<?xml version="1.0" encoding="ISO-8859-1"?><article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance">
<front>
<journal-meta>
<journal-id>0122-3461</journal-id>
<journal-title><![CDATA[Ingeniería y Desarrollo]]></journal-title>
<abbrev-journal-title><![CDATA[Ing. Desarro.]]></abbrev-journal-title>
<issn>0122-3461</issn>
<publisher>
<publisher-name><![CDATA[Fundación Universidad del Norte]]></publisher-name>
</publisher>
</journal-meta>
<article-meta>
<article-id>S0122-34612007000200003</article-id>
<title-group>
<article-title xml:lang="es"><![CDATA[Sistema de adquisición automática de imágenes para microscopio óptico]]></article-title>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Automated image acquisition system for optical mocroscope]]></article-title>
</title-group>
<contrib-group>
<contrib contrib-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Pertuz Arroyo]]></surname>
<given-names><![CDATA[Said David]]></given-names>
</name>
<xref ref-type="aff" rid="A01"/>
</contrib>
<contrib contrib-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[Ibañez Grandas]]></surname>
<given-names><![CDATA[Héctor Reneé]]></given-names>
</name>
<xref ref-type="aff" rid="A01"/>
</contrib>
</contrib-group>
<aff id="A01">
<institution><![CDATA[,Universidad Industrial de Santander  ]]></institution>
<addr-line><![CDATA[ ]]></addr-line>
</aff>
<pub-date pub-type="pub">
<day>00</day>
<month>12</month>
<year>2007</year>
</pub-date>
<pub-date pub-type="epub">
<day>00</day>
<month>12</month>
<year>2007</year>
</pub-date>
<numero>22</numero>
<fpage>23</fpage>
<lpage>37</lpage>
<copyright-statement/>
<copyright-year/>
<self-uri xlink:href="http://www.scielo.org.co/scielo.php?script=sci_arttext&amp;pid=S0122-34612007000200003&amp;lng=en&amp;nrm=iso"></self-uri><self-uri xlink:href="http://www.scielo.org.co/scielo.php?script=sci_abstract&amp;pid=S0122-34612007000200003&amp;lng=en&amp;nrm=iso"></self-uri><self-uri xlink:href="http://www.scielo.org.co/scielo.php?script=sci_pdf&amp;pid=S0122-34612007000200003&amp;lng=en&amp;nrm=iso"></self-uri><abstract abstract-type="short" xml:lang="es"><p><![CDATA[En este artículo se presenta un estudio sobre algunas funciones para la estimación del grado relativo de enfoque de una imagen. Se propone la modificación de algunas de las funciones estudiadas para mejorar su desempeño y se desarrolla un algoritmo de búsqueda de foco para llevar a cabo enfoque automático en microscopio óptico. Se hace la implementación del algoritmo de búsqueda en un microscopio con platina motorizada en el eje Z, para obtener una total automatización del enfoque. Se describe además el sistema desarrollado para el control del movimiento de la platina del microscopio en las direcciones X, Y y Z para automatizar el proceso de adquisición de imágenes de la muestra observada.]]></p></abstract>
<abstract abstract-type="short" xml:lang="en"><p><![CDATA[In this paper a study of some functions for measuring the relative degree of focus of images is presented. The modification of some existing functions is proposed to improve their performance and a focus searching algorithm is developed in order to perform autofocusing. The focus searching algorithm is then implemented on an optical microscope with motorized X-Y-Z stage to achieve full automation of the focusing and image acquisition process. The description of the control system for X-Y-Z movement of the stage is also presented.]]></p></abstract>
<kwd-group>
<kwd lng="es"><![CDATA[Automatización de microscopio]]></kwd>
<kwd lng="es"><![CDATA[enfoque automático]]></kwd>
<kwd lng="es"><![CDATA[medida del grado de enfoque]]></kwd>
<kwd lng="es"><![CDATA[procesamiento de imágenes]]></kwd>
<kwd lng="en"><![CDATA[Microscope automation]]></kwd>
<kwd lng="en"><![CDATA[auto-focusing]]></kwd>
<kwd lng="en"><![CDATA[measure of relative degree of focus]]></kwd>
<kwd lng="en"><![CDATA[image processing]]></kwd>
<kwd lng="en"><![CDATA[artificial vision]]></kwd>
</kwd-group>
</article-meta>
</front><body><![CDATA[  <font face="verdana" size="2">     <p align="center"><font size="4"><b>Sistema de adquisici&oacute;n autom&aacute;tica de im&aacute;genes para microscopio &oacute;ptico</b></font></p>     <p align="center"><font size="3"><b>Automated image acquisition system for optical mocroscope </b></font></p>      <p>    <center>Said David Pertuz Arroyo<sup><a href="#nota*">*</a></sup>,H&eacute;ctor Rene&eacute; Iba&ntilde;ez Grandas<sup><a href="#nota**">**</a></sup></center></p>       <p><a name="nota*">*</a> Ingeniero Electr&oacute;nico, Universidad Industrial de Santander. <a href="mailto:saidpertuz@hotmail.com">saidpertuz@hotmail.com</a>, <a href="mailto:saidpertuz@yahoo.es">saidpertuz@yahoo.es</a>     <br> <a name="nota**">**</a> Ingeniero Electr&oacute;nico, Universidad Industrial de Santander. <a href="mailto:correoderenee@hotmail.com">correoderenee@hotmail.com.</a> Correspondencia: Calle 32 N&deg; 18A-33, Alfonso L&oacute;pez, Bucaramanga (Colombia).</p>      <p><i>Subvenciones y apoyo:</i> En este art&iacute;culo se expone el trabajo realizado para optar por el t&iacute;tulo de Ingenieros Electr&oacute;nicos en la Escuela de Ingenier&iacute;as El&eacute;ctrica, Electr&oacute;nica y de Telecomunicaciones de la Universidad Industrial de Santander. Los recursos invertidos en el desarrollo de sistemas en software y hardware provienen de los autores del trabajo. El laboratorio de patolog&iacute;a de la Universidad facilit&oacute; el microscopio, el cual fue objeto de este trabajo.</p>     <p><b>Fecha de recepci&oacute;n:</b> 1 de septiembre de 2007    <br>   <b>Fecha de aceptaci&oacute;n:</b> 30 de octubre de 2007</p> <hr size="1">      ]]></body>
<body><![CDATA[<p><b>Resumen</b></p>     <p><i>En este art&iacute;culo se presenta un estudio sobre algunas funciones para la estimaci&oacute;n del grado relativo de enfoque de una imagen. Se propone la modificaci&oacute;n de algunas de las funciones estudiadas para mejorar su desempe&ntilde;o y se desarrolla un algoritmo de b&uacute;squeda de foco para llevar a cabo enfoque autom&aacute;tico en microscopio &oacute;ptico. Se hace la implementaci&oacute;n del algoritmo de b&uacute;squeda en un microscopio con platina motorizada en el eje Z, para obtener una total automatizaci&oacute;n del enfoque. Se describe adem&aacute;s el sistema desarrollado para el control del movimiento de la platina del microscopio en las direcciones X, Y y Z para automatizar el proceso de adquisici&oacute;n de im&aacute;genes de la muestra observada. </i></p>     <p><b>Palabras claves:</b> Automatizaci&oacute;n de microscopio, enfoque autom&aacute;tico, medida del grado de enfoque, procesamiento de im&aacute;genes.</p> <hr size="1">      <p><b>Abstract</b></p>     <p><i>In this paper a study of some functions for measuring the relative degree of focus of images is presented. The modification of some existing functions is proposed to improve their performance and a focus searching algorithm is developed in order to perform autofocusing. The focus searching algorithm is then implemented on an optical microscope with motorized X-Y-Z stage to achieve full automation of the focusing and image acquisition process. The description of the control system for X-Y-Z movement of the stage is also presented. </i></p>      <p><b>Key words:</b> Microscope automation, auto-focusing, measure of relative degree of focus, image processing, artificial vision.</p>  <hr size="1">      <p><font size="3"><b>I. INTRODUCCI&Oacute;N </b></font></p>     <p>En aplicaciones cl&iacute;nicas, al analizar muestras en un microscopio &oacute;ptico la manipulaci&oacute;n manual para ajustes en el foco se convierte en una tarea intensa y tediosa. El campo de vista (FOV) en un microscopio se reduce a medida que incrementa el aumento utilizado, de manera que el usuario se ve obligado a mover repetidamente la platina en el eje Z para poder enfocar una nueva porci&oacute;n de la muestra. La no disponibilidad de sistemas automatizados para este tipo de aplicaci&oacute;n hace del desarrollo de sistemas de autoenfoque un logro importante en este campo.</p>      <p>En este documento se presenta el dise&ntilde;o y la implementaci&oacute;n de un sistema de enfoque autom&aacute;tico para microscopio &oacute;ptico en aplicaciones cl&iacute;nicas. Una c&aacute;mara Web, acoplada al microscopio, captura y env&iacute;a las im&aacute;genes al PC para su procesamiento y almacenamiento. El algoritmo de b&uacute;squeda de foco implementado determina la posici&oacute;n de la platina en el eje Z para lograr el mejor enfoque.</p>      <p>En la secci&oacute;n 2 de este art&iacute;culo se describe el sistema que permite el control del movimiento de la platina del microscopio en direcci&oacute;n de los ejes X, Y y Z. En las secciones 3 y 4 se describen la implementaci&oacute;n de una funci&oacute;n de medida de foco y de un algoritmo de b&uacute;squeda de foco, respectivamente. En las secciones 5 y 6 se presenta una discusi&oacute;n de los resultados y el desempe&ntilde;o del algoritmo.</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>&nbsp;</p>     <p><font size="3"><b> II. MATERIALES Y M&Eacute;TODOS</b></font></p>      <p><b>A. Sistema de control</b></p>      <p>Para lograr automatizar el proceso de adquisici&oacute;n de im&aacute;genes desde un microscopio &oacute;ptico, es necesario garantizar el sistema que permita el control del movimiento de la platina del microscopio, desde PC, as&iacute; como tambi&eacute;n la captura de las im&aacute;genes captadas por el microscopio. Con este prop&oacute;sito se dise&ntilde;&oacute; un sistema mec&aacute;nico con base en poleas reductoras de velocidad que acoplan por bandas r&iacute;gidas los tornillos que controlan el movimiento de la platina del microscopio con un conjunto de motores paso a paso. El sistema se dise&ntilde;&oacute; de manera que permitiera obtener una resoluci&oacute;n &uacute;til para la aplicaci&oacute;n. La <a href="#t1">Tabla 1</a> muestra las resoluciones obtenidas para cada uno de los ejes del movimiento de la platina.</p>      <p>Para el control de los motores paso a paso, se elabor&oacute; una interfaz electr&oacute;nica que permite manejar los tres motores desde el puerto paralelo del computador, mientras que para la adquisici&oacute;n de las im&aacute;genes se acopl&oacute; al microscopio una c&aacute;mara Web USB de 640 x 480 p&iacute;xeles. El acople de la c&aacute;mara permiti&oacute; que, para un objetivo con aumento de 3.5x, se obtuviera un campo de visi&oacute;n de 830um x 625 um aproximadamente.</p>      <p align="center"><a name="t1"><img src="img/revistas/inde/n22/1a03t1.jpg"></a></p>      <p><b>B. Funci&oacute;n de medida de foco</b></p>     <p>Una vez logrado el control del sistema mec&aacute;nico, el siguiente paso en la automatizaci&oacute;n del enfoque de un microscopio (y de de cualquier aplicaci&oacute;n para autoenfoque) es desarrollar una funci&oacute;n de medida de enfoque. En este trabajo se estudiaron varias funciones capaces de estimar el grado relativo de enfoque de im&aacute;genes.</p>      <p>1) <i>Funciones estudiadas</i></p>      <p>Muchos sistemas para la medici&oacute;n del grado de enfoque de im&aacute;genes involucran la utilizaci&oacute;n de hardware para efectuar el procesamiento y la adquisici&oacute;n de las im&aacute;genes. Sin embargo, en este trabajo se consideraron t&eacute;cnicas m&aacute;s flexibles basadas en informaci&oacute;n de los p&iacute;xeles &#91;<a href="#1">1</a>&#93; para permitir enfocar, teniendo en cuenta s&oacute;lo la informaci&oacute;n provista de la matriz CCD de una c&aacute;mara Web (donde s&oacute;lo se tienen datos de los planos R, G y B de la imagen). Los algoritmos de medida de foco incluyen aquellos basados en t&eacute;cnicas de diferenciaci&oacute;n de im&aacute;genes (gradiente absoluto con umbral &#91;<a href="#2">2</a>&#93;, suma de la magnitud de la diferencia &#91;<a href="#1">1</a>&#93; y gradiente al cuadrado &#91;<a href="#2">2</a>&#93;), contraste de la imagen (varianza &#91;<a href="#1">1-4</a>&#93;), m&aacute;scaras de detecci&oacute;n de bordes (Tenengrad, Laplaciano &#91;<a href="#1">1-4</a>&#93; y varianza de Tenengrad &#91;<a href="#3">3</a>&#93;), funciones basadas en el histograma de la imagen (entrop&iacute;a &#91;<a href="#1">1-3</a>&#93;) y an&aacute;lisis en el dominio de la frecuencia (transformada de Fourier &#91;1&#93;). Se propusieron tres modificaciones a algunas de las funciones mencionadas anteriormente, como se describe a continuaci&oacute;n:</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>La funci&oacute;n Tenengrad (TEN) de medida del grado de enfoque de una imagen se define como:</p>      <p align="center"><a name="e1"><img src="img/revistas/inde/n22/1a03e1.jpg"></a></p>      <p>Donde |G(x,y)| es el cuadrado de la magnitud del gradiente en los pixeles (x, y) calculado usando el operador de Sobel &#91;<a href="#5">5</a>&#93;.</p>      <p>Con el objetivo de mejorar el desempe&ntilde;o en cuanto a tiempo de c&oacute;mputo, se propone redefinir la funci&oacute;n como:</p>      <p align="center"><a name="e2"><img src="img/revistas/inde/n22/1a03e2.jpg"></a></p>      <p>La <a href="#e2">ecuaci&oacute;n 2</a> permiti&oacute; la disminuci&oacute;n de los tiempos de c&oacute;mputo al evitar el c&aacute;lculo de cuadrados y al reducir el tiempo de enrutamiento de datos en memoria, realizando las operaciones en formato sin signo de ocho bits. Las operaciones en formato sin signo no tienen en cuenta las componentes negativas del gradiente. Sin embargo, se decidi&oacute; operar en este formato considerando que las componentes positivas del gradiente tienen el mismo peso que las negativas al estimar la medida del grado de enfoque. Esta consideraci&oacute;n se realiz&oacute; con base en un modelado estad&iacute;stico de la magnitud del gradiente. Esta nueva funci&oacute;n de medida del grado de enfoque fue denominada Tenengrad de 8 bits (TEN8).</p>      <p>Otra funci&oacute;n de medida de foco, varianza del gradiente VDG, fue propuesta por Pech-Pacheco et al. &#91;<a href="#3">3</a>&#93;:</p>     <p align="center"><a name="e3"><img src="img/revistas/inde/n22/1a03e3.jpg"></a></p>      <p align="center">Para |G(x,y)| &gt; V (V = umbral)</p>       <p>De la funci&oacute;n descrita en (<a href="#e3">3</a>) se puede eliminar el umbral si |G(x,y)| es tratada como una variable aleatoria con distribuci&oacute;n Gamma y se estudia el comportamiento de la funci&oacute;n fmx:</p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><a name="e4"><img src="img/revistas/inde/n22/1a03e4.jpg"></a></p>      <p>Donde V es el umbral y f(x) es la distribuci&oacute;n Gamma de la variable aleatoria x = |G(x,y)|. Las pruebas llevadas a cabo mostraron que las im&aacute;genes mejor enfocadas muestran mayores valores de fmx para cualquier valor de V. La supresi&oacute;n del umbral mejora el tiempo de c&oacute;mputo eliminando la comparaci&oacute;n de datos. Adem&aacute;s, si |G(x,y)| es estimada como se sugiri&oacute; en &#91;<a href="#2">2</a>&#93; se obtiene otra mejora en el tiempo de c&oacute;mputo. La nueva funci&oacute;n de estimaci&oacute;n del grado de enfoque de una imagen fue denominada varianza de Tenengrad de 8 bits (VDG8).</p>      <p>Adem&aacute;s de las dos anteriores, se propone una modificaci&oacute;n a la definici&oacute;n de la funci&oacute;n del gradiente absoluto con umbral. Para este caso, en vez de acumular la diferencia de la imagen por encima de un umbral &#91;<a href="#1">1</a>&#93;, se realiza un conteo de los p&iacute;xeles cuyo valor se encuentra por encima de dicho umbral. Esta modificaci&oacute;n permite una mejora en tiempo de c&oacute;mputo dado que contar los p&iacute;xeles es m&aacute;s r&aacute;pido que sumar sus valores:</p>     <p align="center"><a name="e5"><img src="img/revistas/inde/n22/1a03e5.jpg"></a></p>      <p>Donde V es el umbral. Esta nueva funci&oacute;n de medida del grado de enfoque fue denominada conteo del gradiente absoluto (CGA). 2)</p>      <p><b>M&eacute;todo de selecci&oacute;n</b></p>      <p>Con el objetivo de seleccionar los algoritmos de mejor desempe&ntilde;o, se adquiri&oacute; un conjunto secuencial de im&aacute;genes moviendo la platina de un microscopio en el eje Z. Las im&aacute;genes fueron capturadas de una c&aacute;mara Web, con una matriz CCD de 640x480 p&iacute;xeles acoplada a un microscopio Leitz ORTHOLUZ. De esta manera, los algoritmos se probaron sobre un conjunto de im&aacute;genes de la misma escena, pero con distinto grado de enfoque. A manera de ejemplo, la <a href="#g1">Figura 1</a> muestra los resultados normalizados de aplicar VDG8 en un conjunto de 21 im&aacute;genes. Para este caso, las im&aacute;genes est&aacute;n espaciadas 100 pasos (38um aproximadamente), con un objetivo de aumento 3.5x y la imagen mejor enfocada corresponde a la n&uacute;mero 11.</p>      <p>Este procedimiento se repiti&oacute; para im&aacute;genes en diferentes condiciones de iluminaci&oacute;n, presencia de sucio sobre el portaobjetos, diferentes aumentos y contenido en la imagen. Cada algoritmo evaluado fue probado en 10 grupos de im&aacute;genes distintos (230 im&aacute;genes en total).</p>     <p align="center"><a name="g1"><img src="img/revistas/inde/n22/1a03g1.jpg"></a></p>      <p>Para comparar el desempe&ntilde;o de los algoritmos, se calcul&oacute; una figura de m&eacute;rito para cada algoritmo. En la definici&oacute;n de esta figura de m&eacute;rito se consideraron factores tales como la exactitud, la selectividad, tiempo de c&oacute;mputo, sensibilidad a peque&ntilde;as variaciones del grado de enfoque y n&uacute;mero de m&aacute;ximos locales:</p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><a name="e6"><img src="img/revistas/inde/n22/1a03e6.jpg"></a></p>      <p>Donde X es el factor de exactitud (X =1 si el m&aacute;ximo de la funci&oacute;n corresponde a la imagen mejor enfocada, X = 0 para otro caso); Mf representa el n&uacute;mero de m&aacute;ximos; t el tiempo de c&oacute;mputo; Rfm representa la sensibilidad a variaciones en el grado de enfoque (rango normalizado de FM); y S es la selectividad del algoritmo (Pendiente en FM alrededor del punto de mejor foco). Para cada conjunto de im&aacute;genes procesadas cada algoritmo obten&iacute;a calificaciones de X, 1/Mf, 1/t, Rfm y S entre 0 y 1, dependiendo en el desempe&ntilde;o relativo del algoritmo respecto a los otros. Como ejemplo, la <a href="#t2">Tabla 2</a> muestra el n&uacute;mero de m&aacute;ximos obtenidos por los algoritmos estudiados para un conjunto particular de im&aacute;genes.</p>      <p align="center"><a name="t2"><img src="img/revistas/inde/n22/1a03t2.jpg"></a></p>      <p>Dado que el menor n&uacute;mero de m&aacute;ximos obtenido es de 1 (por el algoritmo ENT), entonces el valor de Mf para cada algoritmo se calcula dividiendo el n&uacute;mero de m&aacute;ximos correspondiente por 1. De esta manera se asegura que el inverso de Mf estar&aacute; siempre entre 0 y 1. Este mismo criterio se aplica para el c&aacute;lculo de t. Para el c&aacute;lculo de los par&aacute;metros S, y Rfm se normaliza por el m&aacute;ximo valor obtenido (no el m&iacute;nimo).</p>      <p>El valor de FOM se calcula para cada conjunto de im&aacute;genes estudiado y se seleccionan los tres mejores algoritmos en desempe&ntilde;o: VDG8, CGA y TFU.</p>      <p>Una vez seleccionados los algoritmos de mejor desempe&ntilde;o, se lleva a cabo un segundo grupo de pruebas con el objetivo de determinar las condiciones de trabajo que dar&iacute;an mejores resultados para la aplicaci&oacute;n particular de im&aacute;genes microsc&oacute;picas de muestras citol&oacute;gicas. Bravo et al. &#91;<a href="#10">10</a>&#93; destacan la importancia de aplicar los algoritmos en regiones de inter&eacute;s (ROI) de la imagen. En la mayor&iacute;a de los casos, una ROI centrada en la imagen con un 20% del &aacute;rea total (ventanas de 128 por 128 p&iacute;xeles) mostr&oacute; mejorar el tiempo de c&oacute;mputo sin afectar la precisi&oacute;n del algoritmo.</p>      <p>En otras pruebas, la aplicaci&oacute;n de los algoritmos independientemente sobre los planos R y G mostr&oacute; mejores resultados en cuanto a precisi&oacute;n que la aplicaci&oacute;n sobre el plano B. La utilizaci&oacute;n de im&aacute;genes en escala de grises no s&oacute;lo disminuy&oacute; la precisi&oacute;n de los algoritmos sino tambi&eacute;n increment&oacute; el tiempo de c&oacute;mputo.</p>      <p><b>C. Algoritmo de b&uacute;squeda</b></p>      <p>Como se resalta en el trabajo de Hilsenstein &#91;<a href="#9">9</a>&#93;, el autoenfoque es un paso crucial en la automatizaci&oacute;n de la microscop&iacute;a debido a la corta profundidad de campo (DOF) presente en sistemas &oacute;pticos con grandes aumentos. Para aumentos mayores a 40x se pueden obtener razones distancia de trabajo/DOF del orden de 103 &#91;<a href="#6">6</a>&#93;, por lo cual los algoritmos de b&uacute;squeda no solo deben ser r&aacute;pidos sino precisos y con sensibilidad suficiente para detectar peque&ntilde;as variaciones en el grado de enfoque de una imagen. As&iacute;, en microscop&iacute;a &oacute;ptica factores como variaciones en el grosor de las l&aacute;minas, presencia de sucio y bajo contenido de informaci&oacute;n en la imagen son factores que hacen del enfoque autom&aacute;tico una tarea m&aacute;s compleja &#91;<a href="#8, 9">8, 9</a>&#93;.</p>      <p>&#91;<a href="#4">4</a>&#93; y &#91;<a href="#7">7</a>&#93; resaltan la influencia de las caracter&iacute;sticas de la c&aacute;mara y la &oacute;ptica del sistema sobre la funci&oacute;n de dispersi&oacute;n de punto (point-spreadfunction) de un sistema de adquisici&oacute;n de im&aacute;genes ­la funci&oacute;n de dispersi&oacute;n de punto es el equivalente de respuesta al impulso para sistemas LTI. La calidad de las im&aacute;genes capturadas por una c&aacute;mara Web acoplada a la &oacute;ptica de un microscopio depender&aacute; entonces de la c&aacute;mara en si y del sistema de lentes utilizadas en el microscopio. Con el objetivo de determinar la estrategia de b&uacute;squeda apropiada, se lleva a cabo un estudio sistem&aacute;tico del comportamiento de las funciones de medida de foco para objetivos de aumento 3.5x, 10x, 25x y 40x, combinados con un ocular de 10x.</p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<p>El primer paso fue determinar la m&iacute;nima resoluci&oacute;n de movimiento, Zd, para cada aumento. &#91;<a href="#8">8</a>&#93; propone el c&aacute;lculo de esta resoluci&oacute;n basados en el &iacute;ndice de refracci&oacute;n del medio, n, la longitud de onda de luz usada, , y la apertura num&eacute;rica del objetivo, NA. En nuestra aplicaci&oacute;n, se utiliza una aproximaci&oacute;n m&aacute;s experimental: la resoluci&oacute;n se determina emp&iacute;ricamente moviendo la platina un n&uacute;mero determinado de pasos hasta que es posible observar un cambio en el grado de enfoque de la imagen. La resoluci&oacute;n en ese caso se iguala a la mitad de este n&uacute;mero de pasos. La <a href="#t3">Tabla 3</a> muestra valores de resoluci&oacute;n para los diferentes aumentos de los objetivos.</p>      <p>El segundo paso consisti&oacute; en analizar el comportamiento de la funci&oacute;n de medida de foco en todo el rango de movimiento de la platina en el eje Z (3.8mm) para cada aumento. A manera de ejemplo, la <a href="#g2">Figura 2</a> muestra la funci&oacute;n de medida de foco calculada con VDG8 con un objetivo de aumento 3.5x.</p>      <p align="center"><a name="t3"><img src="img/revistas/inde/n22/1a03t3.jpg"></a></p>     <p align="center"><a name="g2"><img src="img/revistas/inde/n22/1a03g2.jpg"></a></p>      <p>El segundo m&aacute;ximo de la <a href="#g2">Figura 2</a> no corresponde a la imagen mejor enfocada y siempre estaba presente en todas las muestras observadas. El efecto similar pudo ser observado en el trabajo de Geusenbroek et. al &#91;<a href="#8">8</a>&#93; que caus&oacute; serios problemas al enfocar peque&ntilde;as c&eacute;lulas musculares. Ellos explican el fen&oacute;meno por transiciones de fase que ocurren al buscar el foco, causadas principalmente por la difracci&oacute;n de la luz. Se pudo observar otros m&aacute;ximos locales en algunas muestras debido a la presencia de suciedad.</p>      <p>La <a href="#g3">Figura 3</a> describe el comportamiento general de la funci&oacute;n de medida de foco para todos los aumentos (aunque aumentos m&aacute;s grandes redundan en una mayor presencia de ruido).</p>      <p align="center"><a name="g3"><img src="img/revistas/inde/n22/1a03g3.jpg"></a></p>      <p>El comportamiento de las funciones de medida de foco se dividi&oacute; en tres regiones:</p>  <ul>     <p>    <li>Regi&oacute;n I. Pueden aparecer m&aacute;ximos locales debido a la presencia de polvo y sucio en la muestra.</li>     ]]></body>
<body><![CDATA[<li>Regi&oacute;n II. Es la m&aacute;s importante dado que contiene al m&aacute;ximo que corresponde al punto de mejor foco.</li>     <li>Regi&oacute;n III. Contiene el m&aacute;ximo local debido al efecto de refracci&oacute;n mencionado anteriormente.</li></p>    </ul>      <p>La estrategia propuesta fue llevar a cabo una b&uacute;squeda global &#91;<a href="#1">1</a>&#93; dentro de la regi&oacute;n II. Los l&iacute;mites para la regi&oacute;n II debieron seleccionarse con la suficiente amplitud para que variaciones en el grosor de las l&aacute;minas y diferencias en la preparaci&oacute;n del tejido no excluyan el punto de enfoque, y lo suficientemente estrecha como para asegurar una convergencia r&aacute;pida y evitar incluir m&aacute;ximos falsos de las regiones vecinas. Para reducir el tiempo de c&oacute;mputo, la b&uacute;squeda global se lleva a cabo con una resoluci&oacute;n en Z aumentada, Zr &gt; Zd y luego se completaba con una b&uacute;squeda refinada.</p>      <p>El algoritmo de b&uacute;squeda de foco descrito fue aplicado s&oacute;lo en el primer campo de enfoque. Los campos subsecuentes se enfocan como se propone en &#91;<a href="#8">8</a>&#93; enfocando sobre un peque&ntilde;o intervalo para corregir peque&ntilde;as desviaciones en el foco. De esta manera, el algoritmo de b&uacute;squeda de foco para el sistema de adquisici&oacute;n autom&aacute;tica de im&aacute;genes se compone en realidad de dos procedimientos: uno inicial de enfoque que se aplica a la primera imagen de la muestra, y uno de reenfoque que se repite para la adquisici&oacute;n del resto de la muestra.</p> </font>      <p>&nbsp;</p> <font face="verdana" size="2">     <p><font size="3"><b> III. RESULTADOS</b></font></p>     <p><b>A. Funci&oacute;n de medida de foco</b></p>     <p>La <a href="#t4">Tabla 4</a> muestra un listado de todos los algoritmos estudiados en este trabajo e indica adem&aacute;s la t&eacute;cnica en la que se basa cada algoritmo.</p>     <p align="center"><a name="t4"><img src="img/revistas/inde/n22/1a03t4.jpg"></a></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>La <a href="#g4">Figura 4</a> muestra la FOM promedio para los algoritmos estudiados al ser aplicados a todos los grupos de im&aacute;genes de prueba en diferentes condiciones de iluminaci&oacute;n, contraste, presencia de suciedad en la muestra y cantidad de informaci&oacute;n. Es importante anotar que las modificaciones a algoritmos propuestas mostraron un desempe&ntilde;o cualitativo muy similar a aquellos algoritmos en las cuales se basaron (en cuanto a n&uacute;mero de m&aacute;ximos falsos, sensibilidad, exactitud, forma de la funci&oacute;n de medida de foco, etc.) pero representaron considerables mejoras en los tiempos de c&oacute;mputo de hasta un 69% para TEN8 y 60% para VDG8.</p>     <p>En general, los algoritmos de mejor desempe&ntilde;o fueron TEN8, VDG8 y TFU, los cuales sirvieron para seleccionar exitosamente la imagen mejor enfocada en casi todos los grupos de im&aacute;genes de prueba. S&oacute;lo fallaron en determinar el punto de enfoque en un solo grupo de im&aacute;genes con muy bajo contraste y poca iluminaci&oacute;n (ning&uacute;n otro algoritmo funcion&oacute; para este grupo de im&aacute;genes).</p>     <p align="center"><a name="g4"><img src="img/revistas/inde/n22/1a03g4.jpg"></a></p>     <p><b>B. Algoritmo de b&uacute;squeda de foco</b></p>     <p>Un trabajo extensivo se llev&oacute; a cabo para probar el algoritmo de b&uacute;squeda de foco. En promedio, a cada algoritmo se le hicieron 25 pruebas de enfoque por cada aumento, para un total de 100 pruebas por algoritmo. La <a href="#t5">Tabla 5</a> muestra los porcentajes de exactitud de los algoritmos TEN8, TFU y CGA.</p>     <p>Para probar el procedimiento de reenfoque se parti&oacute; de una imagen enfocada. Luego se proced&iacute;a a mover manualmente el portaobjetos del microscopio ­para enfocar una nueva porci&oacute;n de la muestra­ y se ejecutaba el procedimiento de reenfoque. Este procedimiento se llev&oacute; a cabo un promedio de 40 veces para cada algoritmo, en los diferentes aumentos, para un total de 160 ensayos por algoritmo. Los resultados de estas pruebas se muestran en la <a href="#t6">Tabla 6</a>.</p>     <p align="center"><a name="t5"><img src="img/revistas/inde/n22/1a03t5.jpg"></a></p>     <p align="center"><a name="t6"><img src="img/revistas/inde/n22/1a03t6.jpg"></a></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><font size="3"><b>IV. CONCLUSIONES</b></font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>Se propusieron y desarrollaron tres modificaciones de algoritmos de medida de foco. Las modificaciones propuestas permitieron mejoras en el tiempo de c&oacute;mputo sin disminuir la exactitud de los algoritmos en la selecci&oacute;n de las im&aacute;genes mejor enfocadas. Algoritmos basados en la misma t&eacute;cnica (por ejemplo, diferenciaci&oacute;n de im&aacute;genes, contraste de im&aacute;genes, etc.) mostraron un desempe&ntilde;o cualitativo similar. As&iacute;, los algoritmos basados en la diferenciaci&oacute;n de im&aacute;genes mostraron la mayor sensibilidad a variaciones en el grado de enfoque de una imagen, pero produjeron mayor n&uacute;mero de falsos y eran demasiado sensibles a la presencia de suciedad en la muestra. Aquellos basados en el contraste de la imagen no funcionaron bien en nuestra aplicaci&oacute;n. Los algoritmos basados en m&aacute;scaras de detecci&oacute;n de bordes y an&aacute;lisis de Fourier (TEN8, VDG8 y TFU) mostraron la mayor exactitud, suavidad y menor n&uacute;mero de m&aacute;ximos locales en la mayor&iacute;a de condiciones de imagen. Aunque los tiempos de c&oacute;mputo fueron mayores para estos &uacute;ltimos algoritmos, se pudieron llevar a cabo estimaciones de la medida de foco a velocidades de video (t &lt; 42ms para 24fps) para los algoritmos TEN8 y VDG8.</p>     <p>El uso de la funci&oacute;n de medida de foco en un plano de color de la imagen RGB no s&oacute;lo mostr&oacute; mejores resultados para los planos R y G, sino que tambi&eacute;n redujo los tiempos de c&oacute;mputo evitando la conversi&oacute;n de RGB a escala de grises.</p>     <p>La estrategia de b&uacute;squeda de foco fue dise&ntilde;ada para nuestra aplicaci&oacute;n espec&iacute;fica pero puede ser aplicada para sistemas con caracter&iacute;sticas similares. Se consiguieron buenos resultados en el enfoque autom&aacute;tico. Aunque los valores en la exactitud del enfoque van desde el 50% al 94%, la mayor&iacute;a de las fallas se presentaron para im&aacute;genes con poco contraste y presencia de suciedad o poca informaci&oacute;n en las im&aacute;genes.</p>     <p>&nbsp;</p>     <p><font size="3"><b>REFERENCIAS</b></font></p>     <!-- ref --><p>&#91;<a name="1">1</a>&#93; N. NG KUANG, N. POO and A. MARCELO. Practical issues in pixel based autofocusing. Proceedings of the 2001 international conference on Robotics and automation. Seoul-Korea, 2001. &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000098&pid=S0122-3461200700020000300001&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;<a name="2">2</a>&#93; A. SANTOS, C. ORTIZ, J. VAQUERO, J. PE&Ntilde;A, N. MALPICA and F. DEL POZO. Evaluation of autofocus functions in molecular cytogenetic analysis. The Royal Microscopical Society, 1997. &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000099&pid=S0122-3461200700020000300002&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;<a name="3">3</a>&#93; J. PECH-PACHECO, G. CRISTOBAL, J. CHAMORRO, J. FERN&Aacute;NDEZ. Diatom autofocusing in brightfield microscopy: a comparative study. Proceedings 15th International Conference on Pattern Recognition ­ Vol. 3, Barcelona, Spain, 3-7 September 2000, IEEE &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000100&pid=S0122-3461200700020000300003&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;<a name="4">4</a>&#93; J. LEE, K. KIM, B. NAM, J. LEE, Y. KWON and H. KIM. Implementation of a passive automatic focusing algorithm for digital still camera. IEEE transactions on consumer electronics, vol 41, N&deg; 3, 1995. &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000101&pid=S0122-3461200700020000300004&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;<a name="5">5</a>&#93; RUSS, John. The image processing handbook. IEEE press. 3ra edici&oacute;n. Estados Unidos, 1999. &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000102&pid=S0122-3461200700020000300005&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;<a name="6">6</a>&#93; E. HUGLETT and P. KAISER. An autofocus technique for imaging microscopy. IEEE, 1992. &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000103&pid=S0122-3461200700020000300006&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;<a name="7">7</a>&#93; M. SUBBARAO and J. TYAN. Selecting the optimal focus measure for autofocusing and deph-from-focus. IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, Vol 20, N&deg; 8, 1998. &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000104&pid=S0122-3461200700020000300007&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;<a name="8">8</a>&#93; J. GEUSEBROEK, F. CORNELLISEN, A. SMEULDERS and H. GEERTS. Robust autofocusing in microscopy.Cytometry 39:1­9, 2000. &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000105&pid=S0122-3461200700020000300008&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;<a name="9">9</a>&#93; V. HILSENSTEIN. Robust autofocusing for automated microscopy imaging of fluorescently labeled bacteria. Proceedings of the Digital Imaging Computing: Techniques and Applications, Cairns, Australia, 6-8 December 2005, IEEE Computer Society Press. &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000106&pid=S0122-3461200700020000300009&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p>&#91;<a name="10">10</a>&#93; M. BRAVO, M. PAZ and J. PRICE. Method for the focal plane determination of microscopic objects. Proceedings on the 14th international conference on electronics, comunicactions and computers. IEEE, 2004.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000107&pid=S0122-3461200700020000300010&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> ]]></body><back>
<ref-list>
<ref id="B1">
<label>1</label><nlm-citation citation-type="confpro">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[NG KUANG]]></surname>
<given-names><![CDATA[N]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[POO]]></surname>
<given-names><![CDATA[N]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[MARCELO]]></surname>
<given-names><![CDATA[A]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[Practical issues in pixel based autofocusing]]></source>
<year></year>
<conf-name><![CDATA[ Proceedings of the 2001 international conference on Robotics and automation]]></conf-name>
<conf-date>2001</conf-date>
<conf-loc>Seoul </conf-loc>
</nlm-citation>
</ref>
<ref id="B2">
<label>2</label><nlm-citation citation-type="book">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[SANTOS]]></surname>
<given-names><![CDATA[A]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[ORTIZ]]></surname>
<given-names><![CDATA[C]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[VAQUERO]]></surname>
<given-names><![CDATA[J]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[PEÑA]]></surname>
<given-names><![CDATA[J]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[MALPICA]]></surname>
<given-names><![CDATA[N]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[DEL POZO]]></surname>
<given-names><![CDATA[F]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[Evaluation of autofocus functions in molecular cytogenetic analysis]]></source>
<year>1997</year>
<publisher-name><![CDATA[The Royal Microscopical Society]]></publisher-name>
</nlm-citation>
</ref>
<ref id="B3">
<label>3</label><nlm-citation citation-type="confpro">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[PECH-PACHECO]]></surname>
<given-names><![CDATA[J]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[CRISTOBAL]]></surname>
<given-names><![CDATA[G]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[CHAMORRO]]></surname>
<given-names><![CDATA[J]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[FERNÁNDEZ]]></surname>
<given-names><![CDATA[J]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[Diatom autofocusing in brightfield microscopy: a comparative study]]></source>
<year></year>
<conf-name><![CDATA[ Proceedings 15th International Conference on Pattern Recognition]]></conf-name>
<conf-date>3-7 September 2000</conf-date>
<conf-loc>Barcelona </conf-loc>
</nlm-citation>
</ref>
<ref id="B4">
<label>4</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[LEE]]></surname>
<given-names><![CDATA[J]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[KIM]]></surname>
<given-names><![CDATA[K]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[NAM]]></surname>
<given-names><![CDATA[B]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[LEE]]></surname>
<given-names><![CDATA[J]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[KWON]]></surname>
<given-names><![CDATA[Y]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[KIM]]></surname>
<given-names><![CDATA[H]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Implementation of a passive automatic focusing algorithm for digital still camera]]></article-title>
<source><![CDATA[IEEE transactions on consumer electronics]]></source>
<year>1995</year>
<volume>41</volume>
<numero>3</numero>
<issue>3</issue>
</nlm-citation>
</ref>
<ref id="B5">
<label>5</label><nlm-citation citation-type="book">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[RUSS]]></surname>
<given-names><![CDATA[John]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[The image processing handbook]]></source>
<year>1999</year>
<edition>3</edition>
<publisher-name><![CDATA[IEEE press]]></publisher-name>
</nlm-citation>
</ref>
<ref id="B6">
<label>6</label><nlm-citation citation-type="book">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[HUGLETT]]></surname>
<given-names><![CDATA[E]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[KAISER]]></surname>
<given-names><![CDATA[P]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[An autofocus technique for imaging microscopy]]></source>
<year>1992</year>
<publisher-name><![CDATA[IEEE]]></publisher-name>
</nlm-citation>
</ref>
<ref id="B7">
<label>7</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[SUBBARAO]]></surname>
<given-names><![CDATA[M]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[TYAN]]></surname>
<given-names><![CDATA[J]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Selecting the optimal focus measure for autofocusing and deph-from-focus]]></article-title>
<source><![CDATA[IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence]]></source>
<year>1998</year>
<volume>20</volume>
<numero>8</numero>
<issue>8</issue>
</nlm-citation>
</ref>
<ref id="B8">
<label>8</label><nlm-citation citation-type="journal">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[GEUSEBROEK]]></surname>
<given-names><![CDATA[J]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[CORNELLISEN]]></surname>
<given-names><![CDATA[F]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[SMEULDERS]]></surname>
<given-names><![CDATA[A]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[GEERTS]]></surname>
<given-names><![CDATA[H]]></given-names>
</name>
</person-group>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Robust autofocusing in microscopy]]></article-title>
<source><![CDATA[Cytometry]]></source>
<year>2000</year>
<volume>39</volume>
<numero>1­9</numero>
<issue>1­9</issue>
</nlm-citation>
</ref>
<ref id="B9">
<label>9</label><nlm-citation citation-type="confpro">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[HILSENSTEIN]]></surname>
<given-names><![CDATA[V]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[Robust autofocusing for automated microscopy imaging of fluorescently labeled bacteria]]></source>
<year></year>
<conf-name><![CDATA[ Proceedings of the Digital Imaging Computing: Techniques and Applications]]></conf-name>
<conf-date>6-8 December 2005</conf-date>
<conf-loc>Cairns </conf-loc>
</nlm-citation>
</ref>
<ref id="B10">
<label>10</label><nlm-citation citation-type="confpro">
<person-group person-group-type="author">
<name>
<surname><![CDATA[BRAVO]]></surname>
<given-names><![CDATA[M]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[PA]]></surname>
<given-names><![CDATA[M]]></given-names>
</name>
<name>
<surname><![CDATA[PRICE]]></surname>
<given-names><![CDATA[J]]></given-names>
</name>
</person-group>
<source><![CDATA[Method for the focal plane determination of microscopic objects]]></source>
<year></year>
<conf-name><![CDATA[ Proceedings on the 14th international conference on electronics, comunicactions and computers]]></conf-name>
<conf-date>2004</conf-date>
<conf-loc> </conf-loc>
</nlm-citation>
</ref>
</ref-list>
</back>
</article>
