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<article-title xml:lang="es"><![CDATA[RECUBRIMIENTOS DE (Ti,Al)N SOBRE ACERO AISI 4140 POR SPUTTERING REACTIVO]]></article-title>
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<abstract abstract-type="short" xml:lang="en"><p><![CDATA[TiAlN films were deposited by rf magnetron sputtering onto AISI 4140 steel substrates. A mixed target of metallic Ti and Al with a nominal composition of 60 atom% Ti and 40 atom% Al was used. The substrate temperature was varied between 260 ºC and 330 ºC, at a PN2/PAr pressure ratio of about 0.1. Coatings of different thickness were obtained, varying the time deposition between 2 and 4,5 hours. The chemical composition of the films was determined by EDX, and the surface topography by AFM. The electrochemical behavior, determined by EIS and TAFEL, and the micro - hardness were analyzed; the coatings displayed mainly a granular structure with small and regular grains.]]></p></abstract>
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<kwd lng="es"><![CDATA[Recubrimientos duros]]></kwd>
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</front><body><![CDATA[ <p align=center><font size="4" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>RECUBRIMIENTOS     DE (Ti,Al)N SOBRE ACERO AISI 4140 POR   SPUTTERING REACTIVO </b></font></p>     <p align=center><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>(Ti,Al)N COATINGS ON AISI 4140 BY     R.F. SPUTTERING</b></font></p>     <p align=center><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>DANNA GARCIA    <br> </b><i>Estudiante Física, Universidad Pedagógica y Tecnológica de Colombia</i></font></p>     <p align=center><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b> ULISES       PIRATOBA    <br> </b><i>MSc Física. Profesor Escuela de Física. Universidad Pedagógica y Tecnológica de Colombia, <a href="mailto:upiratobam@unal.edu.co">upiratobam@unal.edu.co</a></i></font></p>     <p align=center><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>ALVARO       MARIÑO    <br> </b><i>Dr. rer.nat. Profesor Emerito. Universidad Nacional de Colombia., <a href="mailto:amarinoca@unal.edu.co">amarinoca@unal.edu.co</a></i></font></p>     <p align=center><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Recibido       para revisar 15 de Mayo de 2006, aceptado 8 de Agosto de 2006, versión final  7   de Marzo de 2007</b></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>RESUMEN:</b> Empleando     la técnica de Pulverización catódica con radiofrecuencia   y magnetrón (Magnetron Sputtering RF), se prepararon películas de (Ti,Al)N   sobre sustratos de acero AISI 4140. Se utilizó   un blanco formado con polvos metálicos de  Ti y Al, con composición nominal   60% Ti y 40% Al (porcentaje en  átomos) y una razón de presiones parciales   de nitrógeno - argón, PN<sub>2</sub>/PAr de 0,1 aproximadamente; la temperatura   del sustrato se varió entre  260  y 330 ºC y el tiempo de deposición entre   2 y 4,5 horas para obtener películas con diferentes espesores. La composición   química de las películas se determinó  mediante la técnica de energía dispersada   de rayos X (EDX), y su topografía mediante microscopía de fuerza atómica (AFM).   Igualmente se midió  micro dureza, y se determinó su comportamiento electroquímico   mediante  espectroscopia de impedancia electroquímica EIS y ensayos TAFEL.   Las películas obtenidas presentaron granos globulares, uniformes y de pequeño   diámetro, con características electroquímicas de protección al sustrato frente   a procesos de corrosión.</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>PALABRAS CLAVE:</b> Recubrimientos   duros, (Ti,Al)N, rf Sputtering, Pulverización catódica.  </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>ABSTRACT:</b> TiAlN     films were deposited by rf magnetron sputtering onto AISI 4140 steel substrates.     A mixed target of metallic Ti and Al with a nominal composition of 60 atom%     Ti and 40 atom% Al was used. The substrate temperature was varied between     260 ºC and 330 ºC, at a PN<sub>2</sub>/PAr pressure ratio   of about 0.1. Coatings of different thickness were obtained, varying the time   deposition between 2 and 4,5 hours. The chemical composition of the films was   determined by EDX, and the surface topography by AFM. The electrochemical behavior,   determined by EIS and TAFEL, and the micro - hardness were analyzed; the coatings   displayed mainly a granular structure with small and regular grains.      </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>KEYWORDS: </b>Hard coatings, (Ti,Al)N, Sputtering rf.  </font></p>       <p>&nbsp;</p>     <p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>1. INTRODUCCIÓN</b></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Para prevenir     el deterioro de materiales particularmente metálicos, de equipos   y herramientas sometidos en su funcionamiento a proceso de desgaste, a exigencias   cada vez más estrictas y ambientes agresivos en su desempeño y para prolongar   su vida útil, se han venido </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">implementando     procesos de modificación o de recubrimiento superficial. Particularmente   se vienen utilizando los métodos de deposición física de vapor, (Physical Vapor   Deposition PVD) o de deposición química de vapor, (Chemical Vapor Deposition   CVD), procesos que además de ser amigables con el medio ambiente, no modifican   las características mecánicas o estructurales del sustrato por realizarse a   bajas temperaturas. Para los recubrimientos se han utilizado elementos metálicos,   principalmente titanio y tungsteno en forma de nitruros, carburos, óxidos o   aleados con silicio, para formar compuestos cerámicos que aumentan drásticamente   la dureza superficial, mejorando así su desempeño tribológico [1-4]. En el ámbito   nacional, diversos centros de investigación y varias Universidades, han hecho   estudios relacionados con procesos de nitruración u obtenido recubrimientos  del   tipo TiN, DLC (diamond like carbon), WC, y (Ti,Al)N entre otros; en este último   material, la adición de aluminio al TiN le mejora su resistencia a la  oxidación   y a la corrosión a altas temperaturas [5,6], sin desmedro de sus demás propiedades   tribológicas como la dureza tenacidad y baja fricción. </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">En el presente     trabajo se recubrieron probetas de AISI 4140, acero utilizado principalmente     en la fabricación de ejes y piezas sometidas a condiciones de   fricción y fatiga, a fin de evaluar algunas de sus propiedades cuando se le   han depositado películas de (TiAl)N. </font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>2. PROCEDIMIENTO EXPERIMENTAL</b></font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Las películas de (Ti,Al)N fueron depositadas sobre sustratos de acero AISI   4140 pulidos a brillo especular, utilizando un blanco de titanio-aluminio en   polvo, cuya composición tuvo una razón de átomos Ti/Al de 60/40 y se varió la   temperatura entre  250 y 330 ºC.  Para la deposición de las películas se utilizo   un sistema de erosión catódica por radiofrecuencia con magnetrón, (r.f. magnetron   Sputtering): dentro de una cámara de vacío, con vacío previo del orden de 10<sup>-4</sup> bar,   se ingresa una mezcla de gases  Ar-N<sub>2</sub> en  una relación de presiones   PN<sub>2</sub> / PAr de aproximadamente 0.1; una señal alterna de 13,56 Mhz   aplicada entre el sustrato y el blanco forma un plasma estable que permite   el bombardeo iónico del blanco, la evaporación de sus átomos y su posterior   condensación sobre el sustrato [7,8]. Los tiempos de deposición se variaron   entre 1 y 4 horas. </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">En la <a href="#tab01">tabla       1</a>  se muestran los parámetros  de fabricación de cada una de las   películas; en todos los procesos se mantuvieron constantes: las presiones de   Ar y N<sub>2</sub>: la relación de flujos de Ar-N<sub>2</sub>, y la distancia   sustrato–blanco que fue de 4 cm aproximadamente.</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="tab01"></a>Tabla 1</b>.     Parámetros de crecimiento,   empleados en la fabricación de películas (Ti,Al)N.    <br>   <b>Table 1</b>. Parameters used for   TiAlN films fabrication</font>    <br>   <img src="/img/revistas/dyna/v74n152/a16tab01.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">El comportamiento     electroquímico de los recubrimientos se analizó mediante   ensayos Tafel y Espectroscopia de Impedancia Electroquímica EIS, en un espectrómetro   marca Gamry modelo PC-4 utilizando una solución acuosa de NaCl al 5% contraelectrodo   de platino y electrodo de referencia de plata-cloruro de plata. El ensayo Tafel   se fundamenta en la aplicación de un sobrevoltaje &#951;  alrededor del potencial   de equilibrio (potencial de corriente nula), y la medición o registro de la   corriente I, que de acuerdo con Butler – Volmer [9,10] están relacionados mediante   la relación</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><img src="/img/revistas/dyna/v74n152/a16eq01.gif"></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">donde <b>I<sub>corr</sub></b>  es la corriente de corrosión, <b>&#945;</b> el   coeficiente de transferencia, <b>n</b> la valencia de los iones o el número   de electrones involucrados en las reacciones de óxido-reducción, <b>F</b> la   constante de Faraday, <b>R</b> la constante universal de los gases y <b>T</b> la   temperatura.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Con base en la     anterior expresión, en una representación gráfica del potencial   en función del logaritmo del valor absoluto de la corriente, se identifican   fácilmente el potencial de corrosión como el voltaje cuando la corriente se   anula o cambia de catódica a anódica, y la corriente de corrosión como la corriente   a sobre potencial nulo que como se ilustra en la <a href="#fig01">figura 1</a>, puede obtenerse   proyectando los segmentos lineales de las ramas anódica o catódica. Para la   espectroscopia de impedancia electroquímica EIS se aplica una señal alterna   entre los electrodos de trabajo y el de referencia, sumergidos en un electrolito;   se determina la impedancia del circuito, midiendo además la  diferencia de   fases entre el estímulo (voltaje), y la respuesta (corriente).</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig01"></a><img src="/img/revistas/dyna/v74n152/a16fig01.gif">    ]]></body>
<body><![CDATA[<br>   Figura       1.</b> Gr&aacute;fica Tafel de la muestra P4    <br>     <b>Figure 1.</b> Tafel&nbsp; plot of P4 sample</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Los valores de     micro dureza se tomaron directamente del promedio de 5 indentaciones, realizadas     con un micro durómetro HVS 1000, aplicando una carga de 0,49 N;   los espesores y tamaño de granos se determinaron por AFM. </font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>3. RESULTADOS, DISCUSI&Oacute;N Y AN&Aacute;LISIS</b></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La <a href="#tab02">tabla No 2</a> sintetiza las características de las películas de (Ti,Al)N obtenidas.</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="tab02"></a>Tabla 2.</b> Caracter&iacute;sticas de las pel&iacute;culas     de (Ti,Al)N sobre acero AISI 4140    <br>     <b>Table 2.</b> Characteristics of (TiAl)N films deposited on AISI 4140</font>    <br>     <img src="/img/revistas/dyna/v74n152/a16tab02.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">En general se     aprecia que con el proceso de recubrimiento con (Ti,Al)N, se mejoraron sustancialmente     las propiedades mecánicas y electroquímicas del material;   la micro dureza se aumentó, llegando a ser un poco superior al doble de la   del sustrato para la probeta P4. </font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">El tamaño de grano se incrementó con un aumento de la temperatura del sustrato   y de la potencia de pulverización, por cuanto incrementos en los 2 parámetros   aumentan la movilidad de los átomos adsorbidos, facilitando así la coalescencia   y el crecimiento de los granos, mientras que a bajas movilidades se facilita   el aumento en la densidad de núcleos formados y los granos serán más pequeños</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La corriente de     corrosión disminuyó respecto a la del sustrato para las 2   probetas analizadas y drásticamente para la P4; los potenciales de equilibrio   o de corrosión, (corriente igual a cero) se hicieron más negativos, puesto   que las fuerzas electromotrices del Ti y del Al son mas negativas que la del   Fe. Las resistencias de polarización, (igual a la diferencia entre los valores   de la impedancia a bajas y altas frecuencias del ensayo EIS), que son atribuibles   a los fenómenos electroquímicos de la interfase electrodo –   electrolito como el efecto de doble capa de carga eléctrica, presentaron valores   superiores a los del sustrato. </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Los espectros     de la <a href="#fig02">figura 2 A</a> y <a href="#fig02">B</a>  fueron obtenidos por EDX para las probetas   P3 y P4 respectivamente: además de los elementos típicos del sustrato se observa   la presencia de Aluminio y Titanio. En B aparece nitrógeno y oxígeno en pequeñas   cantidades; la presencia de oxígeno evidenciaría una posible oxidación de la   película. </font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig02"></a><img src="/img/revistas/dyna/v74n152/a16fig02.gif">    <br>   Figura 2.</b> Composición química   elemental de las probetas  <b>A</b> P3  y  <b>B</b>  P4    <br>   <b>Figure 2.</b> Chemical composition   of <b>A</b> P3 and <b>B</b> P4 samples</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Las micrografías de la <a href="#fig03">figura       3</a>, muestran granos globulares con tamaños de   grano del orden de 129 y 135 nm para las probetas P3 y P4 respectivamente;   esta forma de los granos es típica de las cúpulas de las películas que exhiben   un crecimiento columnar. </font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig03"></a><img src="/img/revistas/dyna/v74n152/a16fig03.gif">    <br>   Figura       3.</b> Micrograf&iacute;as AFM de las muestras P3 (A&nbsp; C), y P4 (B,       D)    <br>   <b>Figure 3.</b> AFM micrographs of P3 (A, C), P4 (B, D) samples</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">En la <a href="#fig04">figura       4</a>  se muestra el paso que permitió la medición del espesor de   las películas; se hicieron 4 barridos con el indentador del AFM en modo de   contacto,  pasando en cada barrido de la parte no recubierta a la recubierta.   Se determinó la diferencia en las alturas producidas por el escalón y como   espesor se tomó el promedio de estas 4 medidas.</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig04"></a><img src="/img/revistas/dyna/v74n152/a16fig04.gif">    <br>   Figura       4.</b> Perfil de espesor de la muestra P4    <br>   <b>Figure 4. </b>Thickness profile of P4 sample</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Mediante los ensayos     Tafel y EIS se obtuvieron diagramas como los de las <a href="#fig04">figuras     4</a> y <a href="#fig05">5</a>  tomados   para la probeta P4. </font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig05"></a><img src="/img/revistas/dyna/v74n152/a16fig05.gif">    <br>   Figura       5.</b> Diagrama de Bode de la muestra P4    <br>   <b>Figure 5.</b> Bode diagram of P4 sample</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Estos diagramas     permitieron la determinación del potencial de corrosión y   de la corriente de corrosión como se ilustra la figura 4, y mostraron la formación   de un solo bucle en el diagrama de Bode, (diagrama de impedancia y ángulo de   fase en función de la frecuencia de la señal aplicada) figura 5; esto evidencia   que solo aparece el efecto de la doble capa en la interfase electrolito-recubrimiento,   y que el recubrimiento (Ti,Al)N conserva su carácter metálico (buena conductividad   eléctrica). </font></p>     <p>&nbsp;</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>4. CONCLUSIONES</b></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Se depositaron  películas de (Ti,Al)N  sobre sustratos de acero AISI 4140   con una razón de presión parcial de nitrógeno a argón (PN2/PAr) de aproximadamente   0,1, potencias de 90 y 100 w y temperaturas del sustrato entre 260 y 320 ºC.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Las películas obtenidas mostraron granos globulares relativamente uniformes   con tamaños de grano mayores a unos 100 nm; los tamaños de grano se incrementaron   sin embargo con la temperatura del sustrato y con la potencia de la descarga.   Los análisis realizados  con microscopía de Fuerza atómica dan indicios de   un crecimiento columnar.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Las películas obtenidas presentaron una corriente de corrosión menor hasta   en un orden de magnitud respecto a la del sustrato desnudo, aunque su potencial   de corrosión fue más negativo respecto al del sustrato.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Los recubrimientos   de (Ti,Al)N mejoraron significativamente las propiedades mecánicas y electroquímicas de dureza y la resistencia a la corrosión. </font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>5. AGRADECIMIENTOS</b></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Los autores agradecen     al laboratorio de Física del Plasma de la U N Manizales,   al grupo de Superconductividad y Nuevos Materiales de la U N Bogotá y al grupo   GSEC de la UPTC – Tunja.</font></p>     <p>&nbsp;</p>     <!-- ref --><p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>REFERENCIAS</b></font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000072&pid=S0012-7353200700020001600001&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --> [2]</b></font></td><td><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">YE. L. OSTROVSKAYA y otros. Tribology International, 34(2001), p 255-263</font></td></tr> <tr><td valign=“top”><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000073&pid=S0012-7353200700020001600002&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --> [3]</b></font></td><td><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">M. G. GEE, M. J. WICKS. Surface and Coatings Technology, 133-134 (2000), p 376-382 </font></td></tr> <tr><td valign=“top”><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000074&pid=S0012-7353200700020001600003&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref -->[4]</b></font></td><td><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">S. KAMIYA y otros. Thin Solid Films, 389(2001), p 180-186</font></td></tr> <tr><td valign=“top”><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000075&pid=S0012-7353200700020001600004&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --> [5]</b></font></td><td><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">X.   MÜLLER, Y. R. CHO and E. FROM Thin solid Films, 236 (1993), p 253-256</font></td></tr> <tr><td valign=“top”><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000076&pid=S0012-7353200700020001600005&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --> [6]</b></font></td><td><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Z. ZHO y otros. Surface and Coatings Technology, 177-178 (2004),p 198-203</font></td></tr> <tr><td valign=“top”><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000077&pid=S0012-7353200700020001600006&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --> [7]</b></font></td><td><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Y. H. CHENG y otros . Thin Solid Films, 379(2000), p 76-82 </font></td></tr> <tr><td valign=“top”><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000078&pid=S0012-7353200700020001600007&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --> [8]</b></font></td><td><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">S. ACQUAVIVA y otros. Thin Solid Films, 379(2000), p 45-49</font></td></tr> <tr><td valign=“top”><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000079&pid=S0012-7353200700020001600008&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --> [9]</b></font></td><td><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">ARVIA,       ALEJANDRO; BOLZAN, ALFREDO, Polarografía, Organización de los Estados Americanos,   Washington, 1974.</font></td></tr> <tr><td valign=“top”><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000080&pid=S0012-7353200700020001600009&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --> [10]</b></font></td><td><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">ALMAGRA   V. Polarografía, editorial Alhambra S A, Madrid 1971.</font></td></tr> </table>    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000081&pid=S0012-7353200700020001600010&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> ]]></body><back>
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