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<article-title xml:lang="es"><![CDATA[Reconstrucción tridimensional de deformaciones mecánicas superficiales en platinas, basada en la proyección de franjas]]></article-title>
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<abstract abstract-type="short" xml:lang="en"><p><![CDATA[This paper presents a methodology for three-dimensional reconstruction of deformed metallic surface plates, by using nondestructive techniques. Specifically, the fringe projection optic method and phase shifting algorithm were used for three-dimensional reconstruction of deformed surfaces with different color and texture. Based on this reconstruction and by using image digital processing, maximum depth, length and area of defect were measured. Resultant measurements were compared with those obtained by using manual elements. In the experiment, a resolution of 14 mm was obtained for an observation area of 12x10 cm², which makes this approach appropriated for computing depth, diameter and area of defects present for example in oil pipes, and integrity parameters could be adequately computed by using a Nondestructive Testing (NDT).]]></p></abstract>
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<kwd lng="es"><![CDATA[Reconstrucción tridimensional]]></kwd>
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</front><body><![CDATA[ <p align="center"><font face="Verdana" size="4"> <b>Reconstrucci&oacute;n tridimensional de deformaciones mec&aacute;nicas superficiales en platinas, basada en la proyecci&oacute;n de franjas</b></font></p>      <p align="center"><font face="Verdana" size="4"> <b>Three-dimensional reconstruction of superficial mechanical deformations in metallic plates, based on fringes projection</b></font></p>      <p> <font face="Verdana" size="2"> <i>Diana Margarita Quintero Oliveros<sup>1</sup>*, Rodolfo Villamizar Mej&iacute;a<sup>2</sup> y Edward Yesith Mendoza<sup>1</sup></i></font></p>       <p> <font face="verdana" size="2"><sup>1</sup>Escuela de Ingenier&iacute;as El&eacute;ctrica, Electr&oacute;nica y de Telecomunicaciones, Universidad Industrial de Santander. Carrera 27 Calle 9 Bucaramanga, Colombia.    <br>    <br> <sup>2</sup>Escuela de Ingenier&iacute;as El&eacute;ctrica, Electr&oacute;nica y de Telecomunicaciones - Grupo de investigaci&oacute;n CEMOS, Universidad Industrial de Santander, Carrera 27 Calle 9 Bucaramanga, Colombia. </font></p>     <br>  <hr noshade size="1">     <p><font face="Verdana" size="3"><b>Resumen</b></font></p>       <p><font face="Verdana" size="2">En este art&iacute;culo se presenta una metodolog&iacute;a para la reconstrucci&oacute;n tridimensional de la superficie de platinas met&aacute;licas deformadas, a partir de t&eacute;cnicas no destructivas. Espec&iacute;ficamente se utiliz&oacute; el m&eacute;todo &oacute;ptico de proyecci&oacute;n de franjas y el algoritmo de corrimiento de fase para reconstruir tridimensionalmente las superficies con deformaciones, de diferente color y textura. A partir de esta reconstrucci&oacute;n, y mediante tratamiento de im&aacute;genes, se realiz&oacute; el dimensionamiento de la m&aacute;xima profundidad, longitud y &aacute;rea de los mismos. Los resultados se compararon con las medidas obtenidas con elementos manuales. Con el modelo implementado se alcanz&oacute; una resoluci&oacute;n de 14 mm (micr&oacute;metros) para un &aacute;rea de observaci&oacute;n de 12x10 cm<sup>2</sup>, lo que hace pertinente su uso en la extracci&oacute;n de par&aacute;metros de profundidad, di&aacute;metro y &aacute;rea de defectos presentes por ejemplo en tuber&iacute;a de transporte de fluidos, para lo cual se podr&iacute;an calcular adecuadamente par&aacute;metros asociados a su integridad usando una prueba no destructiva (END).</font></p>       <p><font face="Verdana" size="2"><i>Palabras clave:</i>Reconstrucci&oacute;n tridimensional, proyecci&oacute;n de franjas, corrimiento de fase, ensayo no destructivo, desenvolvimiento de fase, fase continua.</font></p>  <hr noshade size="1">       ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font face="Verdana" size="3"><b>Abstract</b></font></p>      <p><font face="Verdana" size="2">This paper presents a methodology for three-dimensional reconstruction of deformed metallic surface plates, by using nondestructive techniques. Specifically, the fringe projection optic method and phase shifting algorithm were used for three-dimensional reconstruction of deformed surfaces with different color and texture. Based on this reconstruction and by using image digital processing, maximum depth, length and area of defect were measured. Resultant measurements were compared with those obtained by using manual elements. In the experiment, a resolution of 14 mm was obtained for an observation area of 12x10 cm<sup>2</sup>, which makes this approach appropriated for computing depth, diameter and area of defects present for example in oil pipes, and integrity parameters could be adequately computed by using a Nondestructive Testing (NDT).</font></p>      <p><font face="Verdana" size="2"><i>Keywords: </i>Three-dimensional reconstruction, fringe projection, phase shifting, nondestructive testing, phase unwrapping, continuous phase.</font></p>  <hr noshade size="1">      <p><font face="Verdana" size="3"><b>Introducci&oacute;n</b></font></p>       <p><font face="Verdana" size="2">Cuantificar adecuadamente defectos superficiales tales como corrosi&oacute;n en tuber&iacute;as usadas para el transporte de hidrocarburos, se constituye en un factor fundamental al momento de tomar determinaciones de continuidad de operaci&oacute;n de dicha tuber&iacute;a, dado que en esta industria, una estimaci&oacute;n inadecuada de la integridad de la misma puede provocar su ruptura o una parada operacional, lo que conlleva a elevadas p&eacute;rdidas, econ&oacute;micas, sociales y ambientales. La corrosi&oacute;n es una de las causas m&aacute;s comunes de generaci&oacute;n de deformaciones [1], y por tanto es indispensable disponer de herramientas de monitoreo no destructivas, econ&oacute;micas y f&aacute;ciles de operar en campo, que permitan cuantificar adecuadamente dicha variaci&oacute;n superficial, para emitir un concepto de c&oacute;mo operar de forma segura una tuber&iacute;a.    <br>    <br> Existen herramientas autom&aacute;ticas e instrumentadas (por ejemplo, <i>intelligent pigs</i> [2]) que permiten localizar &aacute;reas de corrosi&oacute;n y estimar de manera aproximada el &aacute;rea corro&iacute;da; sin embargo para el equipo encargado de la integridad de la tuber&iacute;a se requiere la mayor informaci&oacute;n posible de la misma (profundidad, &aacute;rea, volumen) en los puntos con deformaciones superficiales continuas, consideradas cr&iacute;ticas, para tomar decisiones de continuidad o parada.    <br>    <br> Actualmente el dimensionamiento en campo de dicho tipo de defectos se realiza con elementos de medida manuales, tales como relojes comparadores [3] y rugos&iacute;metros [4] en puntos discretos de la deformaci&oacute;n, lo que genera altos tiempos de ejecuci&oacute;n, mayor esfuerzo humano, subjetividad en la medida y datos manuales de puntos espec&iacute;ficos, haciendo evidente la necesidad de obtener un m&eacute;todo r&aacute;pido, confiable, de f&aacute;cil uso, no destructivo y con capacidad de almacenamiento de informaci&oacute;n de toda el &aacute;rea observada, para realizar este dimensionamiento.    <br>    ]]></body>
<body><![CDATA[<br> La reconstrucci&oacute;n tridimensional satisface la necesidad mencionada, puesto que proporciona informaci&oacute;n simult&aacute;nea de alturas para todos los puntos de la superficie de un volumen observado, adem&aacute;s de que se puede lograr utilizando t&eacute;cnicas no destructivas como lo son los m&eacute;todos &oacute;pticos [1, 5, 6] y entre ellos la t&eacute;cnica de proyecci&oacute;n de franjas, la cual es la base de la metodolog&iacute;a propuesta. Este art&iacute;culo presenta los resultados obtenidos al aplicar el m&eacute;todo &oacute;ptico de proyecci&oacute;n de franjas, bajo condiciones controladas a nivel de laboratorio, en la reconstrucci&oacute;n tridimensional y dimensionamiento de defectos superficiales continuos en platinas met&aacute;licas y su comparaci&oacute;n con medidas obtenidas con elementos manuales.    <br>    <br> <b><i> M&eacute;todo de proyecci&oacute;n de franjas</i></b>    <br>    <br> El m&eacute;todo de reconstrucci&oacute;n por proyecci&oacute;n de franjas consta de un sistema de proyecci&oacute;n, un sistema de observaci&oacute;n y un plano de referencia, donde se focaliza el sistema de observaci&oacute;n, ubicado en la coordenada Zo=0 del sistema coordenado (Xo, Yo, Zo) como se observa en la <a href="#Figura1">figura 1</a> en la cual se presenta el modelo com&uacute;nmente utilizado [1]. Cuando se proyectan franjas sobre el plano de referencia, las franjas se ven paralelas entre s&iacute;.</font></p>        <p align="center"><img src="/img/revistas/rfiua/n59/n59a16i01.gif"><a name="Figura1"></a></p>      <p><font face="Verdana" size="2"><b><i>Codificaci&oacute;n de la altura</i></b>    <br>    <br> En un sistema de proyecci&oacute;n de franjas ideal, la funci&oacute;n de intensidad captada por la c&aacute;mara, tiene un perfil sinusoidal [5] y su fase codifica la deformaci&oacute;n de las franjas proyectadas sobre cualquier objeto teniendo en cuenta la no telecentricidad [7] del sistema &oacute;ptico, el &aacute;ngulo a entre los ejes de proyecci&oacute;n y observaci&oacute;n [1, 6, 8, 9] y la influencia de las aberraciones geom&eacute;tricas [10].    <br>    ]]></body>
<body><![CDATA[<br> Al ubicar el objeto a reconstruir, sobre el plano de referencia con una fase inicial &Phi;<sub>o</sub>, las franjas sufren una deformaci&oacute;n en direcci&oacute;n del eje Xo, que se ve reflejado en un cambio en la fase de la funci&oacute;n de intensidad captada. Por lo tanto, cada cambio en la altura del punto (<i>x<sub>o</sub>, y<sub>o</sub></i>) del objeto observado, se manifiesta como un cambio &Delta;&Phi;(<i>x<sub>o</sub>, y<sub>o</sub></i>) en su fase &Phi;(<i>x<sub>o</sub>, y<sub>o</sub></i>), y si se logra extraer esta fase, se puede recuperar su altura [11].    <br>    <br> <b><i>C&aacute;lculo de fase</i></b>    <br>    <br> La fase de un sistema de franjas, se puede obtener por diversos m&eacute;todos utilizando im&aacute;genes de intensidad de las franjas proyectadas; entre ellos se encuentran el m&eacute;todo de la transformada de Fourier [5, 12] y el m&eacute;todo de corrimiento de fase [1, 6].    <br>    <br> En este trabajo se opt&oacute; por el m&eacute;todo de corrimiento de fase puesto que permite obtener la fase de cada punto sin que los puntos vecinos influyan en el c&aacute;lculo de la misma [10]. De esta manera, se desarroll&oacute; un algoritmo donde se toman 4 im&aacute;genes de intensidad I<sub>i</sub> como se muestra en la <a href="#Figura2">figura 2</a> con cambios sucesivos &Phi;<sub>i</sub> en la fase, dados por la ecuaci&oacute;n 1, donde N=4.</font></p>      <p> <img src="/img/revistas/rfiua/n59/n59a16e01.gif"></p>      <p align="center"><img src="/img/revistas/rfiua/n59/n59a16i02.gif"><a name="Figura2"></a></p>      <p><font face="Verdana" size="2">Debido a que los corrimientos de fase se hicieron hacia la derecha, la fase se puede obtener de la ecuaci&oacute;n 2 [9].</font></p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font face="Verdana" size="3"><b>Experimentaci&oacute;n</b> </font></p>      <p><font face="Verdana" size="2">Esta investigaci&oacute;n fue realizada a nivel de laboratorio, y el montaje utilizado para su desarrollo se puede observar en la <a href="#Figura3">figura 3</a>, cuya configuraci&oacute;n, sigue el modelo descrito en la <a href="#Figura1">figura 1</a>.</font></p>      <p align="center"><img src="/img/revistas/rfiua/n59/n59a16i03.gif"><a name="Figura3"></a></p>      <p><font face="Verdana" size="2">Como se observa en la <a href="#Figura3">figura 3</a>, las franjas se proyectan hacia un plano de referencia articulado sobre un sistema de desplazamiento microm&eacute;trico, utilizando un video proyector convencional de luz blanca [5] con tecnolog&iacute;a DLP [13]. El sistema de observaci&oacute;n est&aacute; conformado por una c&aacute;mara uEye EO 1312C v3,2 de IDS (Imaging Development Systems) de tecnolog&iacute;a CMOS, con resoluci&oacute;n de 1280x1024 pixeles y un lente de 16mm de longitud focal, conectada v&iacute;a USB2,0 a un computador port&aacute;til con sistema operativo Windows vista de 32 bits. Este montaje permite realizar autom&aacute;ticamente mediante algoritmos desarrollados en Matlab [14 - 16], la proyecci&oacute;n de franjas con sus respectivos corrimientos en fase y la captura de im&aacute;genes de las mismas.    <br>    <br> Con el fin de obtener un campo de observaci&oacute;n de aproximadamente 12x10 cm<sup>2</sup>, las distancias entre los elementos del modelo de la <a href="#Figura3">figura 3</a> son: 61 cm entre el lente del proyector y el plano de referencia, 32,5 cm entre el lente de la c&aacute;mara y el plano de referencia. El &aacute;ngulo &alpha; entre el eje de proyecci&oacute;n y el eje &oacute;ptico es de 31,6&deg;. <b><i>Ajuste del modelo</i></b>    <br>    <br> Para la reconstrucci&oacute;n tridimensional de objetos con este modelo, se realiz&oacute; una calibraci&oacute;n de alturas respecto al plano de referencia en el espacio de trabajo, obteni&eacute;ndose su relaci&oacute;n con el cambio de fase respecto al mismo. Posteriormente se ubic&oacute; el objeto a reconstruir, dentro de este campo calibrado, para hallar su fase y por medio de la diferencia entre la fase del objeto y del plano de referencia se obtuvo la reconstrucci&oacute;n en 3D del mismo.    <br>    <br> <b><i>Calibraci&oacute;n del modelo</i></b>    ]]></body>
<body><![CDATA[<br>    <br> Esta etapa de calibraci&oacute;n, permite obtener una ecuaci&oacute;n experimental de conversi&oacute;n de fase en altura que tiene en cuenta todos los par&aacute;metros intr&iacute;nsecos del modelo.    <br>    <br> Para realizar esta calibraci&oacute;n se desplaz&oacute; un plano ubicado inicialmente en las coordenadas del plano de referencia (Zo=0), en direcci&oacute;n positiva y negativa del eje Zo (de -2 cm a 2 cm) a intervalos de 500&micro;m y para cada desplazamiento se obtuvo su fase utilizando el m&eacute;todo de corrimiento de fase mencionado anteriormente. As&iacute; mismo se aplic&oacute; el algoritmo cl&aacute;sico [9] de desenvolvimiento de fase "unwrapping" [17] desarrollado con base en la funci&oacute;n unwrap de Matlab, para eliminar discontinuidades debidas al uso de la funci&oacute;n tangente inversa [18].    <br>    <br> <b><i>Coeficientes de calibraci&oacute;n</i></b>    <br>    <br> Posteriormente, se hall&oacute; el cambio de fase de cada plano respecto a la del plano de referencia obteniendo superficies parab&oacute;licas.    <br>    <br> Puesto que solo se busc&oacute; diferencias de fase para desplazamientos discretos (500&micro;m), es necesario obtener una funci&oacute;n por medio de interpolaci&oacute;n para poder reconstruir toda la superficie del objeto. Se ajust&oacute; entonces a los datos de &Delta;&Phi; obtenidos en la calibraci&oacute;n para un punto del plano, mediante el m&eacute;todo de m&iacute;nimos cuadrados, un polinomio cuadr&aacute;tico [8] que relaciona el cambio de fase con la altura y que est&aacute; definido en la ecuaci&oacute;n 3.</font></p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<p> <img src="/img/revistas/rfiua/n59/n59a16e03.gif"></p>      <p><font face="Verdana" size="2">A partir de la ecuaci&oacute;n 3 se calculan las matrices de coeficientes a, b, c [9], con las cuales si se obtiene &Delta;&Phi; para un objeto, se puede obtener su altura correspondiente Z.    <br>    <br>  <i><b>Eliminaci&oacute;n de ruido</b></i>    <br>    <br> El ruido en el sistema principalmente se debe al patr&oacute;n de franjas proyectado. El procedimiento descrito para extraer la fase utiliza un patr&oacute;n de franjas de perfil sinusoidal, pero el perfil del patr&oacute;n de franjas proyectado presenta un perfil de onda cuadrada [9] debido a que se cre&oacute; un algoritmo que proyecta franjas negras y blancas de dos pixeles de grosor.    <br>    <br> Puesto que una onda sinusoidal solo tiene componentes en la frecuencia fundamental, se aplic&oacute; sobre la imagen de intensidad de las franjas, un filtro en frecuencia que deja pasar solamente el primer arm&oacute;nico de su transformada de Fourier eliminando los arm&oacute;nicos mayores, logrando obtener una funci&oacute;n de intensidad m&aacute;s sinusoidal.    <br>    <br> <b><i>Factor de relaci&oacute;n entre pixel y longitud</i></b>    ]]></body>
<body><![CDATA[<br>    <br> Puesto que en la reconstrucci&oacute;n obtenida de dimensiones (X, Y, Z), la dimensi&oacute;n Z est&aacute; en micr&oacute;metros y las dimensiones X y Y en pixeles, es necesario obtener un factor de conversi&oacute;n de pixeles a unidades en el sistema coordenado del objeto. Debido a que las aberraciones de la c&aacute;mara son m&iacute;nimas, no se hace necesaria una calibraci&oacute;n para obtener sus par&aacute;metros intr&iacute;nsecos y los factores de correcci&oacute;n [16], y por lo tanto puede obtenerse un factor lineal de conversi&oacute;n de unidades dentro del campo de observaci&oacute;n [9,18]. En este caso se obtuvo un factor de 20/213 mm/pixel; de esta manera se pueden obtener medidas de los ejes X y Y en mil&iacute;metros.</font></p>      <p><font face="Verdana" size="3"><b>Resultados y discusi&oacute;n</b></font></p>      <p><font face="Verdana" size="2">El m&eacute;todo descrito se adapt&oacute; para reconstruir platinas met&aacute;licas de diferentes colores y texturas, y el procedimiento se llev&oacute; a cabo como se muestra en el diagrama de flujo de la <a href="#Figura4">figura 4</a>.</font></p>      <p align="center"><img src="/img/revistas/rfiua/n59/n59a16i04.gif"><a name="Figura4"></a></p>      <p><font face="Verdana" size="2">Una vez obtenida la fase continua del objeto como se desarrolla en la <a href="#Figura4">figura 4</a>, se puede obtener la diferencia de fase entre el objeto y el plano de referencia. Conociendo esta cantidad &Delta;&Phi; y los coeficiente a, b, c para cada punto del plano obtenidos en la calibraci&oacute;n, se aplica la ecuaci&oacute;n 3 para obtener la altura de cada punto del cuerpo y por lo tanto su reconstrucci&oacute;n tridimensional.    <br>    <br>  <b><i>Resoluci&oacute;n de la metodolog&iacute;a implementada</i></b>    <br>    <br>  Con el fin de conocer la resoluci&oacute;n del modelo, se realiz&oacute; inicialmente la reconstrucci&oacute;n del plano utilizado en el proceso de calibraci&oacute;n, ubicado en la coordenada Zo=0. En la <a href="#Figura5">figura 5</a> se muestra la reconstrucci&oacute;n de este plano y un detalle de la misma.</font></p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><img src="/img/revistas/rfiua/n59/n59a16i05.gif"><a name="Figura5"></a></p>      <p><font face="Verdana" size="2">La desviaci&oacute;n de esta reconstrucci&oacute;n respecto a un plano ideal, se debe al ruido del sistema que no fue eliminado en el filtrado y a la no uniformidad de su cubierta, debido a que el plano utilizado es un vidrio cubierto con pintura de color blanco mate aplicada en aerosol manualmente.    <br>    <br>  Como se observa en la <a href="#Tabla1">tabla 1</a>, al realizar el mismo procedimiento para diferentes ubicaciones del plano, se encuentra que la amplitud m&aacute;xima del ruido as&iacute; como su desviaci&oacute;n est&aacute;ndar no var&iacute;a significativamente.</font></p>      <p align="center"><img src="/img/revistas/rfiua/n59/n59a16t01.gif" ><a name="Tabla1"></a></p>      <p><font face="Verdana" size="2">En la bibliograf&iacute;a se pueden encontrar resoluciones mayores en aplicaciones diferentes del montaje experimental como se observa en la <a href="#Tabla2">tabla 2</a>. El fue realizada con una rejilla de difracci&oacute;n que montaje 1 [9] es similar al implementado en esta permite mayor resoluci&oacute;n pero un &aacute;rea de trabajo investigaci&oacute;n y en el montaje 2 [1] la proyecci&oacute;n menor.</font></p>      <p align="center"><img src="/img/revistas/rfiua/n59/n59a16t02.gif" ><a name="Tabla2"></a></p>      <p><font face="Verdana" size="2">Para corroborar la resoluci&oacute;n del m&eacute;todo, se papel de grosor aproximado de 100 &micro;m, adherida realiz&oacute; la reconstrucci&oacute;n de una escalerilla de sobre un plano como se observa en la <a href="#Figura6">figura 6</a>.</font></p>       <p align="center"><img src="/img/revistas/rfiua/n59/n59a16i06.gif"><a name="Figura6"></a></p>      <p><font face="Verdana" size="2">En la <a href="#Figura7">figura 7</a> se muestra el perfil de la reconstrucci&oacute;n en direcci&oacute;n de las filas, en donde se puede observar la altura de cada nivel, y se confirma la resoluci&oacute;n del m&eacute;todo.</font></p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><img src="/img/revistas/rfiua/n59/n59a16i07.gif"><a name="Figura7"></a></p>      <p><font face="Verdana" size="2"><i>Reconstrucci&oacute;n de platinas de diferente color y textura</i>    <br>    <br> Se procedi&oacute; a aplicar la metodolog&iacute;a sobre platinas de acero a bajo carbono de referencia A36 y se compar&oacute; el dimensionamiento realizado a partir de la reconstrucci&oacute;n tridimensional, con las medidas obtenidas utilizando elementos manuales mec&aacute;nicos convencionales.    <br>    <br> <i>Platina de acero a bajo carbono de referencia A36, con superficie reflectiva</i>    <br>    <br> Sobre una platina de acero A36, que inicialmente fue rectificada y a la que posteriormente se le realiz&oacute; un proceso de lijado que culmin&oacute; con el uso de lija 300 para luego realizarle deformaciones mec&aacute;nicamente como se observa en la <a href="#Figura8">figura 8a</a>, se aplic&oacute; la metodolog&iacute;a propuesta y se obtuvo la reconstrucci&oacute;n de la <a href="#Figura8">figura 8b</a>.</font></p>      <p align="center"><img src="/img/revistas/rfiua/n59/n59a16i08.gif" ><a name="Figura8"></a></p>      <p><font face="Verdana" size="2">Algunas superficies met&aacute;licas com&uacute;nmente tienen una fuerte reflexi&oacute;n que ocurre por la distribuci&oacute;n no uniforme de la intensidad de la luz reflejada [19]. Este fen&oacute;meno hace que al proyectar franjas sobre el cuerpo, haya zonas en la imagen de intensidad, donde no aparecen franjas, como en el caso de esta platina. Por lo tanto el c&aacute;lculo de fase en ellas ser&aacute; err&oacute;neo, y debido al algoritmo de desenvolvimiento utilizado, este error se propagar&aacute; al resto de la superficie y la reconstrucci&oacute;n tridimensional del cuerpo ser&aacute; inexacta como la que se observ&oacute; en la figura 8b donde se aprecian desviaciones de la pieza real. Estos errores de fase se pueden evitar si se obtiene una reflexi&oacute;n relativamente uniforme mediante una preparaci&oacute;n de la pieza [11] o la manipulaci&oacute;n de la iluminaci&oacute;n para acentuar las caracter&iacute;sticas deseadas [20].    ]]></body>
<body><![CDATA[<br>    <br> <i>Platina de acero a bajo carbono de referencia A36, preparada con revelador</i>    <br>    <br> Para obtener buena definici&oacute;n en las franjas y asegurar su continuidad, se aplic&oacute; previamente sobre la platina de la <a href="#Figura8">figura 8a</a>, un revelador con base disolvente marca Magnaflux, com&uacute;nmente aplicado en laboratorios de ensayos no destructivos, que deja una fina capa blanca sobre la pieza como se observa en la <a href="#Figura9">figura 9</a>.</font></p>      <p align="center"><img src="/img/revistas/rfiua/n59/n59a16i09.gif"><a name="Figura9"></a></p>      <p><font face="Verdana" size="2">Se realiz&oacute; as&iacute;, nuevamente su reconstrucci&oacute;n como se puede apreciar en <a href="#Figura10">figura 10</a> donde se muestran dos perspectivas de la misma.</font></p>      <p align="center"><img src="/img/revistas/rfiua/n59/n59a16i10.gif"><a name="Figura10"></a></p>      <p><font face="Verdana" size="2">De la <a href="#Figura10">figura 10</a> se observa que la preparaci&oacute;n de la platina, mejor&oacute; efectivamente la calidad de la reconstrucci&oacute;n y por lo tanto se procedi&oacute; a realizar su dimensionamiento y comparar las medidas con las obtenidas con un reloj comparador y un calibrador digital.    <br>    <br> <i>Profundidad m&aacute;xima:</i> Para realizar la medida de profundidad de los defectos, se tom&oacute; la zona de la reconstrucci&oacute;n que contiene al defecto y por medio de un algoritmo se detectaron las coordenadas de su profundidad m&aacute;xima. Para cada uno de los defectos, se extrajo el perfil en direcci&oacute;n de las filas y de las columnas en dichas coordenadas y se obtuvo su valor promedio. Los resultados se muestran en la <a href="#Tabla3">tabla 3</a>.</font></p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><img src="/img/revistas/rfiua/n59/n59a16t03.gif" ><a name="Tabla3"></a></p>      <p><font face="Verdana" size="2">Se debe tener en cuenta que las medidas manuales se dificultan puesto que las dimensiones est&aacute;n en el orden de los micr&oacute;metros.    <br>    <br> <i>Di&aacute;metro:</i> Puesto que los defectos no tienen una forma completamente circular, se muestra en la <a href="#Tabla4">tabla 4</a> un promedio de varias medidas del di&aacute;metro de cada defecto, tomados con los elementos manuales; as&iacute; como el promedio del di&aacute;metro en direcci&oacute;n de las filas y de las columnas hallado con la reconstrucci&oacute;n. Estos &uacute;ltimos se obtuvieron mediante la herramienta imtool de Matlab, que tiene la capacidad de medir distancias en pixeles directamente sobre una imagen y modificar su contraste a partir de la manipulaci&oacute;n de su histograma.</font></p>      <p align="center"><img src="/img/revistas/rfiua/n59/n59a16t04.gif" ><a name="Tabla4"></a></p>      <p><font face="Verdana" size="2">Cuando se analiza una reconstrucci&oacute;n en forma de imagen, los niveles de altura se ven traducidos a niveles de gris; si la platina tiene depresiones, estas se ver&aacute;n m&aacute;s oscuras que el resto de la superficie. Puesto que estos defectos fueron causados de manera no controlada, sus bordes no est&aacute;n bien definidos y la medida de su di&aacute;metro depender&aacute; de un buen ajuste de contraste para cada defecto independientemente de los otros, por lo cual la herramienta mencionada facilita el dimensionamiento de estos di&aacute;metros.     <br>    <br> En la <a href="#Tabla4">tabla 4</a>, las unidades ya han sido convertidas a mil&iacute;metros multiplicando por el factor 20/213 mm/pixel reportado anteriormente.    <br>    <br> En este caso por tratarse de una platina rectificada, un ajuste general de contraste defini&oacute; aproximadamente todos los defectos y por lo tanto no se realiz&oacute; por zonas, por lo cual algunos de los di&aacute;metros hallados resultaron m&aacute;s exactos que otros.    ]]></body>
<body><![CDATA[<br>    <br> <i>Area:</i> Para cuantificar las &aacute;reas de los defectos a un algoritmo en Matlab que permite al usuario nivel de la superficie de la platina, se desarroll&oacute; elegir un punto directamente sobre la imagen,  del cual se toma su nivel de gris para usarlo como umbral en la binarizaci&oacute;n dependiendo de las &aacute;reas que desea dejar pasar [18]. La imagen obtenida se somete a un proceso de filtrado para definir la forma de los defectos y as&iacute; se procede a hallar el &aacute;rea en pixeles de cada uno de ellos y ubicarlas autom&aacute;ticamente sobre el respectivo espacio como se observa en la <a href="#Figura11">figura 11</a>.</font></p>       <p align="center"><img src="/img/revistas/rfiua/n59/n59a16i11.gif"><a name="Figura11"></a></p>      <p><font face="Verdana" size="2">Para obtener el &aacute;rea en mil&iacute;metros basta con multiplicar el &aacute;rea hallada en pixeles por el &aacute;rea de un pixel en mil&iacute;metros que en este caso es de 8,8x10<sup>-3</sup>mm<sup>2</sup>.    <br>    <br> En la <a href="#Tabla5">tabla 5</a> se realiza una comparaci&oacute;n con las medidas obtenidas con los elementos manuales utilizando los di&aacute;metros obtenidos con el calibrador digital y aproximando la forma de los defectos a una circunferencia.</font></p>      <p align="center"><img src="/img/revistas/rfiua/n59/n59a16t05.gif" ><a name="Tabla5"></a></p>       <p><font face="Verdana" size="2">Como se observa hay errores del orden del 20% y esto se debe en primera medida a la forma como se obtuvo el &aacute;rea te&oacute;rica as&iacute; como al umbral seleccionado en el algoritmo desarrollado, el cual no define de igual forma todos los defectos.</font></p>      <p><font face="Verdana" size="3"><b>Conclusiones</b> </font></p>      <p><font face="Verdana" size="2">La metodolog&iacute;a implementada permiti&oacute; la reconstrucci&oacute;n tridimensional de defectos superficiales en platinas met&aacute;licas y su efectividad est&aacute; en funci&oacute;n del contraste mostrado por las franjas, as&iacute; como de la obtenci&oacute;n de un perfil sinusoidal de las mismas.    ]]></body>
<body><![CDATA[<br>    <br> Puesto que el m&eacute;todo est&aacute; desarrollado para im&aacute;genes de intensidad de franjas de perfil sinusoidal, es indispensable en el caso del uso de un proyector convencional, un filtrado de las im&aacute;genes del objeto a reconstruir, para eliminar arm&oacute;nicos de frecuencias mayores a la fundamental.     <br>    <br> Con el m&eacute;todo de reconstrucci&oacute;n implementado en esta investigaci&oacute;n, se obtuvo bajo condiciones controladas y a nivel de laboratorio, una resoluci&oacute;n de aproximadamente 14 &micro;m, lo que hace pertinente su uso en la extracci&oacute;n de par&aacute;metros para la evaluaci&oacute;n de integridad de tuber&iacute;as de grosor de pared mayores a 14 mm [21].    <br>    <br> Debe tenerse en cuenta que el proceso de reconstrucci&oacute;n, est&aacute; sujeto a una calibraci&oacute;n precedente. El hecho de modificar las condiciones del montaje, implica la necesidad de una nueva calibraci&oacute;n del espacio de trabajo.    <br>    <br> Los errores reportados en los resultados se presentan debido al ruido residual del sistema que no fue eliminado con el filtrado, adem&aacute;s de la incertidumbre en la medida de comparaci&oacute;n realizada manualmente, ya que esta se encuentra en el orden de los micr&oacute;metros.    <br>    <br> Para obtener mayor precisi&oacute;n en la medida del di&aacute;metro y &aacute;rea de cada defecto, se sugiere ajustar de forma individual el contraste de la zona que lo contiene.    ]]></body>
<body><![CDATA[<br>    <br> La metodolog&iacute;a implementada no permite medir la rugosidad de las platinas debido a que estas se encuentran en el orden de las decenas de micr&oacute;metros. Para tal fin se recomienda disminuir el &aacute;rea de trabajo y el grosor de las franjas proyectadas para obtener mayor resoluci&oacute;n.</font></p>      <p><font face="Verdana" size="3"><b>Referencias</b> </font></p>       <!-- ref --><p><font face="Verdana" size="2">1. Z. M. P&eacute;rez, L. Romero. <i>Sistema &oacute;ptico de Reconstrucci&oacute;n  Tridimensional para la Detecci&oacute;n de Ampollas en Recubrimientos.</i> Trabajo de Grado. Escuela de  F&iacute;sica. Universidad Industrial de Santander. 2004. pp. 7-31.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000146&pid=S0120-6230201100030001600001&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><br>    <!-- ref --><br> 2. R.  Palmer-Jones, P. Hopkins, D. Eyre. "Understanding  the results of an intelligent pig inspection". <i>Penspen  Integrity.</i> Vol. 8.  2006. pp. 1-16.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000148&pid=S0120-6230201100030001600002&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><br>    <!-- ref --><br> 3. W. D. Corbett.  "Revestimientos protectores industriales".<i> ASTM Standardization News.</i> Vol. 34. 2006. pp.10-21.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000150&pid=S0120-6230201100030001600003&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><br>    <!-- ref --><br> 4. J. W. Insausti, P. Benedetti, L.  Iurman, A. Lucaioli, P. Traversa, N. Mazini. "Comparaci&oacute;n de rugosidades  de superficies met&aacute;licas medidas con rugos&iacute;metro electromec&aacute;nico y con an&aacute;lisis  de im&aacute;genes de microscop&iacute;a electr&oacute;nica".<i> Jornadas SAM  2000-IV Coloquio Latinoamericano de Fractura y Fatiga.</i> Neuqu&eacute;n (Argentina). Vol.  1. 2000. pp. 863-870.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000152&pid=S0120-6230201100030001600004&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><br>    <!-- ref --><br> 5. D. Tulsiani. <i>A Fringe Projection System for  Measurement of Condensing Fluid Films in Reduced Gravity.</i> Thesis. Worcester Polytechnic Institute. 2005. pp. 11-32.     &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000154&pid=S0120-6230201100030001600005&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><br>    <!-- ref --><br> 6. A. Mart&iacute;nez, J. A. Rayas, J. M. Flores,  R. Rodr&iacute;guez, D. Donato. "T&eacute;cnicas &oacute;pticas para el  contorneo de superficies  tridimensionales".  <i>Revista Mexicana de F&iacute;sica.</i>  Vol. 51. 2005. pp. 431-436.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000156&pid=S0120-6230201100030001600006&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><br>    <!-- ref --><br> 7. P. Gili, C. Carrasco, Jc.  Mart&iacute;n, J. YangÃ¼ela, A. Arias. "An&aacute;lisis Digital de la Papila con C&aacute;mara  de Fondo Convencional: Estudio de Variabilidad".<i> Archivos de la Sociedad Espa&ntilde;ola  de Oftalmolog&iacute;a. </i> Vol. 79. 2004. pp. 125-130.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000158&pid=S0120-6230201100030001600007&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><br>    <!-- ref --><br> 8. J. Meneses, T. Gharbi, J. Y.  Cornu. "Sistema &oacute;ptico de reconstrucci&oacute;n 3-D para el an&aacute;lisis de  deformaciones por desgaste en pr&oacute;tesis de rodilla".<i> &oacute;ptica Pura y Aplicada.</i> Vol.  36. 2003. pp. 11-16.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000160&pid=S0120-6230201100030001600008&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><br>    <!-- ref --><br> 9. D. A. G&oacute;mez. <i>Dispositivo &oacute;ptico para la  reconstrucci&oacute;n tridimensional de la piel humana por el m&eacute;todo de proyecci&oacute;n de  franjas. </i> Trabajo de grado. Departamento de f&iacute;sica. Universidad del Cauca. 2009. pp.  18-65.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000162&pid=S0120-6230201100030001600009&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><br>    <!-- ref --><br> 10.  Z. M. P&eacute;rez. <i> Aproximaci&oacute;n Espacio-Temporal para la medida absoluta de la forma 3D de un  objeto por proyecci&oacute;n de franjas.</i>  Trabajo de maestr&iacute;a. Escuela de F&iacute;sica. Universidad Industrial de Santander.  2006. pp. 19-23.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000164&pid=S0120-6230201100030001600010&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><br>    <!-- ref --><br> 11. T.  Luhmann, F. Bethmann, B. Herd, J. Ohm. "Comparison and verification of  optical 3-d surface measurement systems".<i> The international archives of the photogrammetry, remote sensing and  spatial information sciences.</i> Vol. XXXVII. 2008. pp. 51-56.     &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000166&pid=S0120-6230201100030001600011&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><br>    <!-- ref --><br> 12. W. Lu-shen and P. Qing-jin.  "Research and development of fringe projection-based methods in 3D shape  reconstruction". <i>Journal of Zhejiang University  SCIENCE A.</i> Vol. 7. 2006. pp. 1026-1036.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000168&pid=S0120-6230201100030001600012&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><br>    <!-- ref --><br> 13.  DLP<sup>TM</sup> Technology Texas Instruments. <a href="http://www.plus-america.com/papers.html" target="_blank">http://www.plus-america.com/papers.html</a>. consultada  el 22 enero de 2010.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000170&pid=S0120-6230201100030001600013&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><br>    <!-- ref --><br> 14. Departamento de Electr&oacute;nica,  Autom&aacute;tica e Inform&aacute;Â­tica Industrial, Universidad Polit&eacute;cnica de Madrid.  "Pr&aacute;ctica 2: Adquisici&oacute;n y calibraci&oacute;n de c&aacute;maras de video", <i>Pr&aacute;cticas de Rob&oacute;tica y Visi&oacute;n  Artificial.</i> <a href="http://www.elai.upm.es:8009/spain/Asignaturas/MIP_VisionArtificial/PracticasVA/prac2VA_Adquisicion-GUI.pdf" target="_blank">http://www.elai.upm.es:8009/spain/Asignaturas/MIP_VisionArtificial/PracticasVA/prac2VA_Adquisicion-GUI.pdf</a>. Consultada el 22 enero de 2010.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000172&pid=S0120-6230201100030001600014&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><br>    <!-- ref --><br> 15. Y. D. Amaya, J. A. Ruiz. <i>Localizaci&oacute;n din&aacute;mica de m&oacute;viles y  obst&aacute;culos en una escena controlada para aplicaciones en rob&oacute;tica.</i> Trabajo de grado. Escuela  Ingenier&iacute;as El&eacute;ctrica. Electr&oacute;nica y Telecomunicaciones. Universidad Industrial  de Santander. 2005. pp. 8-13.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000174&pid=S0120-6230201100030001600015&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><br>    <!-- ref --><br> 16. The MathWorks, Inc. <i>Image  Acquisition Toolbox 3, Acquire images and video from industry-standard  hardware.</i>  Vol. 4. 2007. pp. 1-4.     &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000176&pid=S0120-6230201100030001600016&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><br>    <!-- ref --><br> 17. J. Meneses, T. Gharbi, P.  Humbert. "Phase-unwrapping algorithm for images with high noise content  based on a local histogram". <i>Applied Optics. </i> Vol. 44. 2005. pp. 1207-1215.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000178&pid=S0120-6230201100030001600017&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><br>    <!-- ref --><br> 18. D. M. Quintero. <i>Reconstrucci&oacute;n de defectos  tridimensionales mediante proyecci&oacute;n de franjas, en platinas met&aacute;licas con  deformaciones mec&aacute;nicas superficiales</i>". Trabajo de grado. Escuela  Ingenier&iacute;as El&eacute;ctrica, Electr&oacute;nica y Telecomunicaciones. Universidad Industrial  de Santander. 2010. pp. 1-14.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000180&pid=S0120-6230201100030001600018&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><br>    <!-- ref --><br> 19.  R. Ernst, A. Weckenmann, R. Velgan. "Local wall thickness measurement of  formed sheet metal using fringe projection technique". <i>XVII IMEKO World Congress, Metrology in the 3rd Millennium.</i> Croatia. 2003. pp.1802-1805.     &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000182&pid=S0120-6230201100030001600019&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><br>    <!-- ref --><br> 20. F. Pernkopf, P. O'Leary.  "Image acquisition techniques for automatic visual inspection of metallic  surfaces". <i>NDT&amp;EInternational.</i> Vol. 36. 2003. pp. 609-617.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000184&pid=S0120-6230201100030001600020&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><br>    <!-- ref --><br> 21. The American Society of  Mechanical Engineers. "Manual for determining the remaining strength of  corroded pipelines. A supplement to ASME B31G code for pressure piping", <i>ASME B31G-1991(Revision of ANSI/ASME B31G-1984)</i>, ASME International. 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