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<article-title xml:lang="es"><![CDATA[Determinación de la microestructura cerámica mediante procesamiento óptico-digital de imágenes MEB]]></article-title>
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<abstract abstract-type="short" xml:lang="pt"><p><![CDATA[Este trabalho relata a concepção e implementação de um software para análise ceramografico e controle de qualidade em ciência de materiais, através do estudo das imagens obtidas por microscopia eletrônica de varredura (MEV) da superfície polida das amostras de diferentes sistemas cerâmicos. O sistema se baseia no processamento óptico-digital de imagem para determinar: o tamanho de cada grão e poro, sua circularidade e fator de excentricidade. Este trabalho enfatiza o uso de técnicas mais eficientes de filtragem adaptativa e detecção de borda, para executar o cálculo do tamanho de partícula com alta precisão, em comparação com os métodos tradicionais encapsulados em ASTM E112 e E1382. Os resultados mais salientes desta análise, como a possível aplicação deste sistema em outras áreas de pesquisa como a exploração de petróleo, engenharia de solo e de filmes finos são apresentados neste trabalho com eficácia superior com outro software comerciais.]]></p></abstract>
<abstract abstract-type="short" xml:lang="en"><p><![CDATA[This paper reports the design and implementation of software to ceramographic analysis and quality control in materials science, through image study obtained by scanning electronic microscopy (SEM), of samples polished surface of different ceramics systems. The system is supported on optics-digital image processing to determine: the size of each grain and pore, it roundness and eccentricity as shape factor. This work stands out the use of more e&#64259;cient techniques of adaptive filtering and edge detection, to the calculus realization for the particle size with high precision, compared with traditional methods encapsulated inside the norms ASTM E112 and E1382. The most outstanding results of this analysis, as the possible application of this system in other investigation areas such as granulometry, oil exploration, geotechnical engineering and thin films are presented in this paper, with superior effectiveness with other commercial software.]]></p></abstract>
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</front><body><![CDATA[ <p align="center"><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="4"><b>Determinaci&oacute;n  de la microestructura cer&aacute;mica  mediante procesamiento &oacute;ptico–digital  de im&aacute;genes MEB</b></font></p>     <p align="center"><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="3"><b>Determina&ccedil;&atilde;o da  microestrutura cer&acirc;mica atrav&eacute;s de processamento &oacute;ptico–digital  de imagem MEV</b></font></p>     <p align="center"><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="3"><b>Determination of  ceramic microstructure by using optical–digital image processing of  SEM images</b></font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">Oscar Garc&iacute;a–Palencia<sup>1</sup>, Leonairo Pencue<sup>2</sup> y   Cristian Villacrez–Pastas<sup>3</sup> </font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2"><sup>1</sup> Ingeniero  f&iacute;sico, <a href="mailto:ogarcia@unicauca.edu.co">ogarcia@unicauca.edu.co, </a>investigador, Universidad del Cauca, Popay&aacute;n&ndash;Colombia. </font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2"><sup>2</sup> Ingeniero  f&iacute;sico, <a href="mailto:leonairo@unicauca.edu.co">leonairo@unicauca.edu.co, </a>profesor  titular, Grupo de &Oacute;ptica y L&aacute;ser,   Ingenier&iacute;a  f&iacute;sica, Universidad del Cauca, Popay&aacute;n&ndash;Colombia.</font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2"> <sup>3</sup> Estudiante  de Ingenier&iacute;a f&iacute;sica, <a href="mailto:cvillacrez@unicauca.edu.co">cvillacrez@unicauca.edu.co</a>,  Grupo de bajas temperaturas,  Universidad del Cauca, Popay&aacute;n&ndash;Colombia.</font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">(Recepci&oacute;n:  17-jun-2009. Modificaci&oacute;n: 20-oct-2009. Aceptaci&oacute;n: 22-oct-2009)</font></p> <hr size="1" />     <p>&nbsp;</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2"><b>Resumen</b></font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">   En  este trabajo se reporta el dise&ntilde;o e implementaci&oacute;n de un software para an&aacute;lisis  ceramogr&aacute;fico y control de calidad en ciencia de materiales, mediante el   estudio  de im&aacute;genes obtenidas por microscopia electr&oacute;nica de barrido (MEB)   de la  superficie pulida de muestras de diferentes sistemas cer&aacute;micos. El sistema se  apoya en el procesamiento &oacute;ptico digital de im&aacute;genes para determinar:   el  tama&ntilde;o de cada grano y poro, su factor de redondez y excentricidad como   factor  de forma. Este trabajo destaca el uso de las t&eacute;cnicas m&aacute;s eficientes de filtrado  adaptativo y de detecci&oacute;n de bordes, para la realizaci&oacute;n del c&aacute;lculo de  tama&ntilde;o de part&iacute;cula con alta precisi&oacute;n, en comparaci&oacute;n con los m&eacute;todos tradicionales  encapsulados en las normas ASTM E112 y E1382. Los resultados m&aacute;s  destacados de este an&aacute;lisis, como la posible aplicaci&oacute;n de este sistema en otros  campos de la investigaci&oacute;n tales como la granulometr&iacute;a, la exploraci&oacute;n petrol&iacute;fera,  la ingenier&iacute;a de suelos y las pel&iacute;culas delgadas, se presentan en este trabajo,  con efectividad superior con otros software comerciales.</font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2"><b>Palabras  claves:</b> microscop&iacute;a MEB, an&aacute;lisis ceramogr&aacute;fico, procesamiento de im&aacute;genes.</font></p> <hr size="1" />     <p>&nbsp;</p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2"><b>Resumo </b></font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">Este  trabalho relata a concep&ccedil;&atilde;o e implementa&ccedil;&atilde;o de um software para an&aacute;lise  ceramografico e controle de qualidade em ci&ecirc;ncia de materiais, atrav&eacute;s do   estudo  das imagens obtidas por microscopia eletr&ocirc;nica de varredura (MEV)   da  superf&iacute;cie polida das amostras de diferentes sistemas cer&acirc;micos. O sistema  se baseia no processamento &oacute;ptico-digital de imagem para determinar:   o  tamanho de cada gr&atilde;o e poro, sua circularidade e fator de excentricidade.   Este  trabalho enfatiza o uso de t&eacute;cnicas mais eficientes de filtragem adaptativa  e detec&ccedil;&atilde;o de borda, para executar o c&aacute;lculo do tamanho de part&iacute;cula   com  alta precis&atilde;o, em compara&ccedil;&atilde;o com os m&eacute;todos tradicionais encapsulados   em  ASTM E112 e E1382. Os resultados mais salientes desta an&aacute;lise, como a   poss&iacute;vel  aplica&ccedil;&atilde;o deste sistema em outras &aacute;reas de pesquisa como a explora&ccedil;&atilde;o  de petr&oacute;leo, engenharia de solo e de filmes finos s&atilde;o apresentados neste   trabalho  com efic&aacute;cia superior com outro software comerciais.</font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2"><b>Palavras chaves:</b> microscopia  MEV, an&aacute;lise ceramografico, processamento de  imagem.</font></p> <hr size="1" />     <p>&nbsp;</p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2"><b>Abstract </b></font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">This  paper reports the design and implementation of software to ceramographic  analysis and quality control in materials science, through image study   obtained  by scanning electronic microscopy (SEM), of samples polished surface  of different  ceramics systems. The system is supported on optics-digital   image  processing to determine: the size of each grain and pore, it roundness   and  eccentricity as shape factor. This work stands out the use of more e&#64259;cient   techniques  of adaptive filtering and edge detection, to the calculus realization   for  the particle size with high precision, compared with traditional methods   encapsulated  inside the norms ASTM E112 and E1382. The most outstanding  results of this analysis, as the possible application of this system in other   investigation  areas such as granulometry, oil exploration, geotechnical engineering  and thin films are presented in this paper, with superior effectiveness   with  other commercial software.</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2"><b>Key words:</b> SEM  microscopy, particle size, image processing.</font></p> <hr size="1" />     <p>&nbsp;</p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="3"><b>1 Introducci&oacute;n</b></font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">Para tener control  sobre los procesos de s&iacute;ntesis y sinterizaci&oacute;n de materiales   cer&aacute;micos  es necesario contar con t&eacute;cnicas de caracterizaci&oacute;n que permitan   conocer  la evoluci&oacute;n del material cer&aacute;mico al ser sometido a estos procesos.   Entre  los m&eacute;todos de caracterizaci&oacute;n utilizados para analizar estos sistemas,   se  destaca la caracterizaci&oacute;n microestructural utilizando la microscopia SEM   y TEM, debido a su  bajo costo respecto a otras t&eacute;cnicas.</font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">Debido  a la naturaleza de las im&aacute;genes, la extracci&oacute;n manual de los par&aacute;metros  microestructurales implicar&iacute;a largos tiempos de an&aacute;lisis, limitaciones en  el tratamiento de datos estad&iacute;sticos y el empleo de un criterio poco objetivo en las medidas, lo  que conlleva a poca precisi&oacute;n. En realidad, el observador se puede distraer  f&aacute;cilmente de lo que es importante, por detalles triviales de la imagen, sumado al  cansancio visual, tender&aacute; a hacer suposiciones que pueden falsear la medida,  por esa raz&oacute;n se hace necesario el desarrollo e implementaci&oacute;n de un sistema  autom&aacute;tico de medida, basado en el procesamiento de im&aacute;genes digitales,  el cual permita determinar los par&aacute;metros microestructurales de inter&eacute;s &#91;1, 2&#93;.</font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">Los procesos de  medida de par&aacute;metros microestructurales, en los &uacute;ltimos 30 a&ntilde;os, est&aacute;n  condensados en normas t&eacute;cnicas, entre las cuales se destaca la ASTM E112 y E1382 (American Society  for Testing and Materials), la Internacional  Organization for Standarization (ISO) y  la Swedish Standards Institution (SIS). Estas normas se fundamentan b&aacute;sicamente  en tres m&eacute;todos: de intersecci&oacute;n,  planim&eacute;tricos y de comparaci&oacute;n, los cuales han reducido los tiempos de an&aacute;lisis.  Cabe anotar que en dichos m&eacute;todos, la precisi&oacute;n en las medidas es  relativamente baja &#91;3, 4, 5&#93;.</font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">Se debe tener en  cuenta que la experiencia de varias d&eacute;cadas indica que en muchas aplicaciones  de tipo industrial e investigativo, los m&eacute;todos tradicionales han realizado una  buena labor, pero si se quiere realizar un estudio en el cual se requiere una  mejor descripci&oacute;n de los par&aacute;metros del sistema cer&aacute;mico, se debe migrar a otras  t&eacute;cnicas y m&eacute;todos de an&aacute;lisis.</font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">Por tal raz&oacute;n surge  este trabajo de investigaci&oacute;n, el cual est&aacute; enfocado en la realizaci&oacute;n de  medidas densitom&eacute;tricas, medidas de campo y medidas de objeto, en el cual se  aisla cada grano y poro presente en la micrograf&iacute;a. De esta forma se aumenta  la precisi&oacute;n durante el proceso ya que la t&eacute;cnica propuesta permite  extraer los par&aacute;metros morfom&eacute;tricos m&aacute;s significativos. Los resultados  obtenidos son comparados con los m&eacute;todos tradicionales, como el propuesto en el paquete comercial <i>IQmaterials</i> de la empresa Media Cybernetics que trabaja bajo las normas de la ASTM.</font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="3"><b>2 Fundamentos te&oacute;ricos</b></font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="3"><b>2.1 Procesamiento general  de una imagen</b></font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">Los  sistemas de an&aacute;lisis de imagen tratan las im&aacute;genes como un conjunto de puntos  ordenados cada uno con un nivel de gris, estos puntos denominados p&iacute;xeles  se ordenan en una matriz para dar lugar a una representaci&oacute;n digital de  una imagen. El procesamiento de esta matriz, se centra en la necesidad de mejorar  la visibilidad de las estructuras de inter&eacute;s y en la eliminaci&oacute;n de defectos.  Las operaciones que componen el procesado se pueden clasificar en tres grupos:  transformaciones geom&eacute;tricas, transformaciones puntuales y convoluciones  y/o filtros. Las transformaciones geom&eacute;tricas son aquellas que trasladan un  p&iacute;xel a una nueva coordenada, como por ejemplo la ampliaci&oacute;n de una zona, la  reducci&oacute;n, la correcci&oacute;n de distorsiones, rotaciones, etc&eacute;tera. Las transformaciones  puntuales son las m&aacute;s sencillas ya que no dependen de los niveles de gris  de los p&iacute;xeles vecinos. Como ejemplo se puede mencionar la modificaci&oacute;n de  contraste y brillo en una imagen. Mientras tanto, la convoluci&oacute;n es una transformaci&oacute;n  que tiene en cuenta los niveles de gris de los p&iacute;xeles vecinos. Dentro  de los ejemplos m&aacute;s representativos se pueden mencionar la detecci&oacute;n de  bordes, el suavizado de una imagen y los filtros morfol&oacute;gicos. Este tipo de  transformaciones son tal vez las m&aacute;s importantes en el desarrollo de este trabajo &#91;6&#93;.</font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">El  procesamiento de una imagen consta b&aacute;sicamente de dos fases, las cuales est&aacute;n  ligadas entre s&iacute;. Primero se realiza el filtrado de la imagen y posteriormente  la detecci&oacute;n de los bordes de los objetos de inter&eacute;s. Para ampliar esta idea,  se debe ver una imagen como una se&ntilde;al digital: esta se&ntilde;al siempre presentar&aacute;  alg&uacute;n grado de ruido, el cual puede ser originado por diversas causas que  van desde la digitalizaci&oacute;n, la calidad del proveedor de energ&iacute;a, hasta las propias  part&iacute;culas. Es por eso que existe todo un campo de investigaci&oacute;n alrededor  del filtrado de las se&ntilde;ales digitales. La idea b&aacute;sica es eliminar los detalles irrelevantes en la  imagen.</font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">Posterior  al filtrado se procede a la detecci&oacute;n de los bordes. Existen infinidad  de m&eacute;todos, muchos basados en la neurof&iacute;sica y la psicof&iacute;sica, pero el prop&oacute;sito  de esta etapa es obtener una imagen binaria, en la cual s&oacute;lo est&eacute;n presentes los  contornos o fronteras de los objetos de inter&eacute;s &#91;7&#93;.</font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">Una  vez se tiene una imagen con los detalles de inter&eacute;s segmentados, se procede  a utilizar las herramientas que proporciona la morfolog&iacute;a matem&aacute;tica. Estas  permiten reconstruir bordes quebrados, eliminar detalles irrelevantes, adelgazar  bordes, describir formas, etc&eacute;tera. De esa forma es posible encontrar la  frontera de cada part&iacute;cula para posteriormente aislarla y realizar sobre &eacute;sta todas las medidas de  campo y de objeto posibles &#91;8, 9&#93;.</font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="3"><b>2.2 Medidas en el  an&aacute;lisis de imagen aplicado a la determinaci&oacute;n de la microestructura  cer&aacute;mica</b></font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">De  acuerdo al tipo de estudio que se quiera realizar y de los prop&oacute;sitos del mismo,  los par&aacute;metros que describen los elementos analizados pueden ser de mayor o menor grado  de utilidad. Los descriptores empleados son:</font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2"><b>2.2.1 Descriptores de los  par&aacute;metros morfom&eacute;tricos.</b> A  continuaci&oacute;n se  describen los factores de forma que mejor se ajustan a la morfolog&iacute;a de las part&iacute;culas presentes  en las fotomicrograf&iacute;as:</font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2"><b>&Aacute;rea:</b>  n&uacute;mero total de p&iacute;xeles encerrados dentro del contorno del elemento analizado,  multiplicado por el &aacute;rea de un p&iacute;xel previamente calibrado.</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">&Aacute;rea = n&uacute;mero de  p&iacute;xeles &times; &aacute;rea de un p&iacute;xel.</font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2"><b>Per&iacute;metro:</b> longitud  del contorno del elemento analizado. </font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2"><b>Redondez:</b>  factor de forma, que da el valor m&iacute;nimo de 1 al c&iacute;rculo, este   par&aacute;metro se calcula  por la conocida relaci&oacute;n</font></p>     <p align="center"><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">Redondez = Perimetro<sup>2</sup>/&Aacute;rea.</font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2"><b>Di&aacute;metro  del c&iacute;rculo equivalente:</b> di&aacute;metro de un c&iacute;rculo que tiene la misma &aacute;rea del cuerpo  medido.</font></p>     <p align="center"><img src="img/revistas/ince/v6n11/a04g1.jpg" /></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2"><b>Raz&oacute;n de aspecto:</b>  relaci&oacute;n entre los di&aacute;metros de Feret.</font></p>     <p align="center"><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2"><i>R</i>.aspecto = <i>F</i>largo /  <i>F</i>corto,</font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">donde <i>F</i> se refiere a los  di&aacute;metros de Feret.</font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">Para los efectos de  las esquinas producidas por la digitalizaci&oacute;n de los objetos  en la imagen, el c&aacute;lculo del per&iacute;metro debe ser corregido por el factor de ajuste calculado  de 1,064.</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2"><b>2.2.2 Descriptores de  las medidas de campo</b>. Existen  m&uacute;ltiples descriptores  entre los que se pueden destacar: contaje de objetos, densidad de marcaje,  medida porcentual de un &aacute;rea respecto a un campo de referencia, medida  del volumen a partir de cortes seriados, entre otros. Para este an&aacute;lisis s&oacute;lo se utilizar&aacute; el  porcentaje de &aacute;rea respecto a un campo en caso que se presenten segundas  fases y la densidad de part&iacute;culas en un campo, es decir, el n&uacute;mero de part&iacute;culas  en un &aacute;rea determinada.</font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2"><b>2.2.3 Par&aacute;metros  densitom&eacute;tricos</b>. El t&eacute;rmino  densitom&eacute;trico hace referencia a la medida  de las cualidades lum&iacute;nicas (de brillo) de los objetos. En otras palabras se  establece una relaci&oacute;n entre el brillo de un objeto y alguna propiedad f&iacute;sica,  qu&iacute;mica o biol&oacute;gica de &eacute;ste, siendo un claro ejemplo la claridad de los granos  frente la opacidad de los poros. Esto quiere decir que el valor de gris de una fase  es relevante como par&aacute;metro cuando su intensidad lum&iacute;nica se encuentra  relacionada con alguna cualidad de dicha fase &#91;10, 11,  12&#93;.</font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="3"><b>3 Procedimiento para  realizar el an&aacute;lisis microestructural</b></font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">El  an&aacute;lisis de imagen aplicado al estudio de la microestructura cer&aacute;mica se   fundamenta en las  etapas se&ntilde;aladas en la <a href="#f1">figura 1. </a>Aunque las tres primeras   etapas no tienen que  ver con el procesamiento de im&aacute;genes, son importantes   para el an&aacute;lisis ya  que la imagen es la fuente de la informaci&oacute;n requerida.   En estas tres etapas  radica la adecuada preparaci&oacute;n de la muestra. En todo   momento se debe tener  presente que una buena imagen proporcionar&aacute; datos de   buena fiabilidad.  Obtener un buen pulido de la muestra es fundamental para   obtener superficies  suaves, con ruido relativamente bajo (debido a la rugosidad de  la superficie), niveles de gris homog&eacute;neos y fronteras de grano bien definidas, sin  sombras, sin abolladuras ni material desprendido que confunda al sistema con falsos poros o  bordes.</font></p>     <p align="center"><a name="f1"><img src="img/revistas/ince/v6n11/a04f1.jpg" /></a></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">Cuando se trabaja con  sistemas cer&aacute;micos, no conductores en general, un recubrimiento  met&aacute;lico debe hacerse sobre la muestra, normalmente con oro, para lograr una buena  conducci&oacute;n de la muestra y por tanto la formaci&oacute;n de una buena imagen con  el MEB (Microscopio Electr&oacute;nico de Barrido). Es por eso que antes de  depositar la pel&iacute;cula delgada de oro, se debe tener una muestra libre de  impurezas, la seguridad de alcanzar el vac&iacute;o adecuado y respetar el tiempo de  deposici&oacute;n de la pel&iacute;cula, entre otros cuidados. Esto proporcionar&aacute; en la imagen  fronteras de grano bien definidas, pero el no hacerlo traer&aacute; problemas como la  saturaci&oacute;n de la imagen en las regiones mal recubiertas. La <a href="#f2">figura 2</a> es  un claro ejemplo de una muestra mal preparada (imagen proporcionada por el grupo de  ciencia y tecnolog&iacute;a de materiales cer&aacute;micos Cytemac de la Universidad del Cauca.</font></p>     <p align="center"><a name="f2"><img src="img/revistas/ince/v6n11/a04f2.jpg" /></a></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">Una  vez se haya obtenido una buena imagen, se procede con la cuarta etapa del  procedimiento, el procesamiento de imagen, tal vez la m&aacute;s importante en el sistema  de extracci&oacute;n ya que su salida entrega las part&iacute;culas aisladas para ser medidas  en el siguiente paso, el an&aacute;lisis de imagen. Siempre que se efect&uacute;e un buen  procesamiento de la imagen de entrada, la extracci&oacute;n de la informaci&oacute;n se acercar&aacute; al ideal. </font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">El  objetivo del procesamiento de la imagen es lograr la mejor ubicaci&oacute;n posible  de la frontera de grano y de poro detectada, porque de este resultado depende  la precisi&oacute;n del sistema. Con base en esto se realiz&oacute; un estudio para seleccionar  un detector de borde que brinde la mejor respuesta, teniendo en cuenta  que cada imagen presenta caracter&iacute;sticas diferentes. Dentro del estudio se  revisaron los detectores de borde que estuvieron al alcance, entre los cuales se  destacan aquellos basados en el gradiente como el Perwitt, Sobel, Canny; basados  en la segunda derivada como el laplaciano, LoG, DoG; basados en redes  neuronales y en texturas, entre otros m&eacute;todos &#91;6, 7, 8&#93;.  En este trabajo se  eligi&oacute; un detector basado en los momentos estad&iacute;sticos, debido a su f&aacute;cil c&oacute;mputo, buena  detecci&oacute;n y f&aacute;cil umbralizaci&oacute;n.</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">Cabe  resaltar que una buena detecci&oacute;n de borde est&aacute; estrechamente ligada a un filtrado previo  de muy buena calidad, evitando as&iacute; falsos positivos debido al ruido o a  imperfecciones en la preparaci&oacute;n de la muestra. Para esto se hizo una revisi&oacute;n  cuidadosa de las t&eacute;cnicas de filtrado, dada la importancia de eliminar el ruido al  tiempo que se preservan los bordes. En las im&aacute;genes, el ruido y los bordes tienen  la misma naturaleza frecuencial (altas frecuencias), que a la luz de los filtros  lineales no se hacen distinguibles. Por esta raz&oacute;n se decidi&oacute; emplear otros m&eacute;todos  m&aacute;s avanzados tales como el filtrado no lineal. Dentro de la revisi&oacute;n se  destacan:<i> el adaptive local noise reduction filter, adaptive median  filter, double window–modified trimmed mean filter, local mean and variance  contrast enhancement, y por &uacute;ltimo el adaptive window edge detection filter </i>&#91;6, 7,  8, 9&#93;, siendo este &uacute;ltimo el que exhibi&oacute; un mejor comportamiento seg&uacute;n las  caracter&iacute;sticas encontradas en las im&aacute;genes.</font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">Una  vez se filtre la imagen base, se procede a detectar la frontera de los granos y los poros,  para luego extraer cada part&iacute;cula, con excepci&oacute;n de las que &ldquo;tocan&rdquo; el borde de  la imagen, ya que se tiene total incertidumbre sobre lo que est&aacute; fuera del campo  mismo de la imagen (ver figuras <a href="#f6">6 </a>y <a href="#f7">7</a>).</font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">En  esta fase se pasa del procesamiento al an&aacute;lisis de imagen; una vez las part&iacute;culas sean  tratadas como objetos individuales es cuando se extraen los par&aacute;metros que las  describen (se miden) seg&uacute;n sea el prop&oacute;sito. La informaci&oacute;n realmente relevante  para el objetivo de este trabajo es el c&aacute;lculo del tama&ntilde;o de part&iacute;cula, &aacute;rea,  el per&iacute;metro, la redondez, el di&aacute;metro equivalente y el nivel de gris medio &#91;10, 11, 12&#93;.</font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">Por  &uacute;ltimo, los par&aacute;metros extra&iacute;dos o descriptores de medida son presentados en hojas de MS–Excel  para un posterior an&aacute;lisis por parte del usuario. All&iacute; se presentan el  tama&ntilde;o de part&iacute;cula, porcentaje de &aacute;rea ocupada respecto al campo analizado y  distribuci&oacute;n del tama&ntilde;o de part&iacute;cula. Estos resultados ser&aacute;n discutidos y  analizados y comparados con otros m&eacute;todos a continuaci&oacute;n. </font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="3"><b>4 Resultados y discusi&oacute;n</b></font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">En esta secci&oacute;n se  presenta una metodolog&iacute;a que busca evaluar que tan fiable es el sistema  desarrollado; para esto se muestra una comparaci&oacute;n del filtro implementado con los filtros  tradicionales, la precisi&oacute;n en la ubicaci&oacute;n de la frontera de grano y  una comparaci&oacute;n de los par&aacute;metros entregados por el software desarrollado  con otros sistemas ampliamente utilizados.</font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="3"><b>4.1 Respuesta del filtro  no–lineal y detecci&oacute;n de borde</b></font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">El inter&eacute;s por  emplear filtros no lineales, radica en que estos se auto ajustan dependiendo de si los  p&iacute;xeles se encuentran en el fondo (para este caso la superficie de los  granos) o si hacen parte de un borde (frontera de grano), eliminando el ruido  al tiempo que preservan los bordes. Esta idea se ilustra en  la siguiente serie de im&aacute;genes, en donde se comparar&aacute; la salida de un filtro tradicional con la  salida de un filtro no–lineal.</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">La <a href="#f3">figura 3 </a>o imagen base representa una muestra que se desea filtrar. El contenido  de ruido de la <a href="#f3">figura 3</a> est&aacute; indicado en su perfil de l&iacute;nea, por  esta raz&oacute;n  se se&ntilde;ala. Como se puede ver en el perfil de l&iacute;nea, el contenido de ruido es alto.</font></p>     <p align="center"><a name="f3"><img src="img/revistas/ince/v6n11/a04f3.jpg" /></a></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">En  la <a href="#f4">figura 4 </a>se muestra el perfil de l&iacute;nea en la misma  ubicaci&oacute;n, esta vez para  la salida de un filtro gaussiano aplicado a la imagen de la <a href="#f3">figura 3. </a>En  este perfil  queda se&ntilde;alada la p&eacute;rdida de intensidad y el emborronamiento de los picos  (ensanchamiento), adem&aacute;s se aprecia que el filtro gaussiano es incapaz de filtrar ciertos  picos de ruido como el se&ntilde;alado con la flecha en rojo.</font></p>     <p align="center"><a name="f4"><img src="img/revistas/ince/v6n11/a04f4.jpg" /></a></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">Pero  a diferencia de lo anterior, lo que se aprecia en la <a href="#f5">figura 5 </a>son  picos afilados  de buena intensidad y supresi&oacute;n del ruido. Gracias a la aplicaci&oacute;n del Adaptive  Window Edge Detection Filter (AWEDF) se pudo eliminar el pico se&ntilde;alado en rojo,  algo dif&iacute;cil de igualar con otras t&eacute;cnicas.</font></p>     <p align="center"><a name="f5"><img src="img/revistas/ince/v6n11/a04f5.jpg" /></a></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">Una  vez se haya filtrado eficientemente la imagen base, se procede a detectar los bordes o  fronteras de grano. Hecho esto, se depura la detecci&oacute;n con la ayuda de la  morfolog&iacute;a matem&aacute;tica, trazando autom&aacute;ticamente las fronteras de grano del  tama&ntilde;o de un p&iacute;xel. Para evaluar el conjunto de: el filtro, el detector de borde y  la asistencia que brinda la morfolog&iacute;a matem&aacute;tica, se procesar&aacute; la imagen  mostrada en la <a href="#f6">figura 6</a>. Esta imagen presenta un pulimento deficiente y bajo  contraste, perfecta para una evaluaci&oacute;n objetiva.</font></p>     <p align="center"><a name="f6"><img src="img/revistas/ince/v6n11/a04f6.jpg" /></a></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">Como salida se  obtiene la imagen se&ntilde;alada en la <a href="#f7">figura 7a</a>), donde se observa  que la detecci&oacute;n del sistema, se&ntilde;alada en rojo, es altamente precisa. La     <a href="#f7">figura 7a</a>) es una imagen donde los granos est&aacute;n diferenciados por sus  fronteras  y listos para ser analizados uno a uno. Por &uacute;ltimo, el sistema extrae los par&aacute;metros  o descriptores de cada part&iacute;cula y arroja una imagen similar a la  mostrada en la <a href="#f7">figura 7b</a>), en donde se muestran las part&iacute;culas  analizadas. Como  se puede observar en b) no se analizaron los granos que tocan los bordes de la imagen.</font></p>     <p align="center"><a name="f7"><img src="img/revistas/ince/v6n11/a04f7.jpg" /></a></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>&nbsp;</p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="3"><b>4.2 Precisi&oacute;n de la medida  del contenido de porosidad</b></font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">Para comparar los  resultados obtenidos del contenido de porosidad, el <i>AnaCe</i> (nombre del m&eacute;todo  desarrollado) se compar&oacute; con un sistema de caracterizaci&oacute;n de poros basado  en procesamiento de im&aacute;genes, desarrollado en la Universidad Nacional de Colombia, sede Medell&iacute;n &#91;13&#93;,  que ha sido validado con otros m&eacute;todos. En  ambos sistemas se cargaron im&aacute;genes patrones, y se calcul&oacute; el tama&ntilde;o medio de  poro, como par&aacute;metro de comparaci&oacute;n. La <a href="#t1">tabla 1 </a>muestra los resultados  obtenidos para ocho muestras, similares a las de las figuras <a href="#f3">3 </a>y <a href="#f6">6, </a>y de las cuales no se muestran sus  fotograf&iacute;as. </font></p>     <p align="center"><a name="t1"><img src="img/revistas/ince/v6n11/a04t1.jpg" /></a></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">Como se puede observar,  la variaci&oacute;n en las medidas est&aacute; por debajo del 10  %, lo cual se debe a unos cuantos p&iacute;xeles que fueron detectados de m&aacute;s o que no se  incluyeron en la segmentaci&oacute;n. Otra manera de inducir error se presenta al redondear  los valores de punto flotante y al calibrar el factor de conversi&oacute;n para pasar  de p&iacute;xeles a micras. En general, la desviaci&oacute;n de la medida es peque&ntilde;a, lo cual indica buena confiabilidad en los resultados. </font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="3"><b>4.3 Precisi&oacute;n de la medida  del tama&ntilde;o medio de grano</b></font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">Para este estudio se  compar&oacute; el m&eacute;todo propuesto y el paquete <i>IQmaterials</i>,   cuyos resultados se  muestran en la <a href="#t2">tabla 2. </a>En este caso se emplearon dos   tipos de im&aacute;genes,  unas corresponden a patrones de la ASTM y  las otras   son im&aacute;genes de  pol&iacute;gonos regulares de diferentes lados y tama&ntilde;os, simulando un material  cer&aacute;mico y asegurando la fidelidad del patr&oacute;n. El par&aacute;metro   seleccionado para  determinar el tama&ntilde;o de grano fue el di&aacute;metro del c&iacute;rculo   equivalente y los  di&aacute;metros de Feret, ya que estos son los que mejor se ajustan,   debido a la  morfolog&iacute;a de los granos en los sistemas cer&aacute;micos.</font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">Como se aprecia en la  <a href="#t2">tabla 2</a><a href="#14">, </a>la efectividad en las mediciones del m&eacute;todo propuesto manifiesta  un alto grado de precisi&oacute;n. Nuevamente se debe tener en cuenta que la  detecci&oacute;n de la frontera de grano no es exacta y fluct&uacute;a debido al ruido en la  imagen, lo que distorsiona el valor real de las medidas.</font></p>     <p align="center"><a name="t2"><img src="img/revistas/ince/v6n11/a04t2.jpg" /></a></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">El problema de las  esquinas, debido a la digitalizaci&oacute;n y el factor de conversi&oacute;n, son los  principales actores que falsean la medida.</font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">El  m&eacute;todo de intersecci&oacute;n da una buena aproximaci&oacute;n en las medidas, unas  veces por exceso y otras por defecto, dependiendo de la tendencia de la simetr&iacute;a  de granos, si son alargados o redondeados, pero en t&eacute;rminos generales la  precisi&oacute;n fue mucho menor que la obtenida con el m&eacute;todo propuesto en esta investigaci&oacute;n.</font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">Los  par&aacute;metros restantes de gran importancia en el an&aacute;lisis como la distribuci&oacute;n  del tama&ntilde;o de grano, no se compararon, ya que la distribuci&oacute;n obtenida por  la norma ASTM E112 corresponde a datos basados en medidas de campo.</font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="3"><b>4.4 Aplicaciones en otras  &aacute;reas de la investigaci&oacute;n</b></font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">Las  im&aacute;genes empleadas para medir el grado de porosidad en las rocas, con el fin  de estudiar el almacenamiento de petr&oacute;leo y de gas natural, al igual que  la determinaci&oacute;n del tama&ntilde;o de part&iacute;cula o granulometr&iacute;a en general, en los  estudios geol&oacute;gicos, presentan similitudes con las im&aacute;genes empleadas en el estudio  de la microestructura cer&aacute;mica, lo que hace que las t&eacute;cnicas empleadas en  este trabajo se puedan reproducir para tales fines, principalmente en la extracci&oacute;n  de los par&aacute;metros morfom&eacute;tricos de cada uno de los elementos de estudio, como el tama&ntilde;o, la forma, el &aacute;rea y la distribuci&oacute;n de estos.  En la <a href="#f8">figura 8 </a>se pueden ver muestras de material geol&oacute;gico en donde se  aprecian estructuras similares  a la de los sistemas cer&aacute;micos.</font></p>     <p align="center"><a name="f8"><img src="img/revistas/ince/v6n11/a04f8.jpg" /></a></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="3"><b>5 Conclusiones</b></font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">Los  resultados obtenidos, al realizar la comparaci&oacute;n entre el m&eacute;todo desarrollado  y los m&eacute;todos tradicionales, indican la eficacia del primero frente a los   segundos,  por lo cual se puede considerar como un sistema &uacute;til para la extracci&oacute;n  de los par&aacute;metros microestructurales importantes en el estudio de los   cer&aacute;micos, fusionando  confiabilidad y rapidez en los tiempos de an&aacute;lisis.</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">Aunque  en algunas aplicaciones industriales no se requiere un calcul&oacute; preciso  de los par&aacute;metros microestructurales, lo que explica la vigencia de los m&eacute;todos  tradicionales, la tecnolog&iacute;a actual va requiriendo cada vez m&aacute;s de exactitud  en las medidas. Por otro lado, en las investigaciones que precisan de un  enfoque sist&eacute;mico, se requiere integrar una serie de herramientas que proporcionen  precisi&oacute;n a las medidas realizadas, es all&iacute; donde tiene importancia este trabajo, pues  los m&eacute;todos tradicionales son muy limitados.</font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">El  m&eacute;todo desarrollado, que propone una nueva forma de clasificar los par&aacute;metros  estructurales, puede ser extendido a otras &aacute;reas de la investigaci&oacute;n cient&iacute;fica  donde se encuentren estructuras similares a las exhibidas por los cer&aacute;micos.</font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="3"><a><b>Agradecimientos</b></a></font></p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">Los autores agradecen  al doctor Jorge E. Rodr&iacute;guez y al ingeniero Adolfo   Mosquera  del grupo Cytemac al igual que a la bi&oacute;loga Patricia Mosquera de   la  unidad de microscopia electr&oacute;nica de la Universidad del Cauca por  toda   la  colaboraci&oacute;n recibida y por suministrar las numerosas im&aacute;genes de este   trabajo: <i>la materia  prima</i>.</font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="3"><b>Referencias</b></font></p>     <!-- ref --><p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">1.  Jes&uacute;s R. Santamar&iacute;a. <i>Relaciones  microestructura–propiedades ferropiezoel&eacute;ctricas   en cer&aacute;micas de  titanato de plomo modificado.</i> Tesis Doctoral en Ciencias f&iacute;sicas. Universidad Complutense de Madrid, 1994.  Referenciado en 59</font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000110&pid=S1794-9165201000010000400001&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2"> 2.  William Callister. <i>Materials Science  and Engineering. An Introduction</i>, 7  edition,   ISBN  978–0–471–73696–7. John Wiley &amp; Sons, 2006. Referenciado en 59</font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000111&pid=S1794-9165201000010000400002&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2"> 3. Jos&eacute; Mar&iacute;a Manero, Francisco Gil Mur. <i>Metalograf&iacute;a</i>, ISBN  8483018047, Ediciones  UPC, 2005. Referenciado en 59</font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000112&pid=S1794-9165201000010000400003&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2"> 4. EE. Underwood. <i>Quantitative  Stereology</i>, ISBN  0201076500, Adison Wesley,   Reading,  1970. Referenciado en 59</font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000113&pid=S1794-9165201000010000400004&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2"> 5.  ASTM Technical Publication 839. P<i>ractical  Applications of Quantitative Metallography</i>. Symposium sponsored by ASTM Committee E–4 on Metallography   and  by the International Metallographic Society, Orlando, FL, ISBN 978-0-80314905-2,  1984. Referenciado en 59</font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000114&pid=S1794-9165201000010000400005&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2"> 6.  Rafael Gonz&aacute;lez, Richard Woods. <i>Digital Image  Processing</i>, 3 edition, ISBN   9780131687288,  Prentice Hall, 2008. Referenciado en 60, 64, 65</font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000115&pid=S1794-9165201000010000400006&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2"> 7.  William K. Pratt. <i>Digital Image  Processing</i>, 4 edition, ISBN 978–0–471–76777–0,   Wiley–Interscience,  2007. Referenciado en 61, 64, 65</font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000116&pid=S1794-9165201000010000400007&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2"> 8.  I. Pitas, Ioannis Pitas, Anastasios N. Venetsanopoulos.<i> Nonlinear digital  filters: principles  and applications</i>, ISBN  0–7923–9049–0, Kluwer Academic Publishers,  1990. Referenciado en 61, 64, 65</font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000117&pid=S1794-9165201000010000400008&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2"> 9.  Harley R. Myler, Arthur R. Weeks. <i>Computer Imaging  Recipes In C</i>, ISBN   0131898795,  Prentice Hall–Gale, 1993. Referenciado en 61, 65</font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000118&pid=S1794-9165201000010000400009&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2"> 10. Leszek Wojnar. <i>Image analysis:  applications in materials engineering</i>, ISBN   978–0–8493–8226–0,  CRC Press, 1999. Referenciado en 62, 65</font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000119&pid=S1794-9165201000010000400010&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2">11.  Luciano da Fontoura, Roberto Marcondes. <i>Shape Analysis and Classification: Theory and Practice</i>, 1 edition, ISBN  0849334934, CRC Press, Inc., 2001.   Referenciado  en 62, 65</font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000120&pid=S1794-9165201000010000400011&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2"> 12.  Jose F. Pertusa Grau. <i>T&eacute;cnicas de  an&aacute;lisis de imagen</i>, ISBN 9788437056678,   Universitat de Val&egrave;ncia, 2003. Referenciado en 62, 65</font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000121&pid=S1794-9165201000010000400012&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif" size="2"> 13.  John W. Branch, Hugo de Jes&uacute;s Mesa. <i>Caracterizaci&oacute;n de  poros en carbones   tratados  t&eacute;rmicamente empleando procesamiento digital de im&aacute;genes y microscopia asistida por  computador</i>. Revista Avances en  Sistemas e Inform&aacute;tica, ISSN   1657–7663,  <b>1</b>(1), 35–39 (2004). Referenciado en 68</font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000122&pid=S1794-9165201000010000400013&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> ]]></body><back>
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