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<abstract abstract-type="short" xml:lang="en"><p><![CDATA[Cascaded multilevel inverters are widely used in industry for speed control of induction motors and, even when the converters' operation is highly reliable, several faults can occur, leading to poor engine performance or even causing the whole system to stop. It is desirable to keep the system operational when a failure occurs, even when degraded, and implementing fault-tolerant systems are thus a good choice. This paper presents a general strategy for fault-tolerant control in a 7-level cascaded multilevel inverter (the faults are in semiconductor devices); the paper includes simulation and experimental results to validate the method.]]></p></abstract>
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</front><body><![CDATA[  <font face="verdana" size="2">     <p align="center"><font size="4"><b>An&aacute;lisis de un inversor multinivel en cascada con tolerancia a fallas</b></font></p>     <p align="center"><font size="3"><b>Analysis of a cascaded multilevel inverter with fault-tolerant control</b></font></p>     <p><b>Jes&uacute;s Aguayo Alquicira<sup>1</sup>, Abraham Claudio S&aacute;nchez<sup>2</sup>, Luis Gerardo Vela Vald&eacute;s<sup>3</sup>, Marco Antonio Rodr&iacute;guez<sup>4</sup>, Rodolfo Amalio Vargas M&eacute;ndez<sup>5</sup></b></p>      <p><sup>1</sup> Doctor y Maestro en Ciencias en Ingenier&iacute;a electr&oacute;nica, Centro Nacional de Investigaci&oacute;n y Desarrollo Tecnol&oacute;gico-CENIDET, M&eacute;xico. Profesor, Centro Nacional de Investigaci&oacute;n y Desarrollo Tecnol&oacute;gico-CENIDET.  <a href="mailto:jaguayo@cenidet.edu.mx">jaguayo@cenidet.edu.mx</a>.</p>     <p><sup>2</sup> Maestro en Ciencias en Ingenier&iacute;a el&eacute;ctrica, Instituto Tecnol&oacute;gico de la Laguna, M&eacute;xico. Doctor en Ciencias en Ingenier&iacute;a el&eacute;ctrica , Instituto Nacional Polit&eacute;cnico de Grenoble, Francia. Profesor, Centro Nacional de Investigaci&oacute;n y Desarrollo Tecnol&oacute;gico-CENIDET. <a href="mailto:peabraha@cenidet.edu.mx">peabraha@cenidet.edu.mx</a>.</p>     <p><sup>3</sup> Maestro en Ciencias en Ingenier&iacute;a el&eacute;ctrica, Instituto Tecnol&oacute;gico de la Laguna. Doctor en Control autom&aacute;tico, Universidad Henry Poincar&eacute;, Francia. Profesor, Centro Nacional de Investigaci&oacute;n y Desarrollo Tecnol&oacute;gico- CENIDET.  <a href="mailto:velaluis@cenidet.edu.mx">velaluis@cenidet.edu.mx</a></p>     <p><sup>4</sup> Doctor y Maestro en Ciencias en Ingenier&iacute;a electr&oacute;nica, Centro Nacional de Investigaci&oacute;n y Desarrollo Tecnol&oacute;gico-CENIDET, M&eacute;xico. Profesor, Universidad Aut&oacute;noma del Carmen. <a href="mailto:marblanco73@hotmail.com">marblanco73@hotmail.com</a></p>     <p><sup>5</sup> Maestro en Ciencias en Ingenier&iacute;a electr&oacute;nica y Estudiante de doctorado, Centro Nacional de Investigaci&oacute;n y Desarrollo Tecnol&oacute;gico-CENIDET. <a href="mailto:Amalio08e@cenidet.edu.mx">Amalio08e@cenidet.edu.mx</a>.</p> <hr>      <p><b>RESUMEN</b></p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<p>Los inversores multinivel en cascada son ampliamente utilizados en la industria para el control de la velocidad en motores y aun cuando los inversores son muy confiables en su operaci&oacute;n, diversas fallas en ellos pueden ocurrir, llegando a degradar el comportamiento de los motores o incluso producirse el paro total del sistema. Cuando una falla se presenta es deseable mantener en operaci&oacute;n el sistema aun en r&eacute;gimen degradado y la implementaci&oacute;n de sistemas tolerantes a fallas en ese tipo de dispositivos son una buena opci&oacute;n. En este trabajo se ofrece una estrategia generalizada relativa a tolerar fallas en los dispositivos semiconductores de un inversor multinivel en cascada de siete niveles y se incluyen los resultados en simulaci&oacute;n y experimentales para la validaci&oacute;n del m&eacute;todo.</p>     <p><b>Palabras clave</b>: modulaci&oacute;n IPDPWM, tolerancia a fallas, inversor multinivel en cascada.</p> <hr>      <p><b>ABSTRACT</b></p>      <p>Cascaded multilevel inverters are widely used in industry for speed control of induction motors and, even when the converters' operation is highly reliable, several faults can occur, leading to poor engine performance or even causing the whole system to stop. It is desirable to keep the system operational when a failure occurs, even when degraded, and implementing fault-tolerant systems are thus a good choice. This paper presents a general strategy for fault-tolerant control in a 7-level cascaded multilevel inverter (the faults are in semiconductor devices); the paper includes simulation and experimental results to validate the method.</p>     <p><b>Keywords</b>: modulation, in-phase pulse width modulation (IPDPWM), fault-tolerance, cascaded multilevel inverter.</p> <hr>      <p><b>Recibido</b>: octubre 21 de 2010 <b>Aceptado</b>: noviembre 2 de 2011</p> <hr>      <p><font size="3"><b>Introducci&oacute;n</b></font></p>      <p>En aplicaciones de mediano voltaje (2,3 kV a 13,8 kV) y alta potencia (0,4 MW a 40 MW) los inversores multinivel ofrecen ventajas particulares de operaci&oacute;n al incrementar el n&uacute;mero de niveles de voltaje a la salida, por ejemplo: un menor contenido arm&oacute;nico, una disminuci&oacute;n en los transitorios dv/dt de las conmutaciones y reducci&oacute;n de p&eacute;rdidas el&eacute;ctricas (Cort&eacute;s <i>et al</i>., 2008). Los inversores multinivel m&aacute;s utilizados en la industria son: diodos de enclavamiento, cascada y condensadores flotantes (BinWu, 2006; Jae-Chu <i>et al</i>., 2006). Sin embargo, al incrementarse el n&uacute;mero de niveles aumenta tambi&eacute;n el n&uacute;mero de interruptores en la topolog&iacute;a y se eleva la probabilidad de falla en el sistema (Mingyao <i>et al</i>., 2007; LeiHu <i>et al</i>., 2005). Cuando se presenta una falla se genera un voltaje desbalanceado que puede ocasionar da&ntilde;o permanente en la carga o un paro total del sistema (Barriuso <i>et al</i>., 2009; Francois <i>et al</i>., 2002).</p>      <p>Los estudios relacionados con la tolerancia a fallas en los inversores multinivel contemplan diversas estrategias para obtener un voltaje l&iacute;nea-l&iacute;nea balanceado a la salida (Mingyao <i>et al</i>., 2007; LeiHu <i>et al</i>.; 2005; Shengming <i>et al</i>., 2006 y Sanmin <i>et al</i>., 2004). Xiaomin <i>et al</i>. (2004) estudiaron el inversor con condensadores flotantes de cuatro niveles empleando la estrategia de redundancia material (uso de componentes extras). Edison <i>et al</i>. (2006) y Gun-Tae <i>et al</i>. (2004) analizaron el inversor con diodos de enclavamiento de tres niveles y tambi&eacute;n usaron componentes extras para tolerar fallas. Francois <i>et al</i>. (2002) presentaron el inversor multinivel en cascada con una rama adicional para intercambiar las se&ntilde;ales de conmutaci&oacute;n cuando ocurre una falla. Sanmin <i>et al</i>. (2006) y Surin <i>et al</i>. (2006) analizaron el inversor en cascada y la t&eacute;cnica de tolerancia a fallas empleada en la variaci&oacute;n de las modulaciones de los dispositivos semiconductores. Barriuso <i>et al</i>. (2009), Mingyao <i>et al</i>. (2007) y LeiHu <i>et al</i>. (2005) presentaron sistemas tolerantes a fallas para un convertidor multinivel asim&eacute;trico empleando redundancia material. Tambi&eacute;n existen trabajos como los de De Lillo <i>et al</i>. (2010), donde se despliega un sistema tolerante a fallas en m&aacute;quinas el&eacute;ctricas, con &eacute;nfasis en aplicaciones aeroespaciales, y el de Xiong <i>et al</i>. (2008), en el cual la aplicaci&oacute;n es un veh&iacute;culo el&eacute;ctrico.</p>      <p>En este trabajo se analiza el inversor en cascada de siete niveles (<a href="#f1">figura 1</a>), con capacidad de tolerancia a fallas, aprovechando la modularidad del sistema al modificar la secuencia de operaci&oacute;n de los interruptores (modulaci&oacute;n). El objetivo est&aacute; encaminado a verificar hasta d&oacute;nde es posible reconfigurar la topolog&iacute;a ante fallas en una o dos celdas, manteniendo el voltaje de salida balanceado y con baja distorsi&oacute;n arm&oacute;nica en comparaci&oacute;n con los voltajes nominales de salida en funci&oacute;n de la aplicaci&oacute;n.</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><a name="f1"></a><img src="img/revistas/iei/v31n3/v31n3a08f1.JPG"></p>      <p><b>An&aacute;lisis de fallas</b></p>     <p>Existen diversos estudios sobre an&aacute;lisis de fallas en sistemas de potencia (Aguayo <i>et al</i>., 2004; P&eacute;rez <i>et al</i>., 2009; Quiroga, 2009), pero en la pr&aacute;ctica los inversores vienen con funciones de protecciones (Friedrich <i>et al</i>., 2003) o se activan las protecciones pasivas del sistema en funci&oacute;n de la duraci&oacute;n de la falla (Sun <i>et al</i>., 2010). Para llevar a cabo este an&aacute;lisis se hace necesario desactivar las protecciones pasivas y solo se analizan dos tipos de fallas que pueden presentarse en los dispositivos semiconductores: en circuito abierto y en cortocircuito, las cuales se describen a continuaci&oacute;n (Lu <i>et al</i>., 2009).</p>      <p><b>Modo de falla: circuito abierto</b></p>     <p>Esta falla se presenta cuando un interruptor permanece apagado (aun cuando la se&ntilde;al de compuerta est&eacute; activ&aacute;ndolo) y se evita la transferencia de energ&iacute;a a trav&eacute;s del convertidor hacia la carga; el diagrama el&eacute;ctrico de la falla se presenta en la <a href="#f2">figura 2</a>. La probabilidad de ocurrencia de este modo de falla es del 18% del total de fallas que se presentan en un inversor (Aguayo <i>et al</i>., 2004). Al ocurrir este tipo de falla se pierden dos niveles de voltaje, uno positivo y otro negativo, tal y como se aprecia en la <a href="img/revistas/iei/v31n3/v31n3a08f3.JPG" target="_blank">figura 3</a> al presentarse una falla en <i>t = 0,055 seg</i>.</p>     <p align="center"><a name="f2"></a><img src="img/revistas/iei/v31n3/v31n3a08f2.JPG"></p>      <p><b>Modo de falla: cortocircuito</b></p>     <p>Ocurre cuando un interruptor se cierra en presencia de otro incluso cerrado en la misma rama del inversor o trayectoria de la fuente, tal y como se presenta en Sun <i>et al</i>. (2010). En este caso tampoco es posible la transferencia de energ&iacute;a a trav&eacute;s de la carga y se tiene una sobrecorriente entre el voltaje de alimentaci&oacute;n y dos transistores. En funci&oacute;n de la duraci&oacute;n de la falla es posible que se activen las protecciones del sistema y suceda un paro total del sistema. La ocurrencia de esta falla es de un 15% del total de las que pueden darse en un convertidor (Aguayo <i>et al</i>., 2004). De igual manera que en el caso anterior, se pierden dos niveles de voltaje a la salida.</p>      <p><b>Esquema de tolerancia a fallas</b></p>     <p>Antes de implementar cualquier t&eacute;cnica de reconfiguraci&oacute;n del sistema se requiere un an&aacute;lisis de diagn&oacute;stico de las fallas FDI (<i>Fault Detection and Isolation</i>). Para el FDI se pueden implemen-tar diversos m&eacute;todos, entre los que destacan: a) sensado de resistencia, b) transformaciones de la corriente de salida y c) sensado de V<sub>CE</sub> (Edison <i>et al</i>., 2006). Este trabajo adopta el m&eacute;todo de actuador como sensor (Aguayo <i>et al</i>., 2004; Rodr&iacute;guez <i>et al</i>., 2009) para la detecci&oacute;n de la falla mediante el sensado de V<sub>CE</sub> y V<sub>GE</sub>.</p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<p><b>Reconfiguraci&oacute;n de la modulaci&oacute;n IPDPWM</b></p>      <p>Ac&aacute; se analiza la tolerancia de fallas en un inversor multinivel en cascada sin reemplazo f&iacute;sico de los componentes, lo cual se logra mediante el estudio de la t&eacute;cnica de modulaci&oacute;n IPDPWM tal y como se presenta en LeiHu <i>et al</i>. (2005), asignando seis portadoras en fase (se&ntilde;ales triangulares) a diferentes niveles de voltaje y comparando con una referencia (se&ntilde;al sinusoidal) a los fines de determinar el patr&oacute;n de conmutaci&oacute;n de los interruptores. Las se&ntilde;ales generadas de la comparaci&oacute;n se asignan a los seis pares de interruptores (guardando una simetr&iacute;a).</p>      <p>La propuesta del trabajo es analizar los l&iacute;mites del &iacute;ndice de modulaci&oacute;n y aprovechar la simetr&iacute;a de los interruptores con prop&oacute;sitos de reconfiguraci&oacute;n; para incluir las t&eacute;cnicas de tolerancia a fallas se hace necesario llevar a cabo una redundancia material (modificaci&oacute;n de los componentes), en otras palabras, la modulaci&oacute;n por <i>software </i>(se&ntilde;ales de compuerta) implica una reconfiguraci&oacute;n en <i>hardware </i>(dispositivos semiconductores), pero no hay redundancia material.</p>      <p><b>Reconfiguraci&oacute;n para una c&eacute;lula con falla</b></p>     <p>Cuando ocurre cualquier tipo de falla se tiene que aislar y dejar de conmutar a la c&eacute;lula correspondiente con falla; con fines explicativos se considera que la c&eacute;lula que falla es la (<a href="#f2">figura 2</a>). Las se&ntilde;ales que le corresponden a la c&eacute;lula con falla son las de los extremos superior e inferior (<a href="img/revistas/iei/v31n3/v31n3a08f4.JPG" target="_blank">figura 4</a>). Por lo tanto, se hace necesario modificar la se&ntilde;al portadora (que en el caso de la <a href="img/revistas/iei/v31n3/v31n3a08f4.JPG" target="_blank">figura 4</a> es sinusoidal) por una forma de onda que evite llevar a cabo la comparaci&oacute;n y de esta manera dejar a la c&eacute;lula A1 fuera de operaci&oacute;n. La <a href="img/revistas/iei/v31n3/v31n3a08f5.JPG" target="_blank">figura 5</a> muestra esta forma de onda.</p>      <p>Para las otras dos referencias (fases B y C), estas deben compensar en cierto instante la energ&iacute;a que entregaba la c&eacute;lula da&ntilde;ada. En la <a href="img/revistas/iei/v31n3/v31n3a08t1.JPG" target="_blank">tabla I</a> se dan las expresiones que describen las referencias trif&aacute;sicas en un ciclo de l&iacute;nea (60 Hz), informaci&oacute;n adaptada de la referencia <i>LeiHu et al. </i>(2005). Debe tenerse en cuenta que los datos de esta tabla muestran los l&iacute;mites de los &iacute;ndice de modulaci&oacute;n, los cuales son funci&oacute;n de la aplicaci&oacute;n. En la <a href="img/revistas/iei/v31n3/v31n3a08f6.JPG" target="_blank">figura 6</a> se muestran las formas de onda de las referencias descritas por dichas expresiones, y se puede observar que el &iacute;ndice de modulaci&oacute;n en las otras fases es forzado a incrementarse justamente en el momento en que la c&eacute;lula sometida al efecto de la falla deja de transferir energ&iacute;a a la carga.</p>      <p>Con esta reconfiguraci&oacute;n no importa qu&eacute; c&eacute;lula tenga el interruptor con falla, siempre y cuando se reasignen adecuadamente las se&ntilde;ales de compuerta, ya que las portadoras al extremo superior e inferior se asignan a la c&eacute;lula con falla.</p>      <p>Hasta el momento solo se ha manifestado la soluci&oacute;n cuando se presenta una c&eacute;lula con falla, pero con este m&eacute;todo es posible mantener operando al sistema aun si la falla se presenta en dos c&eacute;lulas de una fase, como se muestra a continuaci&oacute;n.</p>      <p><b>Reconfiguraci&oacute;n para dos c&eacute;lulas con falla</b></p>     <p>Al haber dos c&eacute;lulas con falla en una misma fase la se&ntilde;al de referencia se modifica para dejar de compararse con las cuatro portadoras correspondientes, por lo que el voltaje de fase ahora tiene s&oacute;lo tres niveles (una c&eacute;lula). Por lo tanto, las otras referencias deben compensar durante un tiempo mayor, tal y como se indica en la <a href="img/revistas/iei/v31n3/v31n3a08f6.JPG" target="_blank">figura 6</a>. En la <a href="img/revistas/iei/v31n3/v31n3a08t2.JPG" target="_blank">tabla II</a> se presentan las expresiones que describen las formas de onda de las referencias en funci&oacute;n de los l&iacute;mites de los &iacute;ndices de modulaci&oacute;n.</p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<p><b>Validaci&oacute;n con resultados en simulaci&oacute;n</b></p>      <p>Para realizar la validaci&oacute;n del m&eacute;todo propuesto se utilizaron el simulador PSIM6.0 y Matlab-Simulink7.0. En el primero se implement&oacute; la parte de potencia (convertidor y carga) y en el segundo la parte de control.</p>      <p>En la <a href="img/revistas/iei/v31n3/v31n3a08f7.JPG" target="_blank">figura 7</a> se presentan las se&ntilde;ales de las referencias para las tres fases, antes y despu&eacute;s de que ocurre una falla (<i>en t = 0,55 seg</i>), con un &iacute;ndice de modulaci&oacute;n de 0,8 (<i>M = 0,8</i>), una frecuencia de referencia de 60 Hz (<i>f<sub>m</sub> = 60 Hz</i>) y una frecuencia de conmutaci&oacute;n de 3.600 Hz (<i>f<sub>c</sub> = 3.600 Hz</i>). En la <a href="img/revistas/iei/v31n3/v31n3a08f8.JPG" target="_blank">figura 8</a> se indica el voltaje de la fase A en las mismas condiciones descritas, donde se aprecia una degradaci&oacute;n de dos niveles (uno superior y otro inferior) en el momento en que se presenta la falla.</p>      <p>En la <a href="img/revistas/iei/v31n3/v31n3a08f9.JPG" target="_blank">figura 9</a> se aprecia el voltaje de l&iacute;nea a l&iacute;nea (<i>V<sub>ab</sub></i>), observ&aacute;ndose que, en este caso, hay mayor cantidad de niveles, por raz&oacute;n de que la medici&oacute;n del voltaje entre l&iacute;nea representa la combinaci&oacute;n de dos voltajes de fase; adem&aacute;s mantiene sus niveles de voltaje incluso con presencia de la falla. Una parte importante de los sistemas trif&aacute;sicos es la del balance de los voltajes entre fases (sobre todo cuando la carga es un motor). Con la finalidad de verificar dicho balance de voltaje se presenta en la <a href="img/revistas/iei/v31n3/v31n3a08f10.JPG" target="_blank">figura 10</a> el diagrama vectorial del sistema, donde se tiene una m&iacute;nima degradaci&oacute;n en el voltaje de fase A (reducci&oacute;n del 6%), mientras que las otras fases compensan para que los voltajes de l&iacute;nea permanezcan sin cambio alguno (incremento del 22%). Dicho en otras palabras, la potencia es constante debido a que la energ&iacute;a que no logra suministrar la fase con falla se compensa con la que suministran las otras fases.</p>      <p>Hasta el momento los resultados de la validaci&oacute;n del m&eacute;todo son los esperados, pero &iquest;qu&eacute; ocurre cuando en dos convertidores, en una misma fase, hay falla? En la <a href="img/revistas/iei/v31n3/v31n3a08f11.JPG" target="_blank">figura 11</a> se presentan las se&ntilde;ales de la referencias para las tres fases, antes y despu&eacute;s de la ocurrencia de las dos fallas (ambas ocurren al mismo tiempo y en celdas de una misma fase); asimismo, se revela el voltaje de la fase A, el cual exhibe una degradaci&oacute;n de cuatro niveles con respecto a la forma de onda sin fallas; en este caso la forma de onda de salida es la cl&aacute;sica de un convertidor inversor de tres niveles (v. <a href="img/revistas/iei/v31n3/v31n3a08f12.JPG" target="_blank">figura 12</a>).</p>      <p>En la <a href="img/revistas/iei/v31n3/v31n3a08f13.JPG" target="_blank">figura 13</a> se expone el voltaje de l&iacute;nea <i>V<sub>ab</sub></i>. En la gr&aacute;fica se observa que, al presentarse la falla, exhibe una degradaci&oacute;n de dos niveles en el voltaje de salida, de igual manera que el voltaje revela una degradaci&oacute;n; es de inter&eacute;s conocer en estos momentos si el sistema a&uacute;n permanece balanceado o, dicho en otras palabras, si la energ&iacute;a que no logra suministrar la fase con falla se compensa con la energ&iacute;a que proporcionan las otras fases que no tienen fallas. Para verificar este comportamiento se ofrece en la <a href="img/revistas/iei/v31n3/v31n3a08f14.JPG" target="_blank">figura 14</a> el diagrama vectorial del sistema, donde se observa una fuerte degradaci&oacute;n en el voltaje de fase A (reducci&oacute;n del 49%), mientras que las otras fases compensan para que los voltajes de l&iacute;nea permanezcan sin cambio alguno y el sistema siga balanceado (incremento del 20%).</p>      <p><b>Resultados experimentales</b></p>      <p>Se implement&oacute; de manera experimental un inversor en cascada de siete niveles empleando dispositivos semiconductores de potencia. En la <a href="#t3">tabla III</a> se presentan las condiciones experimentales.</p>     <p align="center"><a name="t3"></a><img src="img/revistas/iei/v31n3/v31n3a08t3.JPG"></p>      <p>En las <a href="#f15,16y17">figuras 15</a>, <a href="#f15,16y17">16</a> y <a href="#f15,16y17">17</a> se dan los resultados del voltaje entre dos l&iacute;neas y su respectiva fase durante la operaci&oacute;n del sistema sin falla y cuando falla un interruptor en una c&eacute;lula de la fase A. Como puede notarse, el efecto de p&eacute;rdida de niveles solo se da en la se&ntilde;al de la fase A y los voltajes entre fases permanecen sin cambios visibles.</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><a name="f15,16y17"></a><img src="img/revistas/iei/v31n3/v31n3a08f15,16y17.JPG"></p>      <p>Para finalizar el an&aacute;lisis, en la <a href="#f18">figura 18</a> se presenta el perfil THD del voltaje de l&iacute;nea <i>V<sub>ab</sub></i>. Al tener falla en una c&eacute;lula aparecen algunos arm&oacute;nicos de tercer orden, mientras que cuando dos c&eacute;lulas tienen falla la amplitud de dichos arm&oacute;nicos se incrementa. El aumento de los arm&oacute;nicos es de alrededor del 1% por cada c&eacute;lula que tiene un interruptor con aver&iacute;a. Los arm&oacute;nicos de bajo orden (3, 5, 7 y 11) se incrementan en un 0,5% en promedio.</p>     <p align="center"><a name="f18"></a><img src="img/revistas/iei/v31n3/v31n3a08f18.JPG"></p>      <p><font size="3"><b>Conclusiones</b></font></p>      <p>Este trabajo despliega una reconfiguraci&oacute;n IPDPWM que, adem&aacute;s de f&aacute;cil de implementar, presenta la ventaja de mantener un voltaje balanceado de l&iacute;nea a l&iacute;nea aun despu&eacute;s de ocurrir falla en un interruptor con una o dos c&eacute;lulas del sistema. Esto es importante en cargas que requieren operar con voltajes de l&iacute;nea balanceados, como los motores de inducci&oacute;n. Asimismo, la estrategia de reconfiguraci&oacute;n permite que el sistema se repare sin que salga de operaci&oacute;n. Se muestran resultados en simulaci&oacute;n y de manera experimental para la validaci&oacute;n del m&eacute;todo.</p> <hr>      <p><font size="3"><b>Referencias</b></font></p>      <!-- ref --><p>Aguayo, J., Claudio, A. Vela, L.G. Gentile, S., A survey of fault diagnosis methods for induction motors drives under inverter fault conditions., International Conference of Electrical and Electronics Engineering, (ICEEE). Acapulco Guerrero, M&eacute;xico. June 2004, pp. 367 - 372&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000059&pid=S0120-5609201100030000800001&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Barriuso, P., Dixon J., Flores, P., Mor&aacute;n, L., Fault tolerant reconfiguration system for asymmetric multilevel converters using bi -directional power switches., IEEE Trans. Ind. Electron, vol. 56, no. 4, pp. 1300-1306, March 2009.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000060&pid=S0120-5609201100030000800002&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Bin, W., High Power Converters and AC Drives., Wiley Inter-Science, Toronto Canada, 2006, pp. 80-87.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000061&pid=S0120-5609201100030000800003&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Cort&eacute;s, C.A., Deprez, W., Driesen, J., P&eacute;rez, J.J., Determinaci&oacute;n de p&eacute;rdidas el&eacute;ctricas en motores de inducci&oacute;n modelados electromagn&eacute;ticamente con el m&eacute;todo de los elementos finitos., Ingenier&iacute;a e Investigaci&oacute;n, Universidad Nacional de Colombia, Bogot&aacute;, Colombia. Vol. 28, N&uacute;m. 3, diciembre, 2008, pp. 64-74&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000062&pid=S0120-5609201100030000800004&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Da Silva, E.R., Lima, W.S., de Oliveira Jr., A.S., Jacobina, C.B., Detection and compensation of switch faults in a three level inverter., Power Electronics Specialists Conference PESC'06, Jeju, Korea. June 2006, pp. 1309-1315.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000063&pid=S0120-5609201100030000800005&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>De Lillo L., Empringham, L., Wheeler, P.W., Khwan-On, S., Gerada, C., Othman, M.N., Xiaoyan H., Multiphase power converter drive for fault-tolerant machine development in aerospace application., IEEE Trans. Ind. Electron<i>.</i>, vol. 57, no. 2, pp. 575-583, Feb. 2010.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000064&pid=S0120-5609201100030000800006&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Francois, B., Hautier, J.P., Design of a fault tolerant control system for a NPC multilevel inverter., Volume 4, No. 8-11. 28<sup>th</sup> Annual Conference of IEEE Industrial Electronics Conference (IECON). Sevilla, Spain. November 2002, pp. 1075-1080.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000065&pid=S0120-5609201100030000800007&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Fuchs, F.W., Some Diagnosis Methods for Voltage Source Inverters In Variable Speed Drives with Induction Machines A Survey., 29<sup>th</sup> Annual Conference of IEEE Industrial Electronics Conference(IECON). Virginia, USA. Volume 2, Nov. 2003, pp. 1378 - 1385.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000066&pid=S0120-5609201100030000800008&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Gun-Tae, P., Tae-Jin, K., Dae-Wook, K., Dong-Seok, H., Control Method of NPC Inverter for Continuous Operation Under One Phase Fault Condition., Power Electronics Specialists Conference, PESC'04, Aachen, Germany. June 04, pp. 2188-2193&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000067&pid=S0120-5609201100030000800009&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Jae-Chu, L., Tae-Jin, K., Dae-Wook, K., Dong-Seok, H., A Control Method for Improvement of Reliability in Fault Tolerant NPC Inverter System., Power Electronics Specialists Conference, PESC'06, Jeju, Korea. June 2006, pp. 1304-1308.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000068&pid=S0120-5609201100030000800010&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Khomfoi, S., Tolbert, L.M., A Reconfiguration Technique for Multilevel Inverters Incorporating a Diagnostic System Based on Neural Network., Computers in Power Electronics, COMPEL. Troy, New York, USA. July 2006, pp. 317-323.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000069&pid=S0120-5609201100030000800011&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Lei, H., Mingyao, M., Alian, C., Xiangning, H., Reconfiguration of Carrier-based Modulation Strategy for Fault Tolerant Multilevel Inverters., 31<sup>th</sup> Annual Conference of IEEE Industrial Electronics Conference, IECON. Carolina, USA. Nov. 2005, pp. 1048-1053.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000070&pid=S0120-5609201100030000800012&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Lezana, P., Aguilera, R., Rodr&iacute;guez, J., Fault detection on multi-cell converter based on output voltage frequency analysis., IEEE Trans. Ind. Electron<i>.</i>, vol. 56, no. 6, pp. 2275-2283; June 2009.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000071&pid=S0120-5609201100030000800013&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Lu, B., Sharma, S., A literature review of IGBT fault diagnostic and protection methods for power inverters., IEEE Trans<i>. </i>Ind. Appl<i>.</i>, vol. 45, no. 5, pp. 1770 - 1777. Sep./Oct. 2009.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000072&pid=S0120-5609201100030000800014&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Mingyao, M., Lei, H., Alian, C., Reconfiguration of Carrier-Based Modulation Strategy for Fault Tolerant Multilevel Inverters., IEEE Transactions on Power Electronics, vol. 22, No. 5, Sep. 2007, pp 2050-2060.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000073&pid=S0120-5609201100030000800015&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>P&eacute;rez Hern&aacute;ndez, L., Mora Fl&oacute;rez, J., Bedoya Cebayos, J., A linear approach to determining an SVM-basedfaultlocator'soptimalparameters., Ingenier&iacute;a e Investigaci&oacute;n, Universidad Nacional de Colombia, Bogot&aacute;, Colombia Vol. 29, N&uacute;m. 1, abril, 2009, pp. 76-8.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000074&pid=S0120-5609201100030000800016&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Quiroga, J. E., Detecci&oacute;n de cortocircuito en el devanado de un motor sincr&oacute;nico de imanes permanentes usando corriente de secuencia negativa en dominio tiempo., Ingenier&iacute;a e Investigaci&oacute;n, Universidad Nacional de Colombia, Bogot&aacute;, Colombia. Vol. 29, N&uacute;m. 2, agosto, 2009, pp. 48-52&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000075&pid=S0120-5609201100030000800017&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Rodr&iacute;guez, M. A., Claudio, A., Theillio, D., Vela, L.G., Hern&aacute;ndez, L., Strategy to replace the damaged element for fault-tolerant induction motor drive., in Proc. IEEE Appl. Power Electron. Conf<i>.</i>, Washington, DC, February 15-19, 2009, pp. 343-346.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000076&pid=S0120-5609201100030000800018&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Sanmin, W., Bin, W., Fahai, L., Xudong, S., Control Method for Cascade H-Bridge Multilevel Inverter with Faulty Power Cells., Applied Power Electronics Conference and Exposition, APEC. Miami Beach, Frorida, USA. Volume 1, No 9-13 Feb. 2003, pp. 261 - 267&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000077&pid=S0120-5609201100030000800019&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Sanmin, W., Bin, W., Rizzo, S., Zargari, N., Comparison of control schemes for multilevel inverter with faulty cells., 30<sup>th</sup> Annual Conference of IEEE Industrial Electronics Conference, IECON. Busan, Korea. 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