute;stica presenta un incremento gradual de la fuerza hasta lograr la rotura del material pl&aacute;stico, esta etapa es la que mayor elongaci&oacute;n presenta con respecto a la etapa anterior. </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">De la gr&aacute;fica en la <a href="#fig05">Figura (5)</a> se puede observar que el comportamiento mec&aacute;nico del material esta sometido a cambios r&aacute;pidos en la primera etapa de la gr&aacute;fica,  a cambios lentos en la segunda etapa de la gr&aacute;fica. </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>3.2  Im&aacute;genes de fotoelasticidad obtenidas en la deformaci&oacute;n de una pel&iacute;cula pl&aacute;stica</b>    <br> La c&aacute;mara del montaje &oacute;ptico captura un video durante la deformaci&oacute;n que tarda aproximadamente 3 minutos, el v&iacute;deo es descompuesto en una secuencia de im&aacute;genes  para producir un aproximado de 5000 im&aacute;genes a color. Las im&aacute;genes obtenidas tienen dimensiones de 1024x576 pixeles, donde gran parte de la imagen contiene informaci&oacute;n que no es relevante para el procesamiento de ellas; por lo tanto se extrajo de cada imagen la regi&oacute;n que contiene la informaci&oacute;n correspondiente a la pel&iacute;cula pl&aacute;stica, obteniendo dimensiones para las im&aacute;genes a procesar de 70x77 pixeles. La <a href="#fig06">Figura 6</a> presenta un ejemplo de algunas im&aacute;genes extra&iacute;das de la secuencia obtenida del video de la deformaci&oacute;n. </font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><a name="fig06"></a></font><img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05fig06.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La imagen inicial equivale al comportamiento de la pel&iacute;cula pl&aacute;stica antes de empezar la deformaci&oacute;n, las im&aacute;genes siguientes representan la deformaci&oacute;n para diferentes instantes de tiempos en el proceso. La observaci&oacute;n de las im&aacute;genes de la secuencia permite describir el comportamiento de los colores de interferencia durante la deformaci&oacute;n del material pl&aacute;stico, se observa tambi&eacute;n que los cambios de intensidades en los colores de interferencia tienden a la formaci&oacute;n de franjas de color, tal comportamiento  puede ser comparado con el comportamiento presentado para materiales birrefringentes &#91;5, 6&#93;. </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>3.3  M&eacute;tricas de similitud</b>    ]]></body>
<body><![CDATA[<br> La descripci&oacute;n de los cambios que se observan de forma secuencial en cada imagen obtenida de la deformaci&oacute;n de la pel&iacute;cula pl&aacute;stica, es realizada mediante la implementaci&oacute;n de las m&eacute;tricas de similitud comparando la imagen inicial con cada imagen siguiente a trav&eacute;s de toda la secuencia. Las gr&aacute;ficas para cada m&eacute;trica aplicada se presentan en escala de grises, y contienen la informaci&oacute;n de los canales R, G, B. En las gr&aacute;ficas obtenidas para cada m&eacute;trica de similitud se resaltan las etapas descritas en el comportamiento mec&aacute;nico de la deformaci&oacute;n. La <a href="#fig07">Figura 7</a> presenta la superposici&oacute;n de las gr&aacute;ficas para la correlaci&oacute;n entre im&aacute;genes desde cada canal de color RGB.</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><a name="fig07"></a></font><img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05fig07.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La <a href="#fig08">Figura 8</a> presenta las gr&aacute;ficas obtenidas para la distancia euclidea en la comparaci&oacute;n de los histogramas de las im&aacute;genes. </font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><a name="fig08"></a></font><img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05fig08.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La correlaci&oacute;n para los histogramas de las im&aacute;genes es presentada en la <a href="#fig09">Figura 9</a>, y en la <a href="#fig10">Figura 10</a> se presenta la distancia de Bhattacharyya para la comparaci&oacute;n de los histogramas de las im&aacute;genes.</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><a name="fig09"></a></font><img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05fig09.gif"></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><a name="fig10"></a></font><img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05fig10.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Los cambios que se presentan en las im&aacute;genes  de fotoelasticidad obtenidas en la deformaci&oacute;n de una pel&iacute;cula pl&aacute;stica  se pueden describir mediante m&eacute;tricas de similitud, estos cambios son evidenciados a trav&eacute;s de la comparaci&oacute;n de cada imagen con respecto a la imagen inicial.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Las gr&aacute;ficas de las m&eacute;tricas implementadas revelan que la forma como cambian las im&aacute;genes dentro de la secuencia se puede enmarcar dentro de dos zonas de comportamiento; un comportamiento inicial de cambios r&aacute;pidos, donde se presentan oscilaciones en las intensidades de los colores de interferencia, y una zona de cambios lentos donde las intensidades cambian de forma gradual.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Al comparar el comportamiento de las gr&aacute;ficas obtenidas en las m&eacute;tricas de similitud, con el  comportamiento mec&aacute;nico de la deformaci&oacute;n,  se encuentra que la zona 1 donde la deformaci&oacute;n pasa de una etapa el&aacute;stica a una etapa pl&aacute;stica  coincide con la zona donde los cambios que se presentan en las im&aacute;genes son r&aacute;pidos; en la zona donde el comportamiento mec&aacute;nico es viscoel&aacute;stico, las im&aacute;genes presentan cambios lentos.</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La aplicaci&oacute;n de la derivada de las m&eacute;tricas implementadas para describir el comportamiento de los cambios en las im&aacute;genes permite verificar la existencia de dos zonas que caracterizan de manera general el comportamiento de las im&aacute;genes. </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La <a href="#fig11">Figura 11</a> presenta la gr&aacute;fica de la derivada de la correlaci&oacute;n entre las im&aacute;genes, en ella se observa como en la zona uno se presentan oscilaciones en la gr&aacute;fica de la derivada, lo que responde a los cambios r&aacute;pidos de las im&aacute;genes; la zona dos presenta pocos cambios en la derivada, lo que responde a los cambios lentos en las im&aacute;genes.</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><a name="fig11"></a></font><img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05fig11.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Al realizar la derivada de la distancia Eucl&iacute;dea aplicada a los histogramas de las im&aacute;genes se observan algunos rizos en comparaci&oacute;n con la gr&aacute;fica de la derivada de la correlaci&oacute;n entre las im&aacute;genes, es por ello que &eacute;sta m&eacute;trica permite una mejor observaci&oacute;n al momento de identificar las dos zonas de comportamiento mec&aacute;nico en la deformaci&oacute;n de la pel&iacute;cula pl&aacute;stica. La <a href="#fig12">Figura 12</a> presenta la gr&aacute;fica de la derivada de la distancia Eucl&iacute;dea entre los histogramas de las im&aacute;genes.</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><a name="fig12"></a></font><img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05fig12.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La <a href="#fig13">Figura 13</a> presenta la gr&aacute;fica de la derivada para la correlaci&oacute;n entre histogramas, se observa que en esta gr&aacute;fica la presencia de oscilaciones en la zona uno al igual que en las gr&aacute;ficas anteriores, pero en la zona dos tambi&eacute;n se observan algunas oscilaciones que describen la presencia de algunos cambios en las im&aacute;genes dentro de la secuencia.</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><a name="fig13"></a></font><img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05fig13.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La derivada de la distancia de Bhattacharyya entre los histogramas de las im&aacute;genes se presenta en la <a href="#fig14">Figura 14</a>, en ella se observa una mayor amplitud en las oscilaciones de la zona uno, la cual permite identificar la presencia de cambios r&aacute;pidos en las intensidades de los colores de interferencia; sin embargo aunque en la zona dos se presentan cambios graduales, se observan comportamientos que revelan la presencia de algunos cambios en las im&aacute;genes dentro de la secuencia.</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><a name="fig14"></a></font><img src="/img/revistas/dyna/v80n179/v80n179a05fig14.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Las derivadas de las m&eacute;tricas aplicadas presentan respuestas con din&aacute;micas similares desde cada uno de los canales RGB, aunque la m&eacute;trica muestra que los cambios no son iguales para cada canal, sobre todo para el canal G que presenta retardos con relaci&oacute;n a los cambios en el plano R y con relaci&oacute;n al plano B. Las zonas descritas en el comportamiento de las im&aacute;genes reflejan que el fen&oacute;meno de fotoelasticidad presenta cambios r&aacute;pidos al inicio del proceso, y que cuyos cambios se hacen graduales en el resto de la deformaci&oacute;n hasta lograr la rotura del material. </font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>&nbsp;</p>     <p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>4.  CONCLUSIONES </b></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La implementaci&oacute;n de las m&eacute;tricas de similitud para el an&aacute;lisis de im&aacute;genes permiten hacer un seguimiento del comportamiento temporal del fen&oacute;meno de fotoelasticidad experimentado por una pel&iacute;cula pl&aacute;stica termodeformable sometida a deformaci&oacute;n mec&aacute;nica; donde tal fen&oacute;meno est&aacute; asociado al comportamiento mec&aacute;nico del material.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Antes de la formaci&oacute;n de las primeras franjas de color se observan fuertes oscilaciones en las m&eacute;tricas de similitud, las cuales obedecen a los  cambios abruptos en las im&aacute;genes de fotoelasticidad; de lo anterior se puede inferir que las m&eacute;tricas de similitud permiten identificar dos grandes regiones en el proceso de deformaci&oacute;n, la regi&oacute;n el&aacute;stica (cambios r&aacute;pidos en las m&eacute;tricas) y la regi&oacute;n viscoel&aacute;stica (cambios lentos en las m&eacute;tricas).</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Aunque las m&eacute;tricas implementadas para el an&aacute;lisis de las im&aacute;genes apuntan a la descripci&oacute;n del comportamiento temporal de los cambios en el fen&oacute;meno de fotoelasticidad, se puede decir que seg&uacute;n los resultados obtenidos en las pruebas desarrolladas es factible resaltar a la  distancia Euclidea entre los histogramas de las im&aacute;genes como la m&eacute;trica  que menor ambig&uuml;edad presenta, por la diferencia de rizado que se observa en la zona de cambios lentos, con respecto a las otras m&eacute;tricas implementadas; es por ello que la distancia Euclidea ser&iacute;a la m&eacute;trica seleccionada para el desarrollo de una aplicaci&oacute;n de este tipo.</font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>REFERENCIAS </b></font></p>     <!-- ref --><p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>&#91;1&#93;</b> Ajovalasit Augusto, Petrucci Giovanni, Scafidi Michele. Phase shifting photoelasticity in white light. Optics and Lasers in Engineering, vol 45, pp 596-611, 2007.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000120&pid=S0012-7353201300030000500001&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>   <b>&#91;2&#93;</b> Wong, C. F., Birefringence Measurement Using A Photoelastic Modulator. Applied Optics Vol. 18, (23), pp 3996-3999, 1979.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000121&pid=S0012-7353201300030000500002&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>   <b>&#91;3&#93;</b> Hillar, A. and Leo, A., Isochromatic Fringes In photoelasticity. Journal Of The Optical Society Of America A - Optics Image Science And Vision, Vol. 17 (4), pp. 750 - 755, 2000.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000122&pid=S0012-7353201300030000500003&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>   <b>&#91;4&#93;</b> Ajovalasit, A., Petrucci, G. and Scafidi. M., RGB photoelasticity applied to the analysis of membrane residual stress in glass. Measurement science and technology, vol 23, pp. 1-4, 2012.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000123&pid=S0012-7353201300030000500004&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>   <b>&#91;5&#93;</b> Azzam, R.M.A. The intertwined history of polarimetry and ellipsometry. Thin Solid Films, Volume 519, pp. 2584-2588, 2011.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000124&pid=S0012-7353201300030000500005&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>   <b>&#91;6&#93;</b> Kasimayan T. and Ramesh, K., Digital reflection photoelasticity using conventional reflection polariscope. Optics and Lasers in Engineering, vol 34, pp. 45-51, 2010.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000125&pid=S0012-7353201300030000500006&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>   <b>&#91;7&#93;</b> Shih-Hsin Chang, Hsien-Huang P. Wu. Improvement of digital photoelasticity based on camera response function. Applied Optics, vol. 50, No. 27, pp. 5263-5270, 2011.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000126&pid=S0012-7353201300030000500007&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>   <b>&#91;8&#93;</b> Restrepo. A. and L&oacute;pez, F., Color spaces analysis of photoelasticity images of plastics thin films. Imaging and applied optics. Technical digest isbn 978-1-55752-914-5. Toronto Canada- pp. 10-14 july 2011       &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000127&pid=S0012-7353201300030000500008&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>   <b>&#91;9&#93;</b> Bri&ntilde;ez, J.C. Restrepo, A. and L&oacute;pez F., Estudios de deformaci&oacute;n y fotoelasticidad en pel&iacute;culas pl&aacute;sticas, isbn 978-958-761-025-3, XXIV congreso nacional de f&iacute;sica, universidad nacional, Hotel Tequendama, Bogot&aacute;, octubre 3 al 7 del 2011.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000128&pid=S0012-7353201300030000500009&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>   <b>&#91;10&#93;</b> D882-10. Standard Test Method forTensile Properties of Thin Plastic Sheeting. ASTM, marzo 28, 2011.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000129&pid=S0012-7353201300030000500010&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>   <b>&#91;11&#93;</b> D4093-95. Standard Test Method for Photoelastic Measurements of Birefringence and Residual Strains in Transparent or Translucent Plastic Materials. ASTM, marzo 28, 2011.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000130&pid=S0012-7353201300030000500011&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>   <b>&#91;12&#93;</b> Kasimayan, T., Ramesh, K., Digital reflection photoelasticity using conventional reflection polariscope. ScienceDirect, vol 34, pp. 45-51, 2010.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000131&pid=S0012-7353201300030000500012&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>   <b>&#91;13&#93;</b> Simon, B., Neethi, Kasimayan T. and Ramesh, K., The influence of ambient illumination on colour adaptation in three fringe photoelasticity. ScienceDirect, vol 46, pp.245-266, 2011.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000132&pid=S0012-7353201300030000500013&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>   <b>&#91;14&#93;</b> Wang, Z., Bovik, A. C. H. R. and Sheikh, E., Simoncelli, P., Image quality assessment: from error visibility to structural similarity. IEEE Transactions on Image Processing, vol 13, pp. pp. 600 - 612, 2004.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000133&pid=S0012-7353201300030000500014&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>   <b>&#91;15&#93;</b> R. Dosselmann, X. and Yang, A., comprehensive assessment of the structural similarity index. Signal, Image and Video Processing, vol 5, pp. 81-91, 2011.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000134&pid=S0012-7353201300030000500015&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>   <b>&#91;16&#93;</b> Maldonado, M., Sanchez, G. and Branch, J., Registration of range images using a histogram based metric. Dyna, vol 79, (176), pp. 27-34, 2012.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000135&pid=S0012-7353201300030000500016&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>   <b>&#91;17&#93;</b> &Aacute;lvarez, M., Gonz&aacute;lez, E., Bianconi, F., Armesto, J. and Fern&aacute;ndez, A., Caracter&iacute;sticas de color y textura para recuperaci&oacute;n de im&aacute;genes en la industria del granito. Dyna, vol 77, (161), pp. 121­130, 2010.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000136&pid=S0012-7353201300030000500017&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref -->  </font></p>      ]]></body><back>
<ref-list>
<ref id="B1">
<label>1</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Ajovalasit]]></surname>
<given-names><![CDATA[Augusto]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Giovanni]]></surname>
<given-names><![CDATA[Petrucci]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Michele]]></surname>
<given-names><![CDATA[Scafidi]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Phase shifting photoelasticity in white light]]></article-title>
<source><![CDATA[Optics and Lasers in Engineering]]></source>
<year>2007</year>
<volume>45</volume>
<page-range>596-611</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B2">
<label>2</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Wong]]></surname>
<given-names><![CDATA[C. F.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Birefringence Measurement Using A Photoelastic Modulator]]></article-title>
<source><![CDATA[Applied Optics]]></source>
<year>1979</year>
<volume>18</volume>
<numero>23</numero>
<issue>23</issue>
<page-range>3996-3999</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B3">
<label>3</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Hillar]]></surname>
<given-names><![CDATA[A.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Leo]]></surname>
<given-names><![CDATA[A.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Isochromatic Fringes In photoelasticity]]></article-title>
<source><![CDATA[Journal Of The Optical Society Of America A - Optics Image Science And Vision]]></source>
<year>2000</year>
<volume>17</volume>
<numero>4</numero>
<issue>4</issue>
<page-range>750 - 755</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B4">
<label>4</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Ajovalasit]]></surname>
<given-names><![CDATA[A.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Petrucci]]></surname>
<given-names><![CDATA[G.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Scafidi]]></surname>
<given-names><![CDATA[M]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[RGB photoelasticity applied to the analysis of membrane residual stress in glass]]></article-title>
<source><![CDATA[Measurement science and technology]]></source>
<year>2012</year>
<volume>23</volume>
<page-range>1-4</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B5">
<label>5</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Azzam]]></surname>
<given-names><![CDATA[R.M.A.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[The intertwined history of polarimetry and ellipsometry]]></article-title>
<source><![CDATA[Thin Solid Films]]></source>
<year>2011</year>
<volume>519</volume>
<page-range>2584-2588</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B6">
<label>6</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Kasimayan]]></surname>
<given-names><![CDATA[T.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Ramesh]]></surname>
<given-names><![CDATA[K.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Digital reflection photoelasticity using conventional reflection polariscope]]></article-title>
<source><![CDATA[Optics and Lasers in Engineering]]></source>
<year>2010</year>
<volume>34</volume>
<page-range>45-51</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B7">
<label>7</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Shih-Hsin]]></surname>
<given-names><![CDATA[Chang]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Hsien-Huang P.]]></surname>
<given-names><![CDATA[Wu]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Improvement of digital photoelasticity based on camera response function]]></article-title>
<source><![CDATA[Applied Optics]]></source>
<year>2011</year>
<volume>50</volume>
<numero>27</numero>
<issue>27</issue>
<page-range>5263-5270</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B8">
<label>8</label><nlm-citation citation-type="confpro">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Restrepo]]></surname>
<given-names><![CDATA[A.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[López]]></surname>
<given-names><![CDATA[F.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Color spaces analysis of photoelasticity images of plastics thin films]]></article-title>
<source><![CDATA[]]></source>
<year>july</year>
<month> 2</month>
<day>01</day>
<conf-name><![CDATA[ Imaging and applied optics]]></conf-name>
<conf-loc>Toronto </conf-loc>
<page-range>10-14</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B9">
<label>9</label><nlm-citation citation-type="confpro">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Briñez]]></surname>
<given-names><![CDATA[J.C.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Restrepo]]></surname>
<given-names><![CDATA[A.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[López]]></surname>
<given-names><![CDATA[F.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="es"><![CDATA[Estudios de deformación y fotoelasticidad en películas plásticas]]></article-title>
<source><![CDATA[]]></source>
<year></year>
<conf-name><![CDATA[XXIV congreso nacional de física]]></conf-name>
<conf-date>octubre 3 al 7 del 2011</conf-date>
<conf-loc>Bogotá </conf-loc>
</nlm-citation>
</ref>
<ref id="B10">
<label>10</label><nlm-citation citation-type="book">
<source><![CDATA[D882-10: Standard Test Method forTensile Properties of Thin Plastic Sheeting]]></source>
<year>marz</year>
<month>o </month>
<day>28</day>
<publisher-name><![CDATA[ASTM]]></publisher-name>
</nlm-citation>
</ref>
<ref id="B11">
<label>11</label><nlm-citation citation-type="book">
<source><![CDATA[D4093-95: Standard Test Method for Photoelastic Measurements of Birefringence and Residual Strains in Transparent or Translucent Plastic Materials]]></source>
<year>marz</year>
<month>o </month>
<day>28</day>
<publisher-name><![CDATA[ASTM]]></publisher-name>
</nlm-citation>
</ref>
<ref id="B12">
<label>12</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Kasimayan]]></surname>
<given-names><![CDATA[T.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Ramesh]]></surname>
<given-names><![CDATA[K.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Digital reflection photoelasticity using conventional reflection polariscope]]></article-title>
<source><![CDATA[ScienceDirect]]></source>
<year>2010</year>
<volume>34</volume>
<page-range>45-51</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B13">
<label>13</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Simon]]></surname>
<given-names><![CDATA[B.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Neethi]]></surname>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Kasimayan]]></surname>
<given-names><![CDATA[T.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Ramesh]]></surname>
<given-names><![CDATA[K.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[The influence of ambient illumination on colour adaptation in three fringe photoelasticity]]></article-title>
<source><![CDATA[ScienceDirect]]></source>
<year>2011</year>
<volume>46</volume>
<page-range>245-266</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B14">
<label>14</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Wang]]></surname>
<given-names><![CDATA[Z.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Bovik]]></surname>
<given-names><![CDATA[A. C. H. R.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Sheikh]]></surname>
<given-names><![CDATA[E.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Simoncelli]]></surname>
<given-names><![CDATA[P.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Image quality assessment: from error visibility to structural similarity]]></article-title>
<source><![CDATA[IEEE Transactions on Image Processing]]></source>
<year>2004</year>
<volume>13</volume>
<page-range>600 - 612</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B15">
<label>15</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[X.]]></surname>
<given-names><![CDATA[R. Dosselmann]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Yang]]></surname>
<given-names><![CDATA[A.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[comprehensive assessment of the structural similarity index]]></article-title>
<source><![CDATA[Signal, Image and Video Processing]]></source>
<year>2011</year>
<volume>5</volume>
<page-range>81-91</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B16">
<label>16</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Maldonado]]></surname>
<given-names><![CDATA[M.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Sanchez]]></surname>
<given-names><![CDATA[G.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Branch]]></surname>
<given-names><![CDATA[J.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Registration of range images using a histogram based metric]]></article-title>
<source><![CDATA[Dyna]]></source>
<year>2012</year>
<volume>79</volume>
<numero>176</numero>
<issue>176</issue>
<page-range>27-34</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B17">
<label>17</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Álvarez]]></surname>
<given-names><![CDATA[M.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[González]]></surname>
<given-names><![CDATA[E.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Bianconi]]></surname>
<given-names><![CDATA[F.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Armesto]]></surname>
<given-names><![CDATA[J.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Fernández]]></surname>
<given-names><![CDATA[A.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="es"><![CDATA[Características de color y textura para recuperación de imágenes en la industria del granito]]></article-title>
<source><![CDATA[Dyna]]></source>
<year>2010</year>
<volume>77</volume>
<numero>161</numero>
<issue>161</issue>
<page-range>121­130</page-range></nlm-citation>
</ref>
</ref-list>
</back>
</article>
