<?xml version="1.0" encoding="ISO-8859-1"?><article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance">
<front>
<journal-meta>
<journal-id>0123-921X</journal-id>
<journal-title><![CDATA[Tecnura]]></journal-title>
<abbrev-journal-title><![CDATA[Tecnura]]></abbrev-journal-title>
<issn>0123-921X</issn>
<publisher>
<publisher-name><![CDATA[Universidad Distrital Francisco José de Caldas]]></publisher-name>
</publisher>
</journal-meta>
<article-meta>
<article-id>S0123-921X2010000200008</article-id>
<title-group>
<article-title xml:lang="es"><![CDATA[Determinación de la exactitud de una superficie digital del terreno con el uso de perfiles]]></article-title>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Determining the accuracy of digital terrain surface by using profiles]]></article-title>
</title-group>
<contrib-group>
<contrib contrib-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Niño Niño]]></surname>
<given-names><![CDATA[Edilberto]]></given-names>
</name>
<xref ref-type="aff" rid="A01"/>
</contrib>
</contrib-group>
<aff id="A01">
<institution><![CDATA[,Universidad Distrital Francisco José de Caldas  ]]></institution>
<addr-line><![CDATA[Bogotá ]]></addr-line>
<country>Colombia</country>
</aff>
<pub-date pub-type="pub">
<day>00</day>
<month>07</month>
<year>2010</year>
</pub-date>
<pub-date pub-type="epub">
<day>00</day>
<month>07</month>
<year>2010</year>
</pub-date>
<volume>14</volume>
<numero>27</numero>
<fpage>69</fpage>
<lpage>74</lpage>
<copyright-statement/>
<copyright-year/>
<self-uri xlink:href="http://www.scielo.org.co/scielo.php?script=sci_arttext&amp;pid=S0123-921X2010000200008&amp;lng=en&amp;nrm=iso"></self-uri><self-uri xlink:href="http://www.scielo.org.co/scielo.php?script=sci_abstract&amp;pid=S0123-921X2010000200008&amp;lng=en&amp;nrm=iso"></self-uri><self-uri xlink:href="http://www.scielo.org.co/scielo.php?script=sci_pdf&amp;pid=S0123-921X2010000200008&amp;lng=en&amp;nrm=iso"></self-uri><abstract abstract-type="short" xml:lang="es"><p><![CDATA[La exactitud de una superficie digital del terreno (SDT) es difícil de determinar de manera eficiente. En la mayoría de casos este procedimiento se realiza con base en puntos de control obtenidos con tecnología GPS, a un alto costo, y lo que se obtiene es un estimativo muy general. Esto, ya que dicho procedimiento permite obtener la exactitud de la superficie digital del terreno, solamente a nivel local, es decir, alrededor de cada punto de control. Se debe suponer homogéneo el comportamiento de las alturas a través de la superficie, aunque esto no siempre es cierto. El método que se plantea se basa en la utilización de perfiles extraídos de las superficies. Con este método es posible calcular la exactitud relativa de una superficie digital del terreno respecto a una superficie de mayor exactitud. Para realizar el proceso se utilizan dos superficies digitales del terreno; una de ellas se toma como referente. Se trazan igual número de perfiles en cada superficie, con las mismas coordenadas, y se realiza la comparación estadística para determinar las discrepancias de las alturas de la superficie examinada respecto a la tomada como referente.]]></p></abstract>
<abstract abstract-type="short" xml:lang="en"><p><![CDATA[The accuracy of a digital terrain surface (SDT) is difficult to determine efficiently. In most cases, this procedure is performed based on control points obtained by GPS technology at a high cost, and what you get is a very general estimate. This, since this procedure allows for the accuracy of digital terrain surface only locally or about each control point and must assume homogeneous behavior of the heights across the surface. However, this is not always true. The method that arises is based on the use of profiles extracted from the surface. This method is possible to calculate the relative accuracy of digital terrain surface, on an area of greater accuracy. To make the process using two digital terrain surfaces, this has been taken as reference. Are plotted as number of profiles in each surface, with the same coordinates and performs a statistical comparison to determine the differences of the examined surface heights compared to the one taken as reference.]]></p></abstract>
<kwd-group>
<kwd lng="es"><![CDATA[Exactitud]]></kwd>
<kwd lng="es"><![CDATA[Perfil]]></kwd>
<kwd lng="es"><![CDATA[Referente]]></kwd>
<kwd lng="es"><![CDATA[Superficie digital del terreno]]></kwd>
<kwd lng="en"><![CDATA[Accuracy]]></kwd>
<kwd lng="en"><![CDATA[Profile]]></kwd>
<kwd lng="en"><![CDATA[Reference]]></kwd>
<kwd lng="en"><![CDATA[Digital terrain surface]]></kwd>
</kwd-group>
</article-meta>
</front><body><![CDATA[  <font size="2" face="Verdana">      <p>    <center><font size="4"><b>Determinaci&oacute;n de la exactitud de una superficie digital del terreno con el uso de perfiles</b></font></center></p>     <p>    <center><font size="3"><b>Determining the accuracy of digital terrain surface by using profiles</b></font></center></p>     <p>    <center><b>Edilberto Ni&ntilde;o Ni&ntilde;o<sup>1</sup></b></center></p>     <p><sup>1</sup> Ingeniero Catastral y Geodesta, Especialista en Astronom&iacute;a, Especialista en SIG. Docente de la Universidad Distrital Francisco Jos&eacute; de Caldas. Bogot&aacute;, Colombia. <a href="mailto:edilbertonino@gmail.com">edilbertonino@gmail.com</a></p>     <p>Fecha de recepci&oacute;n: noviembre 3 de 2009 Fecha de aceptaci&oacute;n: mayo 25 de 2010</p> <hr>     <p><font size="3"><b>Resumen</b></font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>La exactitud de una superficie digital del terreno (SDT) es dif&iacute;cil de determinar de manera eficiente. En la mayor&iacute;a de casos este procedimiento se realiza con base en puntos de control obtenidos con tecnolog&iacute;a GPS, a un alto costo, y lo que se obtiene es un estimativo muy general. Esto, ya que dicho procedimiento permite obtener la exactitud de la superficie digital del terreno, solamente a nivel local, es decir, alrededor de cada punto de control. Se debe suponer homog&eacute;neo el comportamiento de las alturas a trav&eacute;s de la superficie, aunque esto no siempre es cierto.</p>     <p>El m&eacute;todo que se plantea se basa en la utilizaci&oacute;n de perfiles extra&iacute;dos de las superficies. Con este m&eacute;todo es posible calcular la exactitud relativa de una superficie digital del terreno respecto a una superficie de mayor exactitud. Para realizar el proceso se utilizan dos superficies digitales del terreno; una de ellas se toma como referente. Se trazan igual n&uacute;mero de perfiles en cada superficie, con las mismas coordenadas, y se realiza la comparaci&oacute;n estad&iacute;stica para determinar las discrepancias de las alturas de la superficie examinada respecto a la tomada como referente.</p>     <p><b><i>Palabras clave: </i></b>Exactitud, Perfil, Referente, Superficie digital del terreno.</p> <hr>     <p><font size="3"><b>Abstract</b></font></p>     <p>The accuracy of a digital terrain surface (SDT) is difficult to determine efficiently. In most cases, this procedure is performed based on control points obtained by GPS technology at a high cost, and what you get is a very general estimate. This, since this procedure allows for the accuracy of digital terrain surface only locally or about each control point and must assume homogeneous behavior of the heights across the surface. However, this is not always true.</p>     <p>The method that arises is based on the use of profiles extracted from the surface. This method is possible to calculate the relative accuracy of digital terrain surface, on an area of greater accuracy. To make the process using two digital terrain surfaces, this has been taken as reference. Are plotted as number of profiles in each surface, with the same coordinates and performs a statistical comparison to determine the differences of the examined surface heights compared to the one taken as reference.</p>     <p><b><i>Key words: </i></b>Accuracy, Profile, Reference, Digital terrain surface.</p> <hr>     <p><font size="3"><b>1.   Introducci&oacute;n</b></font></p>     <p>El principal objetivo de este trabajo es establecer un procedimiento para determinar de manera cualitativa y cuantitativa la exactitud de una superficie digital del terreno mediante la utilizaci&oacute;n de perfiles topogr&aacute;ficos extra&iacute;dos de superficies digitales del terreno. Este m&eacute;todo ofrece alta certidumbre en su procedimiento ya que es posible determinar la exactitud de una Superficies (SDT), comparando las dos superficies con alto n&uacute;mero de puntos.</p>     <p>Los avances en electr&oacute;nica, inform&aacute;tica y rob&oacute;tica entre otras ciencias, ha permitido un significativo desarrollo en las t&eacute;cnicas de los sensores remotos. Gracias estos adelantos, ha sido posible elaborar modelos digitales de la superficie terrestre con diferentes t&eacute;cnicas, caracter&iacute;sticas y exactitudes.</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>Se debe destacar as&iacute; mismo que los modelos digitales del terreno y en particular las SDT se han convertido en un invaluable insumo de trabajo por las disciplinas que tienen que ver con las ciencias de la tierra, y principalmente con el desarrollo y uso de los Sistemas de Informaci&oacute;n Geogr&aacute;fica.</p>     <p><font size="3"><b>2.   Metodolog&iacute;a</b></font></p>     <p>Los insumos requeridos para realizar la validaci&oacute;n de una superficie digital del terreno son los siguientes:</p> <ul>    <li>    <p>Superficie digital del terreno referente.</p></li>     <li>    <p>Superficie digital del terreno a examinar.</p></li>    </ul>     <p>Si se cuenta con superficies de redes tr&iacute;angulos irregulares (TIN, del ingl&eacute;s Triangulated Irregular Network) es conveniente convertirlas en <i>raster</i>. Esto permitir&aacute; obtener las superficies a la misma resoluci&oacute;n, y as&iacute; obtener las mismas coordenadas X,Y, en cada una de las superficies.</p>     <p>Se cargan las superficies en un programa apropiado puede ser ARC_GIS, <i>InRoads</i> u otro que permita generar perfiles sobre una SDT. En este caso se utilizan dos TIN, uno a una resoluci&oacute;n de 10K  y el referente a 5K, (ver <a href="#f1">figura 1</a>).</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>    <center><a name="f1"><img src="img/revistas/tecn/v14n27/v14n27a08f1.jpg"></a></center></p>     <p><b><i>2.1.   Perfil topogr&aacute;fico</i></b></p>     <p>El perfil topogr&aacute;fico es una representaci&oacute;n de tipo lineal que permite establecer las diferencias en altitudes que se presentan a lo largo de un alineamiento o recorrido determinado, de acuerdo con la morfolog&iacute;a del terreno.</p>     <p>Los perfiles se clasifican como longitudinales y transversales. Un perfil longitudinal es aquel en el cual se toma la misma direcci&oacute;n durante todo el recorrido, sin cambiar el rumbo. Un perfil transversal es aquel que es perpendicular al longitudinal.</p>     <p>La l&iacute;nea del plano definida por los puntos que limitan el perfil se llama directriz y la l&iacute;nea horizontal de comparaci&oacute;n sobre la que se construye el perfil se denomina base. Una de las aplicaciones m&aacute;s importantes de los perfiles o secciones verticales es en la construcci&oacute;n de obras de gran longitud y poca anchura, por ejemplo, caminos o carreteras, alcantarillados, oleoductos, etc.</p>     <p><b><i>2.2.  Trazado del perfil sobre la superficie digital del terreno</i></b></p>     <p>Los perfiles se trazan sobre la SDT teniendo en cuenta que estos deben tener la mayor longitud posible y que est&eacute;n distribuidos de manera homog&eacute;nea sobre la SDT. Los perfiles deben obtenerse con las mismas coordenadas en las dos superficies; es decir, los perfiles se deben trazar partiendo y finalizando en el mismo punto, sobre las dos superficies, como se muestra en la Figura 2.</p>     <p>    <center><a name="f2"><img src="img/revistas/tecn/v14n27/v14n27a08f2.jpg"></a></center></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="3"><b>3.   Resultados</b></font></p>     <p><b><i>3.1.  An&aacute;lisis de los perfiles</i></b></p>     <p>Se toman los perfiles obtenidos en las superficies de referencia y en la examinada. Como dichos perfiles se obtuvieron sobre el mismo alineamiento y con las mismas coordenadas de partida y de finalizaci&oacute;n, esto permite que se pueda realizar la comparaci&oacute;n directa para encontrar las discrepancias entre ellas.</p>     <p>En la <a href="#f3">Figura 3</a> se muestran los perfiles obtenidos en las SDT del alineamiento longitudinal central. Como se observa, las discrepancias son tan peque&ntilde;as que no se alcanzan a visualizar. En la <a href="#f4">Figura 4</a> se detallan las discrepancias obtenidas.</p>     <p>    <center><a name="f3"><img src="img/revistas/tecn/v14n27/v14n27a08f3.jpg"></a></center></p>     <p>    <center><a name="f4"><img src="img/revistas/tecn/v14n27/v14n27a08f4.jpg"></a></center></p>     <p>En la <a href="#f4">Figura 4</a> se  muestran las discrepancias de alturas entre la superficie examinada y la superficie referente a trav&eacute;s del alineamiento del perfil se tienen 281  puntos que se comparan. El rango de las discrepancias de los perfiles comparados, est&aacute; entre -1,5174m y 1,3363m, es decir la superficie examinada no se separa de la superficie referente valores m&aacute;s altos del rango mencionado.</p>     <p><b><i>3.2.   C&aacute;lculo de la exactitud de la superficie</i></b></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>La exactitud de la superficie se obtiene mediante procesos estad&iacute;sticos. Se inicia efectuando la diferencia matem&aacute;tica entre los valores de las alturas obtenidas de cada perfil extra&iacute;do de las superficies, tanto de la superficie de referencia como de la superficie a examinar. En la <a href="#t1">Tabla 1</a> se muestran datos parciales de un total de 205 altitudes obtenidas de un perfil, y el proceso para el c&aacute;lculo del error medio cuadr&aacute;tico existente entre las alturas de la superficie de prueba y la superficie a examinar.</p>     <p><b><i>3.3.   C&aacute;lculo de las discrepancias de las superficies en un alineamiento o perfil</i></b></p>     <p>El c&aacute;lculo del error medio cuadr&aacute;tico se efect&uacute;a utilizando la Ec.1,</p>     <p><a name="for1"><img src="img/revistas/tecn/v14n27/v14n27a08for1.jpg"></a></p>     <p>Donde: EMC, es error medio cuadr&aacute;tico, <i>&epsilon;<sub>i</sub> </i>es la discrepancia en altura entre las superficies digitales del terreno en cada punto y <b><i>n </i></b>el n&uacute;mero de puntos comparados.</p>     <p>    <center><a name="t1"><img src="img/revistas/tecn/v14n27/v14n27a08t1.jpg"></a></center></p>     <p>    <center><a name="t2"><img src="img/revistas/tecn/v14n27/v14n27a08t2.jpg"></a></center></p>     <p>La interpretaci&oacute;n de estos valores obtenidos y mostrados en la <a href="#t2">Tabla 2</a>, evidencia que el error de la superficie examinada, respecto a la superficie referente lo largo del perfil, es de 60 cent&iacute;metros.  Los puntos 203 y 205 se excluyeron del c&aacute;lculo del error medio cuadr&aacute;tico por que la discrepancia en alturas est&aacute; por encima del l&iacute;mite del error grueso, como se muestra en la <a href="#t3">Tabla 3</a>.</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>    <center><a name="t3"><img src="img/revistas/tecn/v14n27/v14n27a08t3.jpg"></a></center></p>     <p><b><i>3.4.   C&aacute;lculo de la exactitud de la superficie</i></b></p>     <p>La exactitud de la superficie examinada se obtiene una vez sea realizado el c&aacute;lculo de cada uno de los perfiles. Es decir, cuando se obtenga el error medio cuadr&aacute;tico de cada perfil. Se promediaran los errores medios cuadr&aacute;ticos obtenidos y el resultado ser&aacute; el error medio cuadr&aacute;tico resultante. Los resultados finales se muestran en la <a href="#t4">Tabla 4</a>. La discrepancia presentada por la superficie digital del terreno examinada es de 0.49 metros respecto a la superficie digital del terreno de referencia.</p>     <p>    <center><a name="t4"><img src="img/revistas/tecn/v14n27/v14n27a08t4.jpg"></a></center></p>     <p><font size="3"><b>4.   Conclusiones</b></font></p>     <p>La discrepancia presentada en las altitudes de los perfiles extra&iacute;dos de la superficie examinada y comparados con los obtenidos de la superficie referente es constante, excepto en el alineamiento 2 que es m&aacute;s baja que las dem&aacute;s. Esto demuestra que la superficie cumple con las especificaciones establecidas, las cuales son de 0.5 mm por la escala o resoluci&oacute;n de la superficie.</p>     <p>Se comprob&oacute; la eficiencia del m&eacute;todo ya que permite obtener la exactitud de una SDT, de manera sencilla y confiable, al poder examinar cientos y en algunos casos miles de puntos, de manera r&aacute;pida.</p>     <p>El procedimiento solo requiere el uso de dos programas, Are Gis y Excel; de esta manera, puede ser realizado por cualquier t&eacute;cnico o profesional con algunos conocimientos b&aacute;sicos.</p> <hr>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="3"><b>Referencias bibliogr&aacute;ficas</b></font></p>     <!-- ref --><p>&#91;1&#93; F. Ariza. &quot;Calidad en la producci&oacute;n cartogr&aacute;fica&quot;. Madrid: <i>RA-MA, </i>Vol. 34, No. 34, pp. 74-86, jul. 2002.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000074&pid=S0123-921X201000020000800001&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;2&#93; W. Navidi. Estad&iacute;stica para Ingenieros y Cient&iacute;ficos. M&eacute;xico D.F: McGraw-Hill Interamericana, 2006.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000075&pid=S0123-921X201000020000800002&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;3&#93; J. Mendieta, <i>Cartograf&iacute;a B&aacute;sica Aplicada. </i>Manizales: Universidad de Caldas-Colombia, 2005.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000076&pid=S0123-921X201000020000800003&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> ]]></body><back>
<ref-list>
<ref id="B1">
<label>1</label><nlm-citation citation-type="book">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Ariza]]></surname>
<given-names><![CDATA[F]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[Calidad en la producción cartográfica]]></source>
<year>jul.</year>
<month> 2</month>
<day>00</day>
<volume>34</volume>
<numero>34</numero>
<issue>34</issue>
<page-range>74-86</page-range><publisher-loc><![CDATA[Madrid ]]></publisher-loc>
<publisher-name><![CDATA[RA-MA]]></publisher-name>
</nlm-citation>
</ref>
<ref id="B2">
<label>2</label><nlm-citation citation-type="book">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Navidi]]></surname>
<given-names><![CDATA[W]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[Estadística para Ingenieros y Científicos]]></source>
<year>2006</year>
<publisher-loc><![CDATA[México^eD.F D.F]]></publisher-loc>
<publisher-name><![CDATA[McGraw-Hill Interamericana]]></publisher-name>
</nlm-citation>
</ref>
<ref id="B3">
<label>3</label><nlm-citation citation-type="book">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Mendieta]]></surname>
<given-names><![CDATA[J]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[Cartografía Básica Aplicada]]></source>
<year>2005</year>
<publisher-loc><![CDATA[Manizales ]]></publisher-loc>
<publisher-name><![CDATA[Universidad de Caldas]]></publisher-name>
</nlm-citation>
</ref>
</ref-list>
</back>
</article>
