<?xml version="1.0" encoding="ISO-8859-1"?><article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance">
<front>
<journal-meta>
<journal-id>0120-100X</journal-id>
<journal-title><![CDATA[Revista ION]]></journal-title>
<abbrev-journal-title><![CDATA[Rev. ion]]></abbrev-journal-title>
<issn>0120-100X</issn>
<publisher>
<publisher-name><![CDATA[Universidad Industrial de Santander]]></publisher-name>
</publisher>
</journal-meta>
<article-meta>
<article-id>S0120-100X2012000300007</article-id>
<title-group>
<article-title xml:lang="es"><![CDATA[Estudio de películas anódicas de aluminio formadas en ácido crómico por espectroscopía de impedancia electroquímica]]></article-title>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[An impedance spectroscopy study of the anodically formed films on aluminium in cromic acid]]></article-title>
</title-group>
<contrib-group>
<contrib contrib-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Rentería Rincón]]></surname>
<given-names><![CDATA[Isaías Andrés]]></given-names>
</name>
<xref ref-type="aff" rid="A01"/>
</contrib>
<contrib contrib-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[García Vergara]]></surname>
<given-names><![CDATA[Sandra Judith]]></given-names>
</name>
<xref ref-type="aff" rid="A01"/>
</contrib>
<contrib contrib-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Skeldon]]></surname>
<given-names><![CDATA[Peter]]></given-names>
</name>
<xref ref-type="aff" rid="A02"/>
</contrib>
</contrib-group>
<aff id="A01">
<institution><![CDATA[,Universidad Industrial de Santander Escuela de Ingeniería Metalúrgica y Ciencia de Materiales ]]></institution>
<addr-line><![CDATA[Bucaramanga ]]></addr-line>
<country>Colombia</country>
</aff>
<aff id="A02">
<institution><![CDATA[,University of Manchester School of Materials Corrosion and Protection Centre]]></institution>
<addr-line><![CDATA[Manchester ]]></addr-line>
<country>Reino Unido</country>
</aff>
<pub-date pub-type="pub">
<day>00</day>
<month>10</month>
<year>2012</year>
</pub-date>
<pub-date pub-type="epub">
<day>00</day>
<month>10</month>
<year>2012</year>
</pub-date>
<volume>25</volume>
<numero>spe</numero>
<fpage>45</fpage>
<lpage>51</lpage>
<copyright-statement/>
<copyright-year/>
<self-uri xlink:href="http://www.scielo.org.co/scielo.php?script=sci_arttext&amp;pid=S0120-100X2012000300007&amp;lng=en&amp;nrm=iso"></self-uri><self-uri xlink:href="http://www.scielo.org.co/scielo.php?script=sci_abstract&amp;pid=S0120-100X2012000300007&amp;lng=en&amp;nrm=iso"></self-uri><self-uri xlink:href="http://www.scielo.org.co/scielo.php?script=sci_pdf&amp;pid=S0120-100X2012000300007&amp;lng=en&amp;nrm=iso"></self-uri><abstract abstract-type="short" xml:lang="es"><p><![CDATA[A través de espectroscopía de impedancia electroquímica se estudió la influencia de la densidad de corriente en la formación de películas anódicas de aluminio de alta pureza en una solución 0,25M de acido crómico a 40°C. Selectas muestras fueron observadas por microscopia óptica y electrónica. Las películas anódicas están compuestas de una capa barrera de espesor uniforme adyacente a la interface metal/óxido y una capa externa porosa de varios micrómetros de espesor en la interface óxido/electrolito. Los resultados muestran que la morfología de las películas anódicas cambia con el aumento de la densidad de corriente. A bajas densidades de corriente se forman poros con una morfología irregular y no ordenada, características de las películas anódicas formadas en ácido crómico. Mientras que a altas densidades de corriente las películas anódicas están compuestas de una capa barrera de espesor considerablemente alto y una capa externa porosa más delgada. Se concluyó que el mecanismo de formación de las películas corresponde a un proceso dinámico de formación y disolución química del material anódico en la base de los poros.]]></p></abstract>
<abstract abstract-type="short" xml:lang="en"><p><![CDATA[The effect of current density on the mechanism of formation of porous anodic films on aluminum is investigated by impedance spectroscopy. The study employs porous anodic films formed in 0.25M chromic acid solution at 40°C. Selected samples were analyzed by scanning electron microscopy (SEM) and optical microscopy. The anodic films are composed for a thin barrier layer of constant thickness close to the metal/oxide interphase and an external porous layer of several microns at oxide/electrolyte interphase. The increase in current density affects the morphology of the anodic films. At lower current densities feathered porous structure were developed. Meanwhile at high current densities a thick barrier layer is formed. The formation of porous layers is the result of the dynamic process of growth and dissolution of anodic alumina at the pore base.]]></p></abstract>
<kwd-group>
<kwd lng="es"><![CDATA[aluminio]]></kwd>
<kwd lng="es"><![CDATA[anodizado]]></kwd>
<kwd lng="es"><![CDATA[películas anódicas]]></kwd>
<kwd lng="es"><![CDATA[acido crómico]]></kwd>
<kwd lng="en"><![CDATA[aluminium]]></kwd>
<kwd lng="en"><![CDATA[anodizing]]></kwd>
<kwd lng="en"><![CDATA[anodic films]]></kwd>
<kwd lng="en"><![CDATA[chromic acid]]></kwd>
</kwd-group>
</article-meta>
</front><body><![CDATA[   <font size="2" face="Verdana">   <font size="4">       <center><b>Estudio de pel&iacute;culas an&oacute;dicas de aluminio formadas en &aacute;cido    <br> cr&oacute;mico por espectroscop&iacute;a de impedancia electroqu&iacute;mica</b></center></font> 		     <p align="center">Isa&iacute;as Andr&eacute;s Renter&iacute;a Rinc&oacute;n<sup>1</sup>; Sandra Judith Garc&iacute;a Vergara<sup>1</sup>*; Peter Skeldon<sup>2</sup></p> 	     <p align="center"><sup>1</sup>Escuela de Ingenier&iacute;a Metal&uacute;rgica y Ciencia de Materiales, Universidad Industrial de Santander,    <br> Cra. 27 Calle 9, Bucaramanga, Colombia.    <br> <sup>*</sup><a href="mailto:sagarver@uis.edu.co">sagarver@uis.edu.co</a>    <br> <sup>2</sup>Corrosion and Protection Centre, School of Materials, University of Manchester, Manchester,    <br> M13 9PL, Reino Unido. </p>       <p align="right"><i> Fecha Recepci&oacute;n: 23 de septiembre de 2011    ]]></body>
<body><![CDATA[<br> Fecha Aceptaci&oacute;n: 23 de noviembre de 2011</i></p>   <hr>  <font size="3">    <p><b><left>Resumen</left></b></p></font>      <p align="justify">A trav&eacute;s de espectroscop&iacute;a de impedancia electroqu&iacute;mica se estudi&oacute; la influencia de la densidad de corriente en la formaci&oacute;n de pel&iacute;culas an&oacute;dicas de aluminio de alta pureza en una soluci&oacute;n 0,25M de acido cr&oacute;mico a 40&deg;C. Selectas muestras fueron observadas por microscopia &oacute;ptica y electr&oacute;nica. Las pel&iacute;culas an&oacute;dicas est&aacute;n compuestas de una capa barrera de espesor uniforme adyacente a la interface metal/&oacute;xido y una capa externa porosa de varios micr&oacute;metros de espesor en la interface &oacute;xido/electrolito. Los resultados muestran que la morfolog&iacute;a de las pel&iacute;culas an&oacute;dicas cambia con el aumento de la densidad de corriente. A bajas densidades de corriente se forman poros con una morfolog&iacute;a irregular y no ordenada, caracter&iacute;sticas de las pel&iacute;culas an&oacute;dicas formadas en &aacute;cido cr&oacute;mico. Mientras que a altas densidades de corriente las pel&iacute;culas an&oacute;dicas est&aacute;n compuestas de una capa barrera de espesor considerablemente alto y una capa externa porosa m&aacute;s delgada. Se concluy&oacute; que el mecanismo de formaci&oacute;n de las pel&iacute;culas corresponde a un proceso din&aacute;mico de formaci&oacute;n y disoluci&oacute;n qu&iacute;mica del material an&oacute;dico en la base de los poros.</p> 	     <p align="justify"><i><b>Palabras clave:</b> aluminio, anodizado, pel&iacute;culas an&oacute;dicas, acido cr&oacute;mico.</i></p>  <font size="3">      <p><b>    <center>An impedance spectroscopy study of the anodically formed films on    <br> aluminium in cromic acid</center></b></p></font>  <font size="3">      <p><b><left>Abstract</left></b></p></font> 	     <p align="justify">The effect of current density on the mechanism of formation of porous anodic films on aluminum is investigated by impedance spectroscopy. The study employs porous anodic films formed in 0.25M chromic acid solution at 40&deg;C. Selected samples were analyzed by scanning electron microscopy (SEM) and optical microscopy. The anodic films are composed for a thin barrier layer of constant thickness close to the metal/oxide interphase and an external porous layer of several microns at oxide/electrolyte interphase. The increase in current density affects the morphology of the anodic films. At lower current densities feathered porous structure were developed. Meanwhile at high current densities a thick barrier layer is formed. The formation of porous layers is the result of the dynamic process of growth and dissolution of anodic alumina at the pore base.</p>      <p align="justify"><i><b>Keywords:</b> aluminium, anodizing, anodic films, chromic acid.</i></p>  <hr>  <font size="3">		     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><b><left>Introducci&oacute;n</left></b></p></font>      <p align="justify">Las pel&iacute;culas an&oacute;dicas de al&uacute;mina se usan ampliamente en la protecci&oacute;n y funcionalizaci&oacute;n de las aleaciones de aluminio para aplicaciones tanto en la industria electr&oacute;nica, como automotriz y aeroespacial, hasta litogr&aacute;fica, por solo mencionar algunas &#91;1&#93;. Las pel&iacute;culas de &oacute;xido se forman en soluciones acuosas y dos tipos de morfolog&iacute;as pueden formarse dependiendo de la composici&oacute;n del electrolito, el pH, la densidad de corriente, el voltaje, la temperatura, etc &#91;14-16&#93;. Las pel&iacute;culas tipo barrera consisten de al&uacute;mina amorfa y compacta de un espesor uniforme, de hasta unos pocos nan&oacute;metros de espesor. Las pel&iacute;culas porosas comprenden una capa barrera delgada en la interface &oacute;xido/metal y una capa externa de al&uacute;mina porosa, que puede alcanzar unas pocas micras de espesor &#91;2-4&#93;. La base de cada poro adopta una forma aproximadamente hemisf&eacute;rica, que conduce a que la interface &oacute;xido/aluminio aparezca ondulada. Los poros son aproximadamente cil&iacute;ndricos y van desde la superficie de la pel&iacute;cula hasta la capa barrera. El espesor de la capa barrera y el di&aacute;metro de los poros dependen del voltaje al cual se forma la pel&iacute;cula, con una relaci&oacute;n de 1nm V<sup>-1</sup> &#91;5,6&#93;. Mientras que el espesor de la capa porosa depende principalmente de la carga de anodizado para un densidad de corriente en particular. Durante el crecimiento de las pel&iacute;culas, iones de Al<sup>+3</sup> y O<sup>-2</sup> migran a trav&eacute;s de la capa barrera, bajo la acci&oacute;n del campo el&eacute;ctrico establecido por el potencial aplicado &#91;7,8&#93;. La migraci&oacute;n de iones de O<sup>-2</sup> provenientes del electrolito conlleva al crecimiento de nuevo material en la interface aluminio/&oacute;xido. En contraste los iones de Al<sup>+3</sup> que migran desde al aluminio se pierden en el electrolito por la base del poro &#91;7&#93;.    <br> La porosidad ha sido frecuentemente explicada por una disoluci&oacute;n qu&iacute;mica de la al&uacute;mina en la base del poro, la cual es acelerada por el campo el&eacute;ctrico alto en la capa barrera y un aumento de la temperatura local de la pel&iacute;cula debido al calor de Joule &#91;5,8&#93;. El espesor de la capa barrera permanece constante debido al balance entre la velocidad de crecimiento del &oacute;xido y la velocidad de disoluci&oacute;n del mismo en las regiones cerca a la base del poro. Un nuevo modelo basado en resultados experimentales ha sido propuesto en el Corrosi&oacute;n and protecci&oacute;n centre de la Universidad de Manchester &#91;9,10&#93;. A la luz de este nuevo modelo los poros en la pel&iacute;cula de al&uacute;mina se forman debido de la inestabilidad mec&aacute;nica del &oacute;xido, el cual est&aacute; sujeto a altos esfuerzos de compresi&oacute;n durante su crecimiento. La clave de este mecanismo es la plasticidad inducida por el campo de la capa barrera que est&aacute; cerca del sustrato met&aacute;lico, la cual permite el flujo del material desde la base del poro hacia las paredes. Una caracter&iacute;stica importante observada en el crecimiento de los poros, es que hay incorporaci&oacute;n de aniones provenientes del electrolito y se ha sugerido que estos pueden facilitar el flujo de la al&uacute;mina &#91;11,12&#93;. El comportamiento pl&aacute;stico ha sido observado gracias al uso de trazadores met&aacute;licos incorporados desde el sustrato de aluminio, con t&eacute;cnicas de microscop&iacute;a y espectroscop&iacute;a &#91;13&#93;. De esta forma se ha podido observar que las pel&iacute;culas formadas en electrolitos como &aacute;cido sulf&uacute;rico y &aacute;cido fosf&oacute;rico, se desarrollan por flujo pl&aacute;stico del material an&oacute;dico desde la capa barrera hacia las paredes de los poros &#91;14,15&#93;. Mientras que en la formaci&oacute;n de pel&iacute;culas an&oacute;dicas en electrolitos como &aacute;cido cr&oacute;mico y borax, se presenta disoluci&oacute;n de la pel&iacute;cula en sitios preferenciales, y las pel&iacute;culas porosas son el resultado de un proceso din&aacute;mico de formaci&oacute;n y disoluci&oacute;n de al&uacute;mina en la base de los poros &#91;16&#93;. El anodizado en &aacute;cido cr&oacute;mico ha sido usado a nivel industrial durante muchos a&ntilde;os &#91;1&#93;. Las pel&iacute;culas an&oacute;dicas formadas en este electrolito proporcionan excelente resistencia a la corrosi&oacute;n &#91;8&#93;. En el presente trabajo se estudia la formaci&oacute;n de pel&iacute;culas an&oacute;dicas de aluminio en &aacute;cido cr&oacute;mico por espectroscop&iacute;a de impedancia electroqu&iacute;mica y microscop&iacute;a electr&oacute;nica de barrido (SEM). Las pel&iacute;culas an&oacute;dicas fueron formadas variando la densidad de corriente aplicada.</p>      <br> <font size="3">		     <p><b><left>Metodolog&iacute;a</left></b></p></font>      <p align="justify">Se anodizaron l&aacute;minas de aluminio de alta pureza (99,99&#37;) en una soluci&oacute;n 0,25M de &aacute;cido cr&oacute;mico a 40&deg;C, a 3, 9, 15mA/cm<sup>2</sup> como densidades de corriente por diferente tiempos. Los sustratos de aluminio fueron previamente electropulidos en una soluci&oacute;n de &aacute;cido percl&oacute;rico/etanol por 180s a 20V. Para la caracterizaci&oacute;n por impedancia electroqu&iacute;mica se usaron tiempos de anodizado de 300 y 600 s. Se registr&oacute; la respuesta voltaje - tiempo durante el anodizado. Las pruebas de impedancia electroqu&iacute;mica se realizaron con un potenciostato/galvanostato GAMRY 600, a una amplitud de voltaje de 50mV y en un rango de frecuencias de 100000 a 0,005Hz. Un microscopio electr&oacute;nico ZEIS ULTRA 55 se utiliz&oacute; para observar las secciones transversales de las muestras de aluminio anodizadas.</p>  <font size="3">		     <p><b><left>Resultados y Discusi&oacute;n</left></b></p></font>      <p align="justify"><b>Curvas voltaje - tiempo</b>    <br> La <a href="#f1">Figura 1</a> presenta el comportamiento voltaje - tiempo para las muestras de aluminio de alta pureza anodizadas en una soluci&oacute;n 0,25M de &aacute;cido cr&oacute;mico a 3, 9 y 15mA/cm2 por 3600 s. Al inciar el anodizado hay un salto en el voltaje de alrededor de 0,2V debido a la presencia de una delgada pel&iacute;cula de &oacute;xido formada al aire sobre el aluminio electropulido. Posteriormente el voltaje aumenta linealmente con el tiempo durante los primeros 100 s indicando la formaci&oacute;n de la pel&iacute;cula barrera &#91;1&#93;. El voltaje alcanza un valor m&aacute;ximo para luego comenzar a disminuir, durante este per&iacute;odo intermedio se comienzan a forman embrio poros. La formaci&oacute;n y crecimiento de los poros finales se da cuando el voltaje alcanza un valor estable, correspondiente en este caso a 23, 125 y 135V, para las muestras de aluminio anodizadas a 3, 9 y 15mA/cm<sup>2</sup> respectivamente. Se observa un comportamiento diferente para bajas y altas densidades de corriente. Hay un aumento en la pendiente de la regi&oacute;n lineal de la curva al aumentar la densidad de corriente, sugiriendo un aumento en el espesor de la capa barrera. El comportamiento observado a 3mA/cm<sup>2</sup> es similar al reportado por otros autores, sugiriendo entonces que las pel&iacute;culas est&aacute;n siendo formadas con una eficiencia de alrededor del 60&#37; &#91;16&#93;. Estas investigaciones tambi&eacute;n han sugerido que las pel&iacute;culas se forman por un mecanismo de disoluci&oacute;n y formaci&oacute;n de nuevo material an&oacute;dico en la base de los poros. En contraste un comportamiento diferente se observa para las muestras anodizadas a 9 y 15mA/cm<sup>2</sup>. El voltaje m&aacute;ximo en la regi&oacute;n lineal es tres veces mayor que el observado cuando el anodizado se llev&oacute; a cabo a 3mA/cm<sup>2</sup>. Adem&aacute;s, la regi&oacute;n correspondiente al voltaje estable experimenta ondulaciones. Dichas ondulaciones podr&iacute;an atribuirse a que la corriente no puede fluir con facilidad a trav&eacute;s de la capa barrera, la cual es de un espesor considerable, y adem&aacute;s podr&iacute;an indicar que hubo disoluci&oacute;n qu&iacute;mica de la pel&iacute;cula an&oacute;dica.</p>      <p align="center"><a name="f1"></a><img src="img/revistas/rion/v25nspe/v25nspea07f1.jpg"></p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><b>Microscop&iacute;a &oacute;ptica y electr&oacute;nica</b>    <br> Las microfotograf&iacute;as &oacute;pticas de la secci&oacute;n transversal de las muestras de aluminio de alta pureza sin anodizar y luego del anodizado a 3, 9 y 15mA/cm<sup>2</sup> por 3600s, se presentan en la <a href="#f2">Figura 2</a>. La pel&iacute;cula an&oacute;dica formada se distingue como una capa gris&aacute;cea homog&eacute;nea y continua sobre el aluminio. Puede observarse un aumento en el espesor de la pel&iacute;cula a medida que la densidad de corriente aumenta. Siendo 2,99, 4,76 y 7,62&#956;m para las pel&iacute;culas formadas a 3, 9 y 15mA/cm<sup>2</sup> respectivamente. La morfolog&iacute;a de las pel&iacute;culas an&oacute;dicas formadas en &aacute;cido cr&oacute;mico a bajas densidades de corriente se puede observar en la <a href="#f3">Figura 3</a>. Las pel&iacute;culas an&oacute;dicas se caracterizan por presentar una estructura tipo plumas, en las que los poros aparecen entrecruzados &#91;1,16&#93;.</p>      <p align="center"><a name="f2"></a><img src="img/revistas/rion/v25nspe/v25nspea07f2.jpg"></p>     <p align="center"><a name="f3"></a><img src="img/revistas/rion/v25nspe/v25nspea07f3.jpg"></p>      <p align="justify"><b>Espectroscop&iacute;a de impedancia electroqu&iacute;mica</b>    <br> Las Figuras <a href="#f4">4</a> y <a href="#f5">5</a>, muestran los gr&aacute;ficos de Bode para las muestras de aluminio antes y despu&eacute;s del anodizado en 0,25M de &aacute;cido cr&oacute;mico a 3, 9 y 15mA/cm<sup>2</sup> por 300 y 600s. Se observa un aumento en la impedancia de las pel&iacute;culas obtenidas a 9 y 15mA/cm<sup>2</sup> en comparaci&oacute;n con las pel&iacute;culas obtenidas a 3mA/cm<sup>2</sup>. Tambi&eacute;n se observa una similitud entre los gr&aacute;ficos de Bode para las muestras de aluminio anodizadas a 9 y 15mA/cm<sup>2</sup>, lo cual sugiere que los espesores de la capa barrera son similares. Esto que concuerda con lo observado en las curvas voltaje/tiempo.</p>      <p align="center"><a name="f4"></a><img src="img/revistas/rion/v25nspe/v25nspea07f4.jpg"></p>     <p align="center"><a name="f5"></a><img src="img/revistas/rion/v25nspe/v25nspea07f5.jpg"></p>      <p align="justify">Para la interpretaci&oacute;n de los resultados en la muestra de aluminio electropulido, se utiliz&oacute; un circuito simple compuesto de una resistencia con un elemento de fase constante.</p>      <p align="justify">Estos dos componentes representan la resistencia a la polarizaci&oacute;n y la capacitancia generada por la doble capa el&eacute;ctrica (<a href="#f6">Figura 6</a>) &#91;17&#93;. El comportamiento ideal del espectro de impedancia electroqu&iacute;mica de un metal en soluci&oacute;n acuosa est&aacute; representado por un circuito equivalente que consta de una combinaci&oacute;n de resistencia y capacitancia en paralelo &#91;17&#93;. En el caso del aluminio electropulido, el gr&aacute;fico de Bode mostrado en las Figuras <a href="#f4">4</a> y <a href="#f5">5</a>, concuerda mejor con un elemento de fase constante, sin embargo, el valor del exponente <i>n</i> es 0,79&plusmn;0,02, cercano a la unidad, lo que indica que el elemento de fase constante puede considerarse como un capacitor.</p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><a name="f6"></a><img src="img/revistas/rion/v25nspe/v25nspea07f6.jpg"></p>      <p align="justify">Los valores de capacitancia por unidad de &aacute;rea obtenidos al simular los espectros de impedancia electroqu&iacute;mica con el software Zview (versi&oacute;n libre) se utilizan para el c&aacute;lculo de los espesores de la capa barrera de las pel&iacute;culas an&oacute;dicas de acuerdo con la <a href="#e1">Ecuaci&oacute;n (1)</a>.</p>      <p align="center"><a name="e1"></a><img src="img/revistas/rion/v25nspe/v25nspea07e1.jpg"></p>      <p align="justify">En donde <i>&#949;</i> es la permisividad de la pel&iacute;cula an&oacute;dica <i>&#949;<sub>0</sub></i> es la permisividad en el vac&iacute;o (8,85x10<sup>-12</sup>F/m) &#91;18&#93; <i>&#954;</i> es la constante diel&eacute;ctrica del material an&oacute;dico (8,5) &#91;9&#93; <i>A</i> es el &aacute;rea anodizada, y <i>d</i> es el espesor de la pel&iacute;cula. La <a href="#t1">Tabla 1</a>, muestra los valores de capacitancia por unidad de &aacute;rea junto con los espesores calculados. Puede observarse que la capa barrera calculada para los dos tiempos de anodizado utilizados presenta un valor similar. Indicando que el espesor de la capa barrera es similar y que no var&iacute;a con el tiempo de anodizado. Sin embargo la densidad de corriente si parece afectar el espesor de la capa barrera. La capa barrera presenta un espesor aproximado de13, 55 y 72nm para las muestras anodizadas a 3, 9 y 15mA/cm<sup>2</sup> respectivamente. Indicando que el espesor de la capa barrera de las muestras anodizadas a altas densidades de corriente es significativamente mayor que el de las muestras anodizadas a bajas densidades de corriente. Lo cual coincide con lo observado en las curvas voltaje/ tiempo, en donde alcanzan un valor m&aacute;ximo de voltaje en la regi&oacute;n lineal de 125 y 135V respectivamente. Los resultados indican que al aumentar la densidad de corriente aumenta el espesor de la capa barrera de las pel&iacute;culas an&oacute;dicas producidas en &aacute;cido cr&oacute;mico.</p>      <p align="center"><a name="t1"></a><img src="img/revistas/rion/v25nspe/v25nspea07t1.jpg"></p>  <font size="3">		     <p><b><left>Conclusiones</left></b></p></font>      <p align="justify">Las pel&iacute;culas an&oacute;dicas formadas sobre aluminio en una soluci&oacute;n 0,25M de &aacute;cido cr&oacute;mico a 40&deg;C dependen tanto en morfolog&iacute;a como en espesor de la densidad de corriente. A altas densidades de corriente se presenta un aumento considerable en el espesor de la capa barrera, sugiriendo adem&aacute;s que la capa externa porosa presenta un espesor reducido en comparaci&oacute;n con las muestras anodizadas a bajas densidades de corriente.    <br> De acuerdo con los planteamientos te&oacute;ricos y los resultados obtenidos podr&iacute;a decirse que las pel&iacute;culas an&oacute;dicas crecen debido a un proceso din&aacute;mico de formaci&oacute;n y disoluci&oacute;n del material an&oacute;dico en la base de los poros.    <br> Los resultados obtenidos en los espectros de impedancia electroqu&iacute;mica indican que el espesor de la capa barrera aumenta con el aumento de la densidad de corriente. Observ&aacute;ndose valores de espesor altos en las pel&iacute;culas formadas a 9 y 15mA/cm<sup>2</sup>. Sin embargo el espesor de la capa barrera no depende del tiempo de anodizado.</p>  <font size="3">		     <p><b><left>Agradecimientos</left></b></p></font>      ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify">Los autores desean expresar su agradecimiento a la Vicerrector&iacute;a de Investigaci&oacute;n y Extensi&oacute;n de la Universidad Industrial de Santander (UIS) (Proyecto: Formaci&oacute;n de pel&iacute;culas an&oacute;dicas nanoporosas en aluminio, C&oacute;digo 5440) por la financiaci&oacute;n de esta investigaci&oacute;n.</p>  <font size="3">		     <p><b><left>Referencias</left></b></p></font>      <!-- ref --><p align="justify">&#91;1&#93; Sheasby PG, Pinner R. The surface treatment and finishing of aluminium and its alloys, ASM international, Estados Unidos:Finishing Publications Ltd; 2001.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000055&pid=S0120-100X201200030000700001&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>      <!-- ref --><p align="justify">&#91;2&#93; Thompson GE, Wood GC. Corrosion: Aqueous Processes and Passive Films, Estados Unidos:Academic Press;1983.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000057&pid=S0120-100X201200030000700002&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>      <!-- ref --><p align="justify">&#91;3&#93; Keller K, Hunter MS, Robinson DL. Structural features of oxide coatings on Aluminum. J. Electrochem. Soc. 1953;100(9):411-9.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000059&pid=S0120-100X201200030000700003&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>      <!-- ref --><p align="justify">&#91;4&#93; O&#39;Sullivan JP, Wood GC. Morphology and mechanism of formation of porous anodic films on aluminium. Proc. R. Soc. London, Ser. A.1970;317(1731):511-43.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000061&pid=S0120-100X201200030000700004&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p align="justify">&#91;5&#93; Wood GC, O&#39;Sullivan JP. Electron-optical examination of sealed anodic alumina film: Surface and interior effects, J. Electrochem. Soc. 1969;116(10):1351-7.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000063&pid=S0120-100X201200030000700005&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>      <!-- ref --><p align="justify">&#91;6&#93; Wood GC, O&#39;Sullivan JP. The anodizing of aluminium in sulphate solutions, Electrochim. Acta. 1970;15(12):1865-76.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000065&pid=S0120-100X201200030000700006&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>      <!-- ref --><p align="justify">&#91;7&#93; Siejka, J, Ortega C. An O<sup>18</sup> Study of Field-Assisted Pore Formation in Compact Anodic Oxide Films on Aluminum. J. Electrochem. Soc. 1977;124(6):883-91.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000067&pid=S0120-100X201200030000700007&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>      <!-- ref --><p align="justify">&#91;8&#93; Hoar TP, Mott NF. A mechanism for the formation of porous anodic oxide films on aluminium. J. Phys. Chem. Solids. 1959;9:97-9.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000069&pid=S0120-100X201200030000700008&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>      <!-- ref --><p align="justify">&#91;9&#93; Garcia-Vergara SJ, Skeldon P, Thompson GE, Habazaki H. A flow model of porous anodic film growth on aluminium. Electrochim. Acta. 2006;52(2):681-7.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000071&pid=S0120-100X201200030000700009&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p align="justify">&#91;10&#93; Skeldon P, Thompson GE, Garcia-Vergara SJ, Iglesias-Rubianes L, Blanco-Pinzon CE. A Tracer study of porous anodic alumina. Electrochem. Solid-State Lett. 2006;9(11):B47-B51.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000073&pid=S0120-100X201200030000700010&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>      <!-- ref --><p align="justify">&#91;11&#93; Garcia-Vergara SJ, Skeldon P, Thompson GE, Hashimoto T, Habazaki H. Compositional evidence for flow in anodic films on Aluminum under high electric fields. J. Electrochem. Soc. 2007;154(9):C540-C545.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000075&pid=S0120-100X201200030000700011&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>      <!-- ref --><p align="justify">&#91;12&#93; Thompson GE, Wood GC. Porous anodic film formation on aluminium. Nature.1981;290:230-2.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000077&pid=S0120-100X201200030000700012&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>      <!-- ref --><p align="justify">&#91;13&#93; Garcia-Vergara SJ, Le Clere D, Hashimoto T, Habazaki H, Skeldon P, Thompson GE. Optimized observation of tungsten tracers for investigation of formation of porous anodic alumina. Electrochim. Acta. 2009;54(26):6403-11.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000079&pid=S0120-100X201200030000700013&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>      <!-- ref --><p align="justify">&#91;14&#93; Schwirn K, Hillebrand R, Steinhart M, Nielsch K, G&ouml;sele U. Self-ordered anodic Aluminum oxide formed by H<sub>2</sub>SO<sub>4</sub> hard anodization. ACS Nano. 2008;2(2):302-10.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000081&pid=S0120-100X201200030000700014&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p align="justify">&#91;15&#93; Choi J, Luo Y, Wehrspohn R.B, Schilling J, U. G&ouml;sele. Perfect 2D porous alumina photonic crystals with duplex oxide layers. J. Appl. Phys. 2003;94:4757-62.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000083&pid=S0120-100X201200030000700015&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>      <!-- ref --><p align="justify">&#91;16&#93; Garcia-Vergara SJ, Skeldon P, Thompson GE, Habazaki H. A tracer investigation of chromic acid anodizing of aluminium. Surf. Interface Anal. 2007;39(11):860-4.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000085&pid=S0120-100X201200030000700016&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>      <!-- ref --><p align="justify">&#91;17&#93; Huang Y, Esra K, Mansfeld F. Evaluation of the corrosion resistance of anodizing aluminium samples using electrochemical impedance spectroscopy, En: Annual Graduate student research symposium; 2007 oct 3-26; Los Angeles, California, Estados Unidos.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000087&pid=S0120-100X201200030000700017&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>      <!-- ref --><p align="justify">&#91;18&#93; Lu Q, Mato S, Skeldon P, Thompson GE, Masheder D. Dielectric properties of anodic films formed on sputtering - deposited tantalum in phosphoric acid solution. Thin Solid Films.2003;429:238-42.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000089&pid=S0120-100X201200030000700018&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>  </font>      ]]></body><back>
<ref-list>
<ref id="B1">
<label>1</label><nlm-citation citation-type="book">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Sheasby]]></surname>
<given-names><![CDATA[PG]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Pinner]]></surname>
<given-names><![CDATA[R.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[The surface treatment and finishing of aluminium and its alloys, ASM international]]></source>
<year>2001</year>
<publisher-name><![CDATA[Finishing Publications Ltd]]></publisher-name>
</nlm-citation>
</ref>
<ref id="B2">
<label>2</label><nlm-citation citation-type="book">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Thompson]]></surname>
<given-names><![CDATA[GE]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Wood]]></surname>
<given-names><![CDATA[GC.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[Corrosion: Aqueous Processes and Passive Films]]></source>
<year>1983</year>
<publisher-name><![CDATA[Academic Press]]></publisher-name>
</nlm-citation>
</ref>
<ref id="B3">
<label>3</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Keller]]></surname>
<given-names><![CDATA[K]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Hunter]]></surname>
<given-names><![CDATA[MS]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Robinson]]></surname>
<given-names><![CDATA[DL.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Structural features of oxide coatings on Aluminum]]></article-title>
<source><![CDATA[J. Electrochem. Soc.]]></source>
<year>1953</year>
<volume>100</volume>
<numero>9</numero>
<issue>9</issue>
<page-range>411-9</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B4">
<label>4</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[O&#39;Sullivan]]></surname>
<given-names><![CDATA[JP]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Wood]]></surname>
<given-names><![CDATA[GC.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Morphology and mechanism of formation of porous anodic films on aluminium]]></article-title>
<source><![CDATA[Proc. R. Soc. London, Ser. A.]]></source>
<year>1970</year>
<volume>317</volume>
<numero>1731</numero>
<issue>1731</issue>
<page-range>511-43</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B5">
<label>5</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Wood]]></surname>
<given-names><![CDATA[GC]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[O&#39;Sullivan]]></surname>
<given-names><![CDATA[JP.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Electron-optical examination of sealed anodic alumina film: Surface and interior effects]]></article-title>
<source><![CDATA[J. Electrochem. Soc.]]></source>
<year>1969</year>
<volume>116</volume>
<numero>10</numero>
<issue>10</issue>
<page-range>1351-7</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B6">
<label>6</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Wood]]></surname>
<given-names><![CDATA[GC]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[O&#39;Sullivan]]></surname>
<given-names><![CDATA[JP.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[The anodizing of aluminium in sulphate solutions]]></article-title>
<source><![CDATA[Electrochim. Acta.]]></source>
<year>1970</year>
<volume>15</volume>
<numero>12</numero>
<issue>12</issue>
<page-range>1865-76</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B7">
<label>7</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Siejka]]></surname>
<given-names><![CDATA[J]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Ortega]]></surname>
<given-names><![CDATA[C.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[An O18 Study of Field-Assisted Pore Formation in Compact Anodic Oxide Films on Aluminum]]></article-title>
<source><![CDATA[J. Electrochem. Soc.]]></source>
<year>1977</year>
<volume>124</volume>
<numero>6</numero>
<issue>6</issue>
<page-range>883-91</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B8">
<label>8</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Hoar]]></surname>
<given-names><![CDATA[TP]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Mott]]></surname>
<given-names><![CDATA[NF.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[A mechanism for the formation of porous anodic oxide films on aluminium]]></article-title>
<source><![CDATA[J. Phys. Chem. Solids.]]></source>
<year>1959</year>
<volume>9</volume>
<page-range>97-9</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B9">
<label>9</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Garcia-Vergara]]></surname>
<given-names><![CDATA[SJ]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Skeldon]]></surname>
<given-names><![CDATA[P]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Thompson]]></surname>
<given-names><![CDATA[GE]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Habazaki]]></surname>
<given-names><![CDATA[H.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[A flow model of porous anodic film growth on aluminium]]></article-title>
<source><![CDATA[Electrochim. Acta.]]></source>
<year>2006</year>
<volume>52</volume>
<numero>2</numero>
<issue>2</issue>
<page-range>681-7</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B10">
<label>10</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Skeldon]]></surname>
<given-names><![CDATA[P]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Thompson]]></surname>
<given-names><![CDATA[GE]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Garcia-Vergara]]></surname>
<given-names><![CDATA[SJ]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Iglesias-Rubianes]]></surname>
<given-names><![CDATA[L]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Blanco-Pinzon]]></surname>
<given-names><![CDATA[CE.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[A Tracer study of porous anodic alumina]]></article-title>
<source><![CDATA[Electrochem. Solid-State Lett.]]></source>
<year>2006</year>
<volume>9</volume>
<numero>11</numero>
<issue>11</issue>
<page-range>B47-B51</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B11">
<label>11</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Garcia-Vergara]]></surname>
<given-names><![CDATA[SJ]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Skeldon]]></surname>
<given-names><![CDATA[P]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Thompson]]></surname>
<given-names><![CDATA[GE]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Hashimoto]]></surname>
<given-names><![CDATA[T]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Habazaki]]></surname>
<given-names><![CDATA[H.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Compositional evidence for flow in anodic films on Aluminum under high electric fields]]></article-title>
<source><![CDATA[J. Electrochem. Soc.]]></source>
<year>2007</year>
<volume>154</volume>
<numero>9</numero>
<issue>9</issue>
<page-range>C540-C545</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B12">
<label>12</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Thompson]]></surname>
<given-names><![CDATA[GE]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Wood]]></surname>
<given-names><![CDATA[GC.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Porous anodic film formation on aluminium]]></article-title>
<source><![CDATA[Nature]]></source>
<year>1981</year>
<volume>290</volume>
<page-range>230-2</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B13">
<label>13</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Garcia-Vergara]]></surname>
<given-names><![CDATA[SJ]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Le Clere]]></surname>
<given-names><![CDATA[D]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Hashimoto]]></surname>
<given-names><![CDATA[T]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Habazaki]]></surname>
<given-names><![CDATA[H]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Skeldon]]></surname>
<given-names><![CDATA[P]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Thompson]]></surname>
<given-names><![CDATA[GE.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Optimized observation of tungsten tracers for investigation of formation of porous anodic alumina]]></article-title>
<source><![CDATA[Electrochim. Acta.]]></source>
<year>2009</year>
<volume>54</volume>
<numero>26</numero>
<issue>26</issue>
<page-range>6403-11</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B14">
<label>14</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Schwirn]]></surname>
<given-names><![CDATA[K]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Hillebrand]]></surname>
<given-names><![CDATA[R]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Steinhart]]></surname>
<given-names><![CDATA[M]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Nielsch]]></surname>
<given-names><![CDATA[K]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Gösele]]></surname>
<given-names><![CDATA[U.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Self-ordered anodic Aluminum oxide formed by H2SO4 hard anodization]]></article-title>
<source><![CDATA[ACS Nano.]]></source>
<year>2008</year>
<volume>2</volume>
<numero>2</numero>
<issue>2</issue>
<page-range>302-10</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B15">
<label>15</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Choi]]></surname>
<given-names><![CDATA[J]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Luo]]></surname>
<given-names><![CDATA[Y]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Wehrspohn]]></surname>
<given-names><![CDATA[R.B]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Schilling]]></surname>
<given-names><![CDATA[J]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Gösele.]]></surname>
<given-names><![CDATA[U.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[J. Appl. Phys.]]></source>
<year>2003</year>
<volume>94</volume>
<page-range>4757-62</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B16">
<label>16</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Garcia-Vergara]]></surname>
<given-names><![CDATA[SJ]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Skeldon]]></surname>
<given-names><![CDATA[P]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Thompson]]></surname>
<given-names><![CDATA[GE]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Habazaki]]></surname>
<given-names><![CDATA[H.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[A tracer investigation of chromic acid anodizing of aluminium]]></article-title>
<source><![CDATA[Surf. Interface Anal.]]></source>
<year>2007</year>
<volume>39</volume>
<numero>11</numero>
<issue>11</issue>
<page-range>860-4</page-range></nlm-citation>
</ref>
<ref id="B17">
<label>17</label><nlm-citation citation-type="confpro">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Huang]]></surname>
<given-names><![CDATA[Y]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Esra]]></surname>
<given-names><![CDATA[K]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Mansfeld]]></surname>
<given-names><![CDATA[F.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Evaluation of the corrosion resistance of anodizing aluminium samples using electrochemical impedance spectroscopy]]></article-title>
<source><![CDATA[]]></source>
<year>2007</year>
<month> o</month>
<day>ct</day>
<conf-name><![CDATA[ Annual Graduate student research symposium]]></conf-name>
<conf-loc> </conf-loc>
<publisher-loc><![CDATA[Los Angeles^eCalifornia California]]></publisher-loc>
</nlm-citation>
</ref>
<ref id="B18">
<label>18</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Lu]]></surname>
<given-names><![CDATA[Q]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Mato]]></surname>
<given-names><![CDATA[S]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Skeldon]]></surname>
<given-names><![CDATA[P]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Thompson]]></surname>
<given-names><![CDATA[GE]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[Masheder]]></surname>
<given-names><![CDATA[D.]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Dielectric properties of anodic films formed on sputtering - deposited tantalum in phosphoric acid solution]]></article-title>
<source><![CDATA[Thin Solid Films.]]></source>
<year>2003</year>
<volume>429</volume>
<page-range>238-42</page-range></nlm-citation>
</ref>
</ref-list>
</back>
</article>
