<?xml version="1.0" encoding="ISO-8859-1"?><article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance">
<front>
<journal-meta>
<journal-id>0122-3461</journal-id>
<journal-title><![CDATA[Ingeniería y Desarrollo]]></journal-title>
<abbrev-journal-title><![CDATA[Ing. Desarro.]]></abbrev-journal-title>
<issn>0122-3461</issn>
<publisher>
<publisher-name><![CDATA[Fundación Universidad del Norte]]></publisher-name>
</publisher>
</journal-meta>
<article-meta>
<article-id>S0122-34612013000200007</article-id>
<title-group>
<article-title xml:lang="es"><![CDATA[Diseño estadístico de cartas de control para datos autocorrelacionados]]></article-title>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Statistical design of control charts For autocorrelated data design Of control charts]]></article-title>
</title-group>
<contrib-group>
<contrib contrib-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Peñabaena Niebles]]></surname>
<given-names><![CDATA[Rita]]></given-names>
</name>
<xref ref-type="aff" rid="A01"/>
</contrib>
<contrib contrib-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Oviedo-Trespalacios]]></surname>
<given-names><![CDATA[Óscar]]></given-names>
</name>
<xref ref-type="aff" rid="A02"/>
</contrib>
<contrib contrib-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Vásquez Cabeza]]></surname>
<given-names><![CDATA[Juan Guillermo]]></given-names>
</name>
<xref ref-type="aff" rid="A03"/>
</contrib>
<contrib contrib-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Fernández Cantillo]]></surname>
<given-names><![CDATA[Laura Milena]]></given-names>
</name>
<xref ref-type="aff" rid="A04"/>
</contrib>
</contrib-group>
<aff id="A01">
<institution><![CDATA[,Universidad del Norte Departamento de Ingeniería Industrial ]]></institution>
<addr-line><![CDATA[ ]]></addr-line>
<country>Colombia</country>
</aff>
<aff id="A02">
<institution><![CDATA[,Universidad del Norte Departamento de Ingeniería Industrial ]]></institution>
<addr-line><![CDATA[ ]]></addr-line>
<country>Colombia</country>
</aff>
<aff id="A03">
<institution><![CDATA[,Universidad del Norte Departamento de Ingeniería Industrial ]]></institution>
<addr-line><![CDATA[ ]]></addr-line>
<country>Colombia</country>
</aff>
<aff id="A04">
<institution><![CDATA[,Universidad del Norte Departamento de Ingeniería Industrial ]]></institution>
<addr-line><![CDATA[ ]]></addr-line>
<country>Colombia</country>
</aff>
<pub-date pub-type="pub">
<day>00</day>
<month>12</month>
<year>2013</year>
</pub-date>
<pub-date pub-type="epub">
<day>00</day>
<month>12</month>
<year>2013</year>
</pub-date>
<volume>31</volume>
<numero>2</numero>
<fpage>291</fpage>
<lpage>315</lpage>
<copyright-statement/>
<copyright-year/>
<self-uri xlink:href="http://www.scielo.org.co/scielo.php?script=sci_arttext&amp;pid=S0122-34612013000200007&amp;lng=en&amp;nrm=iso"></self-uri><self-uri xlink:href="http://www.scielo.org.co/scielo.php?script=sci_abstract&amp;pid=S0122-34612013000200007&amp;lng=en&amp;nrm=iso"></self-uri><self-uri xlink:href="http://www.scielo.org.co/scielo.php?script=sci_pdf&amp;pid=S0122-34612013000200007&amp;lng=en&amp;nrm=iso"></self-uri><abstract abstract-type="short" xml:lang="es"><p><![CDATA[Resumen Este documento revisa la literatura relacionada con el diseño estadístico de cartas de control para datos autocorrelacionados y presenta los enfoques realizados por diversos autores en los últimos veinte años según tres categorías. La primera de ellas se refiere a las cartas de control basadas en residuales, la segunda corresponde a las modificaciones de las cartas de control y modelos que utilizan observaciones originales para disminuir la complejidad de aplicación que tienen las cartas de residuales, y una última categoría reseña brevemente algunos métodos de minería de datos aplicados al control estadístico de procesos correlacionados. Además, se identifican futuras áreas de trabajo como apoyo a los investigadores interesados en continuar con esta línea del conocimiento.]]></p></abstract>
<abstract abstract-type="short" xml:lang="en"><p><![CDATA[Abstract This paper reviews the literature on the statistical design of control charts for autocorrelated data and presents approaches proposed by several authors over the last 20 years, according to three categories. The first one relates to residuals-based control charts, the second corresponds to modified control charts and models based on original observations that aim at reducing the complexity of residuals-based control charts. The last category briefly reviews data mining techniques applied to correlated statistical processes. In addition, future research areas are identified to support researchers interested in this line of knowledge.]]></p></abstract>
<kwd-group>
<kwd lng="es"><![CDATA[Cartas de control con residuales]]></kwd>
<kwd lng="es"><![CDATA[Cartas de control modificadas]]></kwd>
<kwd lng="es"><![CDATA[Control de calidad, Minería de datos]]></kwd>
<kwd lng="es"><![CDATA[Procesos autocorrelacionados]]></kwd>
<kwd lng="en"><![CDATA[Correlated process data]]></kwd>
<kwd lng="en"><![CDATA[Data Mining]]></kwd>
<kwd lng="en"><![CDATA[Modified Control Charts]]></kwd>
<kwd lng="en"><![CDATA[Residuals-based control charts]]></kwd>
<kwd lng="en"><![CDATA[Statistical quality monitoring]]></kwd>
</kwd-group>
</article-meta>
</front><body><![CDATA[  <font face="verdana" size="2">     <p><b>ART&Iacute;CULO DE REVISI&Oacute;N / REVIEW ARTICLE</b></p>     <p align="center"><font size="4"><b>Dise&ntilde;o estad&iacute;stico de cartas de control para datos autocorrelacionados</b></font></p>     <p align="center"><font size="3"><b>Statistical design of control charts For autocorrelated data design Of control charts</b></font></p>     <p><b>Rita Pe&ntilde;abaena Niebles</b><sup>*</sup>    <br>  <b>&Oacute;scar Oviedo-Trespalacios</b><sup>**</sup>    <br>  <b>Juan Guillermo V&aacute;squez Cabeza</b><sup>***</sup>    <br>  <b>Laura Milena Fern&aacute;ndez Cantillo</b><sup>****</sup>    <br> <I>Universidad del Norte (Colombia) </I></p>     <p><sup>*</sup>Grupo de Investigaci&oacute;n de Productividad y Competitividad. Docente e investigador del Departamento de Ingenier&iacute;a Industrial de la Universidad del Norte (Colombia). <I><a href="mailto:rpena@uninorte.edu.co">rpena@uninorte.edu.co</a></I></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><sup>**</sup>Grupo de Investigaci&oacute;n de Productividad y Competitividad. Docente e investigador del Departamento de Ingenier&iacute;a Industrial de la Universidad del Norte (Colombia). <I><a href="mailto:oviedo@uninorte.edu.co">oviedo@uninorte.edu.co</a> </I></p>     <p><sup>***</sup>Grupo de Investigaci&oacute;n de Productividad y Competitividad. Universidad del Norte (Colombia). <I><a href="mailto:cabezaj@uninorte.edu.co">cabezaj@uninorte.edu.co</a></I></p>     <p><sup>****</sup>Grupo de Investigaci&oacute;n de Productividad y Competitividad. Universidad del Norte (Colombia). <I><a href="mailto:mlfernandez@uninorte.edu.co">mlfernandez@uninorte.edu.co</a></I></p>     <p><B>Correspondencia:</B> Rita Pe&ntilde;abaena, Departamento de Ingenier&iacute;a Industrial. Universidad del Norte. Km 5 V&iacute;a antigua a Puerto Colombia, Barranquilla. Tel: 5-3509269. <B>Origen subvenciones: </B>Este art&iacute;culo fue financiado gracias al Departamento Administrativo de Ciencia, Tecnolog&iacute;a e Innovaci&oacute;n colombiano, Colciencias, con el proyecto No. 121552128846, contrato 651-2011. </p>     <p><I>Fecha de recepci&oacute;n: </I>14 de marzo de 2013    <br><I>Fecha de aceptaci&oacute;n: </I>20 de mayo de 2013 </p> <hr>     <p><B>Resumen </b></p>     <p>Este documento revisa la literatura relacionada con el dise&ntilde;o estad&iacute;stico de cartas de control para datos autocorrelacionados y presenta los enfoques realizados por diversos autores en los &uacute;ltimos veinte a&ntilde;os seg&uacute;n tres categor&iacute;as. La primera de ellas se refiere a las cartas de control basadas en residuales, la segunda corresponde a las modificaciones de las cartas de control y modelos que utilizan observaciones originales para disminuir la complejidad de aplicaci&oacute;n que tienen las cartas de residuales, y una &uacute;ltima categor&iacute;a rese&ntilde;a brevemente algunos m&eacute;todos de miner&iacute;a de datos aplicados al control estad&iacute;stico de procesos correlacionados. Adem&aacute;s, se identifican futuras &aacute;reas de trabajo como apoyo a los investigadores interesados en continuar con esta l&iacute;nea del conocimiento. </p>     <p><B>Palabras clave: </B>Cartas de control con residuales, Cartas de control modificadas, Control de calidad, Miner&iacute;a de datos, Procesos autocorrelacionados. </p> <hr>     <p><B>Abstract </b></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><B></b>This paper reviews the literature on the statistical design of control charts for autocorrelated data and presents approaches proposed by several authors over the last 20 years, according to three categories. The first one relates to residuals-based control charts, the second corresponds to modified control charts and models based on original observations that aim at reducing the complexity of residuals-based control charts. The last category briefly reviews data mining techniques applied to correlated statistical processes. In addition, future research areas are identified to support researchers interested in this line of knowledge. </p>     <p><B>Keywords</B>: Correlated process data, Data Mining, Modified Control Charts, Residuals-based control charts, Statistical quality monitoring. </p> <hr>     <p><font size="3"><B>1. INTRODUCCI&Oacute;N</b></font></p>      <p>Tradicionalmente, un proceso bajo control estad&iacute;stico es aquel que genera datos independientes e id&eacute;nticamente distribuidos &#91;1&#93;. En este caso, los procedimientos convencionales de control estad&iacute;stico de procesos como las cartas Shewhart, cartas de media m&oacute;vil exponencialmente ponderada (por sus siglas en ingl&eacute;s EWMA) y de sumas acumuladas (CUSUM por sus siglas en ingl&eacute;s) pueden ser aplicados con buenos niveles de desempe&ntilde;o. Sin embargo, con el aumento de la automatizaci&oacute;n, la informaci&oacute;n acerca del estado de los procesos se obtiene a tasas mayores, esto significa intervalos m&aacute;s cortos de medici&oacute;n que son m&aacute;s propensos a la presencia de autocorrelaci&oacute;n en las observaciones &#91;2&#93;. </p>      <p>Psarakis y Papaleonida &#91;3&#93; afirman que la autocorrelaci&oacute;n est&aacute; presente en los datos generados por procesos continuos y de producci&oacute;n por lotes, donde el valor particular del par&aacute;metro u observaci&oacute;n en el tiempo depende de los valores previos. Tambi&eacute;n aseguran que peque&ntilde;os niveles de autocorrelaci&oacute;n entre observaciones sucesivas pueden tener efectos negativos en las propiedades estad&iacute;sticas de las cartas de control tradicionales propuestas por Shewhart en 1931. Por ello, varios investigadores &#91;1&#93;, &#91;4&#93;, &#91;5&#93;, &#91;6&#93; han desarrollado m&eacute;todos alternativos que presenten mejor desempe&ntilde;o que los m&eacute;todos tradicionales para manejar los efectos de la autocorrelaci&oacute;n. Uno de los m&eacute;todos m&aacute;s comunes es el uso de modelos de series de tiempo, que ajusta los datos a un modelo adecuado y aplica cartas de control a los residuales. Este enfoque fue propuesto originalmente por autores como Alwan y Robert &#91;1&#93;, y Wardell et &aacute;l. &#91;7&#93;. En la pr&aacute;ctica la aplicaci&oacute;n de modelos de series de tiempo para los residuales es compleja, por ello autores como Reynolds y Lu &#91;8&#93;, y Atienza et &aacute;l. &#91;9&#93; dise&ntilde;aron procedimientos que buscan simplificar su implementaci&oacute;n a trav&eacute;s del monitoreo directo de  las observaciones originales. </p>     <p>Recientemente se ha afirmado en la literatura &#91;10&#93; que las cartas de control basadas en algoritmos de miner&iacute;a de datos como vector de soporte regresivo, redes neuronales o <I>multivariate adaptive regression splines</I> presentan un mejor desempe&ntilde;o comparado con las herramientas basadas en series de tiempo. </p>     <p>Este art&iacute;culo recopila los avances m&aacute;s significativos de la literatura en el dise&ntilde;o estad&iacute;stico de cartas de control para datos autocorrelacionados. Se  presentan, en orden temporal, los enfoques m&aacute;s significativos propuestos en los &uacute;ltimos veinte a&ntilde;os, divididos en tres enfoques: cartas de control  basadas en residuales, cartas de control convencionales modificadas y cartas de control con aplicaciones de miner&iacute;a de datos. Por &uacute;ltimo, se presentan las conclusiones y futuras l&iacute;neas de investigaci&oacute;n. </p>     <p><font size="3"><B>2. TRATAMIENTO DE DATOS AUTOCORRELACIONADOS EN CONTROL ESTAD&Iacute;STICO DE PROCESOS</b></font></p>     <p>El principal efecto de utilizar datos autocorrelacionados para realizar control estad&iacute;stico de un proceso es que genera l&iacute;mites de control estrechos, lo que provoca un incremento en la tasa de falsas alarmas y una disminuci&oacute;n en la capacidad de detecci&oacute;n de la carta. En consecuencia, la longitud promedio de corrida (ARL por sus siglas en ingl&eacute;s), la m&eacute;trica de desempe&ntilde;o m&aacute;s popular, no se calcula correctamente. Una idea sencilla para evitar la auto-correlaci&oacute;n consiste en el aumento del intervalo de muestreo; sin embargo, el uso ineficiente de los datos disponibles puede causar una disminuci&oacute;n en la potencia de los gr&aacute;ficos de control &#91;3&#93;. Muchos autores &#91;1&#93;, &#91;8&#93;, &#91;5&#93;, &#91;6&#93; han concentrado sus esfuerzos en desarrollar m&eacute;todos que permitan el control estad&iacute;stico eficiente de procesos autocorrelacionados. </p>     <p><B>Cartas de control basadas en residuales </b></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>Alwan y Roberts &#91;1&#93; resaltan que encontrar un proceso bajo control estad&iacute;stico seg&uacute;n lo planteado idealmente por Shewhart no es com&uacute;n, pues aparecen con frecuencia correlaciones y otros efectos sistem&aacute;ticos de series de tiempos entre las variables. Esto conduce a serios errores en la aplicaci&oacute;n de las cartas de control, por ello se desarroll&oacute; un m&eacute;todo que ajusta los datos observados a trav&eacute;s de un modelo de series de tiempo, que permite la aplicaci&oacute;n de procedimientos est&aacute;ndares a los residuales de los valores ajustados. Como resultado de esta propuesta surgen dos cartas: la primera, en la que se grafican los valores ajustados, denominada carta de las causas comunes (CCC por sus siglas en ingl&eacute;s), y la segunda, la carta de las causas especiales (SCC por sus siglas en ingl&eacute;s), que grafica residuales luego de modelar la serie de datos mediante un proceso autorregresivo integrado de media m&oacute;vil (ARIMA por sus siglas en ingl&eacute;s). El problema en la aplicaci&oacute;n de lo propuesto por Alwan y Roberts &#91;1&#93; es que la implementaci&oacute;n resulta m&aacute;s compleja, dado que requiere de mayor habilidad en el an&aacute;lisis de series de tiempo, as&iacute; como conocimiento estad&iacute;stico en relaci&oacute;n con los procedimientos sugeridos por Shewhart originalmente. </p>      <p>Harris y Ross &#91;11&#93; estudiaron el efecto de la correlaci&oacute;n en el desempe&ntilde;o de las cartas de media m&oacute;vil exponencialmente ponderada (EWMA por sus siglas en ingl&eacute;s) y de sumas acumuladas (CUSUM por sus siglas en ingl&eacute;s). Concluyeron que la presencia de correlaci&oacute;n entre observaciones genera una se&ntilde;al err&oacute;nea del estado del proceso. Para solucionar esta situaci&oacute;n propusieron modelar el proceso autocorrelacionado mediante modelos de series de tiempo y monitorear los residuales, obteniendo mejores resultados en contraste con el uso directo de los esquemas CUSUM, EWMA y Shewhart. </p>      <p>Wardell et &aacute;l. &#91;12&#93; comparan el rendimiento de las cartas tradicionales de Shewhart y las cartas EWMA en presencia de datos correlacionados, en contraste con las cartas dise&ntilde;adas por Alwan y Roberts &#91;1&#93;. De igual forma, exploran la posibilidad de poner l&iacute;mites en la carta CCC para predecir anomal&iacute;as de calidad. Los resultados de esta investigaci&oacute;n muestran que la carta EWMA es eficiente para detectar cambios en la media de procesos cuando existe correlaci&oacute;n en los datos, mientras que la carta de Shewhart rara vez detecta dichos cambios m&aacute;s r&aacute;pidamente que las otras. Tambi&eacute;n concluyen que las cartas SCC y CCC son preferibles en los casos en que los cambios en la media del proceso superan dos desviaciones est&aacute;ndares. </p>      <p>Estos mismo autores &#91;7&#93; determinaron el ARL de las cartas de causas especiales propuestas por Alwan y Roberts &#91;1&#93; para datos correlacionados, con esto concluyeron que las cartas de causas especiales tienen valores de ARL peque&ntilde;os cuando la correlaci&oacute;n es negativa y las cartas basadas en residuales no tienen buen desempe&ntilde;o ante la existencia de mucha correlaci&oacute;n en el primer rezago. As&iacute; mismo, la carta EWMA result&oacute; ser muy buena para detectar cambios peque&ntilde;os, adicionalmente, resulta &uacute;til en la detecci&oacute;n de cambios grandes cuando los par&aacute;metros autorregresivos son negativos y el par&aacute;metro del promedio m&oacute;vil positivo. </p>      <p>Reynolds y Lu &#91;13&#93; evaluaron y compararon varios tipos de cartas EWMA basadas en observaciones originales y residuales de los datos ajustados a partir de series de tiempo. Su conclusi&oacute;n fue que niveles moderados de autocorrelaci&oacute;n pueden conllevar efectos adversos en el desempe&ntilde;o de las cartas. Harris &#91;11&#93; y Reynolds &#91;13&#93; afirman que las cartas tradicionales de  Shewhart no deben ser aplicadas sin modificaci&oacute;n cuando se estudia un proceso afectado por correlaci&oacute;n en los datos. Tambi&eacute;n concluyen que el uso de residuales generados por el ajuste de un modelo de series de tiempos no es necesariamente mejor que la implementaci&oacute;n de cartas basadas en el uso de las observaciones originales con ajustes en los l&iacute;mites de control, a menos que el nivel de correlaci&oacute;n sea elevado. Kramer y Schmid &#91;14&#93; estudian, con resultados similares, la aplicaci&oacute;n de las cartas Shewhart a los residuos de un proceso representado a trav&eacute;s de series de tiempo autorregresivas de primer orden denotado AR(1), en la que la variable de salida depende linealmente de sus propios valores anteriores. </p>      <p>Zhang &#91;15&#93; midi&oacute; la capacidad de detenci&oacute;n de cambiosen las cartas basadas en residuales para procesos estacionarios y estableci&oacute; la relaci&oacute;n entre capacidad de detecci&oacute;n y la longitud promedio de corrida. Tras el an&aacute;lisis de un proceso autoregresivo, el autor concluye que cuando ocurre un cambio en la media del proceso, los residuos no tienen siempre la misma media, aunque se haya modelado perfectamente el proceso. Asimismo, la investigaci&oacute;n dio como resultado que la capacidad de detecci&oacute;n de la cartas basadas en residuales es menor para cambios peque&ntilde;os en la media comparada con las cartas tradicionales como EWMA y CUSUM para observaciones modeladas con una serie de tiempo autorregresiva de segundo orden AR (2). </p>      <p>Yang y Makis &#91;16&#93; estudiaron el desempe&ntilde;o de las cartas de control Shewhart, CUSUM y EWMA aplicadas a los residuales de un proceso AR(1) comparando su ARL. Para esto derivaron las ecuaciones integrales necesarias para su c&aacute;lculo. Los resultados de la investigaci&oacute;n indicaron que la carta Shewhart es la de peor desempe&ntilde;o, excepto frente a grandes cambios, y que la carta CUSUM tiene mejor desempe&ntilde;o que la carta EWMA solo cuando el cambio registrado es peque&ntilde;o. </p>      <p>Reynolds y Lu &#91;17&#93; consideraron el problema de monitorear un proceso cuya media se ajusta a una serie de tiempo AR(1) m&aacute;s un error aleatorio. Para el control estad&iacute;stico se utiliz&oacute; una carta EWMA para los residuales, y el pron&oacute;stico se realiz&oacute; utilizando el m&eacute;todo de la ecuaci&oacute;n integral. La carta propuesta fue comparada con la carta EWMA para observaciones originales, concluyendo que cuando el nivel de autocorrelaci&oacute;n es alto y los cambios largos, la carta EWMA para residuales es m&aacute;s r&aacute;pida que aquella basada en las observaciones originales. </p>      <p>Luce&ntilde;o y Box &#91;18&#93; mostraron c&oacute;mo el ARL para una carta <I>one-sided </I>CUSUM var&iacute;a en funci&oacute;n de la longitud de los intervalos de muestreo entre observaciones consecutivas, el l&iacute;mite de decisi&oacute;n de la carta y la autocorrelaci&oacute;n entre muestras sucesivas. Este estudio evidenci&oacute; que la tasa de falsas alarmas puede reducirse considerablemente si se disminuye el intervalo de muestreo y si se aumenta apropiadamente el intervalo de decisi&oacute;n. </p>      <p>La carta EWMA basada en los residuales fue desarrollada por MacCarthy y Wasusri &#91;19&#93; para monitorear el desempe&ntilde;o programado de operaciones tanto de manufactura como de servicios, debido a su efectividad al evitar falsas alarmas en cambios en la media de un proceso cuyos datos est&aacute;n correlacionados. Rao et &aacute;l. &#91;20&#93; establecieron que circunstancialmente el ARL es la &uacute;nica soluci&oacute;n a la ecuaci&oacute;n integral y probaron los algoritmos num&eacute;ricos basados en cuadraturas Gauss-Legendre y Simpson para estimarlo. </p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<p>Pe&ntilde;abaena y Sanjuan &#91;21&#93; usaron cartas de control EWMA para la detecci&oacute;n temprana de cambios en el proceso modelando series de tiempo para predecir tres pasos hacia adelante fuera de control y encontraron razonables costos pero alta complejidad de aplicaci&oacute;n. </p>      <p>Kacker y Zhang &#91;22&#93; propusieron un protocolo para el control en tiempo real utilizando el modelo de promedio m&oacute;vil y la carta Shewhart con residuales. Este modelo se ajusta a procesos de fabricaci&oacute;n ligera o moderadamente estacionarios. El protocolo que resulta es similar al utilizado para la carta Shewhart para monitoreo de la media. Luego de manufacturar N productos, el N+1 es muestreado, el error asociado a esta muestra es verificado con relaci&oacute;n al valor objetivo y, posteriormente, registrado en una tabla de datos. En cada muestra se compara el valor del error contra el l&iacute;mite de control denotado; en caso de presentarse un error excesivo, el sistema se detiene para establecer la causa del problema y aplicar los correctivos necesarios. </p>      <p>Snoussi et &aacute;l. &#91;23&#93; proponen una alternativa para abordar el problema de insuficiencia de observaciones para el dise&ntilde;o de la carta, y poder as&iacute; cumplir los supuestos necesarios para la implementaci&oacute;n. En su art&iacute;culo muestran que el uso del estad&iacute;stico Queensberry (Q), que permite transformar distribuciones binarias en normales est&aacute;ndar, en conjunci&oacute;n con las cartas de control basadas en residuales es una herramienta apropiada de control estad&iacute;stico para datos correlacionados en corridas cortas de producci&oacute;n. </p>     <p>Noorossana y Vaghef &#91;24&#93; investigaron el rendimiento de lascartas de sumas acumulativas multivariadas (MCUSUM) en presencia de autocorrelaci&oacute;n utilizando las observaciones generadas por un proceso multivariado AR(1). De este estudio se concluye que la autocorrelaci&oacute;n deteriora el desempe&ntilde;o de este tipo de cartas y que si se utilizan los residuales del modelo de serie de tiempo en lugar de las observaciones originales, se puede mejorar el desempe&ntilde;o de las cartas MCUSUM. </p>      <p>Kim et &aacute;l. &#91;25&#93; presentaron una carta CUSUM para monitorear cambios en la media de datos autocorrelacionados, la propuesta es un modelo libre que provee una manera simple de determinar los l&iacute;mites de control a trav&eacute;s de un c&aacute;lculo anal&iacute;tico cuando la varianza es conocida, y adem&aacute;s permite el uso de peque&ntilde;os lotes o incluso de pocas observaciones, a diferencia de otros procedimientos que requieren conocimiento previo del modelo o de la estructura de correlaci&oacute;n del proceso subyacente. Los autores compararon el procedimiento propuesto con otros modelos libres, utilizando ejemplos basados en datos independientes y normalmente distribuidos y que sigan un proceso AR(1). </p>      <p>Triantafyllopoulos &#91;26&#93; desarroll&oacute; una carta de control multivariada para procesos serialmente correlacionados mediante un modelo bayesiano multivariado de nivel local. El modelo desarrollado por el autor es una generalizaci&oacute;n del modelo Shewhart para datos autocorrelacionados, que pretende establecer el error de predicci&oacute;n del proceso para luego aplicar una carta EWMA al algoritmo de factores Bayesianos. En este estudio se aprecia que la carta EWMA es capaz de tratar la no normalidad y la autocorrelaci&oacute;n de los factores bayesianos. Yang y Yang &#91;27&#93; propusieron un enfoque para el monitoreo efectivo de las etapas dependientes de un proceso que presenta autocorrelaci&oacute;n. Estos autores consideraron el problema de monitorear la media de una caracter&iacute;stica de calidad (X) en la primera etapa del proceso y la media de una caracter&iacute;stica de calidad (Y) en la segunda etapa del proceso. Las observaciones de la caracter&iacute;stica X se modelaron como una serie AR(1) y las observaciones de la caracter&iacute;stica Y se trabajaron como una funci&oacute;n de transferencia de X, siempre y cuando el estado del segundo proceso sea independiente del estado del primero. Seg&uacute;n el an&aacute;lisis num&eacute;rico desarrollado por Yang y Yang &#91;27&#93;, la carta propuesta tiene mejor desempe&ntilde;o que la carta multivariada Hotelling T<Sup>2</Sup> y que cartas individuales Shewhart para el desempe&ntilde;o de las variables X y Y. </p>      <p>Ghourabi y Liman &#91;28&#93; estudiaron el comportamiento de los residuales de varios procesos estacionarios en presencia de patrones de cambio y plantearon un nuevo m&eacute;todo para trabajar con los residuos, denominado la carta de patrones, que tiene en cuenta tres tipos de patrones: valores at&iacute;picos aditivos, valores at&iacute;picos innovados y niveles de cambios. Al comparar la longitud promedio de corrida de esta nueva carta con la carta de causas especiales SCC se observa que la carta propuesta tiene mejor desempe&ntilde;o que la carta SCC. </p>      <p>Costa y Claro &#91;29&#93; consideraron el muestreo doble para monitorear procesos que puedan ser modelados a partir de una serie de tiempo autorregresiva y de media m&oacute;vil de primer orden ARMA (1,1), esta propuesta fue comparada con la carta de control de Shewhart y una carta adaptativa con tama&ntilde;o de muestra variable (VSS), concluyendo que la carta desarrollada por Costa y Claro es efectiva para detectar cambios en la media cuando la correlaci&oacute;n es moderada. </p>      <p>Sheu y Lu &#91;30&#93; examinaron una carta de control de promedio m&oacute;vil general ponderado (GWMA) de tiempo variable para el seguimiento de la media de un proceso AR(1) con el error aleatorio. Mediante simulaci&oacute;n se evalu&oacute; el ARL de la carta EWMA y GWMA, los resultados indicaron que la carta GWMA requiere menor tiempo para detectar cambios cuando los niveles de correlaci&oacute;n son bajos. Knoth et &aacute;l. &#91;31&#93; cuantificaron el impacto de la autocorrelaci&oacute;n en la probabilidad de la ocurrencia de falsas alarmas en cartas tradicionales de Shewhart y EWMA basadas en residuales para el monitoreo de la media y la varianza de una proceso AR(1). </p>      <p>Weiss y Testik &#91;32&#93; investigaron la carta <I>one-sided </I>CUSUM para el monitoreo de los residuales de un proceso de autocorrelaci&oacute;n discreto utilizando un modelo de Poisson autorregresivo de primer orden de valores enteros (Poisson INAR (1)). La investigaci&oacute;n llev&oacute; a concluir que al ser utilizada la carta con las observaciones originales, se observa un mejor desempe&ntilde;o en la detecci&oacute;n de un fuera de control. </p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<p>En general, se puede decir que la carta EWMA es el esquema de monitoreo basado en residuales que ha mostrado mejores resultados por su aproximaci&oacute;n a las series de tiempo. </p>     <p><B>Cartas de control modificadas </b></p>     <p>Montgomery y Mastrangelo &#91;4&#93; proponen una modificaci&oacute;n de la carta EWMA para el monitoreo de porcesos autocorrelacionados aprovechando que esta carta permite realizar una aproximaci&oacute;n al procedimiento de modelado de series de tiempo. De esta forma es posible combinar informaci&oacute;n sobre el estado estad&iacute;stico del proceso y las din&aacute;micas del mismo en una carta de control denominada EWMA de l&iacute;nea central (MCEWMA). En dicha carta, la l&iacute;nea central no es constante y depende de la secuencia de los valores ajustados. </p>      <p>Las cartas tradicionales basadas en residuales, como las Shewhart, CUSUM o EWMA, no utilizan la informaci&oacute;n contenida en la din&aacute;mica de las falsas alarmas. A partir de esto Box y Ram&iacute;rez &#91;33&#93; desarrollaron la carta de control CUSCORE a partir de la carta CUSUM y EWMA, que a trav&eacute;s de la aplicaci&oacute;n de la funci&oacute;n de verosimilitud en la modelaci&oacute;n de la serie temporal permite incorporar informaci&oacute;n del proceso que se traduce en un desempe&ntilde;o estad&iacute;stico significativamente mejor a las cartas en su estado original en el monitoreo de procesos autocorrelacionados. Entre las dificultades de implementaci&oacute;n se menciona que su complejidad hace que su aplicaci&oacute;n sea poco difundida. </p>     <p>Vander Wiel &#91;34&#93; estudi&oacute; y compar&oacute; cuatro esquemas de monitoreo de procesos con datos correlacionados: las cartas CUSUM, EWMA, Shewhart y un esquema basado en la raz&oacute;n de verosimilitud para incluir un modelo de media m&oacute;vil. Como resultado se concluy&oacute; que al ser implementados, los gr&aacute;ficos CUSUM pueden rendir tan bien como los otros esquemas, y que las cartas individuales de Shewhart suelen tener el peor rendimiento, en especial cuando se habla de peque&ntilde;os corrimientos de media. </p>      <p>Zhang &#91;35&#93; presenta un nuevo enfoque para manejar la correlaci&oacute;n entre observaciones y propone una carta de control estad&iacute;stica para datos provenientes de un proceso estacionario. Afirma que este esquema es m&aacute;s f&aacute;cil de implementar y requiere menor esfuerzo, lo que soluciona la limitaci&oacute;n de lo propuesto por Alwan y Roberts &#91;1&#93;. Zhang dise&ntilde;a una adaptaci&oacute;n de la carta EWMA variando sus l&iacute;mites cuando los datos son autocorrelacionados, es denominada carta EWMAST para procesos estacionarios. Los resultados de su investigaci&oacute;n indican que cuando la correlaci&oacute;n en el proceso no es fuerte y los cambios presentados en la media no son largos, la carta EWMAST tiene mejor desempe&ntilde;o en la detecci&oacute;n de corrimientos de media que aquella que trabaja con residuales. </p>      <p>Willemain y Runger &#91;36&#93; desarrollan una forma novedosa y efectiva para controlar la calidadutilizando datos positivamente autocorrelacionadosque se originan a ra&iacute;z de una alta frecuencia de muestreo. Estos autores consideraron el proceso como una secuencia de corridas por encima y por debajo de la media; las sumas de las observaciones de estas corridas se comportan como variables aleatorias independientes que pueden ser graficadas en cartas de control superando el problema de autocorrelaci&oacute;n. Utilizando datos simulados, Willemain y Runger probaron quela velocidad del modelo de cartas propuesto, basado en una suma de las observaciones por debajo y por encima de la media, es mejor que las cartas de control basadas en residuales para detectar cambios en la media del proceso. </p>     <p>En la investigaci&oacute;n realizada por Lu y Reynolds &#91;37&#93; fue evaluado el desempe&ntilde;o en la detecci&oacute;n de cambios en la media y la varianza de varios esquemas de cartas de control y combinaciones de cartas para procesos en los cuales las observaciones se presentan como un proceso AR(1). La conclusi&oacute;n de este estudio muestra que no hay una combinaci&oacute;n de cartas cuyo desempe&ntilde;o fuera &oacute;ptimo en todos los casos, sin embargo, la carta EWMA de las observaciones, usada en combinaci&oacute;n con una carta de Shewhart para los residuos, puede ser recomendada para aplicaciones pr&aacute;cticas. </p>      <p>Jiang et &aacute;l. &#91;38&#93; propusieron una nueva carta de control denominada autorregresiva de promedio m&oacute;vil (ARMA), que es basada en el monitoreo de un proceso ARMA de las observaciones originales. Estos autores desarrollaron un procedimiento informal para determinar los valores apropiados de los par&aacute;metros de la carta propuesta. Asimismo, este estudio permite afirmar que la carta de causas especiales SCC, propuesta por Alwan y Roberts &#91;1&#93;, y la carta EWMAST, desarrollada por Zhang &#91;35&#93;, son casos especiales de carta ARMA. Un a&ntilde;o despu&eacute;s, Jiang &#91;39&#93; ampli&oacute; su investigaci&oacute;n sobre la carta ARMA al desarrollar un modelo de cadenas de Markov que le permitiera evaluar la longitud promedio de corrida de esta carta. </p>      <p>Reynolds et &aacute;l. &#91;8&#93; investigaron las cartas de control CUSUM como alternativa para monitorear la media de procesos donde las observaciones podr&iacute;an ser modeladas con una serie de tiempo AR(1) m&aacute;s un error aleatorio. Luego de su investigaci&oacute;n, concluyeron que las cartas CUSUM basadas en las observaciones originales rinden bien al usarse con los residuales, excepto en aquellos casos en los que los niveles de autocorrelaci&oacute;n son muy altos y los cambios en la media del proceso son grandes. Asimismo, los resultados de este estudio permitieron afirmar que las cartas CUSUM y EWMA tienen un rendimiento similar en t&eacute;rminos de la habilidad para detectar cambios en la media del proceso. Chou et &aacute;l. &#91;40&#93; desarrollaron posteriormente el dise&ntilde;o econ&oacute;mico de cartas para datos correlacionados en una muestra. En los resultados se observa que si los datos est&aacute;n positivamente correlacionados, el dise&ntilde;o conduce a un tama&ntilde;o de muestra menor, con un intervalo frecuente de muestreo y l&iacute;mites de control m&aacute;s cercanos. Sin embargo, si est&aacute;n negativamente correlacionados, a grandes niveles se obtiene un tama&ntilde;o de muestra menor con l&iacute;mites m&aacute;s cercanos. </p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<p>Chou et &aacute;l. &#91;41&#93; robustecen su dise&ntilde;o econ&oacute;mico con la implementaci&oacute;n de la funci&oacute;n de p&eacute;rdida de Taguchi, considerando el escenario de datos correlacionados y no normalidad. Este estudio permite concluir que al dise&ntilde;ar econ&oacute;micamente la carta de control en presencia de autocorrelaci&oacute;n en las observaciones del proceso, se presentan tama&ntilde;os de muestra menores con l&iacute;mites m&aacute;s estrechos. </p>     <p>Mastrangelo y Forrest &#91;42&#93; presentaron un programa para generar datos multivariados autorregresivos con cambios en el vector medio de las series estacionarias; estos datos pueden ser usados para comparar las propiedades de detecci&oacute;n de cambios de m&eacute;todos de cartas de control multivariadas. </p>     <p>Shu et &aacute;l. &#91;43&#93; propusieron una nueva carta denominada CUSUM-<I>triggered </I>que reduce el n&uacute;mero de falsa alarma, su validaci&oacute;n se hizo utilizando un proceso ARMA(1,1). Este estudio prob&oacute; que la carta propuesta tiene mejor desempe&ntilde;o que la CUSCORE est&aacute;ndar y que la carta CUSUM basada en los residuales. </p>      <p>Apley y Tsung &#91;5&#93; analizaron la carta de control T<Sup>2</Sup> autorregresiva para el control estad&iacute;stico de procesos autocorrelacionados para el caso de cambios en la media del proceso. Esta considera diferentes niveles de ajuste para la modelaci&oacute;n del proceso que la hacen una alternativa apropiada para el monitoreo de residuales. </p>      <p>Una nueva comparaci&oacute;n del desempe&ntilde;o de las cartas basadas en los residuales de un modelo autoregresivo frente a aquellas basadas en las observaciones originales fue desarrollada por Loredo et &aacute;l. &#91;44&#93; utilizando simulaci&oacute;n de Monte Carlo. Este estudio permite concluir que las cartas basadas en las observaciones originales tienen un desempe&ntilde;o pobre cuando los datos del proceso est&aacute;n correlacionados en el tiempo yafirma que en el modelo de series de tiempo las cartas de residuales tienen mejor desempe&ntilde;o. Jiang &#91;45&#93; examin&oacute; las propiedades globales del test T<Sup>2 </Sup>cuando hay incertidumbre acerca de la magnitud sobre el cambio del proceso. </p>      <p>Winkel y Zhang &#91;46&#93; estudian la presencia de falsas alarmas debido a diferentes niveles de autocorrelaci&oacute;n, para ello evaluaron la carta EWMA cuando existe autocorrelaci&oacute;n en las observaciones del proceso, obteniendo un n&uacute;mero considerable de falsas alarmas. En contraste, la aplicaci&oacute;n de la carta EWMAST no registra ninguna observaci&oacute;n por fuera de los l&iacute;mites de control. Esta situaci&oacute;n se debe al hecho de que los l&iacute;mites de la carta EWMAST se acomodan seg&uacute;n la correlaci&oacute;n del proceso. Es importante mencionar que la presencia de autocorrelaci&oacute;n positiva en el proceso es preferible para la aplicaci&oacute;n de la carta EWMAST. </p>      <p>Chen y Chiou &#91;47&#93; desarrollaron un dise&ntilde;o econ&oacute;mico de una carta de control con intervalo de muestreo variable (VSI) con datos correlacionados, donde la muestra siguiente es seleccionada m&aacute;s r&aacute;pidamente de lo usual si hay indicios de que el proceso est&aacute; fuera de control. Los resultados indicaron que las cartas VSI superan a las cartas tradicionales cuando se dan cambios mayores de la media y existe correlaci&oacute;n en los datos. </p>      <p>Brence y Mastrangelo &#91;48&#93; evaluaron las sumas acumuladas de la se&ntilde;al de rastreo, se&ntilde;al de rastreo del error suavizado y la carta EWMA en la detecci&oacute;n de los cambios del proceso, para esto utilizaron como indicadores el ARL y la proporci&oacute;n de falsas alarmas. En el an&aacute;lisis realizado para procesos AR(1) y ARMA(1,1), la se&ntilde;al de rastreo de la ventana de la serie de tiempo para el error present&oacute; mejor desempe&ntilde;o que las sumas acumuladas de la se&ntilde;al de rastreo. </p>      <p>Jarrett y Pan &#91;49&#93; describen c&oacute;mo combinar enfoques de control estad&iacute;stico de procesos tradicionales para monitorear cambios en la variabilidad del proceso en un entorno de observaciones autocorrelacionadas. De igual forma, Kim et &aacute;l. &#91;25&#93; desarrollan y eval&uacute;an el desempe&ntilde;o de una carta de distribuci&oacute;n tabular libre CUSUM (DTFC) para datos correlacionados, y concluyen que esta carta reacciona m&aacute;s r&aacute;pido a los cambios significativos que otras de distribuci&oacute;n libre CUSUM. Sin embargo, la principal limitaci&oacute;n de este art&iacute;culo es que el an&aacute;lisis se fundamenta en la afirmaci&oacute;n que la varianza marginal y la varianza de los par&aacute;metros son cantidades conocidas. </p>      <p>Chen et &aacute;l. &#91;50&#93; combinan el dise&ntilde;o econ&oacute;mico propuesto por Chou (2001) &#91;40&#93; con un modelo de distribuci&oacute;n normal multivariada para el an&aacute;lisis del efecto de la correlaci&oacute;n en los par&aacute;metros de la carta. El resultado de la investigaci&oacute;n es que la magnitud del cambio en la media tiene un efecto significativo en los valores &oacute;ptimos de los intervalos de muestreos (cortos y largos), los coeficientes de alerta y de control, conduciendo al dise&ntilde;o econ&oacute;mico de una carta VSSI para monitorear la media de un proceso bajo correlaci&oacute;n. Se concluy&oacute; tambi&eacute;n que el coeficiente de correlaci&oacute;n en la muestra es otro factor importante en el desempe&ntilde;o econ&oacute;mico. </p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>Cheng y Chou &#91;51&#93; utilizaron la carta de control ARMA en un sistema de inventarios; utilizaron esta carta para monitorear la demanda del mercado, la cual presentaba autocorrelaci&oacute;n, y utilizaron cartas individuales para analizar los niveles de inventarios. Koksal et &aacute;l. &#91;52&#93; investigaron el efecto del tama&ntilde;o de muestra en el desempe&ntilde;o de la longitud promedio de corrida de las cartas basadas en residuales, cartas Shewhart modificadas, EWMAST y ARMA, ofreciendo una gu&iacute;a y recomendaciones para la elecci&oacute;n del tama&ntilde;o de muestra en las cartas seleccionadas. </p>      <p>Vermaat et &aacute;l. &#91;53&#93; dise&ntilde;aron estad&iacute;sticamente cartas EWMA para procesos AR(1) y AR(2) con el objetivo de facilitar la aplicaci&oacute;n frente a las cartas basadas en residuales usadas tradicionalmente para afrontar la correlaci&oacute;n. </p>      <p>Esta nueva carta tiene como ventaja que los datos son graficados en su escala original, haciendo m&aacute;s clara la interpretaci&oacute;n. Changpetch y Nembhard &#91;54&#93; desarrollaron dos enfoques para la aplicaci&oacute;n de cartas CUSCORE cuando no se conoce el tiempo en que ocurri&oacute; la se&ntilde;al. El primer enfoque propone reiniciar la estad&iacute;stica CUSCORE con un ciclo determinado y el segundo consiste en considerar &uacute;nicamente los per&iacute;odos de tiempo m&aacute;s recientes para calcular la estad&iacute;stica CUSCORE. El resultado de esta investigaci&oacute;n permiti&oacute; concluir que en el desempe&ntilde;o de estos dos enfoques, la carta de control CUSCORE peri&oacute;dica es mejor que la carta CUSUM en t&eacute;rminos de la longitud promedio de corrida. </p>      <p>Ta Zou et &aacute;l. &#91;55&#93; consideraron un proceso AR(1) m&aacute;s un error aleatorio y estudiaron el m&eacute;todo que denominaron muestreo variable a intervalos fijos, el cual combina el m&eacute;todo frecuencia variable de muestreo a tiempos fijos (VSRFT) y el de intervalos de muestreo variables a tiempos fijo (VSIFT). Tambi&eacute;n utilizaron modelos de cadenas de Markov y ecuaciones integrales para desarrollar el m&eacute;todo propuesto, el cual seg&uacute;n los estudios realizados por estos autores, en promedio, detecta m&aacute;s r&aacute;pidamente cambios en el proceso que las cartas de tama&ntilde;o de muestra fijo y que su capacidad de detecci&oacute;n es comparable con la cartas cuyos intervalos de muestreo son variables. </p>     <p>Wang &#91;56&#93; desarroll&oacute; un m&eacute;todo para monitorear peque&ntilde;os cambios en un proceso estacionario afectado por correlaci&oacute;n en los datos, haciendo uso de un modelo autorregresivo de media m&oacute;vil de primer orden MA(1). Al comparar su propuesta con otros m&eacute;todos obtuvo como resultado que esta ofrece mayor eficiencia en procesos estacionarios. Chen y Cheng &#91;57&#93; propusieron dos m&eacute;todos para determinar el tama&ntilde;o de muestra y el factor k (n&uacute;mero de desviaciones est&aacute;ndares desde la l&iacute;nea central) del l&iacute;mite de control para minimizar la duraci&oacute;n promedio de corrida fuera de control, mientras se mantiene el ARL en valores espec&iacute;ficos de control cuando no se conoce la distribuci&oacute;n marginal y existe autocorrelaci&oacute;n en los datos. </p>      <p>Con un proceso AR(1), Branco y Guerreiro &#91;58&#93; desarrollan un enfoque basado en cadenas de Markov y m&eacute;todos de ecuaciones integrales para evaluar las propiedades de la carta X&ndash;barra. Yu y Lu &#91;59&#93; propusieron un modelo de regresi&oacute;n log&iacute;stico (LR- por su nombre en ingl&eacute;s) para el monitoreo de procesos. Este m&eacute;todo proporciona la evaluaci&oacute;n cuantitativa del estado actual del proceso mediante el c&aacute;lculo de la probabilidad de ocurrencia de evento de la regresi&oacute;n. De esta investigaci&oacute;n surge una carta basada en esta probabilidad del modelo log&iacute;stico, denominada carta LR- Prob. </p>      <p>Un procedimiento CUSCORE multivariado (MCUSCORE), basado en la prueba de verosimilitud secuencial y en el an&aacute;lisis de la se&ntilde;al de falla, fue desarrollado por Chen y Nembhard &#91;60&#93; para monitorear la media de un proceso multivariado correlacionado. Su resultado es similar a los anteriores, muestra la superioridad de los esquemas CUSCORE para el monitoreo de datos originales del proceso en presencia de datos autocorrelacionados. </p>     <p><B>Cartas de control con aplicaciones de miner&iacute;a de datos </b></p>     <p>La miner&iacute;a de datos es una disciplina encargada del descubrimiento autom&aacute;tico de patrones o modelos intr&iacute;nsecos en bases de datos &#91;61&#93;. Las herramientas de miner&iacute;a de datos pueden ayudar a predecir futuras tendencias y comportamientos, permitiendo tomar decisiones proactivas y conductivas por un conocimiento a partir de la informaci&oacute;n. Asimismo, dichas herramientas exploran las bases de datos en busca de patrones ocultos, descubriendo informaci&oacute;n predecible que un experto no puede llegar a hallar porque se encuentra fuera de sus expectativas &#91;62&#93;. Estas herramientas han comenzado a utilizarse para el control estad&iacute;stico de procesos donde existe autocorrelaci&oacute;n, y seg&uacute;n recientes investigaciones &#91;10&#93; son muy eficientes detectando peque&ntilde;as variaciones en los procesos. </p>     <p>Friedman &#91;63&#93; present&oacute; un nuevo m&eacute;todo, denominado <I>Multivariate Adaptive Regression Splines</I> (MARS), para el modelado regresivo flexible de datos de alta dimensi&oacute;n, que permite estimar relaciones desconocidas entre una variable respuesta (medida de desempe&ntilde;o) y muchas variables predictoras. </p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<p>Smola y Scholkopf &#91;64&#93; afirman que los m&eacute;todos basados en el algoritmo <I>Support Vector Machine</I> (SVM) son &uacute;tiles debido a que pueden utilizarse para la identificaci&oacute;n de patrones en series de datos con un buen rendimiento. </p>     <p>Chinnam &#91;65&#93; demuestra que los m&eacute;todos SVM son efectivos minimizando la probabilidad de que err&oacute;neamente se declare el proceso fuera de control o que se genere una falsa alarma (error tipo I) y la probabilidad de que el m&eacute;todo sea incapaz de detectar un verdadero cambio o tendencia presente en el proceso (error tipo II); dicho resultado concluye que estos m&eacute;todos tienen un rendimiento igual o superior al de las cartas tradicionales de Shewhart. </p>     <p>Issam y Liman &#91;66&#93; aplicanel SVM para laconstrucci&oacute;ndeuna carta MCUSUM basada en residuos con el objetivo de monitorear cambios en el proceso de una media, y como resultados comprueban que la metodolog&iacute;a propuesta es m&aacute;s efectiva en la detenci&oacute;n de peque&ntilde;os cambios en la media en contraste con aquellas basadas en series de tiempo. Otra ventaja importante de esta carta es que puede manejar una relaci&oacute;n no lineal entre las variables de control. </p>      <p>Una nueva alternativa para el tratamiento de datos autocorrelacionados, que evita la construcci&oacute;n de un modelo de series de tiempo, es la propuesta por Pacella y Semeraro &#91;67&#93;, que sugiere el uso de un procedimiento basado en redes neuronales. La metodolog&iacute;a propuesta, en contraste con las cartas de control tradicionales, present&oacute; un mejor desempe&ntilde;o estad&iacute;stico al detectar grandes y peque&ntilde;os cambios en la media del proceso. </p>     <p>West et &aacute;l. &#91;68&#93; investigaron la habilidad de la funci&oacute;n de base radial de una red neuronal para monitorear y controlar un proceso de manufactura en presencia de observaciones correlacionadas. Este estudio demostr&oacute; que la funci&oacute;n de base radial de red es m&aacute;s eficiente que las cartas multivariadas de </p>     <p>Shewhart, la versi&oacute;n multivareada de la EWMA y Back Propagation Neural Network (BPN). Dos a&ntilde;os m&aacute;s tarde, Chiu et &aacute;l. &#91;69&#93; utilizaron el m&eacute;todo BPN para identificar cambios en los par&aacute;metros de un proceso AR(1). </p>      <p>Jitpitaklert &#91;70&#93; integr&oacute; el estado del arte de los algoritmos de miner&iacute;a con las herramientas para el monitoreo estad&iacute;stico de procesos para alcanzar eficiencia en el monitoreo de procesos multivariados y correlacionados. Hwarng y Wang &#91;71&#93; proponen un identificador basado en una red neural (NNI) para procesos multivariados correlacionados. Luego de sus estudios, concluyeron que el m&eacute;todo es m&aacute;s efectivo detectando peque&ntilde;os cambios y que provee mayor estabilidad en el &iacute;ndice ARL. Lee &#91;72&#93; desarroll&oacute; un dise&ntilde;o econ&oacute;mico de cartas de control CUSUM para monitorear procesos con muestras correlacionadas. Fue aplicado un algoritmo gen&eacute;tico para hallar los par&aacute;metros que minimizan el costo de la implementaci&oacute;n. </p>      <p>Gani et &aacute;l. &#91;73&#93; utilizan cartas de control basadas en SVR para minimizar el error emp&iacute;rico, comparando despu&eacute;s los resultados con los m&eacute;todos <I>Ordinary Least Squares</I> (OLS) y <I>Partial Least Square</I> (PLS) en t&eacute;rminos de la desviaci&oacute;n est&aacute;ndar del error de predicci&oacute;n y el error est&aacute;ndar de rendimiento. Issam et &aacute;l. &#91;74&#93; extender&iacute;an la aplicaci&oacute;n de este m&eacute;todo para procesos multivariados no lineales con datos autocorrelacionados, y al comparar su propuesta con cartas de control basadas en redes neuronales encontraron que la carta basada en el m&eacute;todo vector de soporte regresivo es m&aacute;s efectiva detectando se&ntilde;ales que afectan la varianza del proceso. </p>      <p>Niaki y Nasaji &#91;75&#93; modelaron la estructura autocorrelacionada de los datos a trav&eacute;s de un vector autorregresivo y desarrollaron una red neuronal de Elman modificada para generar datos simulados utilizando el algoritmo ARTA. Estos investigadores usaron una nueva metodolog&iacute;a basada en la capacidad de la red modificada Elman para monitorear y detectar las causas del deterioro del proceso. </p>     <p>Huang et &aacute;l. &#91;76&#93; desarrollaron un modelo utilizando el algoritmo SVR para predecir cambios en la media del proceso monitoreado con una carta CUSUM. Para evaluar el desempe&ntilde;o del vector, se simula el error absoluto porcentual de la media (MAPE por sus siglas en ingl&eacute;s) y la ra&iacute;z normalizada media de los errores cuadrados (NRMSE por sus siglas en ingl&eacute;s). Se compara el desempe&ntilde;o predictivo del m&eacute;todo propuesto con el de redes neuronales, lo cual da como resultado que el vector de soporte regresivo planteado tiene mejor capacidad de estimaci&oacute;n. Park et &aacute;l. &#91;77&#93; desarrollaron un nuevo m&eacute;todo de detecci&oacute;n de fallas utilizando <I>Spline Regression</I> y SVM para una se&ntilde;al de un proceso dada. El <I>Spline Regression </I>se aplica sobre puntos cambiantes o puntos de nudo y el SVM utiliza las caracter&iacute;sticas de la se&ntilde;al en el desarrollo del monitoreo. </p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="3"><B>3. FUTURAS L&Iacute;NEAS DE INVESTIGACI&Oacute;N </b></font></p>     <p>Finalmente, vale la pena anotar que futuras l&iacute;neas de investigaci&oacute;n para el control estad&iacute;stico de datos autocorrelacionados detectadas en la literatura est&aacute;n relacionadas, en principio, con la necesidad de caracterizar los tipos de fuera de control y su inclusi&oacute;n en las cartas de control para establecer pol&iacute;ticas que garanticen la detecci&oacute;n oportuna y la disminuci&oacute;n de los costos de calidad. Esto incluye el dise&ntilde;o de un mecanismo para el an&aacute;lisis e interpretaci&oacute;n de las se&ntilde;ales que indican que el proceso est&aacute; fuera de control, de manera que tomen las medidas correctivas en el momento oportuno. </p>     <p>Adicionalmente, el trabajo que se ha hecho sobre la carta CUSUM a&uacute;n necesita estudiar el efecto de los par&aacute;metros de la carta para la predicci&oacute;n del rendimiento y la construcci&oacute;n del vector de entrada basado en las caracter&iacute;sticas extra&iacute;das de las observaciones originales. Se sugiere el dise&ntilde;o de una carta <I>two-sided </I>CUSUM, con c&aacute;lculo exacto de ARL, para el monitoreo de un proceso de autocorrelaci&oacute;n discreto utilizando un modelo de Pois-son autorregresivo de primer orden de valores enteros &#91;Poisson INAR(1)&#93;. Asimismo, puede considerarse la optimizaci&oacute;n de los par&aacute;metros de la carta <I>one-sided </I>CUSUM. </p>      <p>Para finalizar, se puede trabajar en el seguimiento de la variabilidad del proceso a trav&eacute;s de un cambio en la matriz de covarianza mediante la aplicaci&oacute;n del m&eacute;todo vector de soporte regresivo y la carta multivariada MEWMA. </p>      <p>En la literatura se encuentra que autores como Lu y Reynolds &#91;37&#93; eval&uacute;an esquemas h&iacute;bridos utilizando un monitoreo directo y con residuales con cartas Shewhart y EWMA. La combinaci&oacute;n de t&eacute;cnicas de miner&iacute;a de datos y otros esquemas de monitoreo no se encuentra documentados en la literatura cient&iacute;fica y ello se convierte en un importante campo de investigaci&oacute;n. </p>     <p>La cantidad de estudios dedicados a compensar el desempe&ntilde;o estad&iacute;stico y econ&oacute;mico en procesos autocorrelacionados ha sido baja, valdr&iacute;a la pena orientar esfuerzos a dise&ntilde;ar mejores cartas y a robustecer los modelos actuales para incluir variables propias del proceso que no han sido consideradas, como: el costo social, la confiabilidad de los instrumentos, etc. </p>     <p>Por &uacute;ltimo, aparece un gran campo de investigaci&oacute;n en las cartas con esquemas variables, cuyas bases se convierten en una nueva alternativa de estudio para explorar en esquemas modificados y evaluar con t&eacute;cnicas de miner&iacute;a de datos. </p>      <p><font size="3"><B>4. CONCLUSIONES</b></font></p>     <p>Los m&eacute;todos tradicionales de control estad&iacute;stico de procesos pierden mucha efectividad cuando las observaciones son correlacionadas, situaci&oacute;n usual en las industrias altamente automatizadas e integradas. Como se muestra en esta revisi&oacute;n literaria, existen m&uacute;ltiplesalternativas y enfoques para afrontar este problema. Una de las alternativas propuesta por autores como Alwan y Robert &#91;1&#93; y Wardell et &aacute;l. &#91;7&#93; es el uso de modelos de series de tiempo, lo que implica ajustar los datos a un modelo adecuado y aplicar cartas de control a los residuales. Dada la complejidad de la aplicaci&oacute;n de modelos de series de tiempo para los residuales, algunos autores como Reynolds y Lu &#91;8&#93;, Atienza et &aacute;l. &#91;9&#93; y Loredo et &aacute;l. &#91;44&#93; dise&ntilde;aron procedimientos basados en las observaciones originales para monitorear procesos correlacionados. </p>      <p>Sin embargo, al evaluar los resultados obtenidos por las cartas de control basadas en series de tiempos, frente a la detenci&oacute;n de cambio peque&ntilde;o estas no poseen un muy buen rendimiento. Entonces, autores como Chinnam &#91;69&#93; y Kim et &aacute;l. &#91;10&#93; demostraron que las cartas de control basadas en SVM y los algoritmos de miner&iacute;a de datos presentan mejor desempe&ntilde;o en la detecci&oacute;n de cambios peque&ntilde;os en los procesos. </p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>En general, se puede concluir que las cartas de control EWMA y CUSUM son m&aacute;s eficientes para detectar cambios en la media de procesos cuando existe correlaci&oacute;n entre los datos, mientras que la carta Shewhart rara vez detecta dichos cambios en este tipo de procesos. Por otro lado, los esquemas de carta modificados, como las cartas EWMAST, CUSCORE y VSSI, demostraron tener mejor potencia estad&iacute;stica, pero mayor complejidad de aplicaci&oacute;n. Por &uacute;ltimo, los m&eacute;todos SVM, y BPN mostraron un mejor desempe&ntilde;o estad&iacute;stico al detectar tanto peque&ntilde;os como grandes cambios en la media de un proceso autocorrelacionado, en comparaci&oacute;n con la carta Shewhart. </p> <hr>     <p><font size="3"><B>REFERENCIAS</b></font></p>     <!-- ref --><p>&#91;1&#93; 	L. C. Alwan and H. V. Roberts, "Time-series modeling for statistical process control," <I>Journal of Business &amp; Economic Statistics, </I>vol. 6, pp. 87-95, 1988.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000105&pid=S0122-3461201300020000700001&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;2&#93; 	D. W. Apley and J. Shi, "The GLRT for statistical process control of autocorrelated processes," <I>IIE Transactions, </I>vol. 31, pp. 1123-1134, 1999.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000107&pid=S0122-3461201300020000700002&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;3&#93; 	S. Psarakis and G. Papaleonida, "SPC procedures for monitoring autocorrelated processes," <I>Quality Technology and Quantitative Management, </I>vol. 4, pp. 501-540, 2007.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000109&pid=S0122-3461201300020000700003&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;4&#93; 	D. Montgomery, C. Mastrangelo, F. W. Faltin, W. H. Woodall, J. F. MacGregor, and T. P. Ryan, "Some statistical process control methods for autocorrelated data," <I>Journal of Quality Technology, </I>vol. 23, 1991.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000111&pid=S0122-3461201300020000700004&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p>&#91;5&#93; 	D. W. Apley and F. Tsung, "The autoregressive T2 chart for monitoring univariate autocorrelated processes," <I>Journal of Quality Technology, </I>vol. 34, pp. 80-96, 2002.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000113&pid=S0122-3461201300020000700005&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;6&#93; 	S. B. Kim, W. Jitpitaklert, and T. Sukchotrat, "One-class classification-based control charts for monitoring autocorrelated multivariate processes," <I>Communications in Statistics-Simulation and Computation&reg;, </I>vol. 39, pp. 461-474, 2010.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000115&pid=S0122-3461201300020000700006&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;7&#93; 	D. G. Wardell, H. Moskowitz, and R. D. Plante, "Run-length distributions of special-cause control charts for correlated processes," <I>Technometrics, </I>vol. 36, pp. 3-17, 1994.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000117&pid=S0122-3461201300020000700007&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;8&#93; 	C.-W. Lu and M. R. Reynolds, "Cusum charts for monitoring an autocorrelated process," <I>Journal of Quality Technology, </I>vol. 33, pp. 316-334, 2001.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000119&pid=S0122-3461201300020000700008&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;9&#93; 	O. O. Atienza, L. Tang, and B. Ang, "A CUSUM scheme for autocorrelated observations," <I>Journal of Quality Technology, </I>vol. 34, pp. 187-199, 2002.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000121&pid=S0122-3461201300020000700009&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p>&#91;10&#93; S. B. Kim, W. Jitpitaklert, S.-K. Park, and S.-J. Hwang, "Data mining modelbased control charts for multivariate and autocorrelated processes," <I>Expert Systems With Applications, </I>vol. 39, pp. 2073-2081, 2012.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000123&pid=S0122-3461201300020000700010&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;11&#93; T. J. Harris and W. H. Ross, "Statistical process control procedures for correlated observations," <I>The Canadian Journal of Chemical Engineering, </I>vol. 69, pp. 48-57, 1991.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000125&pid=S0122-3461201300020000700011&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;12&#93; D. G. Wardell, H. Moskowitz, and R. D. Plante, "Control charts in the presence of data correlation," <I>Management Science, </I>vol. 38, pp. 1084-1105, 1992.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000127&pid=S0122-3461201300020000700012&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;13&#93; M. R. Reynolds Jr and C.-W. Lu, "Control charts for monitoring processes with autocorrelated data," in <I>Nonlinear Analysis: Theory, Methods &amp; Applications</I>, 1997, pp. 4059-4067.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000129&pid=S0122-3461201300020000700013&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;14&#93; 	H. Kramer and W. Schmid, "Control charts for time series," in <I>Nonlinear Analysis: Theory, Methods &amp; Applications</I>, 1997, pp. 4007-4016.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000131&pid=S0122-3461201300020000700014&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p>&#91;15&#93; N. F. Zhang, "Detection capability of residual control chart for stationary process data," <I>Journal of Applied Statistics, </I>vol. 24, pp. 475-492, 1997.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000133&pid=S0122-3461201300020000700015&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;16&#93; J. Yang and V. Makis, "On the performance of classical control charts applied to process residuals," <I>Computers &amp; Industrial Engineering, </I>vol. 33, pp. 121-124, 1997.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000135&pid=S0122-3461201300020000700016&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;17&#93; 	C. W. Lu and M. R. Reynolds, "Control charts for monitoring the mean and variance of autocorrelated processes," <I>Journal of Quality Technology, </I>vol. 31, pp. 259-274, 1999.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000137&pid=S0122-3461201300020000700017&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;18&#93; 	A. L. George and E. Box, "Influence of the sampling interval, decision limit and autocorrelation on the average run length in Cusum charts," <I>Journal of Applied Statistics, </I>vol. 27, pp. 177-183, 2000.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000139&pid=S0122-3461201300020000700018&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;19&#93; B. MacCarthy and T. Wasusri, "Statistical process control for monitoring scheduling performance-addressing the problem of correlated data," <I>Journal of the Operational Research Society, </I>pp. 810-820, 2001.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000141&pid=S0122-3461201300020000700019&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p>&#91;20&#93; B. V. Rao, R. L. Disney, and J. J. Pignatiello Jr., "Uniqueness and convergence of solutions to average run length integral equations for cumulative sum and other control charts," <I>IIE Transactions, </I>vol. 33, pp. 463-469, 2001.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000143&pid=S0122-3461201300020000700020&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;21&#93; 	R. P. Pe&ntilde;a-Baena Niebles and M. E. Sanju&aacute;n Mej&iacute;a, "Dise&ntilde;o de un experimento para evaluar el uso de la carta EWMA con predicci&oacute;n en el monitoreo de procesos correlacionados," <I>Revista Cient&iacute;fica Ingenier&iacute;a y Desarrollo, </I>vol. 15, pp. 67-83, 2011.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000145&pid=S0122-3461201300020000700021&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;22&#93; R. Kacker and N. F. Zhang, "Online control using integrated moving average model for manufacturing errors," <I>International Journal of Production Research, </I>vol. 40, pp. 4131-4146, 2002.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000147&pid=S0122-3461201300020000700022&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;23&#93; A. Snoussi, M. E. Ghourabi, and M. Limam, "On SPC for short run autocorrelated data," <I>Communications in Statistics-Simulation and Computation, </I>vol. 34, pp. 219-234, 2005.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000149&pid=S0122-3461201300020000700023&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;24&#93; 	R. Noorossana and S. Vaghefi, "Effect of autocorrelation on performance of the MCUSUM control chart," <I>Quality and Reliability Engineering International, </I>vol. 22, pp. 191-197, 2006.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000151&pid=S0122-3461201300020000700024&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p>&#91;25&#93; S.-H. Kim, C. Alexopoulos, K.-L. Tsui, and J. R. Wilson, "A distribution-free tabular CUSUM chart for autocorrelated data," <I>IIE Transactions, </I>vol. 39, pp. 317-330, 2007.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000153&pid=S0122-3461201300020000700025&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;26&#93; K. Triantafyllopoulos, "Multivariate control charts based on Bayesian state space models," <I>Quality and Reliability Engineering International, </I>vol. 22, pp. 693-707, 2006.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000155&pid=S0122-3461201300020000700026&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;27&#93; S.-F. Yang and C.-M. Yang, "An approach to controlling two dependent process steps with autocorrelated observations," <I>The International Journal of Advanced Manufacturing Technology, </I>vol. 29, pp. 170-177, 2006.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000157&pid=S0122-3461201300020000700027&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;28&#93; M. El Ghourabi and M. Limam, "Residual responses to change patterns of autocorrelated processes," <I>Journal of Applied Statistics, </I>vol. 34, pp. 785-798, 2007.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000159&pid=S0122-3461201300020000700028&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;29&#93; 	A. F. Costa and F. A. Claro, "Double sampling\ overline {X} control chart for a first-order autoregressive moving average process model," <I>The International Journal of Advanced Manufacturing Technology, </I>vol. 39, pp. 521-542, 2008.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000161&pid=S0122-3461201300020000700029&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p>&#91;30&#93; S.-H. Sheu and S.-L. Lu, "Monitoring the mean of autocorrelated observations with one generally weighted moving average control chart," <I>Journal of Statistical Computation and Simulation, </I>vol. 79, pp. 1393-1406, 2009.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000163&pid=S0122-3461201300020000700030&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;31&#93; S. Knoth, M. C. Morais, A. Pacheco, and W. Schmid, "Misleading signals in simultaneous residual schemes for the mean and variance of a stationary process," <I>Communications in Statistics-Theory and Methods, </I>vol. 38, pp. 2923-2943, 2009.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000165&pid=S0122-3461201300020000700031&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;32&#93; C. H. Weiss and M. C. Testik, "CUSUM monitoring of first-order integervalued autoregressive processes of Poisson counts," <I>Journal of Quality Technology, </I>vol. 41, pp. 389-400, 2009.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000167&pid=S0122-3461201300020000700032&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;33&#93; G. Box and J. Ram&iacute;rez, &laquo;Cumulative score charts,&raquo; <I>Quality and Reliability Engineering International, </I>vol. 8, pp. 17-27, 1992.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000169&pid=S0122-3461201300020000700033&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;34&#93; 	S. Vander Wiel, "Monitoring processes that wander using integrated moving average models," <I>Technometrics, </I>vol. 38, pp. 139-151, 1996.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000171&pid=S0122-3461201300020000700034&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p>&#91;35&#93; N. F. Zhang, "A statistical control chart for stationary process data," <I>Technometrics, </I>vol. 40, pp. 24-38, 1998.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000173&pid=S0122-3461201300020000700035&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;36&#93; T. R. Willemain and G. C. Runger, "Statistical process control using run sums," <I>Journal of Statistical Computation and Simulation, </I>vol. 61, pp. 361-378, 1998.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000175&pid=S0122-3461201300020000700036&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;37&#93; 	C.-W. Lu and M. R. Reynolds, "EWMA control charts for monitoring the mean of autocorrelated processes," <I>Journal of Quality Technology, </I>vol. 31, pp. 166-188, 1999.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000177&pid=S0122-3461201300020000700037&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;38&#93; W. Jiang, K.-L. Tsui, and W. H. Woodall, "A new SPC monitoring method: The ARMA chart," <I>Technometrics, </I>vol. 42, pp. 399-410, 2000.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000179&pid=S0122-3461201300020000700038&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;39&#93; W. Jiang, "Average run length computation of ARMA charts for stationary processes," <I>Communications in Statistics-Simulation and Computation, </I>vol. 30, pp. 699-716, 2001.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000181&pid=S0122-3461201300020000700039&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p>&#91;40&#93; C. Y. Chou, H. R. Liu, and C. H. Chen, "Economic design of averages control charts for monitoring a process with correlated samples," <I>The International Journal of Advanced Manufacturing Technology, </I>vol. 18, pp. 49-53, 2001.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000183&pid=S0122-3461201300020000700040&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;41&#93; H.-R. Liu, C.-Y. Chou, and C.-H. Chen, "Minimum-loss design of x-bar charts for correlated data," <I>Journal of Loss Prevention in the Process Industries, </I>vol. 15, pp. 405-411, 2002.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000185&pid=S0122-3461201300020000700041&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;42&#93; C. M. Mastrangelo and D. R. Forrest, "Multivariate autocorrelated processes: Data and shift generation," <I>Journal of Quality Technology, </I>vol. 34, pp. 216-220, 2002.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000187&pid=S0122-3461201300020000700042&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;43&#93; L. Shu, D. W. Apley, and F. Tsung, "Autocorrelated process monitoring using triggered cuscore charts," <I>Quality and Reliability Engineering International, </I>vol. 18, pp. 411-421, 2002.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000189&pid=S0122-3461201300020000700043&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;44&#93; E. N. Loredo, D. Jearkpaporn, and C. M. Borror, "Model-based control chart for autoregressive and correlated data," <I>Quality and Reliability Engineering International, </I>vol. 18, pp. 489-496, 2002.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000191&pid=S0122-3461201300020000700044&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p>&#91;45&#93; W. Jiang, "Multivariate control charts for monitoring autocorrelated processes," <I>Journal of Quality Technology, </I>vol. 36, pp. 367-379, 2004.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000193&pid=S0122-3461201300020000700045&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;46&#93; P. Winkel and N.-F. Zhang, "Serial correlation of quality control data-on the use of proper control charts," <I>Scandinavian Journal of Clinical &amp; Laboratory Investigation, </I>vol. 64, pp. 195-204, 2004.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000195&pid=S0122-3461201300020000700046&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;47&#93; Y. K. Chen and K. C. Chiou, "Optimal design of VSI-X control charts for monitoring correlated samples," <I>Quality and Reliability Engineering International, </I>vol. 21, pp. 757-768, 2005.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000197&pid=S0122-3461201300020000700047&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;48&#93; J. R. Brence and C. M. Mastrangelo, "Parameter selection for a robust tracking signal," <I>Quality and Reliability Engineering International, </I>vol. 22, pp. 493-502, 2006.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000199&pid=S0122-3461201300020000700048&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;49&#93; J. E. Jarrett and X. Pan, "Monitoring variability and analyzing multivariate autocorrelated processes," <I>Journal of Applied Statistics, </I>vol. 34, pp. 459-469, 2007.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000201&pid=S0122-3461201300020000700049&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p>&#91;50&#93; Y.-K. Chen, K.-L. Hsieh, and C.-C. Chang, "Economic design of the VSSI control charts for correlated data," <I>International Journal of Production Economics, </I>vol. 107, pp. 528-539, 2012.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000203&pid=S0122-3461201300020000700050&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;51&#93; J.-C. Cheng and C.-Y. Chou, "A real-time inventory decision system using Western Electric run rules and ARMA control chart," <I>Expert Systems with Applications, </I>vol. 35, pp. 755-761, 2008.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000205&pid=S0122-3461201300020000700051&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;52&#93; G. K&ouml;ksal, B. Kantar, T. Ali Ula, and M. Caner Testik, "The effect of phase I sample size on the run length performance of control charts for autocorrelated data," <I>Journal of Applied Statistics, </I>vol. 35, pp. 67-87, 2008.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000207&pid=S0122-3461201300020000700052&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;53&#93; 	M. Vermaat, R. Does, and S. Bisgaard, "EWMA control chart limits for firstand second-order autoregressive processes," <I>Quality and Reliability Engineering International, </I>vol. 24, pp. 573-584, 2008.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000209&pid=S0122-3461201300020000700053&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;54&#93; P. Changpetch and H. B. Nembhard, "Periodic Cuscore charts to detect step shifts in autocorrelated processes," <I>Quality and Reliability Engineering International, </I>vol. 24, pp. 911-926, 2008.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000211&pid=S0122-3461201300020000700054&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p>&#91;55&#93; 	C. Zou, Z. Wang, and F. Tsung, "Monitoring autocorrelated processes using variable sampling schemes at fixed-times," <I>Quality and Reliability Engineering International, </I>vol. 24, pp. 55-69, 2008.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000213&pid=S0122-3461201300020000700055&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;56&#93; 	W. Hai-yu, "An EWMA for monitoring stationary autocorrelated process," in <I>Computational Intelligence and Software Engineering, 2009. CiSE 2009. International Conference on</I>, 2009, pp. 1-4.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000215&pid=S0122-3461201300020000700056&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;57&#93; 	H. Chen and Y. Cheng, "Designing charts for known autocorrelations and unknown marginal distribution," <I>European Journal of Operational Research, </I>vol. 198, pp. 520-529, 2009.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000217&pid=S0122-3461201300020000700057&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;58&#93; A. F. B. Costa and M. A. G. Machado, "Variable parameter and double sampling charts in the presence of correlation: The Markov chain approach," <I>International Journal of Production Economics, </I>vol. 130, pp. 224-229, 2011.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000219&pid=S0122-3461201300020000700058&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;59&#93; J. Yu and J. Liu, "LRProb control chart based on logistic regression for monitoring mean shifts of auto-correlated manufacturing processes," <I>International Journal of Production Research, </I>vol. 49, pp. 2301-2326, 2011.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000221&pid=S0122-3461201300020000700059&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p>&#91;60&#93; 	S. Chen and H. B. Nembhard, "Multivariate cuscore control charts for monitoring the mean vector in autocorrelated processes," <I>IIE Transactions, </I>vol. 43, pp. 291-307, 2011.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000223&pid=S0122-3461201300020000700060&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;61&#93; J. M. B. Fern&aacute;ndez, <I>Gesti&oacute;n Cient&iacute;fica Empresarial: Temas de Investigaci&oacute;n Actuales</I>: Netbiblo, 2003.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000225&pid=S0122-3461201300020000700061&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;62&#93; C. Presser Carne, <I>Data mining</I>. Argentina: El Cid Editor, 2009.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000227&pid=S0122-3461201300020000700062&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;63&#93; J. H. Friedman, "Multivariate adaptive regression splines," <I>The annals of statistics, </I>pp. 1-67, 1991.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000229&pid=S0122-3461201300020000700063&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;64&#93; A. J. Smola and B. Sch&ouml;lkopf, "On a kernel-based method for pattern recognition, regression, approximation, and operator inversion," <I>Algorithmica, </I>vol. 22, pp. 211-231, 1998.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000231&pid=S0122-3461201300020000700064&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p>&#91;65&#93; R. B. Chinnam, "Support vector machines for recognizing shifts in correlated and other manufacturing processes," <I>International Journal of Production Research, </I>vol. 40, pp. 4449-4466, 2002.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000233&pid=S0122-3461201300020000700065&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;66&#93; 	B. K. Issam and L. Mohamed, "Support vector regression based residual MCUSUM control chart for autocorrelated process," <I>Applied Mathematics and Computation, </I>vol. 201, pp. 565-574, 2008.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000235&pid=S0122-3461201300020000700066&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;67&#93; M. Pacella and Q. Semeraro, "Using recurrent neural networks to detect changes in autocorrelated processes for quality monitoring," <I>Computers &amp; Industrial Engineering, </I>vol. 52, pp. 502-520, 2007.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000237&pid=S0122-3461201300020000700067&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;68&#93; D. A. West, P. M. Mangiameli, and S. K. Chen, "Control of complex manufacturing processes: a comparison of SPC methods with a radial basis function neural network," <I>Omega, </I>vol. 27, pp. 349-362, 1999.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000239&pid=S0122-3461201300020000700068&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;69&#93; C. C. Chiu, M.-K. Chen, and K.-M. Lee, "Shifts recognition in correlated process data using a neural network," <I>International Journal of Systems Science, </I>vol. 32, pp. 137-143, 2001.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000241&pid=S0122-3461201300020000700069&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p>&#91;70&#93; W. Jitpitaklert, "Integration Of Data Mining Algorithms And Control Charts For Multivariate And Autocorrelated Processes," 2010.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000243&pid=S0122-3461201300020000700070&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;71&#93; 	H. Brian Hwarng and Y. Wang, "Shift detection and source identification in multivariate autocorrelated processes," <I>International Journal of Production Research, </I>vol. 48, pp. 835-859, 2010.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000245&pid=S0122-3461201300020000700071&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;72&#93; M. Lee, "Economic design of cumulative sum control charts for monitoring a process with correlated samples," <I>Communications in Statistics-Simulation and Computation, </I>vol. 39, pp. 1909-1922, 2010.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000247&pid=S0122-3461201300020000700072&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;73&#93; W. Gani, H. Taleb, and M. Limam, "Support vector regression based residual control charts," <I>Journal of Applied Statistics, </I>vol. 37, pp. 309-324, 2010.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000249&pid=S0122-3461201300020000700073&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;74&#93; I. B. Khediri, C. Weihs, and M. Limam, "Support vector regression control charts for multivariate nonlinear autocorrelated processes," <I>Chemometrics and Intelligent Laboratory Systems, </I>vol. 103, pp. 76-81, 2010.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000251&pid=S0122-3461201300020000700074&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p>&#91;75&#93; 	S. T. A. Niaki and S. A. Nasaji, "A hybrid method of artificial neural networks and simulated annealing in monitoring auto-correlated multi-attribute processes," <I>The International Journal of Advanced Manufacturing Technology, </I>vol. 56, pp. 777-788, 2011.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000253&pid=S0122-3461201300020000700075&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;76&#93; C.-S. Cheng, P.-W. Chen, and K.-K. Huang, "Estimating the shift size in the process mean with support vector regression and neural networks," <I>Expert Systems with Applications, </I>vol. 38, pp. 10624-10630, 2011.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000255&pid=S0122-3461201300020000700076&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>     <!-- ref --><p>&#91;77&#93; J. Park, I.-H. Kwon, S.-S. Kim, and J.-G. Baek, "Spline regression based feature extraction for semiconductor process fault detection using support vector machine," <I>Expert Systems with Applications, </I>vol. 38, pp. 5711-5718, 2011.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000257&pid=S0122-3461201300020000700077&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>  </font>      ]]></body><back>
<ref-list>
<ref id="B1">
<label>1</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Alwan]]></surname>
<given-names><![CDATA[L. C]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Roberts]]></surname>
<given-names><![CDATA[H. V]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Time-series modeling for statistical process control]]></article-title>
<source><![CDATA[Journal of Business & Economic Statistics]]></source>
<year>1988</year>
<volume>6</volume>
<page-range>87-95</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B2">
<label>2</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Apley]]></surname>
<given-names><![CDATA[D. W]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Shi]]></surname>
<given-names><![CDATA[J]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[The GLRT for statistical process control of autocorrelated processes]]></article-title>
<source><![CDATA[IIE Transactions]]></source>
<year>1999</year>
<volume>31</volume>
<page-range>1123-1134</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B3">
<label>3</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Psarakis]]></surname>
<given-names><![CDATA[S]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Papaleonida]]></surname>
<given-names><![CDATA[G]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[SPC procedures for monitoring autocorrelated processes]]></article-title>
<source><![CDATA[Quality Technology and Quantitative Management]]></source>
<year>2007</year>
<volume>4</volume>
<page-range>501-540</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B4">
<label>4</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Montgomery]]></surname>
<given-names><![CDATA[D]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Mastrangelo]]></surname>
<given-names><![CDATA[C]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Faltin]]></surname>
<given-names><![CDATA[F. W]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Woodall]]></surname>
<given-names><![CDATA[W. H]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[MacGregor]]></surname>
<given-names><![CDATA[J. F]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Ryan]]></surname>
<given-names><![CDATA[T. P]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Some statistical process control methods for autocorrelated data]]></article-title>
<source><![CDATA[Journal of Quality Technology]]></source>
<year>1991</year>
<volume>23</volume>
</nlm-citation>
</ref>
<ref id="B5">
<label>5</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Apley]]></surname>
<given-names><![CDATA[D. W]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Tsung]]></surname>
<given-names><![CDATA[F]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[The autoregressive T2 chart for monitoring univariate autocorrelated processes]]></article-title>
<source><![CDATA[Journal of Quality Technology]]></source>
<year>2002</year>
<volume>34</volume>
<page-range>80-96</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B6">
<label>6</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Kim]]></surname>
<given-names><![CDATA[S. B]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Jitpitaklert]]></surname>
<given-names><![CDATA[W]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Sukchotrat]]></surname>
<given-names><![CDATA[T]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[One-class classification-based control charts for monitoring autocorrelated multivariate processes]]></article-title>
<source><![CDATA[Communications in Statistics-Simulation and Computation®]]></source>
<year>2010</year>
<volume>39</volume>
<page-range>461-474</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B7">
<label>7</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Wardell]]></surname>
<given-names><![CDATA[D. G]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Moskowitz]]></surname>
<given-names><![CDATA[H]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Plante]]></surname>
<given-names><![CDATA[R. D]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Run-length distributions of special-cause control charts for correlated processes]]></article-title>
<source><![CDATA[Technometrics]]></source>
<year>1994</year>
<volume>36</volume>
<page-range>3-17</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B8">
<label>8</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Lu]]></surname>
<given-names><![CDATA[C.-W]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Reynolds]]></surname>
<given-names><![CDATA[M. R]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Cusum charts for monitoring an autocorrelated process]]></article-title>
<source><![CDATA[Journal of Quality Technology]]></source>
<year>2001</year>
<volume>33</volume>
<page-range>316-334</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B9">
<label>9</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Atienza]]></surname>
<given-names><![CDATA[O. O]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Tang]]></surname>
<given-names><![CDATA[L]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Ang]]></surname>
<given-names><![CDATA[B]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[A CUSUM scheme for autocorrelated observations]]></article-title>
<source><![CDATA[Journal of Quality Technology]]></source>
<year>2002</year>
<volume>34</volume>
<page-range>187-199</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B10">
<label>10</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Kim]]></surname>
<given-names><![CDATA[S. B]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Jitpitaklert]]></surname>
<given-names><![CDATA[W]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Park]]></surname>
<given-names><![CDATA[S.-K]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Hwang]]></surname>
<given-names><![CDATA[S.-J]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Data mining modelbased control charts for multivariate and autocorrelated processes]]></article-title>
<source><![CDATA[Expert Systems With Applications]]></source>
<year>2012</year>
<volume>39</volume>
<page-range>2073-2081</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B11">
<label>11</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Harris]]></surname>
<given-names><![CDATA[T. J]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Ross]]></surname>
<given-names><![CDATA[W. H]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Statistical process control procedures for correlated observations]]></article-title>
<source><![CDATA[The Canadian Journal of Chemical Engineering]]></source>
<year>1991</year>
<volume>69</volume>
<page-range>48-57</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B12">
<label>12</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Wardell]]></surname>
<given-names><![CDATA[D. G]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Moskowitz]]></surname>
<given-names><![CDATA[H]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Plante]]></surname>
<given-names><![CDATA[R. D]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Control charts in the presence of data correlation]]></article-title>
<source><![CDATA[Management Science]]></source>
<year>1992</year>
<volume>38</volume>
<page-range>1084-1105</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B13">
<label>13</label><nlm-citation citation-type="book">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Reynolds Jr]]></surname>
<given-names><![CDATA[M. R]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Lu]]></surname>
<given-names><![CDATA[C.-W]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[Control charts for monitoring processes with autocorrelated data]]></source>
<year>1997</year>
<page-range>4059-4067</page-range><publisher-name><![CDATA[Nonlinear Analysis: Theory, Methods & Applications]]></publisher-name>
</nlm-citation>
</ref>
<ref id="B14">
<label>14</label><nlm-citation citation-type="book">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Kramer]]></surname>
<given-names><![CDATA[H]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Schmid]]></surname>
<given-names><![CDATA[W]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[Control charts for time series]]></source>
<year>1997</year>
<page-range>4007-4016</page-range><publisher-name><![CDATA[Nonlinear Analysis: Theory, Methods & Applications]]></publisher-name>
</nlm-citation>
</ref>
<ref id="B15">
<label>15</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Zhang]]></surname>
<given-names><![CDATA[N. F]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Detection capability of residual control chart for stationary process data]]></article-title>
<source><![CDATA[Journal of Applied Statistics]]></source>
<year>1997</year>
<volume>24</volume>
<page-range>475-492</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B16">
<label>16</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Yang]]></surname>
<given-names><![CDATA[J]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Makis]]></surname>
<given-names><![CDATA[V]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[On the performance of classical control charts applied to process residuals]]></article-title>
<source><![CDATA[Computers & Industrial Engineering]]></source>
<year>1997</year>
<volume>33</volume>
<page-range>121-124</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B17">
<label>17</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Lu]]></surname>
<given-names><![CDATA[C. W]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Reynolds]]></surname>
<given-names><![CDATA[M. R]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Control charts for monitoring the mean and variance of autocorrelated processes]]></article-title>
<source><![CDATA[Journal of Quality Technology]]></source>
<year>1999</year>
<volume>31</volume>
<page-range>259-274</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B18">
<label>18</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[George]]></surname>
<given-names><![CDATA[A. L]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Box]]></surname>
<given-names><![CDATA[E]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Influence of the sampling interval, decision limit and autocorrelation on the average run length in Cusum charts]]></article-title>
<source><![CDATA[Journal of Applied Statistics]]></source>
<year>2000</year>
<volume>27</volume>
<page-range>177-183</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B19">
<label>19</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[MacCarthy]]></surname>
<given-names><![CDATA[B]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Wasusri]]></surname>
<given-names><![CDATA[T]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Statistical process control for monitoring scheduling performance-addressing the problem of correlated data]]></article-title>
<source><![CDATA[Journal of the Operational Research Society]]></source>
<year>2001</year>
<page-range>810-820</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B20">
<label>20</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[V. Rao]]></surname>
<given-names><![CDATA[B]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Disney]]></surname>
<given-names><![CDATA[R. L]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Pignatiello Jr]]></surname>
<given-names><![CDATA[J. J]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Uniqueness and convergence of solutions to average run length integral equations for cumulative sum and other control charts]]></article-title>
<source><![CDATA[IIE Transactions]]></source>
<year>2001</year>
<volume>33</volume>
<page-range>463-469</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B21">
<label>21</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Peña-Baena Niebles]]></surname>
<given-names><![CDATA[R. P]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Sanjuán Mejía]]></surname>
<given-names><![CDATA[M. E]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="es"><![CDATA[Diseño de un experimento para evaluar el uso de la carta EWMA con predicción en el monitoreo de procesos correlacionados]]></article-title>
<source><![CDATA[Revista Científica Ingeniería y Desarrollo]]></source>
<year>2011</year>
<volume>15</volume>
<page-range>67-83</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B22">
<label>22</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Kacker]]></surname>
<given-names><![CDATA[R]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Zhang]]></surname>
<given-names><![CDATA[N. F]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Online control using integrated moving average model for manufacturing errors]]></article-title>
<source><![CDATA[International Journal of Production Research]]></source>
<year>2002</year>
<volume>40</volume>
<page-range>4131-4146</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B23">
<label>23</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Snoussi]]></surname>
<given-names><![CDATA[A]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Ghourabi]]></surname>
<given-names><![CDATA[M. E]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Limam]]></surname>
<given-names><![CDATA[M]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[On SPC for short run autocorrelated data]]></article-title>
<source><![CDATA[Communications in Statistics-Simulation and Computation]]></source>
<year>2005</year>
<volume>34</volume>
<page-range>219-234</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B24">
<label>24</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Noorossana]]></surname>
<given-names><![CDATA[R]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Vaghefi]]></surname>
<given-names><![CDATA[S]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Effect of autocorrelation on performance of the MCUSUM control chart]]></article-title>
<source><![CDATA[Quality and Reliability Engineering International]]></source>
<year>2006</year>
<volume>22</volume>
<page-range>191-197</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B25">
<label>25</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Kim]]></surname>
<given-names><![CDATA[S.-H]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Alexopoulos]]></surname>
<given-names><![CDATA[C]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Tsui]]></surname>
<given-names><![CDATA[K.-L]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Wilson]]></surname>
<given-names><![CDATA[J. R]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[A distribution-free tabular CUSUM chart for autocorrelated data]]></article-title>
<source><![CDATA[IIE Transactions]]></source>
<year>2007</year>
<volume>39</volume>
<page-range>317-330</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B26">
<label>26</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Triantafyllopoulos]]></surname>
<given-names><![CDATA[K]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Multivariate control charts based on Bayesian state space models]]></article-title>
<source><![CDATA[Quality and Reliability Engineering International]]></source>
<year>2006</year>
<volume>22</volume>
<page-range>693-707</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B27">
<label>27</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Yang]]></surname>
<given-names><![CDATA[S.-F]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Yang]]></surname>
<given-names><![CDATA[C.-M]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[The International Journal of Advanced Manufacturing Technology]]></source>
<year>2006</year>
<volume>29</volume>
<page-range>170-177</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B28">
<label>28</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[El Ghourabi]]></surname>
<given-names><![CDATA[M]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Limam]]></surname>
<given-names><![CDATA[M]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Residual responses to change patterns of autocorrelated processes]]></article-title>
<source><![CDATA[Journal of Applied Statistics]]></source>
<year>2007</year>
<volume>34</volume>
<page-range>785-798</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B29">
<label>29</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Costa]]></surname>
<given-names><![CDATA[A. F]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Claro]]></surname>
<given-names><![CDATA[F. A]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Double sampling\ overline {X} control chart for a first-order autoregressive moving average process model]]></article-title>
<source><![CDATA[The International Journal of Advanced Manufacturing Technology]]></source>
<year>2008</year>
<volume>39</volume>
<page-range>521-542</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B30">
<label>30</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Sheu]]></surname>
<given-names><![CDATA[S.-H]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Lu]]></surname>
<given-names><![CDATA[S.-L]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Monitoring the mean of autocorrelated observations with one generally weighted moving average control chart]]></article-title>
<source><![CDATA[Journal of Statistical Computation and Simulation]]></source>
<year>2009</year>
<volume>79</volume>
<page-range>1393-1406</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B31">
<label>31</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Knoth]]></surname>
<given-names><![CDATA[S]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Morais]]></surname>
<given-names><![CDATA[M. C]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Pacheco]]></surname>
<given-names><![CDATA[A]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Schmid]]></surname>
<given-names><![CDATA[W]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Misleading signals in simultaneous residual schemes for the mean and variance of a stationary process]]></article-title>
<source><![CDATA[Communications in Statistics-Theory and Methods]]></source>
<year>2009</year>
<volume>38</volume>
<page-range>2923-2943</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B32">
<label>32</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Weiss]]></surname>
<given-names><![CDATA[C. H]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Testik]]></surname>
<given-names><![CDATA[M. C]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[Journal of Quality Technology]]></source>
<year>2009</year>
<volume>41</volume>
<page-range>389-400</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B33">
<label>33</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Box]]></surname>
<given-names><![CDATA[G]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Ramírez]]></surname>
<given-names><![CDATA[J]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Cumulative score charts]]></article-title>
<source><![CDATA[Quality and Reliability Engineering International]]></source>
<year>1992</year>
<volume>8</volume>
<page-range>17-27</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B34">
<label>34</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Vander Wiel]]></surname>
<given-names><![CDATA[S]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Monitoring processes that wander using integrated moving average models]]></article-title>
<source><![CDATA[Technometrics]]></source>
<year>1996</year>
<volume>38</volume>
<page-range>139-151</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B35">
<label>35</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Zhang]]></surname>
<given-names><![CDATA[N. F]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[A statistical control chart for stationary process data]]></article-title>
<source><![CDATA[Technometrics]]></source>
<year>1998</year>
<volume>40</volume>
<page-range>24-38</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B36">
<label>36</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Willemain]]></surname>
<given-names><![CDATA[T. R]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Runger]]></surname>
<given-names><![CDATA[G. C]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Statistical process control using run sums]]></article-title>
<source><![CDATA[Journal of Statistical Computation and Simulation]]></source>
<year>1998</year>
<volume>61</volume>
<page-range>361-378</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B37">
<label>37</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Lu]]></surname>
<given-names><![CDATA[C.-W]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Reynolds]]></surname>
<given-names><![CDATA[M. R]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[EWMA control charts for monitoring the mean of autocorrelated processes]]></article-title>
<source><![CDATA[Journal of Quality Technology]]></source>
<year>1999</year>
<volume>31</volume>
<page-range>166-188</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B38">
<label>38</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Jiang]]></surname>
<given-names><![CDATA[W]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Tsui]]></surname>
<given-names><![CDATA[K.-L]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Woodall]]></surname>
<given-names><![CDATA[W. H]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[A new SPC monitoring method: The ARMA chart]]></article-title>
<source><![CDATA[Technometrics]]></source>
<year>2000</year>
<volume>42</volume>
<page-range>399-410</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B39">
<label>39</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Jiang]]></surname>
<given-names><![CDATA[W]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Average run length computation of ARMA charts for stationary processes]]></article-title>
<source><![CDATA[Communications in Statistics-Simulation and Computation]]></source>
<year>2001</year>
<volume>30</volume>
<page-range>699-716</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B40">
<label>40</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Chou]]></surname>
<given-names><![CDATA[C. Y]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Liu]]></surname>
<given-names><![CDATA[H. R]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Chen]]></surname>
<given-names><![CDATA[C. H]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Economic design of averages control charts for monitoring a process with correlated samples]]></article-title>
<source><![CDATA[The International Journal of Advanced Manufacturing Technology]]></source>
<year>2001</year>
<volume>18</volume>
<page-range>49-53</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B41">
<label>41</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Liu]]></surname>
<given-names><![CDATA[H.-R]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Chou]]></surname>
<given-names><![CDATA[C.-Y]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Chen]]></surname>
<given-names><![CDATA[C.-H]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Minimum-loss design of x-bar charts for correlated data]]></article-title>
<source><![CDATA[Journal of Loss Prevention in the Process Industries]]></source>
<year>2002</year>
<volume>15</volume>
<page-range>405-411</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B42">
<label>42</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Mastrangelo]]></surname>
<given-names><![CDATA[C. M]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Forrest]]></surname>
<given-names><![CDATA[D. R]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Multivariate autocorrelated processes: Data and shift generation]]></article-title>
<source><![CDATA[Journal of Quality Technology]]></source>
<year>2002</year>
<volume>34</volume>
<page-range>216-220</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B43">
<label>43</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Shu]]></surname>
<given-names><![CDATA[L]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Apley]]></surname>
<given-names><![CDATA[D. W]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Tsung]]></surname>
<given-names><![CDATA[F]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Autocorrelated process monitoring using triggered cuscore charts]]></article-title>
<source><![CDATA[Quality and Reliability Engineering International]]></source>
<year>2002</year>
<volume>18</volume>
<page-range>411-421</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B44">
<label>44</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Loredo]]></surname>
<given-names><![CDATA[E. N]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Jearkpaporn]]></surname>
<given-names><![CDATA[D]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Borror]]></surname>
<given-names><![CDATA[C. M]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Model-based control chart for autoregressive and correlated data]]></article-title>
<source><![CDATA[Quality and Reliability Engineering International]]></source>
<year>2002</year>
<volume>18</volume>
<page-range>489-496</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B45">
<label>45</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Jiang]]></surname>
<given-names><![CDATA[W]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Multivariate control charts for monitoring autocorrelated processes]]></article-title>
<source><![CDATA[Journal of Quality Technology]]></source>
<year>2004</year>
<volume>36</volume>
<page-range>367-379</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B46">
<label>46</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Winkel]]></surname>
<given-names><![CDATA[P]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Zhang]]></surname>
<given-names><![CDATA[N.-F]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Serial correlation of quality control data-on the use of proper control charts]]></article-title>
<source><![CDATA[Scandinavian Journal of Clinical & Laboratory Investigation]]></source>
<year>2004</year>
<volume>64</volume>
<page-range>195-204</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B47">
<label>47</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Chen]]></surname>
<given-names><![CDATA[Y. K]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Chiou]]></surname>
<given-names><![CDATA[K. C]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Optimal design of VSI-X control charts for monitoring correlated samples]]></article-title>
<source><![CDATA[Quality and Reliability Engineering International]]></source>
<year>2005</year>
<volume>21</volume>
<page-range>757-768</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B48">
<label>48</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Brence]]></surname>
<given-names><![CDATA[J. R]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Mastrangelo]]></surname>
<given-names><![CDATA[C. M]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Parameter selection for a robust tracking signal]]></article-title>
<source><![CDATA[Quality and Reliability Engineering International]]></source>
<year>2006</year>
<volume>22</volume>
<page-range>493-502</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B49">
<label>49</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Jarrett]]></surname>
<given-names><![CDATA[J. E]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Pan]]></surname>
<given-names><![CDATA[X]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Monitoring variability and analyzing multivariate autocorrelated processes]]></article-title>
<source><![CDATA[Journal of Applied Statistics]]></source>
<year>2007</year>
<volume>34</volume>
<page-range>459-469</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B50">
<label>50</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Chen]]></surname>
<given-names><![CDATA[Y.-K]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Hsieh]]></surname>
<given-names><![CDATA[K.-L]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Chang]]></surname>
<given-names><![CDATA[C.-C]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[design of the VSSI control charts for correlated data]]></article-title>
<source><![CDATA[International Journal of Production Economics]]></source>
<year>2012</year>
<volume>107</volume>
<page-range>528-539</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B51">
<label>51</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Cheng]]></surname>
<given-names><![CDATA[J.-C]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Chou]]></surname>
<given-names><![CDATA[C.-Y]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[A real-time inventory decision system using Western Electric run rules and ARMA control chart]]></article-title>
<source><![CDATA[Expert Systems with Applications]]></source>
<year>2008</year>
<volume>35</volume>
<page-range>755-761</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B52">
<label>52</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Köksal]]></surname>
<given-names><![CDATA[G]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Kantar]]></surname>
<given-names><![CDATA[B]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Ali Ula]]></surname>
<given-names><![CDATA[T.]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Caner Testik]]></surname>
<given-names><![CDATA[M]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[The effect of phase I sample size on the run length performance of control charts for autocorrelated data]]></article-title>
<source><![CDATA[Journal of Applied Statistics]]></source>
<year>2008</year>
<volume>35</volume>
<page-range>67-87</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B53">
<label>53</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Vermaat]]></surname>
<given-names><![CDATA[M]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Does]]></surname>
<given-names><![CDATA[R]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Bisgaard]]></surname>
<given-names><![CDATA[S]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[EWMA control chart limits for firstand second-order autoregressive processes]]></article-title>
<source><![CDATA[Quality and Reliability Engineering International]]></source>
<year>2008</year>
<volume>24</volume>
<page-range>573-584</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B54">
<label>54</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Changpetch]]></surname>
<given-names><![CDATA[P]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Nembhard]]></surname>
<given-names><![CDATA[H. B]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Periodic Cuscore charts to detect step shifts in autocorrelated processes]]></article-title>
<source><![CDATA[Quality and Reliability Engineering International]]></source>
<year>2008</year>
<volume>24</volume>
<page-range>911-926</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B55">
<label>55</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Zou]]></surname>
<given-names><![CDATA[C]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Wang]]></surname>
<given-names><![CDATA[Z]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Tsung]]></surname>
<given-names><![CDATA[F]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Monitoring autocorrelated processes using variable sampling schemes at fixed-times]]></article-title>
<source><![CDATA[Quality and Reliability Engineering International]]></source>
<year>2008</year>
<volume>24</volume>
<page-range>55-69</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B56">
<label>56</label><nlm-citation citation-type="confpro">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Hai-yu]]></surname>
<given-names><![CDATA[W]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[An EWMA for monitoring stationary autocorrelated process]]></source>
<year></year>
<conf-name><![CDATA[ International Conference on]]></conf-name>
<conf-date>2009</conf-date>
<conf-loc> </conf-loc>
<page-range>1-4</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B57">
<label>57</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Chen]]></surname>
<given-names><![CDATA[H]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Cheng]]></surname>
<given-names><![CDATA[Y]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Designing charts for known autocorrelations and unknown marginal distribution]]></article-title>
<source><![CDATA[European Journal of Operational Research]]></source>
<year>2009</year>
<volume>198</volume>
<page-range>520-529</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B58">
<label>58</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Costa]]></surname>
<given-names><![CDATA[A. F. B]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Machado]]></surname>
<given-names><![CDATA[M. A. G]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Variable parameter and double sampling charts in the presence of correlation: The Markov chain approach]]></article-title>
<source><![CDATA[International Journal of Production Econ]]></source>
<year>2011</year>
<volume>130</volume>
<page-range>224-229</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B59">
<label>59</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Yu]]></surname>
<given-names><![CDATA[J]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Liu]]></surname>
<given-names><![CDATA[J]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[LRProb control chart based on logistic regression for monitoring mean shifts of auto-correlated manufacturing processes]]></article-title>
<source><![CDATA[International Journal of Production Research]]></source>
<year>2011</year>
<volume>49</volume>
<page-range>2301-2326</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B60">
<label>60</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Chen]]></surname>
<given-names><![CDATA[S]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Nembhard]]></surname>
<given-names><![CDATA[H. B]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Multivariate cuscore control charts for monitoring the mean vector in autocorrelated processes]]></article-title>
<source><![CDATA[IIE Transactions]]></source>
<year>2011</year>
<volume>43</volume>
<page-range>291-307</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B61">
<label>61</label><nlm-citation citation-type="book">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Fernández]]></surname>
<given-names><![CDATA[J. M. B]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[Gestión Científica Empresarial: Temas de Investigación Actuales]]></source>
<year>2003</year>
<publisher-name><![CDATA[Netbiblo]]></publisher-name>
</nlm-citation>
</ref>
<ref id="B62">
<label>62</label><nlm-citation citation-type="book">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Presser Carne]]></surname>
<given-names><![CDATA[C]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[Data mining]]></source>
<year>2009</year>
<publisher-name><![CDATA[El Cid Editor]]></publisher-name>
</nlm-citation>
</ref>
<ref id="B63">
<label>63</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Friedman]]></surname>
<given-names><![CDATA[J. H]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Multivariate adaptive regression spli]]></article-title>
<source><![CDATA[The annals of statistics]]></source>
<year>1991</year>
<page-range>1-67</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B64">
<label>64</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Smola]]></surname>
<given-names><![CDATA[A. J]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Schölkopf]]></surname>
<given-names><![CDATA[B]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[On a kernel-based method for pattern recognition, regression, approximation, and operator inversion]]></article-title>
<source><![CDATA[Algorithmica]]></source>
<year>1998</year>
<volume>22</volume>
<page-range>211-231</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B65">
<label>65</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Chinnam]]></surname>
<given-names><![CDATA[R. B]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Support vector machines for recognizing shifts in correlated and other manufacturing processes]]></article-title>
<source><![CDATA[International Journal of Production Research]]></source>
<year>2002</year>
<volume>40</volume>
<page-range>4449-4466</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B66">
<label>66</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Issam]]></surname>
<given-names><![CDATA[B. K]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Mohamed]]></surname>
<given-names><![CDATA[L]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Support vector regression based residual MCUSUM control chart for autocorrelated process]]></article-title>
<source><![CDATA[Applied Mathematics and Computation]]></source>
<year>2008</year>
<volume>201</volume>
<page-range>565-574</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B67">
<label>67</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Pacella]]></surname>
<given-names><![CDATA[M]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Semeraro]]></surname>
<given-names><![CDATA[Q]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Using recurrent neural networks to detect changes in autocorrelated processes for quality monitoring]]></article-title>
<source><![CDATA[Computers & Industrial Engineering]]></source>
<year>2007</year>
<volume>52</volume>
<page-range>502-520</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B68">
<label>68</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[West]]></surname>
<given-names><![CDATA[D. A]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Mangiameli]]></surname>
<given-names><![CDATA[P. M]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Chen]]></surname>
<given-names><![CDATA[S. K]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Control of complex manufacturing processes: a comparison of SPC methods with a radial basis function neural network]]></article-title>
<source><![CDATA[Omega]]></source>
<year>1999</year>
<volume>27</volume>
<page-range>349-362</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B69">
<label>69</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Chiu]]></surname>
<given-names><![CDATA[C. C]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Chen]]></surname>
<given-names><![CDATA[M.-K]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Lee]]></surname>
<given-names><![CDATA[K.-M]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Shifts recognition in correlated process data using a neural network]]></article-title>
<source><![CDATA[International Journal of Systems Science]]></source>
<year>2001</year>
<volume>32</volume>
<page-range>137-143</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B70">
<label>70</label><nlm-citation citation-type="">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Jitpitaklert]]></surname>
<given-names><![CDATA[W]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[Integration Of Data Mining Algorithms And Control Charts For Multivariate And Autocorrelated Processes]]></source>
<year>2010</year>
</nlm-citation>
</ref>
<ref id="B71">
<label>71</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Brian Hwarng]]></surname>
<given-names><![CDATA[H]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Wang]]></surname>
<given-names><![CDATA[Y]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Shift detection and source identification in multivariate autocorrelated processes]]></article-title>
<source><![CDATA[International Journal of Production Research]]></source>
<year>2010</year>
<volume>48</volume>
<page-range>835-859</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B72">
<label>72</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Lee]]></surname>
<given-names><![CDATA[M]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Economic design of cumulative sum control charts for monitoring a process with correlated samples]]></article-title>
<source><![CDATA[Communications in Statistics-Simulation and Computation]]></source>
<year>2010</year>
<volume>39</volume>
<page-range>1909-1922</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B73">
<label>73</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Gani]]></surname>
<given-names><![CDATA[W]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Taleb]]></surname>
<given-names><![CDATA[H]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Limam]]></surname>
<given-names><![CDATA[M]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Support vector regression based residual control charts]]></article-title>
<source><![CDATA[Journal of Applied Statistics]]></source>
<year>2010</year>
<volume>37</volume>
<page-range>309-324</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B74">
<label>74</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Khediri]]></surname>
<given-names><![CDATA[I. B]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Weihs]]></surname>
<given-names><![CDATA[C]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Limam]]></surname>
<given-names><![CDATA[M]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Support vector regression control charts for multivariate nonlinear autocorrelated processes]]></article-title>
<source><![CDATA[Chemometrics and Intelligent Laboratory Systems]]></source>
<year>2010</year>
<volume>103</volume>
<page-range>76-81</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B75">
<label>75</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Niaki]]></surname>
<given-names><![CDATA[S. T. A]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Nasaji]]></surname>
<given-names><![CDATA[S. A]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[A hybrid method of artificial neural networks and simulated annealing in monitoring auto-correlated multi-attribute processes]]></article-title>
<source><![CDATA[The International Journal of Advanced Manufacturing Technology]]></source>
<year>2011</year>
<volume>56</volume>
<page-range>777-788</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B76">
<label>76</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Cheng]]></surname>
<given-names><![CDATA[C.-S]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Chen]]></surname>
<given-names><![CDATA[P.-W]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Huang]]></surname>
<given-names><![CDATA[K.-K]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Estimating the shift size in the process mean with support vector regression and neural networks]]></article-title>
<source><![CDATA[Expert Systems with Applications]]></source>
<year>2011</year>
<volume>38</volume>
<page-range>10624-10630</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B77">
<label>77</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Park]]></surname>
<given-names><![CDATA[J]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Kwon]]></surname>
<given-names><![CDATA[I.-H]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Kim]]></surname>
<given-names><![CDATA[S.-S]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Baek]]></surname>
<given-names><![CDATA[J.-G]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Spline regression based feature extraction for semiconductor process fault detection using support vector machine]]></article-title>
<source><![CDATA[Expert Systems with Applications]]></source>
<year>2011</year>
<volume>38</volume>
<page-range>5711-5718</page-range></nlm-citation>
</ref>
</ref-list>
</back>
</article>
