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<article-title xml:lang="es"><![CDATA[NANOMETROLOGÍA: IMPACTO EN LOS SISTEMAS DE PRODUCCIÓN]]></article-title>
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<abstract abstract-type="short" xml:lang="en"><p><![CDATA[This work is the result of a review of the literature on the application of nanometrology in different industrial sectors and how this one contributes to reach the standards of quality of the products through the measurement of critical parameters in the productive processes, as well as a description of the challenges this science faces in different sectors. The progress and development of new techniques that allow the measurement of the characteristics of nanodevices, nanomaterials, and equipment are reported, ones that have allowed to promote the development of industries, a decrease of costs, and the automation of processes. Within the text, there is reference to industries in progress and the effect that the control of parameters exerts for the optimization of the process, the design of a nanodevice, the growing need for regulation in the use of nanocomposites, and the designing of reliable technical and protocols for the use of nanoparticles. The advancement in nanometrology has contributed to the development of reference materials, tools that increase the accuracy and precision of the measurements, as well as techniques for the calibration of tools and equipment suitable for measurements at nanoscale, which translates into a controlled production process that ensures the quality of the products. Finally, the state of nanometrology in Colombia is included, focusing on industrial processes such as the sector of food, textile, health, and production of nanomaterials, as well as the work developed by research groups.]]></p></abstract>
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</front><body><![CDATA[ <p align="right"><font face="verdana" size="2"><b>ART&Iacute;CULO</b></font>      <p align="right"><font face="verdana" size="2"> DOI: <a href="http://dx.doi.org/10.18359/rcin.1771"target="_blank">http://dx.doi.org/10.18359/rcin.1771</a>     <br><img src ="img/revistas/cein/v26n2/CCBY-NC-ND-2.5.jpg"></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="4"><b>NANOMETROLOG&Iacute;A: IMPACTO EN LOS SISTEMAS DE PRODUCCI&Oacute;N</b></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="3"><b>NANOMETROLOGY: IMPACT ON PRODUCTION SYSTEMS</b></font></p> <font size="2" face="verdana">    <p align="center"><b>Estefan&iacute;a Ruiz G&oacute;mez<sup>1</sup>, Luis Fernando Giraldo Jaramillo<sup>2</sup></b></p>     <p><b><sup>1</sup></b> Ing. de Producci&oacute;n, Semillero de Investigaci&oacute;n: Gesti&oacute;n Metrol&oacute;gica, Instituto Tecnol&oacute;gico Metropolitano, Medell&iacute;n, Colombia, <a href="mailto:estefaniaruiz98510@correo.itm.edu.co">estefaniaruiz98510@correo.itm.edu.co</a>    <br> <b><sup>2</sup></b> Ing. Electr&oacute;nico, M.Sc., Tutor Semillero de Investigaci&oacute;n: Gesti&oacute;n Metrol&oacute;gica, Instituto Tecnol&oacute;gico Metropolitano, Medell&iacute;n, Colombia, <a href="mailto:luisgiraldo@itm.edu.co">luisgiraldo@itm.edu.co</a></p>     <p>Referencia<b>:</b> E. Ruiz G&oacute;mez, L. F. Giraldo Jaramillo (2016). Nanometrolog&iacute;a: Impacto en los sistemas de producci&oacute;n. Ciencia e Ingenier&iacute;a Neogranadina, 26 (2), pp. 49-72, DOI: <a href="http://dx.doi.org/10.18359/rcin.1771"target="_blank">http://dx.doi.org/10.18359/rcin.1771</a>.</p> <hr>     <p><b>Fecha de recepci&oacute;n:</b> 4 de marzo de 2016    ]]></body>
<body><![CDATA[<br> <b>Fecha de revisi&oacute;n:</b> 27 de abril de 2016    <br> <b>Fecha de aprobaci&oacute;n:</b> 16 de junio de 2016</p>     <p><b>RESUMEN</b></p>     <p>El presente trabajo es el resultado de una revisi&oacute;n bibliogr&aacute;fica sobre: la aplicaci&oacute;n de la nanometrolog&iacute;a en diferentes sectores industriales y c&oacute;mo esta contribuye a alcanzar los est&aacute;ndares de calidad de los productos a trav&eacute;s de la medici&oacute;n de par&aacute;metros cr&iacute;ticos en los procesos productivos; as&iacute; como una descripci&oacute;n de los retos a los que se enfrenta esta ciencia en diferentes sectores. Se reportan los avances y el desarrollo de nuevas t&eacute;cnicas que permiten medir las caracter&iacute;sticas de los nanodispositivos, nanomateriales y equipos, lo que ha permitido potenciar el desarrollo de industrias, una disminuci&oacute;n de los costos y la automatizaci&oacute;n de los procesos. Dentro del texto se hace referencia a industrias en progreso y el efecto que tiene el control de par&aacute;metros para la optimizaci&oacute;n de los procesos, el dise&ntilde;o de nanodispositivos y la creciente necesidad de la reglamentaci&oacute;n en el uso de nanocompuestos, el dise&ntilde;o de t&eacute;cnicas confiables y de protocolos para el uso de nanopart&iacute;culas. El adelanto de la nanometrolog&iacute;a ha contribuido al desarrollo de materiales de referencia, herramientas que aumenten la exactitud y precisi&oacute;n de las medidas, as&iacute; como t&eacute;cnicas para la calibraci&oacute;n de las herramientas y equipos apropiados para las medidas a nanoescala, lo que se traduce en un proceso productivo controlado que garantiza la calidad de los productos. Finalmente, se incluye el estado de la nanometrolog&iacute;a en Colombia, enfocada en procesos industriales, como: el sector de alimentos, textil, salud y producci&oacute;n de nanomateriales, as&iacute; como el trabajo desarrollado por grupos de investigaci&oacute;n.</p>     <p><b><i>Palabras clave:</i></b> nanometrolog&iacute;a, nanotecnolog&iacute;a, nanofabricaci&oacute;n, medici&oacute;n.</p> <hr>     <p><b>ABSTRACT</b></p>     <p> This work is the result of a review of the literature on the application of nanometrology in different industrial sectors and how this one contributes to reach the standards of quality of the products through the measurement of critical parameters in the productive processes, as well as a description of the challenges this science faces in different sectors. The progress and development of new techniques that allow the measurement of the characteristics of nanodevices, nanomaterials, and equipment are reported, ones that have allowed to promote the development of industries, a decrease of costs, and the automation of processes. Within the text, there is reference to industries in progress and the effect that the control of parameters exerts for the optimization of the process, the design of a nanodevice, the growing need for regulation in the use of nanocomposites, and the designing of reliable technical and protocols for the use of nanoparticles. The advancement in nanometrology has contributed to the development of reference materials, tools that increase the accuracy and precision of the measurements, as well as techniques for the calibration of tools and equipment suitable for measurements at nanoscale, which translates into a controlled production process that ensures the quality of the products. Finally, the state of nanometrology in Colombia is included, focusing on industrial processes such as the sector of food, textile, health, and production of nanomaterials, as well as the work developed by research groups.</p>     <p><i><b>Keywords:</b></i> nanometrology, nanotechnology, nanomanufacturing, measurement.</p> <hr>     <p><b>INTRODUCCI&Oacute;N </b></p>     <p>La nanotecnolog&iacute;a ha despertado gran inter&eacute;s en diversos campos industriales, como la electr&oacute;nica, el sector de alimentos, la industria cosm&eacute;tica, la medicina, entre otros. Los desarrollos tecnol&oacute;gicos en estos campos exigen que se realicen mediciones con un enfoque hol&iacute;stico, en el cual se asegure metrol&oacute;gicamente la cadena de suministro a nanoescala, en busca de aumentar la confiabilidad de las mediciones, siendo este el punto de partida para el ajustado control sobre los procesos de transformaci&oacute;n industrial. Lo anterior en cumpliendo de exigentes est&aacute;ndares de calidad que permiten a las empresas productoras del pa&iacute;s ingresar a nuevos mercados a nivel internacional, conforme lineamientos establecidos por el Subsistema Nacional de la Calidad (SNCA) en Colombia. Por otra parte, el enfoque cient&iacute;fico de la metrolog&iacute;a permite que se mejore el sistema de medici&oacute;n utilizado en cualquier campo del saber, orientando las actividades investigativas al desarrollo de nuevas t&eacute;cnicas y procedimientos de medici&oacute;n, as&iacute; como al establecimiento de patrones de medida y materiales de referencia que permitan generar trazabilidad en la medici&oacute;n, y con esto asegurar un porcentaje espec&iacute;fico en la confiabilidad de las mediciones.</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>Teniendo en cuenta el auge de la nanotecnolog&iacute;a y su impacto econ&oacute;mico, tecnol&oacute;gico y social en el sector industrial y acad&eacute;mico, se hace necesario asegurar el resultado de mediciones realizadas a magnitudes f&iacute;sicoqu&iacute;micas influyentes en la calidad de un producto a nanoescala. Por tal motivo, se considera necesario indagar sobre el aporte de la metrolog&iacute;a desde el &aacute;mbito de la industria y la ciencia, lo cual constituye al presente documento como un art&iacute;culo de revisi&oacute;n a nivel internacional, en el cual se exponen y referencian resultados de investigaci&oacute;n que pueden ser el punto de partida para desarrollos y/o aplicaciones enfocadas a contribuir con el mejoramiento de la ciencia de la medici&oacute;n a nanoescala y los cuales relacionan el uso de equipos de medici&oacute;n, la apropiaci&oacute;n de t&eacute;cnicas y avances en el &aacute;rea de la nanometrolog&iacute;a; adem&aacute;s, informa sobre los retos a los que se ve enfrentada como ciencia de la medici&oacute;n y los vac&iacute;os que requieren de investigaci&oacute;n seg&uacute;n las actuales necesidades de la industria.</p>     <p>El art&iacute;culo comprende la siguiente estructura: inicialmente se da una aproximaci&oacute;n a la importancia de la nanometrolog&iacute;a en los sistemas productivos, as&iacute; como el alcance en la aplicaci&oacute;n de t&eacute;cnicas de medici&oacute;n, el uso de equipos de medida, patrones y materiales de referencia, elementos influyentes en la confiabilidad de las mediciones. Dentro de este apartado se describe la contribuci&oacute;n a diversos sectores industriales a trav&eacute;s del uso de herramientas y la implementaci&oacute;n de sistemas de detecci&oacute;n virtual para apoyar los procesos de medici&oacute;n. Se describe la contribuci&oacute;n de la nanometrolog&iacute;a en la electr&oacute;nica, siendo &eacute;sta la industria que reporta los principales progresos; adem&aacute;s, se exponen las herramientas en las que se apoya la nanometrolog&iacute;a para realizar procedimientos de medici&oacute;n.</p>     <p>En el segundo apartado se expone el papel de la nanometrolog&iacute;a en &aacute;reas de constante crecimiento, como la medicina y el sector de alimentos, y se detalla informaci&oacute;n sobre las t&eacute;cnicas que se emplean, las necesidades en el desarrollo de protocolos de medici&oacute;n y validaci&oacute;n de resultados. El presente documento tambi&eacute;n relaciona los est&aacute;ndares existentes a nivel internacional, para la construcci&oacute;n de nanomateriales de referencia, los cuales sirven como base para el dise&ntilde;o de procedimientos de calibraci&oacute;n o comparaciones a nanoescala. En el apartado final se describe el estado de la nanometrolog&iacute;a en Colombia, los organismos que investigan y el aporte de la academia en este campo. Por &uacute;ltimo se presentan las conclusiones y las referencias que componen esta investigaci&oacute;n.</p>     <p><b>1. MATERIALES Y M&Eacute;TODOS</b></p>     <p><b> 1.1 Metodolog&iacute;a</b></p>     <p> Se llev&oacute; a cabo una b&uacute;squeda en las bases de datos Scopus, Science Direct, EBSCO, DOAJ, IEEE y Engineering Village, con publicaciones que incluyeran las palabras: nanometrolog&iacute;a, nanotecnolog&iacute;a, nanofabricaci&oacute;n y una combinaci&oacute;n de las mismas. De los textos resultantes se seleccionaron los que tuviesen aplicaciones industriales, se incluyeron art&iacute;culos de revisi&oacute;n, investigaciones te&oacute;ricas y experimentales, conferencias y reportes de seminarios, y a partir de estos se indag&oacute; en las t&eacute;cnicas que se aplicaban para la fabricaci&oacute;n de nanodispositivos en el periodo comprendido entre 2005 y 2016. Se incluyen algunos documentos examinados en el periodo del 2000 al 2004, los cuales hacen referencia al inicio de la nanometrolog&iacute;a en el sector de nanotecnolog&iacute;a. No se abarc&oacute; toda la tem&aacute;tica relacionada con la microscop&iacute;a, pues otros autores ya han presentado investigaciones sobre este tema. Posterior a ello se complement&oacute; la b&uacute;squeda con publicaciones referentes al aseguramiento metrol&oacute;gico en procesos productivos, calibraci&oacute;n y trazabilidad de las medidas. Finalmente, se analizaron y reportaron en este documento.</p>     <p><b>2. RESULTADOS Y DISCUSI&Oacute;N</b></p>     <p><b> 2.1 Importancia de la nanometrolog&iacute;a en los sistemas productivos</b></p>     <p> La nanometrolog&iacute;a como ciencia es aplicada a m&uacute;ltiples disciplinas a menor escala, algunas de estas son: la &oacute;ptica, la electr&oacute;nica, la salud, la biolog&iacute;a, las ingenier&iacute;as, la qu&iacute;mica, etc. &#91;1&#93;. Lo anterior permite evidenciar un amplio panorama sobre el cual se pueden desarrollar actividades a nivel investigativo y de desarrollo tecnol&oacute;gico, como respuesta a las necesidades tanto del sector productivo como de la sociedad. La ciencia de la medici&oacute;n a nanoescala (nanometrolog&iacute;a) apoya investigaciones desarrolladas por la industria y la academia, e integra t&eacute;cnicas, m&eacute;todos, materiales de referencia, equipos de medici&oacute;n, entre otros. La sinergia entre los anteriores elementos que conforman el sistema de medida a nanoescala, busca aumentar la confiabilidad en los resultados que caracterizan magnitudes f&iacute;sico-qu&iacute;micas (<a href="img/revistas/cein/v26n2/v26n2a04f01.jpg" target="_blank">Figura 1</a>); as&iacute;, pues, el potencial de esta ciencia se refleja en el desarrollo de nanomateriales, el avance en herramientas para la medici&oacute;n y calibraci&oacute;n de productos a nanoescala, la elaboraci&oacute;n de est&aacute;ndares de referencia &#91;2&#93; y el uso de patrones para soportar la trazabilidad en las mediciones &#91;3&#93;.</p>     <p> Logothetidis menciona que la fabricaci&oacute;n de productos y dispositivos a nanoescala depende de la capacidad de medir con precisi&oacute;n y exactitud las propiedades de los mismos &#91;4&#93;. Por otro lado, Ukraintsev y Banke hacen referencia a la calidad de los productos y a la estrecha relaci&oacute;n entre las mediciones cr&iacute;ticas a nanoescala y la precisi&oacute;n de las herramientas de medici&oacute;n con las cuales se realizan dichas mediciones &#91;5&#93;. Seg&uacute;n los criterios expuestos, la nanometrolog&iacute;a es la base para el desarrollo de la nanotecnolog&iacute;a en los procesos industriales, lo cual implica la necesidad de evolucionar de forma paralela &#91;4&#93;.</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>Siendo uno de los conceptos m&aacute;s desarrollados en la evoluci&oacute;n de la calidad, la metrolog&iacute;a ha sido el elemento determinante entre calidad de los productos y la mejora de las operaciones dentro de los procesos de transformaci&oacute;n. Lo anterior relaciona que el principal concepto a optimizar son los sistemas de medici&oacute;n, en busca de mejorar las cadenas productivas a nanoescala. Estas mejoras hacen referencia al aumento de velocidad en las operaciones dentro de los procesos, aumento en los niveles de precisi&oacute;n y exactitud en la informaci&oacute;n que entregan los equipos de medici&oacute;n, disminuyendo la incertidumbre y generando confiabilidad de los datos num&eacute;ricos que relacionan una caracter&iacute;stica de producto &#91;6&#93;.</p>     <p>Actualmente la nanometrolog&iacute;a es concebida como una herramienta de apoyo para satisfacer necesidades en el campo de la electr&oacute;nica, en especial en la construcci&oacute;n de microprocesadores, en los cuales se deben controlar magnitudes, como la longitud y espesor. Este tipo de avances en la electr&oacute;nica permite mejorar caracter&iacute;sticas en equipos y t&eacute;cnicas de medici&oacute;n, como: exploraci&oacute;n por sonda (STM, SPM, AFM, KPM, LFM, CMM), haz de iones (AES, IBA, SIMS), haz electr&oacute;nico (TEM, HRTEM, SEM, EELS, AES), m&eacute;todos &oacute;pticos (NSOM, Raman, DLS), rayos X (XPS, SRD, XPS, EDX), t&eacute;cnicas electromagn&eacute;ticas (SET, ELM, MFM, SCM, SKPM, C-AFM), entre otros; adem&aacute;s de ser &uacute;til para: mejorar el poder de resoluci&oacute;n de los microscopios, caracterizar nanomateriales, determinar de forma cuantitativa propiedades mec&aacute;nicas en algunos materiales, en la deformaci&oacute;n pl&aacute;stica de los s&oacute;lidos, la interacci&oacute;n entre superficies, entre otras &#91;3-4, 7-10&#93;.</p>     <p>El desarrollo en este campo resulta importante, porque permite sostener la actividad econ&oacute;mica en diferentes sectores, ya que asegura que los resultados son comparables, lo cual posibilita la comercializaci&oacute;n de productos, adem&aacute;s le permite a las entidades gubernamentales la regulaci&oacute;n y normalizaci&oacute;n de los bienes y servicios. Por otro lado, la investigaci&oacute;n en este campo proporciona un respaldo a los referentes normativos y legales de cada pa&iacute;s, lo que genera avance permanente al comparar dichos est&aacute;ndares frente a organismos internacionales (<a href="img/revistas/cein/v26n2/v26n2a04f02.jpg" target="_blank">Figura 2</a>) &#91;10&#93;.</p>     <p>Entre los retos que enfrenta la nanometrolog&iacute;a se encuentran: el desarrollo de pruebas para la fabricaci&oacute;n de materiales de referencia, dise&ntilde;o de m&eacute;todos de calibraci&oacute;n para medidores a nanoescala, determinaci&oacute;n de t&eacute;cnicas de medici&oacute;n reproducibles para cada propiedad del producto o material, seg&uacute;n se menciona en el reporte del segundo seminario internacional en metrolog&iacute;a llevado a cabo en 2008 &#91;7&#93;.</p>     <p>Barsic <i>et al.</i> mencionan que los est&aacute;ndares de referencia en este campo est&aacute;n destinados a instrumentos individuales, los cuales no pueden extrapolarse a otro tipo de instrumentos; adem&aacute;s, estos investigadores reiteran la necesidad de investigar sobre la mejora de est&aacute;ndares internacionales, as&iacute; como la generaci&oacute;n de garant&iacute;as sobre la trazabilidad en la unidad de medida a nivel internacional &#91;11&#93;. Varios autores reportan la ausencia de normalizaci&oacute;n en cuanto a las pr&aacute;cticas ambientales, el descarte y degradaci&oacute;n de nanomateriales empleados en el &aacute;rea de la salud y la importancia de definir los patrones de referencia &#91;12-13&#93;.</p>     <p><b>2.2 Aporte a los sectores industriales</b></p>     <p> La ciencia y la tecnolog&iacute;a avanzan en la fabricaci&oacute;n de nanodispositivos que pueden ser empleados en una gran variedad de industrias; para la fabricaci&oacute;n de estos son requeridas m&aacute;quinas y componentes de tama&ntilde;o preciso &#91;14&#93;, lo que permite la fabricaci&oacute;n de nanomateriales, los cuales deben ser medidos, caracterizados y sometidos a diversos procesos de transformaci&oacute;n. Un factor com&uacute;n es la disminuci&oacute;n en el tama&ntilde;o de los componentes de la instrumentaci&oacute;n y la maquinaria necesaria para transformar, causando como efecto "la disminuci&oacute;n del consumo energ&eacute;tico y la generaci&oacute;n de impactos ambientales positivos" &#91;15&#93;.</p>     <p>Hoy d&iacute;a, la ingenier&iacute;a de los materiales requiere de una caracterizaci&oacute;n metrol&oacute;gica exacta, a trav&eacute;s de la cual se permitan identificar propiedades como: tipolog&iacute;a de superficies, desgaste de material (abrasivo, adhesivo, por fricci&oacute;n, por fatiga o por una combinaci&oacute;n de los desgastes mencionados) &#91;16&#93;. Por otro lado, para apoyar la nanometrolog&iacute;a se han desarrollado herramientas que permiten medir la distribuci&oacute;n de los tama&ntilde;os de los materiales, el monitoreo de las piezas durante el proceso de fabricaci&oacute;n y las dimensiones geom&eacute;tricas de los elementos a trabajar, a trav&eacute;s de instrumentos como: el l&aacute;ser, sistemas &oacute;pticos, espectrometr&iacute;a y microscop&iacute;a, siendo esta instrumentaci&oacute;n el punto de partida y el referente para garantizar la calidad de los productos y control durante el proceso de elaboraci&oacute;n de los nanomateriales y nanodispositivos, asegurando que los elementos siguen un mismo patr&oacute;n y se fabrican siguiendo las tolerancias establecidas &#91;15&#93;, as&iacute; como el correcto funcionamiento en el producto final &#91;17&#93;. De manera que la integraci&oacute;n de estas herramientas contribuye a aumentar los niveles de precisi&oacute;n en la fabricaci&oacute;n en l&iacute;nea y a una reducci&oacute;n de la incertidumbre, as&iacute; como una disminuci&oacute;n en el tiempo del proceso y aumentar la eficiencia de la fabricaci&oacute;n de nanodispositivos, al identificar errores en los productos antes de ser llevados al mercado &#91;18&#93;.</p>     <p><i>2.2.1 Industrias potenciales</i></p>     <p> Uno de los sectores productivos donde se evidencia la contribuci&oacute;n de la nanometrolog&iacute;a es en la manufactura de semiconductores, los cuales son empleados en los circuitos integrados (CI), sensores microelectromec&aacute;nicos (MEMS), nanochips, telecomunicaciones, electr&oacute;nica automotriz, plantas de energ&iacute;a solar, productos para la iluminaci&oacute;n, entre otros, observando en su cadena productiva la implementaci&oacute;n de actividades de aseguramiento metrol&oacute;gico &#91;19&#93;. En este campo de la electr&oacute;nica a nanoescala, la nanometrolog&iacute;a se enfrenta a grandes retos, como:</p> <ul>    ]]></body>
<body><![CDATA[<li>Impacto de las magnitudes f&iacute;sicas sobre las mediciones electr&oacute;nicas.</li>      <li>Identificaci&oacute;n de patrones que permiten orientar el rendimiento de los chips.</li> 	    <li>Mejora en la confiabilidad de mediciones realizadas a trav&eacute;s de instrumentos virtuales.</li>    </ul>     <p>La fabricaci&oacute;n de productos a nanoescala debe cumplir con requisitos como: asegurar la cantidad de componentes establecidos para el producto y su confiabilidad a trav&eacute;s de procesos de producci&oacute;n repetibles y reproducibles. Lo anterior se logra a trav&eacute;s de la implementaci&oacute;n de est&aacute;ndares tanto para el sistema de medici&oacute;n como para el control del proceso productivo, lo que permite que se satisfagan los requisitos establecidos por las partes interesadas. Por tanto, la instrumentaci&oacute;n, la ciencia de medici&oacute;n y las normas t&eacute;cnicas conforman la estructura para la nanofabricaci&oacute;n.</p>     <p>Entre las aplicaciones que tiene la metrolog&iacute;a a nanoescala, se encuentra que es empleada para medir el espesor y la adhesi&oacute;n de una pel&iacute;cula de material, el tama&ntilde;o del poro, las propiedades el&aacute;sticas y medici&oacute;n de los coeficientes de expansi&oacute;n t&eacute;rmica para los nuevos materiales con los que se fabrican los nanochips. Las mediciones de estas propiedades son realizadas por herramientas como el microscopio electr&oacute;nico de barrido (SEM), el microscopio de fuerza at&oacute;mica (AFM), el microscopio de efecto t&uacute;nel (STM) y el microscopio electr&oacute;nico de transmisi&oacute;n (TEM), que permite conocer el funcionamiento y las propiedades a gran escala de los materiales con los que son fabricados estos dispositivos &#91;20&#93;. Adicional a las t&eacute;cnicas de microscop&iacute;a, tambi&eacute;n se emplea la nanometrolog&iacute;a dimensional, que permite inspeccionar la geometr&iacute;a y el tama&ntilde;o de las estructuras, lo mismo que la automatizaci&oacute;n del proceso de inspecci&oacute;n, la cual es apoyada por los sistemas asistidos por computador (CAD) y la calidad asistida por computador (CAQ), as&iacute; como tambi&eacute;n por los sensores de alta precisi&oacute;n &#91;21&#93;. Por otro lado, la metrolog&iacute;a qu&iacute;mica tiene un gran impacto en este campo, ya que permite conocer de manera precisa la cantidad de sustancias y propiedades de los nanomateriales para la producci&oacute;n de pantallas electr&oacute;nicas (pantallas de cristal l&iacute;quido y pantallas plasma), el an&aacute;lisis qu&iacute;mico de un semiconductor y la cantidad precisa de gas en nano litros dentro de un MEMS, haciendo posible la difusi&oacute;n de materiales de referencia certificados, que cumplan con los est&aacute;ndares ambientales &#91;22&#93;. Carreteiro y colaboradores reportan la espectroscopia como una t&eacute;cnica que da apoyo a la nanometrolog&iacute;a qu&iacute;mica para: "determinar cuantitativamente la concentraci&oacute;n de sustancias qu&iacute;micas presentes en las superficies de los materiales" &#91;12&#93;. Pimpin y Srituravanich reportan el uso de dispositivos nano para la medici&oacute;n de "especies gaseosas en el ambiente" a trav&eacute;s de sensores &#91;23&#93;.</p>     <p>La medici&oacute;n de la calidad en la fabricaci&oacute;n de cada oblea en los semiconductores puede ahorrar una gran cantidad de recursos, aumentar la calidad del producto, reducir el costo de producci&oacute;n y disminuir el tiempo de ciclo; por lo que el ajuste de las herramientas para controlar las dimensiones cr&iacute;ticas es fundamental para garantizar el rendimiento del producto final &#91;24&#93;. Al integrar este tipo de tecnolog&iacute;a en las cadenas productivas se busca detectar art&iacute;culos por fuera de las especificaciones, que permitan identificar de forma r&aacute;pida y correcta las causas de los fallos y ayuden a reducir productos inconformes y la repetici&oacute;n del trabajo, manteniendo el proceso en movimiento, lo que equivale a una reducci&oacute;n en costos y un aumento en el rendimiento de la l&iacute;nea productiva &#91;18&#93;.</p>     <p><b>2.3 Herramientas para el aseguramiento metrol&oacute;gico</b></p>     <p> Entre las herramientas utilizadas para evaluar las especificaciones de calidad se encuentra la elipsometr&iacute;a (metrolog&iacute;a &oacute;ptica), la cual utiliza luz polarizada para caracterizar el espesor de pel&iacute;culas delgadas y sus propiedades, adem&aacute;s monitorea dimensiones cr&iacute;ticas, as&iacute; como medidas precisas de la difracci&oacute;n de la nanoestructura, lo cual permite construir un perfil del objeto medido y caracterizar nanomateriales a trav&eacute;s de la electr&oacute;nica moderna &#91;23-24&#93;.</p>     <p>Un nuevo concepto surge con el objeto de mejorar la precisi&oacute;n y velocidad en la producci&oacute;n de semiconductores, su nombre es metrolog&iacute;a virtual. Esta es una t&eacute;cnica de medici&oacute;n en la cual se utilizan datos hist&oacute;ricos a manera de identificar patrones de medida, los cuales de forma repetitiva describen el sistema a controlar seg&uacute;n tendencias y correlaciones, as&iacute; como informaci&oacute;n de la maquinaria, para ajustar la posici&oacute;n de las herramientas de fabricaci&oacute;n con el fin de identificar posibles fallos y realizar mantenimiento preventivo. Con base en esto es posible observar que la metrolog&iacute;a virtual contribuye a la generaci&oacute;n de patrones o referentes de medici&oacute;n, los cuales proporcionan, en tiempo real, la informaci&oacute;n necesaria para que los ingenieros ajusten y controlen sus procesos &#91;19-26&#93;. Esta t&eacute;cnica pretende solucionar la falencia de la metrolog&iacute;a en este campo, ya que actualmente los procesos metrol&oacute;gicos aplicados en esta industria aumentan el ciclo del proceso y no le aportan ning&uacute;n valor agregado a la oblea, adem&aacute;s pretende garantizar la calidad de cada oblea dado que en el momento solo se garantiza la calidad de una muestra por lote &#91;24&#93;.</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>Varios autores coinciden en que las t&eacute;cnicas de medici&oacute;n &oacute;pticas presentan un menor costo y un aumento en la calidad del producto frente a las t&eacute;cnicas de microscop&iacute;a, las cuales son costosas, consumen mucho tiempo y no permiten la automatizaci&oacute;n del proceso &#91;25-27&#93;. Otras de las ventajas de las t&eacute;cnicas mencionadas consisten en la optimizaci&oacute;n de los recursos del proceso, lo que permite desplegar acciones de mantenimiento predictivo basado en mediciones en tiempo real, y con esto detectar variaciones en un proceso particular de manera oportuna &#91;19&#93;.</p>     <p>La ciencia de la medici&oacute;n a nanoescala es un factor activo en procesos de litograf&iacute;a, la cual es una t&eacute;cnica empleada para grabar caracter&iacute;sticas sobre la superficie de nano piezas como semiconductores, tambi&eacute;n es utilizada para la fabricaci&oacute;n de estructuras que permiten el funcionamiento de los CI, MEMS y chips &#91;28-31&#93;. Malshe y colaboradores reportan el uso de esta herramienta para moldear materiales blandos, sin necesidad de reprocesar el material &#91;30&#93;. Pimpin y Srituravanich describen la aplicaci&oacute;n de esta herramienta en los campos de la electr&oacute;nica, la medicina, la biotecnolog&iacute;a, la &oacute;ptica, la fot&oacute;nica, en aceler&oacute;metros integrados en autom&oacute;viles, dispositivos de microespejos digitales empleados en los televisores y proyectores, sensores de presi&oacute;n (usados para medir la presi&oacute;n de los vasos sangu&iacute;neos y de los neum&aacute;ticos), en la fabricaci&oacute;n de nanoprototipos, entre otros. Se entiende que cada uno de los anteriores son sistemas nanoproductivos que requieren mediciones, como el ancho de banda y el di&aacute;metro de punto particular, siendo los par&aacute;metros que se ven afectados por las condiciones ambientales &#91;23&#93;. Con base en lo anterior se hace posible establecer como patr&oacute;n al comportamiento de un material frente a la variaci&oacute;n de condiciones espec&iacute;ficas, de esta manera se generan materiales de referencia para realizar comparaciones de los productos fabricados y controlar las variables cr&iacute;ticas de los procesos en busca de estandarizarlos.</p>     <p>	Un avance significativo es la aplicaci&oacute;n de t&eacute;cnicas para medir las propiedades mec&aacute;nicas a escala nanom&eacute;trica, como la nanoindentaci&oacute;n, la cual es implementada en ciencias biol&oacute;gicas, de los materiales, entre otras &#91;32&#93; . Esta t&eacute;cnica tiene una alta "reproducibilidad, que permite el an&aacute;lisis de muestras peque&ntilde;as, delgadas y heterog&eacute;neas" y de la superficie de las mismas &#91;33&#93;; Xia y colaboradores hacen referencia a la utilidad de este ensayo para la medici&oacute;n de las propiedades mec&aacute;nicas en menor escala, como: la dureza y rugosidad de superficie del material, siendo esta &uacute;ltima una propiedad que afecta directamente la dureza, dado que las mediciones depender&aacute;n del primer punto de contacto entre las superficies, por lo que se requieren herramientas que proporcionen la mayor exactitud posible &#91;34&#93;. Lucca et al. reportan el uso de esta prueba para medir las "propiedades de tracci&oacute;n de peque&ntilde;as part&iacute;culas, recubrimientos o superficies que han sido tratadas qu&iacute;mica, f&iacute;sica o t&eacute;rmicamente" &#91;33&#93;. Li y su equipo de trabajo reportan un sistema de medici&oacute;n de profundidad y de calibraci&oacute;n para las herramientas empleadas en este campo, a trav&eacute;s de est&aacute;ndares de interfer&oacute;metros &oacute;pticos, paso de altura y una t&eacute;cnica de modulaci&oacute;n de fuerza para mejorar la precisi&oacute;n, calibrar y reducir la incertidumbre &#91;35&#93;. Lo cual posibilita la trazabilidad de las medidas y la reducci&oacute;n de las incertidumbres, ya que se corrigen, mitigan y controlan los errores asociados a las medidas, de manera que la m&aacute;quina herramienta realice un mecanizado dentro de los par&aacute;metros establecidos &#91;18&#93;.</p>     <p><b>2.4 &Aacute;reas en desarrollo</b></p>     <p> Otro campo donde la nanometrolog&iacute;a ha logrado despertar un gran inter&eacute;s es en la fabricaci&oacute;n de nanotubos, los cuales han sido empleados en la biolog&iacute;a para penetrar las paredes de la c&eacute;lula, en aplicaciones m&eacute;dicas, en los marcos de las aeronaves, sensores ambientales, transmisores el&eacute;ctricos &#91;36- 37&#93;, la electr&oacute;nica y la &oacute;ptica, ya que se ha comprobado la fuerza de estos materiales as&iacute; como las propiedades el&eacute;ctricas y la eficiencia como conductores de calor &#91;14&#93;. Garner y Vogel mencionan que estos nanotubos de carbono son elementos considerados para el uso de nanodispositivos, pero que existen par&aacute;metros para reforzar en este campo, como: la definici&oacute;n de las propiedades electr&oacute;nicas (di&aacute;metro, estructura y composici&oacute;n), la distribuci&oacute;n en los componentes donde han de ser ensamblados y el ajuste de estos dispositivos con los dem&aacute;s elementos que componen el mecanismo para que estos puedan ser fabricados en l&iacute;nea. En su art&iacute;culo mencionan que cuando los nanotubos son fabricados en grandes lotes, se requieren t&eacute;cnicas como la espectroscopia &oacute;ptica o de emisi&oacute;n para identificar las propiedades de cada elemento, pero estas t&eacute;cnicas no abarcan todas las medidas cr&iacute;ticas; se requieren instrumentos que permitan definir el contorno de estos nanodispositivos, lo que actualmente se logra con la aplicaci&oacute;n de varias t&eacute;cnicas de microscop&iacute;a como: TEM, AFM y STM &#91;8&#93;. Las cuales medir&aacute;n las caracter&iacute;sticas de calidad para dar paso a la siguiente etapa de producci&oacute;n de estos nanomateriales.</p>     <p>Qiu y sus colaboradores evaluaron la aplicaci&oacute;n de nanotubos como sensores para mejorar la t&eacute;cnica de espectroscop&iacute;a de Raman debido a sus propiedades mec&aacute;nicas y espectrales &#91;36&#93;. Otros investigadores est&aacute;n estudiando los nanotubos para la fabricaci&oacute;n de bombillas de luz, ya que presentan una alta eficiencia energ&eacute;tica &#91;38&#93;. Dai et al. divulgan la normalizaci&oacute;n que han empleado para la fabricaci&oacute;n de pel&iacute;culas de nanotubos de carbono alineados verticalmente en un reactor, as&iacute; como el control de los par&aacute;metros para la producci&oacute;n en grandes lotes de estos nanomateriales; en su investigaci&oacute;n se apoyan en TEM y SEM, para el c&aacute;lculo de la longitud, el di&aacute;metro y el contenido de carbono amorfo para el dise&ntilde;o de los nanotubos de carbono, aseguran que el prop&oacute;sito de su investigaci&oacute;n es estandarizar y optimizar el proceso de manufacturaci&oacute;n, "lo cual se logra comparando la calidad de las pel&iacute;culas (..), evaluando cuatro caracter&iacute;sticas diferentes: morfolog&iacute;a, pureza, grosor y la uniformidad". Los autores resaltan que las t&eacute;cnicas de microscop&iacute;a son destructivas, por lo cual usan las espectroscop&iacute;a de Raman para medir la uniformidad de las celdas y su grado de pureza, junto con el an&aacute;lisis termogravim&eacute;trico (TGA) y para cuantificar el espesor de pel&iacute;cula emplean la perfilometr&iacute;a; en su investigaci&oacute;n afirman que las t&eacute;cnicas de microscop&iacute;a no son tan r&aacute;pidas y flexibles como estas &uacute;ltimas. Por otro lado, desarrollan la metrolog&iacute;a qu&iacute;mica para la fabricaci&oacute;n de un catalizador para la producci&oacute;n de pel&iacute;culas de nanotubos, donde hacen alusi&oacute;n a la importancia de "la metrolog&iacute;a cuantitativa para la optimizaci&oacute;n del proceso" &#91;37&#93;. Venkata y colaboradores reportan el uso de nanotubos como sensores de fluorescencia para la detecci&oacute;n de pat&oacute;genos en el tratamiento de aguas, dada sus excelentes propiedades de adsorci&oacute;n &#91;39&#93;. Li y su equipo de trabajo reportan la fabricaci&oacute;n de nanotubos a trav&eacute;s de la ablaci&oacute;n con l&aacute;ser, donde el di&aacute;metro es controlado por el tama&ntilde;o de part&iacute;cula, y la longitud de la fibra es controlada por el tiempo de deposici&oacute;n del vapor de carbono &#91;40&#93;, lo que evidencian la gran aplicaci&oacute;n de estos nanomateriales en diversas industrias.</p>     <p>	Existen otras &aacute;reas de la nanometrolog&iacute;a que abarcan el campo de la salud, como la odontolog&iacute;a, en la cual se desarrollan implantes dentales en la escala nanom&eacute;trica, lo que contribuye a la comodidad de los pacientes y a un mayor ajuste de los implantes dentales; para esto se han desarrollado t&eacute;cnicas que permiten evaluar las superficies dentales y realizar las mediciones correspondientes por medio de microscopios digitales 3D, sensores &oacute;pticos, sistemas de escaneo, sistemas CAD y CAM, de manera que se obtienen im&aacute;genes de alta precisi&oacute;n, as&iacute; como una evaluaci&oacute;n de las superficies de los dientes lo que permite determinar la compatibilidad del implante dental &#91;41&#93;. Coelho y colegas mencionan que estos procesos de osteointegraci&oacute;n a escala nanom&eacute;trica desempe&ntilde;an un papel fundamental en el desarrollo del dise&ntilde;o, ya que es posible identificar las "respuestas biol&oacute;gicas como: el crecimiento, la interacci&oacute;n entre c&eacute;lulas y la presencia de prote&iacute;nas, (...) as&iacute; como para medir las condiciones de consolidaci&oacute;n &oacute;sea" para conocer la superficie y la rugosidad id&oacute;nea donde ser&aacute; instalado el implante. Esto sugiere que la nanometrolog&iacute;a desempe&ntilde;a un papel fundamental, tanto para la determinaci&oacute;n de las caracter&iacute;sticas topogr&aacute;ficas como las propiedades f&iacute;sico-qu&iacute;micas de los huesos en la determinaci&oacute;n del dise&ntilde;o del implante y en el proceso de osteointegraci&oacute;n, siendo todas estas caracter&iacute;sticas importantes para considerar al fabricar los implantes, de manera que se consuma menos tiempo, material y que el proceso sea m&aacute;s eficiente &#91;42&#93;.</p>     <p>En el marco de la medicina se propone el uso de nanopart&iacute;culas como puntos cu&aacute;nticos, dada su capacidad de emisi&oacute;n de luz, lo cual puede aprovecharse para la producci&oacute;n de im&aacute;genes, posibilitar la ubicaci&oacute;n de tumores y una mayor precisi&oacute;n en la extirpaci&oacute;n, as&iacute; como tambi&eacute;n la uni&oacute;n de nanopart&iacute;culas a los tumores; para esto la nanomedicina emplea nanosensores para detectar la presencia de sustancias qu&iacute;micas, detecci&oacute;n de sustancias resultantes de una enfermedad, reconocimiento de partes del cuerpo afectadas debido a los cambios de volumen, presi&oacute;n, concentraci&oacute;n, temperatura, entre otras propiedades. Estas nanopart&iacute;culas han de ser fabricadas en un proceso controlado, estandarizado y debe reportar medidas bajo niveles aceptables para el uso de estos nanocompuestos en el organismo. Actualmente se reporta un faltante en la reglamentaci&oacute;n del impacto en el medio ambiente y la toxicidad de los nanocompuestos que son empleados para diversas actividades m&eacute;dicas, como la detecci&oacute;n de enfermedades, administraci&oacute;n de f&aacute;rmacos, agentes de contraste &#91;43&#93;, aunque la literatura reporta estudios sobre la toxicidad de diversas nanopart&iacute;culas no se establecen protocolos para el uso de estos compuestos, por lo que se busca con ayuda de la nanometrolog&iacute;a monitorear par&aacute;metros como el tama&ntilde;o, composici&oacute;n qu&iacute;mica y la determinaci&oacute;n cuantitativa de los niveles permitidos para su uso en este campo &#91;44&#93;. Sin embargo, otras investigaciones aportan luz con diversas t&eacute;cnicas que requieren validaci&oacute;n sobre el comportamiento de las nanopart&iacute;culas, como el llevado a cabo por Sousa y su equipo de trabajo, donde proponen un protocolo apoyado en TEM y SEM para el reconocimiento de la interacci&oacute;n entre nanopart&iacute;culas y los microorganismos &#91;45&#93;.</p>     <p>Wohlleben reporta la validaci&oacute;n de la t&eacute;cnica de ultraprecisi&oacute;n anal&iacute;tica para determinar la capacidad de dispersi&oacute;n y distribuci&oacute;n del tama&ntilde;o de nanopart&iacute;culas &#91;46&#93;. Braun <i>et al.</i> reportan la certificaci&oacute;n de un material de referencia para garantizar la calidad y validez de los experimentos desarrollados a trav&eacute;s de diferentes t&eacute;cnicas (<a href="img/revistas/cein/v26n2/v26n2a04t01.jpg" target="_blank">Tabla 1</a>); a su vez, los autores describen el uso de materiales de referencia no certificados que se emplean en las diferentes industrias para desarrollo de m&eacute;todos y calibraci&oacute;n, materiales de referencia aplicados en la industria y materiales de referencia para la validaci&oacute;n parcial del m&eacute;todo y control de la calidad &#91;47&#93;. Se reportan diferentes t&eacute;cnicas para la caracterizaci&oacute;n de nanopart&iacute;culas en soluci&oacute;n por varios autores, quienes buscan determinar la toxicidad en tejidos celulares, obteniendo que la aglomeraci&oacute;n de las nanopart&iacute;culas disminuye debido a una interacci&oacute;n con las prote&iacute;nas presenten en el cultivo celular, concluyendo que la toxicidad de la nanopart&iacute;culas se debe a la composici&oacute;n qu&iacute;mica y a la reactividad del &aacute;rea superficial, as&iacute; mismo reportan datos de toxicidad para diferentes nanopart&iacute;culas y en distintas concentraciones &#91;48-49&#93;. La determinaci&oacute;n de t&eacute;cnicas confiables permitir&aacute; el intercambio internacional de bienes y el desarrollo de procesos precisos basados en par&aacute;metros de trazabilidad de las medidas cr&iacute;ticas del art&iacute;culo a manufacturar, ya que al tener certificaciones bajo diferentes normas de calidad se reducen costos, se compara, se eval&uacute;a y se mejoran los procesos; siendo estas mediciones la base metrol&oacute;gica para el desarrollo de nuevas nanopart&iacute;culas y aplicaciones, ya que de esta manera se reducen las incertidumbres asociadas a la caracterizaci&oacute;n de estos nanocompuestos &#91;48&#93;.</p>     <p>Mihindukulasuriya y Lim reportan el uso de la nanotecnolog&iacute;a en el sector industrial, especialmente en el embalaje de los alimentos y su conservaci&oacute;n, sector donde la metrolog&iacute;a tiene una gran aplicaci&oacute;n dada la necesidad de realizar mediciones sobre los pol&iacute;meros presentes en los empaques, de manera que no vayan a afectar la composici&oacute;n de los alimentos, garantizar la ausencia de agentes pat&oacute;genos, los niveles de ox&iacute;geno, humedad, frescura, entre otras propiedades &#91;50&#93;. En este sector es de suma importancia llevar un control de los nanomateriales que son empleados, como aditivos, aromatizantes o alimentos nuevos, as&iacute; como una evaluaci&oacute;n de sus propiedades f&iacute;sico-qu&iacute;micas para garantizar que cumplen con los est&aacute;ndares de calidad. Handford y colaboradores hacen referencia al uso de trituraci&oacute;n o molienda y la homogeneizaci&oacute;n para la obtenci&oacute;n de nanomateriales, donde la nanometrolog&iacute;a garantizara el tama&ntilde;o de part&iacute;cula del nanomaterial a trav&eacute;s de los instrumentos de medici&oacute;n, adem&aacute;s describen el uso de nanosensores para el control de la calidad y el deterioro de los alimentos &#91;51&#93;. Dentro de las t&eacute;cnicas que tienen mayor aplicaci&oacute;n en este campo se encuentran la microscop&iacute;a y la espectroscopia para la determinaci&oacute;n del tama&ntilde;o de part&iacute;cula y la composici&oacute;n qu&iacute;mica. Rossi y colaboradores mencionan que se recomienda la determinaci&oacute;n del tama&ntilde;o de part&iacute;cula al menos por dos t&eacute;cnicas diferentes &#91;52&#93;. Dudkiewicz y su equipo de trabajo reportan t&eacute;cnicas, como SEM y TEM, para la caracterizaci&oacute;n de las nanopart&iacute;culas (<a href="#fig3">Figura 3</a>); en este estudio resaltan que en la industria de alimentos no se han desarrollado investigaciones para caracterizar las nanopart&iacute;culas por lo cual se toman ejemplos de la nanomedicina y la nanotoxicolog&iacute;a &#91;53&#93;.</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><a name= "fig3"><img src="img/revistas/cein/v26n2/v26n2a04f03.jpg"></a></p>     <p>Linsinger y colaboradores mencionan que para que una medici&oacute;n pueda tener confiabilidad, debe ser posible definir la cantidad y la identidad (tama&ntilde;o y composici&oacute;n qu&iacute;mica) de la nanopart&iacute;cula presente en el alimento, reportan que la confiabilidad del resultado depende del n&uacute;mero de part&iacute;culas analizadas. Por otra parte, indican que la determinaci&oacute;n de materiales de referencia para combinaciones de alimentos no es viable &#91;54&#93;. En otra investigaci&oacute;n, llevada a cabo por Dudkiewicz et al., se propone el uso de nanopart&iacute;culas de plata y s&iacute;lice amorfa sint&eacute;tica como material de referencia para la medici&oacute;n de nanopart&iacute;culas presentes en alimentos, as&iacute; como un modelo para el c&aacute;lculo de la incertidumbre y la precisi&oacute;n en la determinaci&oacute;n del tama&ntilde;o de part&iacute;cula a trav&eacute;s de TEM y SEM &#91;55&#93;. Grombe y su equipo de trabajo reportan una investigaci&oacute;n sobre la producci&oacute;n de materiales de referencia para la determinaci&oacute;n del tama&ntilde;o de nanopart&iacute;culas en sopa de tomate, los elementos que integran este proceso se describen en la <a href="img/revistas/cein/v26n2/v26n2a04f04.jpg" target="_blank">Figura 4</a> &#91;56&#93;.</p>     <p><b>2.5 Nanometrolog&iacute;a en Colombia</b></p>     <p> Finalmente, se identifica que la nanometrolog&iacute;a en Colombia es un campo que requiere de gran investigaci&oacute;n y avances, si bien se reporta por Henao como un requisito previo para el aseguramiento de la calidad, en su investigaci&oacute;n sobre nanociencia y nanotecnolog&iacute;a solo hace alusi&oacute;n al tema en un p&aacute;rrafo corto &#91;57&#93;. Por lo que se espera que Colombia, con los grupos de investigaci&oacute;n asociados al Centro de Excelencia de Nuevos Materiales (CENM), creado por el Gobierno Nacional y Colciencias, generen luz sobre este tema, sobre c&oacute;mo es aplicado en los laboratorios acad&eacute;micos &#91;58&#93;.</p>     <p>Si bien hay reportes que indican que Colombia invierte en investigaci&oacute;n en nanotecnolog&iacute;a, y los avances en este campo abordan tem&aacute;ticas como la nanofabricaci&oacute;n, no se describe ning&uacute;n protocolo o gu&iacute;a metrol&oacute;gica que respalde los experimentos desarrollados &#91;59&#93;. En Colciencias se encuentran registrados 4 grupos que trabajan en nanotecnolog&iacute;a, en &aacute;reas como: Materiales nanoestructurados y biomodelaci&oacute;n (MATBIOM) de la Universidad de Medell&iacute;n, el cual cuenta con 5 l&iacute;neas de investigaci&oacute;n; el grupo de nanociencia y nanotecnolog&iacute;a de la Universidad Javeriana, con 2 l&iacute;neas de investigaci&oacute;n, dentro del cual han desarrollado un estudio del uso de nanopart&iacute;culas como alternativa para el suministro de f&aacute;rmacos, un estudio sobre nanotoxicidad, un dise&ntilde;o de s&iacute;ntesis de nanopart&iacute;culas, varias investigaciones sobre el efecto de nanopart&iacute;culas en el medio ambiente en: la descontaminaci&oacute;n de aguas, sobre el efecto en las comunidades microbianas, en c&eacute;lulas epiteliales, un ensayo sobre toxicidad celular con nanotubos de carbono, varias tesis doctorales en la descontaminaci&oacute;n de aguas con nanopart&iacute;culas. Otro grupo de investigaci&oacute;n es el de materiales avanzados para micro y nanotecnolog&iacute;a (IMAMNT), de la Universidad Aut&oacute;noma de Occidente; tambi&eacute;n se encuentra el grupo de nanomateriales multifuncionales de la Universidad de Cartagena, la cual cuenta con 5 l&iacute;neas de investigaci&oacute;n, dentro de estas hay un art&iacute;culo sobre la bios&iacute;ntesis y caracterizaci&oacute;n de nanopart&iacute;culas, un estudio sobre el impacto ambiental en el uso de nanopart&iacute;culas, varios trabajos de grado en la s&iacute;ntesis de nanopart&iacute;culas, otros estudios en la descontaminaci&oacute;n de aguas con nanomateriales. A pesar de que ning&uacute;n grupo reporta el desarrollo de la nanometrolog&iacute;a dentro de sus investigaciones, resulta importante destacar que para el desarrollo de estos trabajos es necesaria la caracterizaci&oacute;n metrol&oacute;gica y que el tema podr&iacute;a dar origen a investigaciones futuras.</p>     <p>Dentro de los grupos que est&aacute;n enmarcados en metrolog&iacute;a en Colciencias se destacan: el de instrumentaci&oacute;n y metrolog&iacute;a de la Universidad del Atl&aacute;ntico, que reporta un trabajo de grado sobre la preparaci&oacute;n y caracterizaci&oacute;n morfol&oacute;gica de nanopart&iacute;culas, otro sobre t&eacute;cnicas de procesamiento y s&iacute;ntesis de nanomateriales. Tambi&eacute;n es posible encontrar otros grupos que trabajan en otras &aacute;rea e integran la nanotecnolog&iacute;a, como el de materiales y nanotecnolog&iacute;a de la Universidad del Cauca; el grupo de superconductividad y nanotecnolog&iacute;a de la Universidad Nacional, sede Bogot&aacute;, dentro del cual se encuentra una l&iacute;nea dedicada a las nanoestructuras; el grupo de nanotecnolog&iacute;a y gesti&oacute;n sostenible (Nanosost-UP) de la Universidad de Pamplona, dentro del cual tiene una l&iacute;nea de nanociencia y nanotecnolog&iacute;a; el grupo de ingenier&iacute;a y nanotecnolog&iacute;a para la vida (INVID), de la Universidad Distrital Francisco Jos&eacute; de Caldas, en el cual una de sus l&iacute;neas de investigaci&oacute;n est&aacute; dedicada a nanociencias; el grupo nuevos materiales nano y supramoleculares de la Universidad Nacional, sede Bogot&aacute;, tiene una l&iacute;nea de investigaci&oacute;n dedicada a los nanomateriales; en este hay reportada una publicaci&oacute;n sobre el impacto de la nanotecnolog&iacute;a en las econom&iacute;as regionales, el rendimiento econ&oacute;mico de la nanotecnolog&iacute;a y un informe del primer acercamiento de la nanotecnolog&iacute;a para Colombia; cuentan, adem&aacute;s, con una publicaci&oacute;n de la nanotecnolog&iacute;a al servicio de la salud; finalmente, el grupo de metrolog&iacute;a qu&iacute;mica y bioan&aacute;lisis (GIMQB), del Instituto Nacional de Metrolog&iacute;a. En general se observa que a&uacute;n falta por abordar la metrolog&iacute;a a escala nanom&eacute;trica, desde los grupos y centros de investigaci&oacute;n, dado que para el desarrollo de cada proyecto descrito y la funcionalidad de cada grupo es necesario todo un sistema metrol&oacute;gico que permita validar los experimentos y que estos puedan servir de base para el desarrollo de procesos productivos y el adelanto de proyectos que den soluciones a las necesidades industriales, sociales y reglamentarias &#91;60&#93;.</p>     <p>	Actualmente Ruta N desarrolla una pol&iacute;tica regional de innovaci&oacute;n (IRI) en "nanotecnolog&iacute;a que busca fomentar la investigaci&oacute;n y el desarrollo de nanociencia y nanotecnolog&iacute;a (...) para potenciar las capacidades y los recursos", as&iacute; como aumentar la competitividad cient&iacute;fica y tecnol&oacute;gica, con el prop&oacute;sito de solucionar las problem&aacute;ticas de la industria, contribuir a la generaci&oacute;n de conocimiento, integrar trabajo de diferentes sectores, impulsar la formaci&oacute;n del recurso humano y favorecer redes de negocios. La iniciativa cuenta con "44 instituciones, de las cuales 28 son organizaciones y 16 instituciones educativas". Dentro de esta iniciativa se desarroll&oacute; el Primer Seminario Internacional de Biomateriales, Biomec&aacute;nica y Medicina Regenerativa, a trav&eacute;s de la Universidad de Antioquia y Ruta N, lo cual genera espacios que permitan divulgar la informaci&oacute;n en desarrollo en el &aacute;rea de la nanomedicina, que busca crear negocios y dar a conocer los productos, con el objetivo de reunir a varios sectores y &aacute;reas de conocimiento que impulsen y generen redes de trabajo para avanzar en este campo. Otra de las actividades desarrolladas es la realizaci&oacute;n de conversatorios sobre nanotecnolog&iacute;a y medio ambiente &#91;61&#93;.</p>     <p>Dentro de las industrias que reportan investigaci&oacute;n en el sector de nanotecnolog&iacute;a se encuentran EPM, que apunta al desarrollo de temas como: la salud, la energ&iacute;a, gas natural y agua. Por otro lado est&aacute; Sumicol, que busca darle caracter&iacute;sticas nuevas y otras propiedades a los minerales a trav&eacute;s de nanopart&iacute;culas y el desarrollo de nanomateriales para incursionar en otros mercados. En los conversatorios sobre nanotecnolog&iacute;a se proponen el desarrollo de los siguientes sectores: "construcci&oacute;n, textil, farmac&eacute;utico, industrial, energ&iacute;a, transporte y cosm&eacute;tico, entre otros" &#91;61&#93;. En los que cada uno requiere del aporte metrol&oacute;gico para el desarrollo de sus actividades y el aseguramiento de la calidad, y generar la posibilidad de integrar el conocimiento y el desarrollo de proyectos acad&eacute;micos encaminados a solucionar las necesidades de las empresas y el fortalecimiento en el desarrollo de herramientas y equipos que permitan fabricar los productos que a su vez solucionar&aacute;n las demandas de la sociedad.</p>     <p>M&eacute;ndez y su equipo de trabajo investigan la aplicaci&oacute;n de nanotecnolog&iacute;a para empaques y envases para alimentos; en su investigaci&oacute;n no se aborda la nanometrolog&iacute;a, pero esto supone el despliegue de todo un sistema de aseguramiento metrol&oacute;gico tanto para el dise&ntilde;o de los empaques como para su fabricaci&oacute;n, lo cual deja un campo abierto para el desarrollo de investigaciones &#91;62&#93;.</p>     <p>	Manrique investiga la aplicaci&oacute;n de la nanotecnolog&iacute;a en la industria textil a trav&eacute;s de nanopart&iacute;culas, nanotubos de carbono y nanofibras para la producci&oacute;n de textiles; en este campo resulta muy importante la metrolog&iacute;a qu&iacute;mica que emplea sensores para detectar vapores al interactuar con nanopart&iacute;culas, mientras que el proceso para obtener nanofibras requiere del electrohilado para producir el di&aacute;metro de estos nanohilos, transformaci&oacute;n que requiere de una gran cantidad de herramientas que controlen el proceso para entregarlas bajo condiciones espec&iacute;ficas &#91;63&#93;.</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>La rednano Colombia, en su gaceta informativa, report&oacute; el desarrollo de foros con la tem&aacute;tica la nanotecnolog&iacute;a para la soluci&oacute;n a problemas de contaminaci&oacute;n de mercurio debido a la miner&iacute;a artesanal, y concluy&oacute; que es necesario el fortalecimiento de la industria instrumental para la caracterizaci&oacute;n y medici&oacute;n. A su vez, el desarrollo de la investigaci&oacute;n realizada por la Universidad de los Andes, la Universidad del Rosario y la Pontificia Universidad Javeriana, permiti&oacute; la creaci&oacute;n de un documento de recomendaci&oacute;n sobre nanomateriales &#91;64&#93;.</p>     <p>Por su parte, la red de laboratorios y servicios Labsnano tiene un enfoque muy b&aacute;sico y a&uacute;n no se enfoca en la elaboraci&oacute;n de protocolos para el uso de nanomateriales y caracterizaci&oacute;n de nanopart&iacute;culas, tampoco se reportan estudios sobre los efectos del uso de estos nanomateriales sobre el medio ambiente. Actualmente la actividad desarrollada en los procesos metrol&oacute;gicos de los Labsnano, hacen contribuci&oacute;n con: "actividades de capacitaci&oacute;n y socializaci&oacute;n de t&eacute;cnicas experimentales y de caracterizaci&oacute;n y manejo de equipos y procesos" &#91;64&#93;.</p>     <p>Un avance en cuanto a reglamentaci&oacute;n resulta del comit&eacute; Icontec 243, creado en el 2014 para la normalizaci&oacute;n de la nanotecnolog&iacute;a aplicada en diversos campos, el cual tendr&aacute; entre sus funciones la regulaci&oacute;n, caracterizaci&oacute;n, medici&oacute;n, determinaci&oacute;n de los impactos ambientales, y en la salud en la utilizaci&oacute;n de nanomateriales &#91;65&#93;. Lo cual presenta un progreso y abre la puerta a la generaci&oacute;n de m&aacute;s investigaciones, aportes industriales y reglamentaci&oacute;n para el uso de este tipo de materiales.</p>     <p><b>3. CONCLUSIONES</b></p>     <p> La nanometrolog&iacute;a permite respaldar la exactitud de las mediciones realizadas a lo largo de todo el proceso de fabricaci&oacute;n, y garantiza que el producto cumpla con los est&aacute;ndares de calidad, adem&aacute;s asegura la trazabilidad de las medidas para que los componentes puedan ser integrados en el producto final, de manera que es posible certificar frente a organismos regulatorios, ya sea nacionales o internacionales, que el art&iacute;culo procesado es seguro para su uso. Lo que a su vez proporciona un avance para la nanotecnolog&iacute;a, ya que posibilita la transformaci&oacute;n de nanodispositivos en grandes lotes, como es el &aacute;rea de los semiconductores, que requieren una alta precisi&oacute;n para ser integrados en otros componentes.</p>     <p>Como an&aacute;lisis de la literatura examinada se evidencia una dependencia directa entre el control de los procesos a nanoescala y la nanometrolog&iacute;a, identificando as&iacute; al aseguramiento de la medici&oacute;n como variable cr&iacute;tica del control de calidad. Se manifiesta que dicho control de procesos enfoca sus actividades no solo sobre la instrumentaci&oacute;n, sino tambi&eacute;n sobre todos aquellos elementos que conforman el sistema de medida y que pueden ser fuente de incertidumbre de medici&oacute;n, como: procedimientos, patrones, materiales de referencia, est&aacute;ndares, condiciones ambientales, competencia del personal, etc.</p>     <p>La gran diversidad de equipos existentes para procesar nanomateriales indica la necesidad de gestionar metrol&oacute;gicamente los mismos y velar porque se confirmen sus tolerancias dentro del proceso productivo a trav&eacute;s de actividades de calibraci&oacute;n, validaci&oacute;n, verificaci&oacute;n, mantenimiento, entre otras, en busca de satisfacer las necesidades del producto durante su transformaci&oacute;n. A su vez, se reconoce el aporte multidisciplinar que implica el desarrollo de herramientas en &aacute;reas de la ingenier&iacute;a como la mec&aacute;nica, los materiales, la el&eacute;ctrica, el control industrial, los sistemas inform&aacute;ticos, la f&iacute;sica, la qu&iacute;mica, entre otras.</p>     <p>Se identifica una tendencia hacia el dise&ntilde;o y fabricaci&oacute;n de equipos que permitan la automatizaci&oacute;n de los procesos y su comunicaci&oacute;n, dado que esto posibilita una disminuci&oacute;n en los costos de fabricaci&oacute;n y un aumento en los niveles de exactitud. Dichos sistemas automatizados a trav&eacute;s de la metrolog&iacute;a virtual se dise&ntilde;an con el prop&oacute;sito de medir las propiedades de los nanomateriales a trav&eacute;s de la caracterizaci&oacute;n y patronaje de un nanocomponente.</p>     <p>Queda un amplio camino por recorrer en cuanto al dise&ntilde;o de metodolog&iacute;as, validaci&oacute;n de t&eacute;cnicas, certificaci&oacute;n de materiales de referencia y caracterizaci&oacute;n de nanopart&iacute;culas; con el objeto de aumentar la confiabilidad en las mediciones, principalmente en el campo m&eacute;dico y la industria alimentaria. Lo que posibilita el desarrollo de la metrolog&iacute;a qu&iacute;mica y la toxicolog&iacute;a para potenciar la aplicaci&oacute;n de nanotubos de carbono de manera confiable.</p>     <p>Resulta evidente que la aplicaci&oacute;n de t&eacute;cnicas y dise&ntilde;o de metodolog&iacute;as depende de la necesidad de cada sector, del nanodispositivo a fabricar y su aplicaci&oacute;n final, por lo que a&uacute;n no se cuenta con par&aacute;metros que puedan aplicarse a la manufactura de todos los nanocompuestos. Aspectos como la trazabilidad, la estimaci&oacute;n de incertidumbre, la certificaci&oacute;n de nanomateriales, el desarrollo de procedimientos de calibraci&oacute;n y t&eacute;cnicas de validaci&oacute;n de m&eacute;todos, dependen de cada industria, la cual a trav&eacute;s de la comunidad cient&iacute;fica y el uso de t&eacute;cnicas estad&iacute;sticas establece las metodolog&iacute;as para mejorar la confiabilidad de las mediciones, a trav&eacute;s de la comparaci&oacute;n de t&eacute;cnicas de microscop&iacute;a, metrolog&iacute;a dimensional o de espectrometr&iacute;a.</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>Actualmente la t&eacute;cnica que mayor aplicaci&oacute;n tiene en todas las industrias es la microscop&iacute;a, la literatura reporta un n&uacute;mero significativo de art&iacute;culos donde los autores se basan en esta t&eacute;cnica para la determinaci&oacute;n de materiales de referencia y elaboraci&oacute;n de protocolos para la caracterizaci&oacute;n de nanopart&iacute;culas, principalmente en alimentos y en el campo m&eacute;dico, as&iacute; como para observar las superficies al aplicar pruebas de nanoindentaci&oacute;n y el grabado de caracteres a trav&eacute;s de la nanolitograf&iacute;a. Mientras que otros autores prefieren t&eacute;cnicas de medici&oacute;n &oacute;pticas, por la reducci&oacute;n en el tiempo de ciclo del proceso y la flexibilidad que presentan.</p>     <p>A pesar de que se reconocen organismos de control y laboratorios que trabajan en pro de la certificaci&oacute;n de materiales de referencia y protocolos de fabricaci&oacute;n de nanopart&iacute;culas, la nanomedicina es un campo donde a&uacute;n se requiere mucha investigaci&oacute;n, m&aacute;s ensayos sobre el efecto de las nanopart&iacute;culas en el organismo, para el tratamiento de tumores, destrucci&oacute;n de c&eacute;lulas cancer&iacute;genas, su toxicidad y biodegradaci&oacute;n, lo que invita a que se sigan realizando investigaciones que permitan la unificaci&oacute;n de criterios en esta &aacute;rea. Mientras que el sector de alimentos est&aacute; empezando a ganar terreno en cuanto a la superaci&oacute;n de estas falencias.</p>     <p>	Se observa que la mayor contribuci&oacute;n al avance cient&iacute;fico relacionado con nanometrolog&iacute;a lo realizan pa&iacute;ses como: Estados Unidos, Alemania, China, Jap&oacute;n, Corea, Inglaterra, Brasil y M&eacute;xico; por lo que es evidente que en Colombia hay ausencia de investigadores en esta &aacute;rea y con esto se observa una reducida importaci&oacute;n de equipos que permiten soportar la investigaci&oacute;n y el avance tecnol&oacute;gico de las regiones en el pa&iacute;s.</p>     <p><b>AGRADECIMIENTOS</b></p>     <p> Como tutor del Semillero de Investigaci&oacute;n en Gesti&oacute;n Metrol&oacute;gica agradezco a Estefan&iacute;a Ruiz, estudiante egresada del programa Ingenier&iacute;a en Producci&oacute;n, quien gracias a su compromiso, dedicaci&oacute;n y buen uso de los recursos construy&oacute; un art&iacute;culo con alto grado de pertinencia, el cual sirve como orientaci&oacute;n para aquellos interesados en la medici&oacute;n a nanoescala y su impacto en los sistemas de producci&oacute;n. Se agradece a todas las personas que con sus aportes y motivaci&oacute;n hicieron posible la realizaci&oacute;n de este trabajo, especialmente al Instituto Tecnol&oacute;gico Metropolitano (ITM) de Medell&iacute;n por ser la entidad financiadora del trabajo.</p> <hr>     <p><b>REFERENCIAS</b></p>     <!-- ref --><p>&#91;1&#93; Jorio, A. &amp; Dresselhaus, M. S. (2011). Nanometrology Links State of the Art Academic Research and Ultimate Industry Needs for Technological Innovation. <i>MRS Bulletin, </i>32(12), pp. 988-993. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1557/mrs2007.201"target="_blank">10.1557/mrs2007.201</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159461&pid=S0124-8170201600020000400001&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;2&#93; Bogue, R. (2007). Nanometrology: a critical discipline for the twenty first century. <i>Sensor Review</i>, 27(3), pp. 189- 196. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1108/02602280710758110"target="_blank">10.1108/02602280710758110</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159462&pid=S0124-8170201600020000400002&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;3&#93; Ukraintsev, V. &amp; Banke, B. (2010). Nanoscale measurement tests metrologists. <i>Laser Focus World, </i>46(12), pp. 68-71.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159463&pid=S0124-8170201600020000400003&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p>&#91;4&#93; Logothetidis, S. (2010). Nanometrology. En: Sattler, KD. <i>Handbook of Nanophysics.</i> Nueva York, Estados Unidos: CRC Press, pp. 29-45.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159465&pid=S0124-8170201600020000400004&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>&#91;5&#93; Ukraintsev, V. &amp; Banke, B. (2012). Review of reference metrology for nanotechnology: significance, challenges, and solutions.<i> Journal of Micro/Nanolithography, MEMS</i>, and MOEMS, 11(1), pp. 11010-11019. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1117/1.jmm.11.1.011010"target="_blank"> 10.1117/1.jmm.11.1.011010</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159467&pid=S0124-8170201600020000400005&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;6&#93; Berthold, J. &amp; Imkamp, D. (2013). Looking at the future of manufacturing metrology: roadmap document of the German VDI/ VDE Society for Measurement and Automatic Control.<i> J. Sensors Sens. Syst.</i>, 2, pp. 1-7. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.5194/jsss-2-1-2013"target="_blank">10.5194/jsss-2-1-2013</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159468&pid=S0124-8170201600020000400006&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;7&#93; Jorio, A. &amp; Dresselhaus, M. S. (2008). Nanometrology Sees Progress in Synthesis, Optics, and Microscopy. <i>MRS Bulletin</i>, 33(10), p. 972. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1557/mrs2008.208"target="_blank">10.1557/mrs2008.208</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159469&pid=S0124-8170201600020000400007&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;8&#93; Garner, C. M. &amp; Vogel, E. M. (2006). Metrology Challenges for Emerging Research Devices and Materials. I<i>EEE Transactions on Semiconductor Manufacturing</i>, 19(4), pp. 397-403. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1109/tsm.2006.884714"target="_blank">10.1109/tsm.2006.884714</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159470&pid=S0124-8170201600020000400008&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;9&#93; Yushchenko, O. V. &amp; Yurko, D. S. (2015). Investigation of Plastic Deformation Considering Nanoscale Effects.<i> Nanomaterials: Application &amp; Properties</i>, 4(1), pp. 1-3.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159471&pid=S0124-8170201600020000400009&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>&#91;10&#93; Barker, K. E., Cox, D. &amp; Sveinsdottir, T. (2011). Foresight on the future of public research metrology in Europe.<i> Foresight,</i> 13(1), pp. 5-18. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1108/14636681111109660"target="_blank">10.1108/14636681111109660</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159473&pid=S0124-8170201600020000400010&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;11&#93; Barsic, G., Simunovic, V. &amp; Katic, M. (2011). Ensuring measurement unity in the field of dimensional nanometrology.<i> Annals of DAAAM &amp; Proceedings</i>, 22 (1), pp. 841-842.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159474&pid=S0124-8170201600020000400011&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>&#91;12&#93; Carreteiro-Damasceno, J., Ribeiro, A. R., Balottin, L. B. L. &amp; Granjeiro, J. M. (2013). Nanometrology - challenges for health regulation.<i> Vigil&acirc;ncia Sanit&aacute;ria em Debate Soc. Ci&ecirc;ncia &amp; amp; Tecnol.</i>, 1(4), pp. 100- 109. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.3395/vd.v1i4.94en"target="_blank">10.3395/vd.v1i4.94en</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159476&pid=S0124-8170201600020000400012&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;13&#93; Gavrilenko, V. P., Novikov, Y. A., Rakov, A. V. &amp; Todua, P. A. (2008). Metrology and Standardization For Nanotechnologies. En <i>AIP Conference Proceedings,</i> 99 (1), pp. 286-297. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.2918114"target="_blank">10.1063/1.2918114</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159477&pid=S0124-8170201600020000400013&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;14&#93; Kumar, A. &amp; Jee, M. (2013). Nanotechnology: A Review of Applications and Issues. <i>International Journal of Innovative Technology and Exploring Engineering (IJITEE)</i>, 3(4), pp. 1-2.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159478&pid=S0124-8170201600020000400014&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>&#91;15&#93; Chang, C., Bukkapatnam, S. &amp; Komanduri, R. (2014). Sensing and Informatics in Laser-Based Nanomanufacturing Processes. En: Nof S.Y., Weiner A.M. &amp; Cheng G.J. <i>Laser and Photonic Systems: Design and Integration.</i> New York. CRC Press. pp. 201-234.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159480&pid=S0124-8170201600020000400015&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>&#91;16&#93; Gheorghe, G. I. &amp; Badita, L.-L. (2013). Micro-Nanometrologically and Topographic Characterization of Nanostructured Surfaces. <i>Procedia Engineering</i>, 69, pp. 104-111. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.proeng.2014.02.209"target="_blank">10.1016/j.proeng.2014.02.209</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159482&pid=S0124-8170201600020000400016&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;17&#93; Salamon, A. W. (2011). Characterizing Engineered Nanomaterials.<i> R and D Mag</i>, 53 (2), pp. 24.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159483&pid=S0124-8170201600020000400017&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p>&#91;18&#93; Weckenmann, A., Kr&auml;mer, P. &amp; Akkasoglu, G. (2012). Metrology base for scientific cognition and technical production. En <i>AIP Conf. Proc.</i>, 1431, pp. 283-292. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4707576"target="_blank">10.1063/1.4707576</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159485&pid=S0124-8170201600020000400018&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;19&#93; Kang, P., Kim, D., Lee, H., Doh, S. &amp; Cho, S. (2011). Virtual metrology for run-to-run control in semiconductor manufacturing. <i>Expert Syst. Appl.</i>, 38(3), pp. 2508-2522. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.eswa.2010.08.040"target="_blank">10.1016/j.eswa.2010.08.040</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159486&pid=S0124-8170201600020000400019&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;20&#93; Diebold, A. C. (2005). Metrology (including Materials Characterization) for Nanoelectronics. En <i>AIP Conf. Proc</i>, 788(1), pp. 21-32. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.2062935"target="_blank">10.1063/1.2062935</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159487&pid=S0124-8170201600020000400020&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;21&#93; T&ouml;pfer, S. C. N., Nehse, U. &amp; LinB, G. (2007). Automated inspections for dimensional micro- and nanometrology. <i>Measurement,</i> 40(2), pp. 243-254. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.measurement.2006.06.010"target="_blank">10.1016/j.measurement.2006.06.010</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159488&pid=S0124-8170201600020000400021&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;22&#93; Kang, N., Kim, K. J., Kim, J. S. &amp; Lee, J. H. (2015). Roles of chemical metrology in electronics industry and associated environment in Korea: A tutorial. <i>Talanta</i>, 134, pp. 284-91. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.talanta.2014.11.030"target="_blank">10.1016/j.talanta.2014.11.030</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159489&pid=S0124-8170201600020000400022&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;23&#93; Pimpin, A. &amp; Srituravanich, W. (2012). Review on Micro- and Nanolithography Techniques and Their Applications. <i>Engineering Journal,</i> 16(1), pp. 37-65. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.4186/ej.2012.16.1.37"target="_blank">10.4186/ej.2012.16.1.37</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159490&pid=S0124-8170201600020000400023&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;24&#93; Kang, P., Lee, H., Cho, S., Kim, D., Park, J., Park, C.-K., &amp; Doh, S. (2009). A virtual metrology system for semiconductor manufacturing.<i> Expert Syst. Appl.,</i> 36(10), pp. 12554-12561. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.eswa.2009.05.053"target="_blank">s10.1016/j.eswa.2009.05.053</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159491&pid=S0124-8170201600020000400024&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;25&#93; Liu, S., Chen, X. &amp; Zhang, C. (2015). Development of a broadband Mueller matrix ellipsometer as a powerful tool for nanostructure metrology. <i>Thin Solid Films</i>, 584, pp. 176-185. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2015.02.006"target="_blank">10.1016/j.tsf.2015.02.006</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159492&pid=S0124-8170201600020000400025&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;26&#93; Likhachev, D. V. (2015). Efficient thin-film stack characterization using parametric sensitivity analysis for spectroscopic ellipsometry in semiconductor device fabrication. <i>Thin Solid Films, </i>589, pp. 258- 263. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2015.05.049"target="_blank">10.1016/j.tsf.2015.05.049</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159493&pid=S0124-8170201600020000400026&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;27&#93; Khan, A. A., Moyne, J. R. &amp; Tilbury, D. M. (2008). Virtual metrology and feedback control for semiconductor manufacturing processes using recursive partial least squares. J. <i>Process Control,</i> 18(10), pp. 961-974. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.jprocont.2008.04.014"target="_blank">10.1016/j.jprocont.2008.04.014</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159494&pid=S0124-8170201600020000400027&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;28&#93; Susto, G. A., Pampuri, S., Schirru, A., Beghi, A. &amp; De Nicolao, G. (2015). Multi step virtual metrology for semiconductor manufacturing: A multilevel and regularization methodsbased approach. <i>Computers &amp; Operations Research,</i> 53, pp. 328-337. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.cor.2014.05.008"target="_blank">10.1016/j.cor.2014.05.008</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159495&pid=S0124-8170201600020000400028&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;29&#93; Slocum Jr., A. H. &amp; Culpepper, M. L. (2012). Design of a low-cost, precision belt-drive machine for high-throughput nanomanufacturing. <i>Precision Engineering</i>, 36(1), pp. 55-69. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.precisioneng.2011.07.003"target="_blank">10.1016/j.precisioneng.2011.07.003</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159496&pid=S0124-8170201600020000400029&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;30&#93; Malshe, A. P., Rajurkar, K. P., Virwani, K. R., Taylor, C. R., Bourell, D. L., Levy, G., Sundaram, M. M., McGeough, J. A., Kalyanasundaram, V. &amp; Samant, A. N. (2010). Tip-based nanomanufacturing by electrical, chemical, mechanical and thermal processes. <i>CIRP Ann. - Manuf. Technol</i>, 59(2), pp. 628-651. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.cirp.2010.05.006"target="_blank">10.1016/j.cirp.2010.05.006</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159497&pid=S0124-8170201600020000400030&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;31&#93; Hern&aacute;ndez-Santana, A. &amp; Graham, D. (2010). Nanolithography: Written with light. Nat. <i>Nanotechnol</i>, 5(9), pp. 629-630. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1038/nnano.2010.179"target="_blank">10.1038/nnano.2010.179</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159498&pid=S0124-8170201600020000400031&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;32&#93; Campbell, A. C., Klapetek, P., Valtr, M. &amp; Burs&iacute;kov&aacute;, V. (2012). Development of reference materials for the investigation of local mechanical properties at the nanoscale.<i> Surf. Interface Anal,</i> 44(8), pp. 1151-1154. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1002/sia.4850"target="_blank">10.1002/sia.4850</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159499&pid=S0124-8170201600020000400032&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;33&#93; Lucca, D. A., Herrmann, and K. &amp; Klopfstein, M. J. (2010). Nanoindentation: Measuring methods and applications. <i>CIRP Ann. - Manuf. Technol</i>, 59(2), pp. 803- 819. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.cirp.2010.05.009"target="_blank">10.1016/j.cirp.2010.05.009</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159500&pid=S0124-8170201600020000400033&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;34&#93; Xia, Y., Bigerelle, M., Marteau, J., Mazeran, P. E., Bouvier, S. &amp; Lost, A. (2013). Effect of surface roughness in the determination of the mechanical properties of material using nanoindentation test. <i>Scanning</i>, 36(1), pp. 134-149. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1002/sca.21111"target="_blank">10.1002/sca.21111</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159501&pid=S0124-8170201600020000400034&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;35&#93; Li, Z., Herrmann, K. &amp; Pohlenz, F. (2006). A comparative approach for calibration of the depth measuring system in a nanoindentation instrument. <i>Measurement</i>, 39(6), pp. 547-552. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.measurement.2005.12.010"target="_blank">10.1016/j.measurement.2005.12.010</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159502&pid=S0124-8170201600020000400035&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;36&#93; Qiu, W., Li, S.-L., Deng, W.-L., Gao, D. &amp; Kang, Y.-L. (2014). Strain sensor of carbon nanotubes in microscale: from model to metrology. <i>The Scientific World Journal</i>, 2014, pp. 1-9. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1155/2014/406154"target="_blank">10.1155/2014/406154</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159503&pid=S0124-8170201600020000400036&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;37&#93; Dai, L., Wang, P. &amp; Bosnicka, K. (2009). Large scale production and metrology of vertically aligned carbon nanotube films. <i>Journal of Vacuum Science &amp; Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films,</i> 27(4), pp.1071-1075. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1116/1.3148827"target="_blank">10.1116/1.3148827</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159504&pid=S0124-8170201600020000400037&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;38&#93; Wood, J. (2004). Nanotubes light up the home. <i>Materials Today</i>, 7(9), p. 11. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1016/s1369-7021(04)00383-9"target="_blank">10.1016/s1369-7021(04)00383-9</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159505&pid=S0124-8170201600020000400038&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;39&#93; Upadhyayula, V. K. K., Ghoshroy, S., Nair, V. S., Smith, G. B., Mitchell, M. C. &amp; Deng, S., (2008). Single Walled Carbon Nanotubes as Fluorescence Biosensors for Pathogen Recognition in Water Systems. <i>Research Letters in Nanotechnology</i>, 2008, pp. 1-5. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1155/2008/156358"target="_blank">10.1155/2008/156358</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159506&pid=S0124-8170201600020000400039&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;40&#93; Li, L., Hong, M., Schmidt, M., Zhong, M., Malshe, A., Huis in'tVeld, B. &amp; Kovalenko, V. (2011). Laser nano manufacturing - State of the art and challenges. <i>CIRP Ann. - Manuf. Technol</i>, 60(2), pp. 735-755. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.cirp.2011.05.005"target="_blank">10.1016/j.cirp.2011.05.005</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159507&pid=S0124-8170201600020000400040&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;41&#93; Demircioglu, P. (2014). Estimation of surface topography for dental implants using advanced metrological technology and digital image processing techniques. <i>Measurement</i>, 48, pp. 43-53. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.measurement.2013.10.036"target="_blank">10.1016/j.measurement.2013.10.036</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159508&pid=S0124-8170201600020000400041&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;42&#93; Coelho, P. G., Jimbo, R., Tovar, N. &amp; Bonfante, E. A. (2015). Osseointegration: Hierarchical designing encompassing the macrometer, micrometer, and nanometer length scales. <i>Dental Materials,</i> 31(1), pp. 37-52. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.dental.2014.10.007"target="_blank">10.1016/j.dental.2014.10.007</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159509&pid=S0124-8170201600020000400042&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;43&#93; Kaur, A., Kaur, M. A. &amp; Shahi, M. N. (2012). 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Measuring nanoparticles size distribution in food and consumer products: a review. <i>Food Additives &amp; Contaminants: Part A,</i> 29(8), pp. 1183-1193. doi: <a href="http://dx.doi.org/10.1080/19440049.2012.689777"target="_blank">10.1080/19440049.2012.689777</a>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159517&pid=S0124-8170201600020000400048&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;49&#93; Murdock, R. C., Braydich-Stolle, L., Schrand, A. M., Schlager, J. J. &amp; Hussain, S. M. (2008). 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(2007). <i>Informe de vigilancia tecnolo&#769;gica: me&#769;todos de fabricacio&#769;n de nanotecnologi&#769;a</i>. Bogot&aacute;. Colciencias, pp. 33-92.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159528&pid=S0124-8170201600020000400058&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>&#91;59&#93; Pontificia Universidad Javeriana. (2016). <i>Nanociencia y Nanotecnolog&iacute;a</i>. 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En: <a href="http://www.colciencias.gov.co/scienti"target="_blank">http://www.colciencias.gov.co/scienti</a> (11 mayo del 2016).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159532&pid=S0124-8170201600020000400060&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>&#91;61&#93; Ruta N. <i>Ruta N nanotecnolog&iacute;a</i>. En: <a href="http://rutanmedellin.org/es/noticias/tag/nanotecnolog%C3%ADa"target="_blank">http://rutanmedellin.org/es/noticias/tag/nanotecnolog%C3%ADa</a> (11 de mayo de 2016).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159534&pid=S0124-8170201600020000400061&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>&#91;62&#93; M&eacute;ndez-Naranjo, K. C., Caicedo Palacios, M. L., Bedoya Correa, S. M., R&iacute;os Mesa, A., Zuluaga Gallego, R. &amp; Giraldo Ram&iacute;rez, D. P. (2014). Tendencias investigativas de la nanotecnolog&iacute;a en empaques y envases para alimentos.<i> Rev. 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En: <a href="http://rednanocolombia.org/gaceta04.htm"target="_blank">http://rednanocolombia.org/gaceta04.htm</a> (26 febrero de 2016).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159540&pid=S0124-8170201600020000400064&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>&#91;65&#93; Rednano Colombia. (2015). <i>Gaceta Informativa,</i> Vol 2. En: <a href="http://www.rednanocolombia.org/gaceta05.htm"target="_blank">http://rednanocolombia.org/gaceta103.htm</a> (26 febrero de 2016).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4159542&pid=S0124-8170201600020000400065&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p> </font>      ]]></body><back>
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