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<article-title xml:lang="es"><![CDATA[SISTEMA DE FORMACIÓN DE IMÁGENES TOFD PARA ENSAYOS NO DESTRUCTIVOS]]></article-title>
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<article-title xml:lang="pt"><![CDATA[SISTEMA DE FORMAÇÃO DE IMAGENS TOFD PARA ENSAIOS NÃO DESTRUTIVOS]]></article-title>
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<institution><![CDATA[,Universidad Santo Tomás Grupo de Investigación en Tecnologías Ultrasónicas ]]></institution>
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<abstract abstract-type="short" xml:lang="en"><p><![CDATA[This paper shows how the symbiosis of two disciplines, software engineering and ultrasonic techniques, made possible the development of a nondestructive testing system for TOFD imaging, and it also allowed to make the application of commercial computation tools independent. It illustrates the addition of three algorithms to the system, and they are tested by examining a metal cylinder containing a visible defect. The core of the system is an ultrasound card controlled through a computer application designed in.NET.]]></p></abstract>
<abstract abstract-type="short" xml:lang="pt"><p><![CDATA[No presente trabalho mostra-se como a simbiose de duas disciplinas, engenharia de software e técnicas ultrassônicas, fez possível o desenvolvimento de um sistema de ensaios não destrutivos para formação de imagens TOFD, que ademais permite independizar a aplicação respeito das ferramentas para cômputo comerciais. Ilustra-se a incorporação de três algoritmos ao sistema, e provam-se mediante o exame a uma proveta metálica que contém um defeito visível. O núcleo do sistema é um cartão de ultrassom controlado por médio de uma aplicação para computador desenhada em .NET.]]></p></abstract>
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</front><body><![CDATA[  <font face="verdana" size="2">          <p align="center"><font size="4"><b>SISTEMA DE FORMACI&Oacute;N DE IM&Aacute;GENES TOFD PARA ENSAYOS NO DESTRUCTIVOS </b></font></p>     <p align="center"><font size="3"><b>TOFD IMAGING SYSTEM IN NONDESTRUCTIVE TESTS </b></font></p>     <p align="center"><font size="3"><b>SISTEMA DE FORMA&Ccedil;&Atilde;O DE IMAGENS TOFD PARA ENSAIOS N&Atilde;O DESTRUTIVOS</b></font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><b>Dar&iacute;o Segura*, Alejandro Rodr&iacute;guez**</b></p>          <p>*Ingeniero Electr&oacute;nico, Universidad Santo Tom&aacute;s; Mag&iacute;ster (c) en Ciencias de la Informaci&oacute;n y las Comunicaciones, Universidad Distrital Francisco Jos&eacute; de Caldas. Profesor, Facultad de Ingenier&iacute;a Electr&oacute;nica, Universidad Santo Tom&aacute;s. Bogot&aacute;, Colombia. <a href="mailto:dariosegura@usantotomas.edu.co">dariosegura@usantotomas.edu.co</a>.    <br> **F&iacute;sico, Universidad Nacional de Colombia; Mag&iacute;ster y Doctor (c) en Ingenier&iacute;a Telecomunicaciones, Universidad Polit&eacute;cnica de Valencia, Espa&ntilde;a. Profesor, Facultad de Ingenier&iacute;a Electr&oacute;nica e integrante del Grupo de Investigaci&oacute;n en Tecnolog&iacute;as Ultras&oacute;nicas, Universidad Santo Tom&aacute;s. Bogot&aacute;, Colombia. <a href="mailto:jairorodriguez@usantotomas.edu.co">jairorodriguez@usantotomas.edu.co</a>.</p>     <p>Art&iacute;culo recibido 13-IX-2011. Aprobado 12-VI-2012    <br> Discusi&oacute;n abierta hasta diciembre de 2012</p> <hr size="1" />              ]]></body>
<body><![CDATA[<p><b><font size="3">RESUMEN</font></b></p>          <p>En el presente trabajo se muestra c&oacute;mo la simbiosis de dos disciplinas, ingenier&iacute;a de software y t&eacute;cnicas ultras&oacute;nicas, hizo posible el desarrollo de un sistema de ensayos no destructivos para formaci&oacute;n de im&aacute;genes TOFD, que adem&aacute;s permite independizar la aplicaci&oacute;n respecto de las herramientas para c&oacute;mputo comerciales. Se ilustra la incorporaci&oacute;n de tres algoritmos al sistema y se prueban mediante el examen a una probeta met&aacute;lica que contiene un defecto visible. El n&uacute;cleo del sistema es una tarjeta de ultrasonido controlada por medio de una aplicaci&oacute;n para computador dise&ntilde;ada en .NET.</p>          <p><font size="3"><b>PALABRAS CLAVE</b></font>: ultrasonido; exploraci&oacute;n por amplitud; TOFD; .NET.</p>  <hr size="1" />              <p><font size="3"><b>ABSTRACT</b></font></p>          <p>This paper shows how the symbiosis of two disciplines, software engineering and ultrasonic techniques, made possible the development of a nondestructive testing system for TOFD imaging, and it also allowed to make the application of commercial computation tools independent. It illustrates the addition of three algorithms to the system, and they are tested by examining a metal cylinder containing a visible defect. The core of the system is an ultrasound card controlled through a computer application designed in.NET.</p>     <p><font size="3"><b>KEY WORDS</b></font>: ultrasound; A-scan; TOFD; .NET.</p>  <hr size="1" />      <p><b><font size="3">RESUMO</font></b></p>          <p>No presente trabalho mostra-se como a simbiose de duas disciplinas, engenharia de software e t&eacute;cnicas ultrass&ocirc;nicas, fez poss&iacute;vel o desenvolvimento de um sistema de ensaios n&atilde;o destrutivos para forma&ccedil;&atilde;o de imagens TOFD, que ademais permite independizar a aplica&ccedil;&atilde;o respeito das ferramentas para c&ocirc;mputo comerciais. Ilustra-se a incorpora&ccedil;&atilde;o de tr&ecirc;s algoritmos ao sistema, e provam-se mediante o exame a uma proveta met&aacute;lica que cont&eacute;m um defeito vis&iacute;vel. O n&uacute;cleo do sistema &eacute; um cart&atilde;o de ultrassom controlado por m&eacute;dio de uma aplica&ccedil;&atilde;o para computador desenhada em .NET.</p>          <p><font size="3"><b>PALAVRAS-C&Oacute;DIGO</b></font>: ultrassom; explora&ccedil;&atilde;o por amplitude; TOFD; .NET.</p>  <hr size="1" />             <p><font size="3"><b>1. INTRODUCCI&Oacute;N</b></font></p>          ]]></body>
<body><![CDATA[<p>Uno de los principales objetivos de las aplicaciones   de los ensayos no destructivos consiste en   localizar defectos como fracturas o discontinuidades   que podr&iacute;an acarrear peligros en la integridad estructural   de componentes utilizados en industrias que   involucren construcciones civiles, transporte a&eacute;reo,   fluvial y terrestre, entre otros.</p>     <p>Usualmente un ensayo no destructivo consiste   en la evaluaci&oacute;n de la interacci&oacute;n de diversas formas   de energ&iacute;a con esos defectos, lo cual se consigue   aplicando pulsos de energ&iacute;a en forma de rayos X,   ondas electromagn&eacute;ticas o ultrasonido dentro del   material que los podr&iacute;a contener. El procesamiento   de la energ&iacute;a que esos defectos permiten pasar, reflejar   o dispersar hace factible detectarlos. Debido a la   frecuencia del orden de los megahercios con que las   ondas mec&aacute;nicas se propagan a trav&eacute;s de una amplia   variedad de materiales s&oacute;lidos sin experimentar   demasiada atenuaci&oacute;n, se hace posible la utilizaci&oacute;n   de t&eacute;cnicas ultras&oacute;nicas para examinar metales en   busca de eventuales defectos (Rodr&iacute;guez, Vitola y   Sandoval, 2007).</p>     <p>El objetivo del presente art&iacute;culo es describir   de modo cualitativo el desarrollo de un sistema para   ensayos no destructivos que no dependa de ning&uacute;n   lenguaje de c&oacute;mputo comercial (Forero y Rodr&iacute;guez,   2008; Rodr&iacute;guez <i>et al</i>., 2009; Rodr&iacute;guez, Vitola   y Sandoval, 2009) o de alguna aplicaci&oacute;n asociada   a una tarjeta para ultrasonido (Segura y Rodr&iacute;guez,   2011). Se presentar&aacute; el desarrollo de una interfaz   que permite controlar una tarjeta de ultrasonido la   cual ser&aacute; utilizada para el diagn&oacute;stico de algoritmos   de procesamiento de se&ntilde;ales ultras&oacute;nicas. M&aacute;s adelante,   empleando la t&eacute;cnica de difracci&oacute;n de tiempo   de vuelo (TOFD) (Gang y Chi, 2007; Wang, Zhou   y Tian, 2008), se ilustrar&aacute; la aplicaci&oacute;n del sistema   en una probeta con defecto controlado, mediante   la generaci&oacute;n de una imagen bidimensional del   sector en el que se halla el defecto. Para finalizar,   se utilizar&aacute; un algoritmo que permite corregir un   tipo de distorsi&oacute;n que surge con frecuencia en las   im&aacute;genes TOFD.  </p>     <p><font size="3"><b>Fundamentos</b></font></p>     <p>Un equipo est&aacute;ndar de ultrasonido para llevar   a cabo ensayos no destructivos consta de una fuente   de energ&iacute;a, uno o varios transductores (tambi&eacute;n llamados   palpadores) que transformen dicha energ&iacute;a   el&eacute;ctrica en mec&aacute;nica y viceversa, un sistema que   reciba esa energ&iacute;a el&eacute;ctrica organiz&aacute;ndola en forma   de se&ntilde;ales, una secci&oacute;n que efect&uacute;e el procesamiento   de estas y la metodolog&iacute;a de exhibici&oacute;n de los resultados   (Bentley, 1993).</p>     <p>Sin tener en cuenta el m&eacute;todo de imagen   empleado, todos los enfoques obtienen informaci&oacute;n   de los defectos por medio de se&ntilde;ales A-scan   (variaci&oacute;n de la amplitud en funci&oacute;n del tiempo).   En la t&eacute;cnica de pulso-eco, una se&ntilde;al A-scan es una   forma de onda el&eacute;ctrica recibida por un transductor   que inicialmente fue estimulado por la fuente de   energ&iacute;a. El A-scan contiene informaci&oacute;n acerca de la cantidad de energ&iacute;a reflejada por un defecto, lo   cual se produce cuando el frente de onda del campo   ac&uacute;stico incidente encuentra en su trayectoria de   propagaci&oacute;n un cambio de la impedancia ac&uacute;stica,   resultante de eventuales inhomogeneidades o defectos   dentro del material bajo inspecci&oacute;n.</p>     <p><font size="3"><b>2. DIFRACCI&Oacute;N DE TIEMPO DE VUELO</b></font></p>     <p>Otra t&eacute;cnica de imagen conocida como   D-scan (imagen del corte transversal de un esp&eacute;cimen,   perpendicular a la direcci&oacute;n de exploraci&oacute;n   de este), formada con base en un conjunto de   A-scan, tiene su fundamento en la difracci&oacute;n que   experimenta un campo ac&uacute;stico al interactuar   con los bordes de un defecto sobre el cual incide   (Birring y Nidathavolu, 2005; Goujon y Kenzie, 2005;   Mart&iacute;nez-O&ntilde;a, Viggianiello y Bleuze, 2006; Riahi y   Abolhasany, 2006).</p>     <p>En la <a href="#fig1">figura 1</a> se ilustra la disposici&oacute;n experimental   de los transductores para obtener una se&ntilde;al   A-scan que recibe un transductor receptor R despu&eacute;s   que el campo ac&uacute;stico emitido por un transductor   transmisor T se propaga a trav&eacute;s de un material. Se   observan adem&aacute;s el amplio campo ac&uacute;stico emitido   por el transmisor y cuatro trayectorias que lo conforman:   la primera que se propaga paralela a la superficie   de la probeta, la segunda debida a la difracci&oacute;n   producida sobre el campo ac&uacute;stico por el borde   superior del defecto, la tercera debida a la interacci&oacute;n   entre el campo ac&uacute;stico y el borde inferior del defecto,   y la cuarta, denominada eco de fondo, producida   por la reflexi&oacute;n del campo ac&uacute;stico despu&eacute;s de incidir   en una regi&oacute;n con desajuste de impedancia debido   a la interfase acero-aire (ver <a href="#fig2">figura 2</a>).</p>       <p align="center"><img src="img/revistas/eia/n17/n17a11fig1.gif"><a name="fig1"></a></p>       ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><img src="img/revistas/eia/n17/n17a11fig2.gif"><a name="fig2"></a></p>     <p>De la <a href="#fig2">figura 2</a> se puede inferir que, si la probeta   en estudio no contiene ning&uacute;n defecto, entonces el   segundo y tercer pulso (esto es, la difracci&oacute;n producida   sobre el campo ac&uacute;stico por los bordes de   la discontinuidad) no deber&aacute;n aparecer en la onda   A-scan y, en consecuencia, solo deben llegar al receptor   el pulso lateral y el eco de fondo. Adicionalmente   la <a href="#fig2">figura 2</a> muestra el cambio de fase con el que llegan   al receptor los cuatro pulsos descritos, lo cual permite   medir el tiempo de vuelo de cada uno, y con ello   determinar el tama&ntilde;o y ubicaci&oacute;n de los defectos.</p>     <p><font size="3"><b>2.1 Formaci&oacute;n de una imagen   D-scan</b></font></p>     <p>La forma de onda de un A-scan presenta   informaci&oacute;n acerca de un corte delgado de una   secci&oacute;n transversal perteneciente a la porci&oacute;n que   se examina en una cierta probeta.</p>     <p>En la <a href="#fig3">figura 3</a> se resalta la informaci&oacute;n asociada   a cada A-scan: si la probeta contiene una   discontinuidad, al receptor llegan cuatro pulsos (ver   el primer A-scan de la <a href="#fig2">figura 2</a>); por el contrario, si   al desplazar la pareja de transductores hacia otra   regi&oacute;n de la probeta ocurre que el campo ac&uacute;stico   no incide en alg&uacute;n defecto, al receptor llegan dos   pulsos, el lateral y el eco de fondo (ver el segundo y   en&eacute;simo A-scan en la <a href="#fig2">figura 2</a>).</p>       <p align="center"><img src="img/revistas/eia/n17/n17a11fig3.gif"><a name="fig3"></a></p>     <p><font size="3"><b>2.2 Algoritmo para la formaci&oacute;n   de im&aacute;genes D-scan</b></font></p>     <p>Un barrido A-scan entregado por el receptor   y almacenado despu&eacute;s de haber sido digitalizado, se   transforma en un arreglo de elementos &#91;a<sub>11</sub>, a<sub>21</sub>,.... a<sub>i1</sub>&#93;,   y cada vez que la pareja de transductores se desplaza   una determinada distancia se agrupan como una   matriz de la forma:</p>       <p align="center"><img src="img/revistas/eia/n17/n17a11for1.gif"></p>     <p>En ella el sub&iacute;ndice <i>j</i> representa el desplazamiento   espacial de la pareja de transductores, y   el sub&iacute;ndice <i>i</i>, la duraci&oacute;n de los barridos A-scan.   Ahora bien, la manera de representar en forma   gr&aacute;fica esta informaci&oacute;n consiste en posicionar   cada uno de esos barridos en orientaci&oacute;n vertical,   y luego su amplitud representarla por la intensidad   de un tono gris, de tal manera que los valles de la   forma de onda ser&aacute;n codificados por un tono de   menor intensidad, y las crestas, por uno con mayor   intensidad (Charlesworth y Temple, 2001). Al unir   consecutivamente el conjunto   de A-scan en el mismo orden en que est&aacute;n almacenadas, se obtiene   una imagen como la mostrada en la <a href="#fig4">figura 4</a> (Bossuat,   Walaszeck y Flavenot, 2006; Moles y Labb&eacute;,   2008). Obs&eacute;rvese que solo aparecen la l&iacute;nea superior   e inferior, correspondientes a los pulsos laterales   y ecos de fondo respectivamente.</p>       ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><img src="img/revistas/eia/n17/n17a11fig4.gif"><a name="fig4"></a></p>     <p>De la <a href="#fig4">figura 4</a> se puede colegir que la probeta   examinada no contiene defectos en su interior, ya   que en la imagen TOFD (difracci&oacute;n de tiempo de   vuelo), tambi&eacute;n denominada D-scan, no hay evidencia   de pulsos difractados.</p>     <p><font size="3"><b>2.3 Distorsi&oacute;n de las se&ntilde;ales A-scan</b></font></p>     <p>Una dificultad inherente a los ensayos con   la t&eacute;cnica TOFD est&aacute; asociada al desplazamiento   manual de los palpadores, y adem&aacute;s a la necesidad   de incorporar una sustancia que act&uacute;e como acoplador   ac&uacute;stico entre la superficie de la probeta y   el transductor, lo que se traduce en un indeseable   desalineamiento de las se&ntilde;ales A-scan debido a un   inevitable zigzagueo de los transductores, as&iacute; como   a la variaci&oacute;n en el espesor del acoplador (Mart&iacute;n,   Gonz&aacute;lez y Giacchetta, 2007).</p>     <p><font size="3"><b>2.4 Algoritmos para eliminar   la distorsi&oacute;n</b></font></p>     <p>A continuaci&oacute;n se describir&aacute;n la t&eacute;cnica usada   para incrementar la relaci&oacute;n se&ntilde;al-ruido y el m&eacute;todo   que permite alinear las muestras.</p>     <p>El primero de los dos problemas hace uso de   un algoritmo que implica los siguientes pasos:</p>   <ol>     <li>Determinar la m&aacute;xima amplitud de cada   A-scan, max(A<sub>ij</sub>), y almacenar los &iacute;ndices asociados   a cada uno.</li>     <li>Extraer la media del arreglo construido a partir   del paso anterior.</li>     <li>Calcular el error relativo de cada elemento del   arreglo, y con base en ello construir uno nuevo   que los contenga.</li>     ]]></body>
<body><![CDATA[<li>Calcular un umbral que determine una ventana   de tiempo.</li>     <li>Estimar qu&eacute; A-scan poseen un desfase en el   tiempo dentro de esa ventana y cu&aacute;les no.</li>     <li>Construir una matriz formada con los A-scan   contenidos dentro de la ventana.</li>       </ol>     <p>Para conseguir el alineamiento de los A-scan,   se recurre a otro algoritmo que guarda una estrecha   relaci&oacute;n con el anterior:</p>   <ol>     <li>Calcular la desviaci&oacute;n de cada A-scan con base   en la diferencia entre cada &iacute;ndice del arreglo   max(A<sub>ij</sub>) y la media obtenida en el paso 2.</li>     <li>Se construye una nueva matriz formada siguiendo   los seis pasos anteriores, pero desplazando   en el tiempo cada uno de sus elementos   una cantidad dada por la desviaci&oacute;n calculada.</li>     <li>A la matriz resultante se le aplica el algoritmo   descrito en la secci&oacute;n 2.2.</li>       </ol>     <p><font size="3"><b>3. MODELO PROPUESTO </b></font></p>       ]]></body>
<body><![CDATA[<p>Durante la etapa inicial de investigaci&oacute;n   para la formaci&oacute;n de im&aacute;genes D-scan, se sigui&oacute; el procedimiento esbozado en la <a href="#fig5">figura 5</a>.</p>     <p align="center"><img src="img/revistas/eia/n17/n17a11fig5.gif"><a name="fig5"></a></p>       <p>Los dispositivos que forman el sistema son: a)   los transductores de ultrasonido encargados de transformar   energ&iacute;a el&eacute;ctrica en mec&aacute;nica y viceversa, b)   una tarjeta de ultrasonido encargada de captar la   se&ntilde;al el&eacute;ctrica procedente de uno de los palpadores   para luego trasladarla a un computador, y c) un   computador destinado para las tareas de almacenar,   procesar y visualizar la informaci&oacute;n.</p>       <p>En el procedimiento inicialmente propuesto   se emplean tres aplicaciones distintas: la del fabricante,   encargada de controlar la tarjeta con el   objetivo de adquirir la informaci&oacute;n entregada por   los palpadores, una hoja de c&aacute;lculo para almacenar   la informaci&oacute;n recogida, y la herramienta MATLAB   para el procesamiento, an&aacute;lisis y visualizaci&oacute;n de   la informaci&oacute;n.</p>       <p><font size="3"><b>3.1 Descripci&oacute;n del modelo inicial</b></font></p>       <p>El modelo de la aplicaci&oacute;n propuesta comienza   con la organizaci&oacute;n de los componentes asociados   a la adquisici&oacute;n, procesamiento y presentaci&oacute;n de   una se&ntilde;al de ultrasonido (Boer, Bonsague y Von   Buuren, 2007). V&eacute;ase la <a href="#fig6">figura 6</a>.</p>       <p align="center"><img src="img/revistas/eia/n17/n17a11fig6.gif"><a name="fig6"></a></p>       <p>El proceso de adquisici&oacute;n de informaci&oacute;n es   el encargado de obtener las se&ntilde;ales ultras&oacute;nicas y   entregarlas al computador. La funci&oacute;n de almacenar   informaci&oacute;n permite guardar en disco las se&ntilde;ales   captadas (puede ser en un archivo con formato para   MATLAB o una base de datos) y recuperarlas para   un an&aacute;lisis en diferido; esta funci&oacute;n lleva a cabo la   segunda etapa del proceso. La funci&oacute;n de procesar   informaci&oacute;n confiere al sistema la posibilidad de   realizar el tratamiento digital de las se&ntilde;ales captadas,   entregando un resultado que conforma la tercera   etapa del proceso. Por &uacute;ltimo, la funci&oacute;n gr&aacute;fica   habilita al sistema para realizar gr&aacute;ficas en un plano   cartesiano de manera eficiente, adem&aacute;s de formar   im&aacute;genes bidimensionales, lo que constituye la &uacute;ltima   etapa del proceso.</p>       <p><font size="3"><b>3.2 Descripci&oacute;n de los componentes</b></font></p>       <p>Enseguida se describe la realizaci&oacute;n del modelo   propuesto, teniendo en cuenta que su implementaci&oacute;n   fue llevada a cabo sobre la plataforma .NET, empleando el lenguaje de programaci&oacute;n C#.</p>       ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="3"><b><i>3.2.1 Adquisici&oacute;n de informaci&oacute;n</i></b></font></p>       <p>El proceso de adquisici&oacute;n de informaci&oacute;n   es hecho por dos componentes: el primero que es   f&iacute;sico, la tarjeta citada, que permite llevar a cabo   inspecci&oacute;n no invasiva por medio de ultrasonido, y   el segundo, un componente de software entregado   por el fabricante para controlarla, que usa las API   (application programming interfaces). Como las   citadas API son para uso en plataforma Win32, el   componente dise&ntilde;ado efect&uacute;a el enlace entre estas   y la plataforma.NET a trav&eacute;s de una biblioteca de   v&iacute;nculo din&aacute;mico (DLL) que hace posible el control   de la tarjeta OPCARD.</p>       <p><font size="3"><b><i>3.2.2 Almacenar informaci&oacute;n</i></b></font></p>       <p>La funci&oacute;n de almacenamiento es realizada   por un componente de software y un objeto, que   inicialmente es un archivo de formato compatible   con MATLAB.</p>       <p>El archivo almacena la informaci&oacute;n num&eacute;rica   de la se&ntilde;al (resultado de la conversi&oacute;n an&aacute;loga digital   efectuada por la tarjeta), en formato de texto plano   de columna finalizada con espacio y fila terminada   con el car&aacute;cter de cambio de l&iacute;nea. Cada columna   representa una muestra de la se&ntilde;al de ultrasonido   digitalizada, y el conjunto de estas forma un registro.   A su vez cada registro, o l&iacute;nea del archivo, representa   una toma espec&iacute;fica de informaci&oacute;n, que no es m&aacute;s   que la se&ntilde;al digitalizada de un A-scan, y que por   definici&oacute;n es el archivo completo con varios registros   que posee la informaci&oacute;n de un D-scan.</p>       <p>Como un ejemplo para ilustrar los anteriores   p&aacute;rrafos, con base en los datos consignados en la   <a href="#tab1">tabla 1</a>, se puede observar que se distingue una matriz   D-scan constituida por 3 barridos A-scan, y cada   barrido A-scan constituido por 15 datos digitalizados   a una frecuencia de muestreo de 100 millones de   muestras cada segundo, con una duraci&oacute;n neta de   cada uno de los registros de 150 ns. Es pertinente   aclarar que los datos del ejemplo citado no son   reales, porque aunque la frecuencia de muestreo   empleada es la de 100 MHz, la duraci&oacute;n de cada   adquisici&oacute;n de un A-scan es usualmente mayor de   1.0 <i>&micro;</i>s, lo que genera m&aacute;s de 100 muestras por cada   A-scan.</p>       <p align="center"><img src="img/revistas/eia/n17/n17a11tab1.gif"><a name="tab1"></a></p>       <p><font size="3"><b><i>3.2.3 Funci&oacute;n graficadora</i></b></font></p>       <p>Esta funci&oacute;n est&aacute; integrada por dos componentes   de software: la clase de gr&aacute;ficos cartesianos   y la de gr&aacute;ficos en dos dimensiones.</p>       <p>La primera se encarga de visualizar la informaci&oacute;n   que le es entregada en una cuadr&iacute;cula y ajustar   el rango visualizado a los valores &oacute;ptimos para los   datos mostrados, y tambi&eacute;n permite la visualizaci&oacute;n   tanto de un solo A-scan como de varios a la vez,   seleccionando para cada uno de ellos un color   diferente. La segunda clase de gr&aacute;ficos est&aacute; en capacidad   de tomar la informaci&oacute;n de uno o m&aacute;s A-scan   y visualizarla como una imagen 2D, transformando   las amplitudes de las se&ntilde;ales de A-scan en escala de   grises, y de unirlas en una sola imagen, tal como se   explic&oacute; en la secci&oacute;n 2 (ver <a href="#fig7">figura 7a</a>).  </p>       ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><img src="img/revistas/eia/n17/n17a11fig7.gif"><a name="fig7"></a></p>       <p><font size="3"><b><i>3.2.4 Unidad de procesamiento   de la informaci&oacute;n</i></b></font></p>       <p>La funci&oacute;n destinada para la tarea de procesar   informaci&oacute;n est&aacute; compuesta por una clase que contiene   los algoritmos necesarios para el procesamiento   de las se&ntilde;ales.</p>       <p>En la <a href="#fig7">figura 7b</a> se aprecia el resultado de   la aplicaci&oacute;n de los algoritmos sobre los datos del   ejemplo de la <a href="#tab1">tabla 1</a>. La imagen es generada por el   componente de gr&aacute;ficos 2D cuando se le entregan   los datos a la salida de la unidad de procesamiento.</p>       <p><font size="3"><b>4. MODELO FINAL </b></font></p>       <p>El modelo definitivo consta de dos capas: una   de comportamiento, que surge de las necesidades   que demanda el proceso de adquisici&oacute;n de se&ntilde;ales,   y la segunda, una capa de componentes que gu&iacute;a la   implementaci&oacute;n del sistema (ver <a href="#fig8">figura 8</a>).</p>       <p align="center"><img src="img/revistas/eia/n17/n17a11fig8.gif"><a name="fig8"></a></p>       <p>Este modelo, que se estima es general, podr&iacute;a   en consecuencia ser aplicable en muchas otras &aacute;reas   donde se precise de la adquisici&oacute;n y del procesamiento   digital de se&ntilde;ales.</p>       <p><font size="3"><b>5. RESULTADOS</b></font></p>       <p>El modelo del sistema descrito en las secciones   3.1 y 3.2 fue usado para el desarrollo de una   aplicaci&oacute;n sobre plataforma .NET y lenguaje C#,   empleando la tarjeta OPCARD-01/100 y palpadores   angulares con frecuencia central de 10 MHz, 6 mm   de di&aacute;metro y zapatas de 70&deg;. A fin de examinar las   posibilidades del sistema, se le aplic&oacute; al escrutinio de   una probeta de acero con un defecto discontinuo de   forma cil&iacute;ndrica (ver figuras <a href="#fig9">9</a>, <a href="#fig10">10</a> y <a href="#fig11">11</a>).</p>       ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><img src="img/revistas/eia/n17/n17a11fig9.gif"><a name="fig9"></a></p>       <p align="center"><img src="img/revistas/eia/n17/n17a11fig10.gif"><a name="fig10"></a></p>       <p align="center"><img src="img/revistas/eia/n17/n17a11fig11.gif"><a name="fig11"></a></p>       <p>Una vez se lleva a cabo el ensayo, se pone   de manifiesto el problema relacionado con la distorsi&oacute;n   de las se&ntilde;ales, cuya causa se describe en la   secci&oacute;n 2.3.</p>       <p>La <a href="#fig10">figura 10</a> ilustra la anomal&iacute;a introducida   por el movimiento no uniforme de los transductores   y la variaci&oacute;n en el espesor de la capa del l&iacute;quido, de   modo que cuando la aplicaci&oacute;n ejecuta el algoritmo   de alineamiento, la imagen presenta una marcada   disminuci&oacute;n de la distorsi&oacute;n an&oacute;mala, mientras que   la morfolog&iacute;a del defecto que se sabe es cil&iacute;ndrica,   aunque no continua, se destaca con nitidez en la   silueta, como muestra la <a href="#fig11">figura 11</a>.</p>       <p>Un t&iacute;pico ensayo en el que se examine una   probeta como la utilizada demanda unos cinco minutos   entre el inicio de la exploraci&oacute;n y la obtenci&oacute;n   de la imagen alineada, sin necesidad de aplicaciones   adicionales, con las cuales la duraci&oacute;n se extend&iacute;a   alrededor de 50 minutos (Segura y Rodr&iacute;guez, 2011).</p>       <p><font size="3"><b>6. CONCLUSIONES</b></font></p>       <p>El modelo de software propuesto se valida por   medio de su aplicaci&oacute;n en el &aacute;rea de los ensayos no   destructivos utilizando ultrasonido. Se comprob&oacute;   que es posible la implementaci&oacute;n de un sistema con   funciones propias para ensayos no destructivos, que   permita la formaci&oacute;n de im&aacute;genes y procesamiento   de los resultados sin el uso de herramientas computacionales   tales como MATLAB o similares.</p>       <p>El comportamiento del sistema, sintetizado en   tan solo una aplicaci&oacute;n, permite la exploraci&oacute;n de   probetas met&aacute;licas utilizando la t&eacute;cnica de difracci&oacute;n   de tiempo de vuelo (TOFD). Se incorporaron tres   algoritmos al sistema, cuya tarea consiste en realzar   la relaci&oacute;n se&ntilde;al a ruido de se&ntilde;ales ultras&oacute;nicas,   la formaci&oacute;n de una imagen bidimensional que   contiene informaci&oacute;n de secciones transversales de   uniones soldadas y la eliminaci&oacute;n de ruido asociado   al m&eacute;todo de inspecci&oacute;n. Para probar la eficacia   de los citados algoritmos, se utiliz&oacute; una probeta de   acero a la que se le practic&oacute; con taladro un orificio   cil&iacute;ndrico no continuo.</p>       <p>La componente esencial del sistema est&aacute;   constituida por una tarjeta de ultrasonido, que se   consigui&oacute; controlar mediante una aplicaci&oacute;n desarrollada   en .NET, usando para ello una herramienta   de uso libre denominada Visual Studio Express 2010,   hecho que libera el tener que sufragar costos de   licencias que demande el desarrollo de la aplicaci&oacute;n   y su eventual utilizaci&oacute;n comercial.</p>       ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="3"><b>REFERENCIAS</b></font></p>       <!-- ref --><p>Bentley, John. <i>Sistemas de medici&oacute;n</i>. M&eacute;xico: CECSA,   1993. 493 p.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000104&pid=S1794-1237201200010001100001&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Birring, Anmol S. and Nidathavolu, Bharat K. (2005).   "Ultrasonic testing of welds by time of flight diffraction:   Codes, guidelines and standards". <i>Materials Evaluation</i>,   vol. 63, No. 9, pp. 910-914.  &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000105&pid=S1794-1237201200010001100002&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Boer, Frank; Bonsague, Marcello and Van Buuren, Ren&eacute;   (2007). "Concepts for architectural description". <i>Telematica   Instituut/Archimate Consortium</i>.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000106&pid=S1794-1237201200010001100003&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Bossuat, B.; Walaszeck, H. and Flavenot, J. F. 2006. "Non   destructive evaluation by time of flight diffraction   method mechanical applications", <i>ECNDT</i>, Berlin   (25-29 September), Poster 212.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000107&pid=S1794-1237201200010001100004&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Charlesworth, J. P. and Temple, J. A. G. <i>Engineering applications   of ultrasonic time-of-flight diffration</i>. 2nd ed.   Baldock, UK: Research Studies Press, 2001. 254 p.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000108&pid=S1794-1237201200010001100005&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Forero, Edwin y Rodr&iacute;guez, Alejandro (2008). <i>Procesamiento   digital de se&ntilde;ales TOFD</i>. Memorias del XIII   Simposio de Tratamiento de Se&ntilde;ales, Im&aacute;genes y Visi&oacute;n   Artificial (STSIVA), Bucaramanga (10-12 septiembre),   tomo I, pp. 93-97.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000109&pid=S1794-1237201200010001100006&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Gang, T. and Chi, D. Z. (2007). "Novel approach to   enhancement of ultrasonic TOFD B-scan, image for   measurement of weld crack". <i>Science and Technology of   Welding and Joining</i>, vol. 12, No. 1 (January), pp. 87-93.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000110&pid=S1794-1237201200010001100007&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Goujon N. S. and Kenzie B. W. <i>Recommendations for applying   TOFD: Field of application, strengths, weaknesses</i>.   Document 2-31-D-2005-02-1 TOFDPROOF project n&deg;   G6RD-CT-2001-00626. The TOFDPROOF Consortium,   2005. pp. 44-58.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000111&pid=S1794-1237201200010001100008&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Mart&iacute;n C. J.; Gonz&aacute;lez R. y Giacchetta R. (2007). <i>Ultrascope   TOFD: Un sistema compacto para la captura y   procesamiento de im&aacute;genes TOFD</i>. IV Conferencia   Panamericana de Ensayos no Destructivos, Buenos   Aires (22-26 de octubre).&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000112&pid=S1794-1237201200010001100009&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Mart&iacute;nez-O&ntilde;a, Rafael; Viggianiello, Sylvain and Bleuze,   Alexandre (2006). <i>On qualification of TOFD technique   for austenitic stainless steel welds inspection</i>. ECNDT,   Berlin (25-29 September). 7 p.  &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000113&pid=S1794-1237201200010001100010&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Moles, Michael and Labb&eacute;, Simon (2008). <i>A complete   solution for weld inspections: Phased arrays and diffraction   sizing</i>. 17th World Conference on Nondestructive   Testing, Shanghai (25-28 October). 6 p.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000114&pid=S1794-1237201200010001100011&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Riahi, M. and Abolhasany, M. (2006). "Substitution of the   time-of-flight diffraction technique for nondestructive   testing of welds and thick layers of steel: A comparative   investigation". <i>Russian Journal of Nondestructive Testing</i>,   vol. 42, No. 12, pp. 794-801.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000115&pid=S1794-1237201200010001100012&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Rodr&iacute;guez, Jairo; Vitola, Jaime y Sandoval, Susana (2007).   "Fundamentos te&oacute;rico-pr&aacute;cticos de ultrasonido". <i>Tecnura</i>,   a&ntilde;o 10, No. 20 (julio), pp. 4-18.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000116&pid=S1794-1237201200010001100013&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Rodr&iacute;guez, Jairo; Vitola, Jaime y Sandoval, Susana (2009).   "Dise&ntilde;o y construcci&oacute;n de un sistema de ultrasonido   para la detecci&oacute;n de discontinuidades en soldadura".   <i>Revista Colombiana de F&iacute;sica</i>, vol. 41, No. 1 (enero),   pp. 159-161.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000117&pid=S1794-1237201200010001100014&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Rodr&iacute;guez, Jairo; Vitola, Jaime; Sandoval, Susana y Forero,   Edwin (2009). "Dise&ntilde;o y construcci&oacute;n de un sistema   para examen no destructivo de fallas y defectos en   metales utilizando se&ntilde;ales ultras&oacute;nicas". <i>Revista EIA</i>,   No. 12 (diciembre), pp. 9-21.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000118&pid=S1794-1237201200010001100015&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Segura, Dar&iacute;o y Rodr&iacute;guez, Alejandro (2011). <i>Interfase para   el control de tarjeta de ultrasonido</i>. Libro de Res&uacute;menes   del XXIV Congreso Nacional de F&iacute;sica, Bogot&aacute; (3-7   octubre). 74 p.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000119&pid=S1794-1237201200010001100016&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>Wang, Zicheng; Zhou, Youpeng and Tian, Jianxin (2008).     <i>TOFD-scan imaging based on synthetic aperture focusing     technique</i>. 17th World Conference on Nondestructive     Testing (17th WCNDT), Shanghai (25-28 October),     vol. 3, pp. 2396-2402. &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000120&pid=S1794-1237201200010001100017&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> ]]></body><back>
<ref-list>
<ref id="B1">
<nlm-citation citation-type="book">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Bentley]]></surname>
<given-names><![CDATA[John]]></given-names>
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<source><![CDATA[Sistemas de medición]]></source>
<year>1993</year>
<page-range>493</page-range><publisher-loc><![CDATA[México ]]></publisher-loc>
<publisher-name><![CDATA[CECSA]]></publisher-name>
</nlm-citation>
</ref>
<ref id="B2">
<nlm-citation citation-type="journal">
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