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<article-title xml:lang="es"><![CDATA[ESTUDIO DEL EFECTO DE LA DEPENDENCIA EN LA ESTIMACIÓN DE LA CONFIABILIDAD DE UN SISTEMA CON DOS MODOS DE FALLA]]></article-title>
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<abstract abstract-type="short" xml:lang="en"><p><![CDATA[The traditional methodology assumes independence between competing failure modes to estimate the reliability function, but recent studies have shown that when this assumption is incorrectly assumed, usually gives pessimistic estimates. This paper intends, through a simulation study, to explore the effect caused by such a situation in the cases of two competing lognormal failures and two competing Weibull failures. It is appreciated from the results that, when the dependence is ignored, there are no significant differences between the true reliability function and the estimated reliability function assuming independence.]]></p></abstract>
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</front><body><![CDATA[ <p align="center"><font size="4" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>ESTUDIO       DEL EFECTO DE LA DEPENDENCIA EN LA ESTIMACIÓN DE LA CONFIABILIDAD DE UN SISTEMA CON DOS MODOS DE FALLA </b></font></p>     <p align="center"><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><i>CONCURRENTES A STUDY OF THE INFERENCE  EFFECT CAUSED BY THE DEPENDENCE BETWEEN TWO COMPETING FAILURE MODES ON THE ESTIMATION OF THE RELIABILITY FUNCTION </i></b></font></p>     <p align="center"> </p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>EVA MANOTAS </b><i>    <br>   Escuela de Estadística,  Universidad Nacional de Colombia, Profesor Asistente, <a href="mailto:ecmanota@unal.edu.co">ecmanota@unal.edu.co</a></i> </font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>SERGIO  YÁÑEZ </b><i>    <br>  Escuela de Estadística, Universidad Nacional de Colombia, Profesor  Asociado, <a href="mailto:syanez@unal.edu.co">syanez@unal.edu.co</a></i> </font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>CARLOS LOPERA </b>    <br>   <i>Escuela de Estadística,  Universidad Nacional de Colombia, Profesor Asistente, <a href="mailto:cmlopera@unal.edu.co">cmlopera@unal.edu.co</a></i> </font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>MARIO  JARAMILLO </b><i>    ]]></body>
<body><![CDATA[<br>  Escuela de Estadística, Universidad Nacional de Colombia, Profesor  Asociado, <a href="mailto:mcjarami@unal.edu.co">mcjarami@unal.edu.co</a></i></font></p>     <p align="center"> </p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Recibido       para revisar Junio 22 de 2007, aceptado Noviembre 11 de 2007, versión final  Noviembre 16 de 2007</b></font></p>     <p> </p> <hr>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>RESUMEN: </b>La     metodología tradicional asume  independencia entre los modos de falla concurrentes (“competing risks”) para  la estimación de la funcion de confiabilidad, pero estudios recientes advierten  sobre los posibles errores de estimación que dicho supuesto conlleva, cuando  realmente existe dependencia entre los modos de falla. Este artículo pretende,  a través de un estudio de simulación, explorar el efecto causado por dicha  situación, en los casos de dos modos de falla lognormales y de dos modos  de falla Weibull. De los resultados se aprecia que cuando la dependencia  es ignorada, no hay diferencia significativa entre la función de confiabilidad  verdadera y la función de confiabilidad estimada asumiendo independencia.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>PALABRAS CLAVE</b>:     Función de confiabilidad, fallas concurrentes, competing  risks, distribución del tiempo mínimo, lognormal bivariada, Weibull bivariada,  parámetro de dependencia.</font></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>ABSTRACT</b>:      The traditional methodology assumes independence between competing failure      modes to estimate the reliability function, but recent studies have shown      that when this assumption is incorrectly assumed, usually gives pessimistic      estimates. This paper intends, through a simulation study, to explore the      effect caused by such a situation in the cases of two competing lognormal      failures and two competing Weibull failures. It is appreciated from the      results that, when the dependence is ignored, there are no significant differences      between the true reliability function and the estimated reliability function  assuming independence.</font></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>KEYWORDS</b>: Reliability fuction, competing failures,  minimum time distribution, lognormal bivariate, Weibull bivariate, dependence  parameter.</font></p>     <hr>      <p> </p>      <p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>1. INTRODUCCIÓN</b></font></p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Las causas o      las diferentes manera en que puede fallar un sistema o componente, reciben      el nombre de modos de falla. Existen muchos sistemas, subsistemas y componentes      que tienen más de un modo de falla; y en ciertas aplicaciones  y para algunos propósitos es importante distinguir entre esos diferentes  modos de falla (tipos o causas de falla), con el objeto de mejorar la confiabilidad  (Meeker y Escobar, 1998). </font></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">El tiempo de      falla de un sistema con varios modos de falla puede ser modelado considerando      un sistema en serie o un modelo de “Competing Risks”, donde  cada modo de falla es una componente del sistema en serie, y cada componente  tiene un tiempo de vida aleatorio, por lo tanto el sistema fallará cuando  el modo de falla con el tiempo de vida más corto falle.</font></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La dependencia      para este tipo de problemas ha venido cobrando gran importancia. Crowder      (2001), describe la importancia de la temática, no solamente para  los temas demográficos y actuariales sino también desde el punto de vista  de la inferencia estadística y las aplicaciones a la teoría de la confiabilidad  y el análisis de supervivencia. Denuit et al, (2005), es otro ejemplo de  la importancia actual del tema. Ver también Bedford (2005), y Nelsen (1999),  que muestran la relación entre dependencia en modelos multivariados, competing  risks y el trabajo en cópulas.</font></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Por un largo      tiempo, la modelación estadística en este tipo de problemas  ha utilizado el supuesto de independencia. Este supuesto es matemáticamente  conveniente, ya que la independencia puede ser definida de manera única,  mientras que la dependencia puede ser formulada de muchas maneras. En muchas  situaciones prácticas la dependencia es una condición usual, lo que ha generado  el creciente interés por su estudio.</font></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">El problema clásico de competing risks es identificar las distribuciones  marginales de los tiempos de falla asociados a los modos de falla a partir  de datos de la forma (T,C), donde T es un tiempo de falla y C es la causa  de falla. Tsiatis (1975) mostró  que las distribuciones marginales y la distribución conjunta de dos riesgos  que concurren, son en general no identificables, esto es, hay muchas funciones  de distribución conjuntas diferentes que comparten las mismas funciones de  sub-distribución.</font></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Este estudio      pretende explorar el efecto en la estimación  de la confiabilidad, cuando se asume el supuesto de independencia entre tiempos  de falla concurrentes que realmente son dependientes. Para ello se simulan  tiempos de falla bivariados Weibull y lognormales, y se estima la confiabilidad  conjunta asumiendo independencia. Los resultados no muestran diferencias  significativas en la estimación de la función de confiabilidad.</font></p>      <p>&nbsp;</p>      <p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>2. CONFIABILIDAD EN SISTEMAS    CON DOS MODOS DE FALLA</b></font></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">El tiempo de      falla de un sistema con dos modos de falla puede ser modelado como un sistema      en serie o un modelo de  “competing risk”, como se ilustra en la <a href="#fig01">figura 1</a>. Cada unidad tiene un tiempo  potencial de falla asociado a cada modo de falla. El tiempo de falla observado  es el mínimo de esos tiempos potenciales individuales.</font></p>      <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig01"></a><img src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03fig01.gif">    ]]></body>
<body><![CDATA[<br>   Figura 1. </b>Sistema  con dos componentes en serie.    <br>  <b>Figure 1. </b>A system with two components in series. </font></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Así por ejemplo      para un sistema con dos modos de falla, sean T<sub>1</sub> y T<sub>2</sub> los respectivos tiempos potenciales,  y el tiempo de falla observado es</font></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><img src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq01.gif"></font></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">De esta manera      en la práctica sólo se observa  el mínimo entre T<sub>1 </sub>y T<sub>2 </sub> pero se conoce cual es el  modo de falla. Así  los datos tienen la siguiente forma</font></p>      <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="tab01"></a>Tabla 1. </b>Forma  de los Datos del Tiempo Mínimo de dos Modos de Falla Concurrentes.    <br>  <b>Table 1. </b>Data  form of Minimum Failure Time between Two Competing Failure Modes.</font>    <br>  <img src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03tab01.gif"></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Observe que para      este tipo de datos, no es posible estimar la medida de dependencia o de      asociación  entre las variables.</font></p>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Para estimar      lo parámetros y la distribución  asociada a los tiempos de un modo de falla, los tiempos del otro modo de  falla son tiempos de censura. Por ejemplo si T<sub>2</sub> &lt; T<sub>1</sub>,  entonces T<sub>1</sub> está censurado en el tiempo T<sub>2</sub>, es decir,  no se observa. La censura es informativa y no puede ser ignorada.</font></p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Los sistemas      considerados en este estudio son no reparables, es decir, cada unidad que      falla es reemplazada por una nueva, en este sentido se considera que el      sistema sigue operando “tan bueno como  nuevo”  (Raussand y Hoyland, 2004).</font></p>  <font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>2.1 Sistemas  con Componentes en Serie    <br>  </b>Una estructura en serie con <i>s </i>componentes  funciona si y solo sí, todas las componentes funcionan. Para un sistema en  serie con dos componentes independientes en serie, la función de distribución  acumulativa es </font>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><img src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq02.gif"></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Donde <i>F<sub>i</sub> </i>es      la función de    distribución para cada componente y <i>T<sub>i</sub> </i>es el tiempo de    vida asociado a cada componente, <i>i = </i>1, 2, y T= min (T<sub>1</sub> ,T<sub>2</sub>)  es el tiempo de falla observado del sistema.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La función de      confiabilidad <i>S(t) = 1-F(t),</i> de  donde para el caso de independencia </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><img src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq03.gif"></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Para un sistema con dos componentes en serie y tiempos de  falla dependientes</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><img src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq04.gif"></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">En este caso      la evaluación debe hacerse con    respecto a la distribución bivariada de T<sub>1 </sub>y T<sub>2</sub>, que  debe incluir el parámetro de dependencia.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La función de confiabilidad para este caso es </font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><img src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq05.gif"></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Una cantidad      de gran interés en aplicaciones de confiabilidad    es la vida media de un sistema, también conocida como tiempo medio para    la falla. Se denota MTTF por sus siglas en inglés (mean time to failure)  y se calcula así</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><img src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq06.gif"></font></p> <font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>2.2 Metodologías álisis    <br>  </b>Se ilustra con un ejemplo  de Meeker y Escobar (1998), la metodología tradicional en el análisis de sistemas  con dos modos de falla. </font><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">      <p><font size="2">En un hospital se presentaba la siguiente situación:     Cierto tipo de equipos, estaban fallando antes del tiempo estipulado para su     mantenimiento. Se identificaron dos causas de falla de los equipos, una asociada     a fallas por descargas eléctricas (se denota S), y la otra falla debida al   desgaste de los equipos (se denota W).</font></p>      <p><font size="2">La <a href="#tab02">tabla 2</a> presenta los tiempos de falla de 30     unidades que fueron instaladas en un ambiente de servicio estándar. Se determinó la causa     de falla para cada unidad que falló. El modo de falla S fue causado por acumulación     de daños producidos por altos picos de voltaje durante tormentas eléctricas,     resultando en falla de una componente electrónica desprotegida. Estas fallas     predominaron temprano en la vida de los dispositivos. El modo de falla W,     es producido por el desgaste normal de los equipos, y empieza a aparecer después   de 100000 ciclos de uso.</font></p>      <p align="center"><font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><font size="2"><b><a name="tab02"></a>Tabla          2. </b>Tiempos de Falla y Modos de Falla para los Equipos de Rayos X          que Fallaron y Tiempos de Funcionamiento de las Unidades que No Han          Fallado.    <br>     <b>Table 2. </b>Failure Times and Failure modes of X Ray that Failed and   Running Times for Units that Did Not Fail.</font></font>    <br>   <img src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03tab02.gif"></p>      <p><font size="2">Para cada modo de falla se observa un buen ajuste    Weibull, realizando el análisis como se describió en la sección 2, esto es,    por ejemplo para el modo S, las fallas debidas al modo W se consideran tiempos    de censura</font></p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2">En la <a href="#fig02">figura 2</a> las líneas discontinuas corresponden     a los gráficos de probabilidad Weibull estimados con máxima verosimilitud para     los dos modos de falla individuales. En este ejemplo, la suposición de independencia     entre los dos modos de falla concurrentes es aceptable de manera que se puede     aplicar el enfoque tradicional. Así de acuerdo con (2) <i>F(t)</i> se puede   estimar así</font></p>  </font>      <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><img src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq07.gif"></font></p>      <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig02"></a><img src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03fig02.gif">    <br>   Figura 2. </b>An&aacute;lisis Weibull    de los datos estimado para las fallas del Modo S, fallas del Modo W y distribuci&oacute;n    del tiempo m&iacute;nimo entre el Modo S y el Modo W.    <br>   <b>Figure 2. </b>Weibull analysis of data estimating time to failure Mode    S only, failure Mode W only and the distribution to the minimum of Mode S    and Mode W.</font> </p>  <font face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">    <p><font size="2">En la <a href="#fig02">figura      2</a>, la línea curva corresponde    a la función de distribución estimada <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq002.gif"></sub> del sistema    en serie para dos modos de falla actuando juntos, es decir concurrentes.    La estimación del tiempo medio para la falla, MTTF, fue calculada usando    (6) y se obtuvo 196 mil ciclos, esta cantidad se usa para el montaje del    programa de mantenimiento preventivo.</font></p>      <p><font size="2"><img src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq08.gif"></font></p>      <p>&nbsp;</p>      <p><font size="2">Para este ejemplo, se observa que los tiempos     de falla entre 150000 y 300000 ciclos presentan una posible dependencia.       Bajo este supuesto hipotético en la sección 4.3 se calculan los MTTF cambiando el     parámetro de dependencia para ilustrar los resultados del estimador que se   describe a continuación.</font></p>  </font>     <p>&nbsp;</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>3. ESTUDIO       DEL EFECTO DE LA DEPENDENCIA POSITIVA ENTRE TIEMPOS DE FALLA EN LA ESTIMACIÓN   DE LA CONFIABILIDAD DE UN SISTEMA CON DOS MODOS DE FALLA CONCURRENTES.</b></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Para modos de falla concurrentes con dependencia  positiva se sabe que (Barlow y Proschan, 1975),</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><img src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq08.gif"></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Donde <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq004.gif"></sub> es la función  de confiabilidad asumiendo independencia. Por lo tanto <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq004.gif"></sub> es pesimista  en relación con <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq006.gif"></sub>, esto es  para un mismo tiempo t, la probabilidad de sobrevivencia bajo el supuesto de  independencia está siempre por debajo de la probabilidad conjunta que incluye  la dependencia. </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">En la práctica     hay que estimar <i>S(t)</i> y <i>S*(t)</i> por  lo cual el resultado probabilístico en (8) no se satisface necesariamente.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Este estudio pretende     explorar el efecto en la estimación de la confiabilidad del sistema, cuando se asume  el supuesto de independencia entre tiempos de falla concurrentes que realmente  son dependientes. Para ello se compara la función de confiabilidad verdadera <i>S(t)</i>,  para distintos valores del parámetro de dependencia entre las variables, con  un estimador de <i>S*(t)</i> que se denota <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq008.gif"></sub>. Este es  un estimador de la función de confiabilidad del tiempo mínimo de falla de un  sistema con dos modos de falla concurrentes, obtenido estimando los parámetros  asociados a cada modo de falla individual, como se explicó en la sección 2, para  estimar lo parámetros y la distribución asociada a los tiempos de un modo de  falla, los tiempos del otro modo de falla son tiempos de censura. Así</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><img src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq09.gif"></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">donde <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq010.gif"></sub> y <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq012.gif"></sub>son las  funciones de confiabilidad marginales estimadas para cada modo de falla. Es  importante reiterar que el interés del estudio es sobre el estimador de la  confiabilidad del sistema, y no sobre los estimadores de las marginales; bajo  dependencia se sabe que <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq014.gif"></sub> no es un  buen estimador de <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq016.gif"></sub> (Crowder,  2001).</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Para ello utilizaremos  un estudio de simulación cuyo esquema se describe a continuación.</font></p> <font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>Esquema de Simulación    <br> </b>En el estudio de simulación se utilizan las distribuciones  lognormal y Weibull. La distribución lognormal ha sido utilizada por ejemplo,  en problemas de tiempos hasta la fractura por fatiga de metales y en sistemas  de componentes electrónicas (Meeker y Escobar, 1998). La distribución Weibull  se puede visualizar en varios contextos, tales como, los tiempos hasta la primera  y segunda falla de un equipo reparable, los tiempos de ”breakdown” de generadores  duales en una planta de energía, o los tiempos de supervivencia en un sistema  de dos órganos, tal como los pulmones o riñones, en el cuerpo humano (Lu J.  y Bhattacharyya G., 1990). </font>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Para   cada uno de los escenarios descritos en las secciones 3.1.1 y 3.1.2, se   generan 10000 muestras de tamaño n=50, de tiempos   bivariados tanto lognormales como Weibull. Se elige este tamaño muestral,   ya que en general en experimentos de confiabilidad se manejan bases de datos   no muy grandes, estos estudios son costosos y los datos de falla son difíciles de obtener. </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Se chequearon las probabilidades <i>P(T<sub>1</sub>&lt;T<sub>2</sub>) </i>y   los valores obtenidos indican que en todos los casos se tienen probabilidades   que garantizan la pertinencia del esquema de simulación. Se observo que dichas   probabilidades son mayores o iguales que 0.30 lo que garantiza que al simular se tienen datos de los dos modos de falla.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Para efectos de     comparación se obtienen los intervalos   de confianza boostrap percentil del 95% para <i>S*(t) </i>y la MTTF de la   función de confiabilidad verdadera y de la función de confiabilidad estimada.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><i><b>Caso Lognormal    <br>   </b></i>Para generar tiempos de falla lognormales bivariados   con coeficiente de correlación <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq018.gif"></sub>, se generan normales bivariadas con coeficiente de correlación <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq020.gif"></sub>, donde <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq018.gif"></sub> está definido </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">mediante la siguiente relación:</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><img src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq10.gif"></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">y luego se sacan exponenciales a cada uno de los tiempos normales bivariados.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Se consideran     24 escenarios con tiempos de falla lognormales, cada uno de los cuales corresponde     a la llamada función de confiabilidad verdadera, <i>S(t)</i>, para la cual se supone se conocen los parámetros verdaderos (i.e. no hay que estimarlos).</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Los casos de tiempos lognormales son: </font></p> <ol>       ]]></body>
<body><![CDATA[<li><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Tiempos de     falla lognormales con parámetros iguales: <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq022.gif"></sub>y <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq024.gif"></sub>.</font></li>       <li><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Tiempos     de falla lognormales con parámetros <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq026.gif"></sub>iguales     y <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq028.gif"></sub>diferentes: <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq022.gif"></sub>, <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq030.gif"></sub> y <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq032.gif"></sub>.</font></li>       <li><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Tiempos     de falla lognormales con parámetros <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq034.gif"></sub>diferentes     y <i><sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq036.gif"></sub> </i>iguales: <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq038.gif"></sub> y <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq040.gif"></sub>,<sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq042.gif"></sub>.</font></li>       <li><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"> Tiempos     de falla lognormales con parámetros<sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq044.gif"></sub>diferentes: <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq038.gif"></sub> y <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq040.gif"></sub>,<sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq030.gif"></sub> y <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq032.gif"></sub>.</font></li>     </ol>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Asociados a cada     uno de estos casos hay 6 situaciones diferentes de acuerdo al parámetro de     dependencia entre los tiempos de falla. Para tiempos de falla lognormales <i>T</i><sub>1</sub> y <i>T</i><sub>2</sub>,  el parámetro de dependencia es el coeficiente de correlación <i>&#961;<sub>N</sub> </i>entre <i>log</i>(<i>T</i><sub>1</sub>)  y <i>log</i>(<i>T</i><sub>2</sub>), y éste toma los siguientes valores: <i>&#961;<sub>N</sub></i> =  0<i>.</i>0<i>, </i>0<i>.</i>2<i>, </i>0<i>.</i>4<i>, </i>0<i>.</i>6<i>, </i>0<i>.</i>8<i>, </i>1<i>.</i>0.  Es decir para cada uno de los 4 casos de tiempos lognormales hay 6 situaciones  distintas que van desde independencia hasta dependencia extrema. Lo que da  un total de 24 escenarios, para los cuales estimaremos<sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq008.gif"></sub>.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Como el objetivo     primordial es medir el efecto de la dependencia, en la escogencia de los     escenarios se tuvo en cuenta lo siguiente: Para el caso 1, las medias y varianzas     son iguales, es decir los factores de posición y escala están controlados. En el caso 2,  se analiza el efecto del factor de escala sobre el coeficiente de correlación. El  caso 3, el efecto del factor de posición y en el caso 4 el efecto conjunto  de los dos factores. En síntesis estos escenarios representan apropiadamente,  las distintas alternativas de una lognormal bivariada, con relación al problema  de interés, que en este caso es el coeficiente de correlación.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><i><b>Caso Weibull    <br> </b></i>Para simular los tiempos de falla Weibull bivariados  se usó el algoritmo cópula compuesta de la Gumbel-Hougaard (Frees y Valdez,  1997). La función de confiabilidad conjunta de la Weibull bivariada utilizada es (Lu y Bhattacharyya, 1990)</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><img src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq11.gif"></font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">donde <i>T<sub>1</sub></i>&gt;0  y <i>T<sub>2</sub></i>&gt;0 son tiempos de falla Weibull, &#946;<sub>1</sub>&gt;0  y &#946;<sub>2</sub>&gt;0, los parámetros de forma y &#952;<sub>1</sub>&gt;0  y &#952;<sub>2</sub>&gt;0, los parámetros de escala, asociados a <i>T<sub>1</sub></i> y <i>T<sub>2</sub></i> respectivamente,  0&lt;&#948;&#8804;1, es el parámetro de dependencia entre <i>T<sub>1</sub></i> y <i>T<sub>2</sub></i>.  Cuando el parámetro de dependencia &#948; entre tiempos Weibull es 1, entonces  hay independencia entre <i>T<sub>1</sub></i> y <i>T<sub>2. </sub></i> A medida  que &#948;, disminuye, la dependencia entre <i>T<sub>1</sub></i> y <i>T<sub>2</sub></i>,  aumenta.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">En este trabajo     se usa como parámetro de dependencia entre tiempos de falla Weibull, <i>T<sub>1</sub></i> y <i>T<sub>2</sub>,, </i>a &#955;<i>=1-&#948;</i>,  de manera que 0&#8804;&#955;&lt;1. Cuando &#955; es cero, entonces hay independencia  entre <i>T<sub>1</sub></i> y <i>T<sub>2. </sub></i> A medida que &#955;, aumenta,  la dependencia entre <i>T<sub>1</sub></i> y <i>T<sub>2</sub></i>, aumenta.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Se consideran     30 escenarios con tiempos de falla Weibull, cada uno de los cuales corresponde     a la llamada función  de confiabilidad verdadera, <i>S(t).</i></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Los parámetros de escala de  la distribución Weibull bivariada se fijan en <i>&#952;<sub>1</sub> = &#952;<sub>2</sub> = </i>1.0,  ya que el parámetro de dependencia  &#955;, no depende del parámetro de escala (Lu y Bhattacharyya, 1990). La  elección de escenarios cubre una amplia gama de formas de la distribución Weibull  bivariada, donde los modos de falla entran en competencia. Los escenarios  presentan situaciones donde compiten distribuciones Weibull con tasas de falla  decrecientes y crecientes. Cuando el parámetro &#946;&lt;1, la tasa de falla  es decreciente, y cuando &#946;&gt;1, la tasa de falla es creciente. Esta  flexibilidad de la distribución Weibull de adaptarse a diferentes tasas de  falla, la hacen modelo adecuado en muchas aplicaciones prácticas. Por ello  los escenarios toman como base las distintas combinaciones posibles de dicha  tasa.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Los casos de tiempos Weibull  a estudiar son:</font></p> <ol>       <li><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Tiempos de     falla Weibull con parámetros de forma <i>&#946;<sub>i</sub></i> diferentes.     Modo de falla con tasa de falla decreciente vs. Modo de falla con tasa de     falla creciente: &#946;<sub>1</sub>= 0.5, &#946;<sub>2</sub> = 2.0.</font></li>       <li><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Tiempos de     falla Weibull con parámetros de forma <i>&#946;<sub>i</sub></i> diferentes.     Modo de falla con tasa de falla decreciente vs. Modo de falla con tasa de     falla constante: &#946;<sub>1</sub> = 0.5, &#946;<sub>2</sub>= 1.0.</font></li>       <li><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Tiempos de     falla Weibull con parámetros de forma <i>&#946;<sub>i</sub></i> iguales.     Modo de falla con tasa de falla decreciente vs. Modo de falla con tasa de     falla decreciente: &#946;<sub>1</sub> = &#946;<sub>2</sub>= 0.5.</font></li>       <li><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Tiempos de     falla Weibull con parámetros de forma <i>&#946;<sub>i</sub></i> iguales.     Modo de falla con tasa de falla creciente vs. Modo de falla con tasa de falla     creciente: &#946;<sub>1</sub> = &#946;<sub>2</sub>=     2.0.</font></li>       <li><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Tiempos de     falla Weibull con parámetros de forma <i>&#946;<sub>i</sub></i> diferentes.     Modo de falla con tasa de falla creciente vs. Modo de falla con tasa de falla     constante: &#946;<sub>1</sub> =     2.0, &#946;<sub>2</sub>= 1.0.</font></li>     ]]></body>
<body><![CDATA[</ol>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">En cada uno de     los escenarios se toman valores del parámetro de dependencia: l=0.0, 0.2, 0.4, 0.6, 0.8,  0.9. De manera que en total se tiene 30 escenarios distintos para la distribución  Weibull bivariada. En síntesis estos escenarios representan apropiadamente,  las distintas alternativas de una Weibull bivariada, con relación al problema  de interés, que en este caso es el parámetro de dependencia l.</font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>4. ANÁLISIS   DE RESULTADOS</b></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Los resultados para modos de falla Weibull y lognormales  son similares, por lo cual se reportan solo los resultados asociados a los  casos Weibull.</font></p> <font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>4.1 Intervalos de Confianza para <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq047.gif"></sub></b><sub>    <br> </sub>Para cada uno de los escenarios  de estudio, se obtuvieron los intervalos de confianza bootstrap percentil del  95% para <b><sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq049.gif"></sub></b>, con  10000 réplicas del estimador <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq051.gif"></sub>, para p=0.05,  0.25, 0.50, 0.75 y 0.95. De esta manera se obtienen bandas de confianza aproximadas  del 95%.</font>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Las     <a href="#fig03">figuras 3</a>, <a href="#fig04">4</a> y <a href="#fig05">5</a>, muestran los bandas de confianza para el caso Weibull &#946;<sub>1</sub>=0.5   y &#946;<sub>2</sub>=2,   y parámetros de dependencia l=0.0, 0.6 y 0.9 respectivamente. En estos gráficos,   para cada uno de los percentiles del tiempo mínimo, <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq053.gif"></sub>con <i>p</i>=0.05,   0.25, 0.5, 0.75 y 0.95 se tiene el valor verdadero de <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq055.gif"></sub>, el límite   inferior de <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq057.gif"></sub> (denotado   como LI. <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq057.gif"></sub>) y el límite   superior de <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq057.gif"></sub> (denotado   como LS. <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq057.gif"></sub>). La línea   continua une los valores de <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq055.gif"></sub>, la línea   discontinua que está por debajo de la línea continua, une los valores de los   límites inferiores de la estimación de <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq060.gif"></sub>. Y la   línea discontinua, que está por encima de la línea continua, une los valores   de los límites superiores de la estimación de <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq060.gif"></sub>. De esta  manera se obtienen las bandas de confianza aproximadas.</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig03"></a><img src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03fig03.gif">    <br>   Figura 3. </b>Intervalos   de confianza bootstrap para el caso Weibull   &#946;<sub>1</sub>=0.5, &#946;<sub>2</sub>=2 y l=0.0, en los percentiles t<sub>p</sub> con   p=0.05, 0.25, 0.50, 0.75, y 0.95.    <br>   <b>Figure 3. </b>Confidence   bounds for Weibull &#946;<sub>1</sub>=0.5, &#946;<sub>2</sub>=2 and l=0.0,  in quantiles t<sub>p</sub> with p=0.5, 0.25, 0.50, 0.75 y 0.95.</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig04"></a><img src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03fig04.gif">    <br>   Figura 4. </b>Intervalos   de confianza bootstrap para el caso Weibull   &#946;<sub>1</sub>=0.5, &#946;<sub>2</sub>=2 y l=0.6, en los percentiles t<sub>p</sub> con   p=0.05, 0.25, 0.50, 0.75, y 0.95.    <br>   <b>Figure 4. </b>Confidence   bounds for Weibull &#946;<sub>1</sub>=0.5, &#946;<sub>2</sub>=2 and l=0.6 in  quantiles t<sub>p</sub> with p=0.5, 0.25, 0.50, 0.75 y 0.95.</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig05"></a><img src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03fig05.gif">    <br>   Figura 5. </b>Intervalos   de confianza bootstrap para el caso Weibull   &#946;<sub>1</sub>=0.5, &#946;<sub>2</sub>=2 y l=0.9, en los percentiles t<sub>p</sub> con   p=0.05, 0.25, 0.50, 0.75, y 0.95.    <br>   <b>Figure 5. </b>Confidence   bounds for Weibull &#946;<sub>1</sub>=0.5, &#946;<sub>2</sub>=2 and l=0.9 in  quantiles t<sub>p</sub> with p=0.5, 0.25, 0.50, 0.75 y 0.95.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Así por ejemplo,     en la figura 4, para <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq062.gif"><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq064.gif"></sub>, LI.<sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq057.gif"></sub>=0.6534   y LS. <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq057.gif"></sub>=0.8468. Observe   que el valor verdadero de <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq055.gif"></sub>, cae dentro   de las bandas de confianza, lo que permite afirmar que no hay diferencia significativa  entre <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq055.gif"></sub> y <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq057.gif"></sub>. </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La figura 6 muestra     el diagrama de box plot para el caso Weibull &#946;<sub>1</sub>=0.5 y &#946;<sub>2</sub>=2,   y parámetro de dependencia l=0.6. Este gráfico muestra la variabilidad del   estimador <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq067.gif"></sub>, y en él,   para cada uno de los percentiles del tiempo mínimo, <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq053.gif"></sub>con <i>p</i>=0.05,   0.25, 0.5, 0.75 y 0.95 se tiene el valor verdadero de <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq055.gif"></sub> representado  por una equis (x). Los casos l=0.0 y l=0.9 se comportan de manera similar.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Así por ejemplo,     en la <a href="#fig06">figura 6</a> para <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq069.gif"></sub> se observa   que el valor verdadero de <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq055.gif"></sub>, <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq071.gif"></sub>, denotado   por una equis (x), se encuentra dentro de la caja y muy próximo a la mediana  de <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq060.gif"></sub>.</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig06"></a><img src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03fig06.gif">    ]]></body>
<body><![CDATA[<br>   Figura       6. </b>Diagrama de caja y bigotes para el caso Weibull &#946;<sub>1</sub>=0.5, &#946;<sub>2</sub>=2       y l=0.6, en los percentiles t<sub>p</sub> con p=0.05, 0.25, 0.50, 0.75,       y 0.95.    <br>   <b>Figure 6. </b>Box plot for Weibull &#946;<sub>1</sub>=0.5, &#946;<sub>2</sub>=2 and l=0.6 in quantiles t<sub>p</sub> with p=0.5, 0.25, 0.50, 0.75 y 0.95.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Los demás escenarios   se comportan de manera similar.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Esto muestra el buen comportamiento   del estimador <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq073.gif"></sub> aún en   presencia de valores altos del parámetro de dependencia l. Se puede entonces   afirmar que no hay diferencia significativa entre <i>S(t) </i>y <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq008.gif"></sub>, que equivale  a aceptar la hipótesis nula <i>S(t)=</i> <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq008.gif"></sub>para todo <i>t</i>.</font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>4.2 MTTF</b>    <br>   Para cada uno de los escenarios  de estudio, se obtuvieron 1000 estimaciones de la MTTF para la función de confiabilidad  estimada asumiendo independencia entre los tiempos de falla, y se promediaron  para comparar con la MTTF de la función de confiabilidad verdadera. Se obtuvieron  también los intervalos de confianza bootstrap percentil para el promedio de la MTTF estimada. </font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">La <a href="#tab03">tabla       3</a> muestra     los resultados para el caso Weibull con &#946;<sub>1</sub>=0.5 y &#946;<sub>2</sub>=2.     Esta tabla presenta para cada uno de los valores del parámetro de dependencia &#955;=0.0,  0.2, 0.4, 0.6, 0.8 y 0.9, los valores de la MTTF estimada promedio, la MTTF  real y el límite inferior (denotado LI.MTTF) y límite superior (denotado LS.MTTF)  del intervalo de confianza bootstrap percentil del 95% para la MTTF estimada  promedio. </font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="tab03"></a>Tabla 3. </b>MTTF  Real, MTTF Estimada Promedio e Intervalos de Confianza para MTTF Estimada.    <br>  <b>Table 3. </b>Actual  MTTF, Average Estimated MTTF and Confidence Intervals for Average Estimated  MTTF.</font>    ]]></body>
<body><![CDATA[<br>  <img src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03tab03.gif"></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">No se observa diferencia significativa  entre la MTTF estimada promedio y la MTTF real. Por ejemplo para <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq075.gif"></sub>=0.4, las  MTTF se confunden pues sus valores son: la MTTF estimada promedio es 0.5637885  y la MTTF real es 0.56556223. El límite inferior del intervalo de confianza  para la MTTF estimada es <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq077.gif"></sub> y el límite  superior es <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq079.gif"></sub>. Observe  que el valor de la MTTF real cae dentro de los intervalos de confianza.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Los resultados     de la <a href="#tab03">tabla 3</a> son ilustrados en la <a href="#fig07">figura 7</a>. En este gráfico, para cada uno de los valores  del parámetro de dependencia &#955;=0.0, 0.2, 0.4, 0.6, 0.8 y 0.9, se tiene  el valor verdadero de la MTTF (MTTF.Real), el valor de la MTTF estimada promedio  (MTTF.Mean), el límite inferior de la MTTF estimada promedio (denotado como  LI.MTTF) y el límite superior de la MTTF estimada promedio (denotado como  LS.MTTF). La línea continua une los valores de la MTTF.Mean, la línea discontinua  que está por debajo de la línea continua, une los valores de los límites inferiores  de la estimación de la MTTF.Mean, y la línea discontinua, que está por encima  de la línea continua, une los valores de los límites superiores de la estimación  de la MTTF.Mean. El valor de la MTTF.Real está representado por una cruz  (+). De esta manera se obtienen las bandas de confianza aproximadas para la  MTTF.Mean.</font></p>     <p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig07"></a><img src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03fig07.gif">    <br>   Figura 7. </b>MTTF  para el caso Weibull &#946;<sub>1</sub>=0.5  &#946;<sub>2</sub>=2, contra distintos valores del parámetro de dependencia  l.    <br>  <b>Figure 7. </b>Mean  time to failure for Weibull &#946;<sub>1</sub>=0.5 &#946;<sub>2</sub>=2 vs  diferents dependence parameter values l.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Observe que la     MTTF real cae dentro del intervalo de confianza. Esto permite afirmar que     no hay diferencia significativa entre la MTTF estimada promedio y la MTTF  real, y es equivalente a aceptar la hipótesis nula <i>MTTF.Real = MTTF.Mean.</i></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Similares resultados  se tienen en los otros escenarios de simulación. </font></p> <font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>4.3 Ilustración </b>     <br> Se construyó una ilustración  a partir del ejemplo 2.2, así: se consideraron los parámetros estimados para  cada modo de falla como los parámetros verdaderos, esto es, parámetros asociados  a la distribución Weibull del modo de falla S, &#946;<sub>1 </sub>= 0.67114  y q<sub>1 </sub>= 450.34; parámetros asociados a la distribución Weibull del  modo de falla W, &#946;<sub>2 </sub>= 4.3478 y q<sub>2 </sub>= 340.36. Se  tomaron los siguientes valores del parámetro de dependencia: l=0.0, 0.2, 0.4,  0.6, 0.8 y 0.9; como se mencionó en la subsección 2.2 este supuesto de dependencia  es plausible para tiempos de falla entre 150000 y 300000 ciclos. Se simularon  datos bivariados para cada valor del parámetro de dependencia l, y se obtiene <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq060.gif"></sub>. Luego  como en la subsección 4.2 se compararon la MTTF verdadera con la MTTF estimada. </font>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Los resultados son ilustrados en la <a href="#fig08">figura 8</a>. </font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b><a name="fig08" id="fig08"></a><img src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03fig08.gif">    <br>   Figura 8. </b>MTTF   para el ejemplo 2.2, contra distintos valores del parámetro de dependencia   l.    <br>   <b>Figure 8. </b>Mean   time to failure for example data 2.2 vs diferents dependence parameter values l.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Observe que la MTTF real cae dentro del intervalo   de confianza, lo cual reafirma el resultado de igualdad entre la MTTF estimada y la MTTF real.</font></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>5. CONCLUSIONES</b></font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Para los casos estudiados se puede afirmar que <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq008.gif"></sub> es un estimador  relativamente robusto de <i>S(t), </i>respecto al supuesto de independencia.  Así, a pesar de la dependencia entre los dos modos de falla, se tiene que el  supuesto clásico de independencia de la metodología tradicional no genera errores  significativos en la estimación de la función de confiabilidad del tiempo mínimo.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">En la literatura     reciente se ha reportado (Bedford, 2005; Denuit et al, 2005) que el supuesto     de independencia en riesgos concurrentes (“competing risks”) generalmente da una visión pesimista  del comportamiento del sistema, en la medida que el tiempo de supervivencia  tiende a ser más pequeño que cuando hay dependencia. En este artículo, para  los casos lognormal y Weibull de gran importancia práctica, se mostró que tal  comportamiento no aplica, lo cual amerita a futuro la exploración de las propiedades  del estimador <sub><img border=0 src="/img/revistas/dyna/v75n154/a03eq008.gif"></sub>.</font></p>     <p> </p>     <p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>6. AGRADECIMIENTOS</b></font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">Los autores agradecen a los  evaluadores por sus observaciones y valiosas sugerencias.</font></p>     <p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif">De manera muy     especial agradecen al Profesor Luis Alberto Escobar, de Louisiana State University,     por su asesoría,  apoyo y colaboración en este trabajo.</font></p>     <p>&nbsp; </p>     <p><font size="3" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>REFERENCIAS</b></font></p>     <!-- ref --><p><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>[1]</b> BARLOW, R.E, Y PROSCHAN, F. Statistical Theory of Reliability and Life  Testing. New York: Holt, Richard Winston, 1975.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000167&pid=S0012-7353200800010000300001&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br> </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>[2]</b> BEDFORD, T. Competing Risk Modeling in Reliability. Chapter 1. Modern  Statistical and Mathematical Methods in Reliability. Singapore: World Scientific  Publishing Co, 2005.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000168&pid=S0012-7353200800010000300002&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>  </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>[3]</b> CROWDER, M. Classical Competing Risks. Chapman Hall/CRC. 2001.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000169&pid=S0012-7353200800010000300003&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>  </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>[4]</b> DENUIT,     M. DHAENE, J. GOOVAERTS, M and KAAS, R. Actuarial Theory for Dependent Risks.     Measures, Orders and Models. Great Britain : John Wiley &amp; Sons,  2005.</font>    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000170&pid=S0012-7353200800010000300004&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>  <font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>[5]</b> FREES, E AND VALDES, E. Understanding Relationships Using Copulas. North  America Actuarial Journal, Volume 2, Number 1, 1997.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000171&pid=S0012-7353200800010000300005&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>  </font><font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>[6]</b> LU, JYE-CHYI and BHATTACHARYYA, G., Some New Constructions  Of Bivariate Weibull Models. Ann. Inst. Statist. Math. Vol 42, No. 3, p: 543-559.  1993.</font>    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000172&pid=S0012-7353200800010000300006&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>  <font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>[7]</b> MEEKER,     W. Y ESCOBAR, L.A. Statistical Methods for Reliability Data. John Wiley &amp; Sons,  1998.</font>    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000173&pid=S0012-7353200800010000300007&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>  <font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>[8]</b> NELSEN, R. B. An Introduction to Copulas. New York: Springer, 2006.</font>    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000174&pid=S0012-7353200800010000300008&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>  <font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>[9]</b> RAUSAND,     M. AND HOYLAND, A. System Reliability Theory. John Wiley &amp; Sons,  2004.</font>    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000175&pid=S0012-7353200800010000300009&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><br>  <font size="2" face="Verdana, Arial, Helvetica, sans-serif"><b>[10]</b> TSIATIS, A. A nonidentifiability aspect of the problem of competing risks. Proc. Natl. Acad. Sci. USA. 72, 20-22. 1975.</font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000176&pid=S0012-7353200800010000300010&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> ]]></body><back>
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