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<article-title xml:lang="es"><![CDATA[Metodología para la obtención del Rango de Trabajo de un transistor como Elemento de Control en una Fuente de Corriente DC]]></article-title>
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<abstract abstract-type="short" xml:lang="en"><p><![CDATA[This paper presents a methodology to develop direct current sources using BJT transistors on the linear region (active region). This region depends on the saturation voltage, maximum power and polarization voltage of the element; from these parameters it is obtained the load resistance range that ensures a constant current. The methodology is used to develop a DC current source prototype of 2A and the range of the load resistance is defined by the transistor characteristics. The temperature and power constrains are taking into account.]]></p></abstract>
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</front><body><![CDATA[ <p align="right"><b>ART&Iacute;CULO ORIGINAL</b></p>     <p align="right">&nbsp;</p>     <p align="center"><font size="4"> <b>Metodolog&iacute;a para la obtenci&oacute;n del Rango de Trabajo de un transistor como Elemento de Control en una Fuente de Corriente DC</b></font></p>     <p align="center">&nbsp;</p>     <p align="center"><font size="3"> <b>Methodology to obtain the linear range of a transistor as a control element in a DC current source</b></font></p>     <p align="center">&nbsp;</p>     <p align="center">&nbsp;</p>     <p> <i><b>Yurany A. Osorno, John Ever Mu&ntilde;oz, Nelson Londo&ntilde;o, Esteban Velilla<sup>*</sup></b></i></p>       <p>Grupo  de Manejo Eficiente de la Energ&iacute;a - GIMEL,  Universidad de Antioquia. A.A. 1226. Medell&iacute;n,  Colombia.</p>      <p><sup>*</sup>Autor  de correspondencia: tel&eacute;fono: + 57 + 4 + 219 85 96, fax: +  57 + 4 + 211 05 07, correo  electr&oacute;nico: <a href="mailto:evelilla@udea.edu.co">evelilla@udea.edu.co</a> (E. Velilla)</p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<p>&nbsp;</p>     <p align="center">(Recibido el 10 de enero de 2012. Aceptado 30 de  mayo de 2013)</p>     <p align="center">&nbsp;</p>     <p align="center">&nbsp;</p> <hr noshade size="1">      <p><font size="3"><b>Resumen</b></font></p>       <p>Se presenta  una metodolog&iacute;a concebida para el dise&ntilde;o de fuentes de corriente DC, aprovechando las caracter&iacute;sticas de  los transistores BJT en su regi&oacute;n de trabajo lineal (regi&oacute;n activa), regi&oacute;n que  depende de la tensi&oacute;n de codo, la potencia m&aacute;xima que puede soportar &eacute;ste y la  tensi&oacute;n de polarizaci&oacute;n; a partir de estos par&aacute;metros se identifica el rango de  la resistencia de carga que garantiza la corriente constante. La metodolog&iacute;a es  empleada para implementar un prototipo de fuente de corriente DC de 2A en un rango de resistencia  determinado por las caracter&iacute;sticas del transistor, garantizando las  respectivas restricciones de potencia y temperatura. </p>        <p><i>Palabras clave:</i> Fuente de corriente DC, transistor BJT, tensi&oacute;n de polarizaci&oacute;n, tensi&oacute;n de codo, regi&oacute;n de trabajo, potencia m&aacute; xima, resistencia de carga</p>   <hr noshade size="1">      <p><font size="3"><b>Abstract</b></font></p>     <p>This paper presents a methodology to develop direct  current sources using BJT transistors on the linear region (active region).  This region depends on the saturation voltage, maximum power and polarization  voltage of the element; from these parameters it is obtained the load  resistance range that ensures a constant current. The methodology is used to develop  a DC current source prototype of 2A and the range of the load resistance is  defined by the transistor characteristics. The temperature and power constrains  are taking into account. </p>      <p><i>Keywords: </i>Direct current source, BJT transistor, polarization voltage, saturation voltage, active region, maximum power, loads resistance</p>  <hr noshade size="1">      ]]></body>
<body><![CDATA[<p>&nbsp;</p>     <p><font size="3"><b>Introducci&oacute;n</b></font></p>      <p>Una de las  pr&aacute;cticas m&aacute;s comunes en los laboratorios de circuitos el&eacute;ctricos est&aacute;n  relacionadas con la validaci&oacute;n de los teoremas de Thevenin y Norton, para los  cuales se requieren de fuentes de tensi&oacute;n y fuentes de corriente  respectivamente &#91;1-5&#93;; las fuentes de voltaje son de uso frecuente, por tanto  de f&aacute;cil adquisici&oacute;n y se ofrece una amplia gama de opciones comerciales  (tensiones, corrientes, potencias), sin embargo, las fuentes de corriente son  menos comunes y m&aacute;s restringidas en su comercializaci&oacute;n, ofreci&eacute;ndose rangos  muy estrechos de corrientes y potencias. Las fuentes de corrientes son  utilizadas en equipos de medici&oacute;n para caracterizar la resistencia o la  impedancia de ciertos elementos (como los telur&oacute;metros), en algunos  laboratorios para validar el teorema de Norton y en aplicaciones de electro  medicina o electro qu&iacute;mica para llevar a cabo algunos procesos que requieren  corrientes constantes.</p>       <p>Las fuentes  de corriente se caracterizan por mantener constante la corriente, independiente  de la carga, y pueden suministrar corriente A.C, D.C o tipo impulso. Para el  caso particular de las fuentes de corriente continua (FCDC) se documentan varias  alternativas de dise&ntilde;o que van desde la utilizaci&oacute;n de dispositivos  electr&oacute;nicos b&aacute;sicos como transistores BJT y FET, amplificadores operacionales  y circuitos realimentados, hasta sistemas discretos como son la utilizaci&oacute;n de  circuitos de suicheo de elementos de potencia &#91;6 - 9&#93;. Cuando se usan los  transistores BJT y FET, su desempe&ntilde;o depende principalmente de la regi&oacute;n de  trabajo (curvas caracter&iacute;sticas) en la cual operan y de los niveles de  corriente de la carga.</p>       <p>Con el fin  de obtener corrientes de pocos amperios, algunos autores proponen utilizar  amplificadores operacionales y combinaci&oacute;n de tecnolog&iacute;as (BJT, FET, MOSFET y  JFET) &#91;6-9&#93;, sin embargo, los modelos presentados para altas corrientes  (aproximadamente 5A), presentan complejidades adicionales en el dise&ntilde;o de una  FCDC y su operaci&oacute;n est&aacute; restringida a un rango muy estrecho de corrientes y  resistencias de carga.</p>       <p>En este  art&iacute;culo, se presenta una revisi&oacute;n general de las particularidades y  problem&aacute;ticas de las fuentes de corriente continua y se propone una metodolog&iacute;a  para el dise&ntilde;o de una FCDC, a partir, de la utilizaci&oacute;n de transistores BJT.  Dicha metodolog&iacute;a se utiliza en la concepci&oacute;n, dise&ntilde;o e implementaci&oacute;n de un  prototipo de fuente de corriente constante de 2A, para el rango de resistencia de  carga de 4.8 a  23.99 &Omega;. </p>      <p><b><i>Generalidades de la FCDC</i></b></p>       <p>Las fuentes  de corriente presentan particularidades en la operaci&oacute;n, enlazadas a la  interdependencia entre la corriente, la tensi&oacute;n de polarizaci&oacute;n, la impedancia  de carga y el elemento de control (transistores BJT, FET, MOSFET, entre otros).  Esta relaci&oacute;n se puede observar al hacer un an&aacute;lisis circuital de cada una de las variables  el&eacute;ctricas involucradas, en el caso particular de una FCDC utilizando como elemento de  control un transistor BJT (<a href="#Figura1">figura 1</a>), se  obtienen las ecuaciones (1-3).</p>      <p align="center"><a name="Figura1"></a><img src="img/revistas/rfiua/n67/n67a08i01.gif"></p>     <p align="center">&nbsp;</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p><img src="img/revistas/rfiua/n67/n67a08e01.gif"></p>      <p>Donde: </p>       <p><i>I<sub>C</sub></i>  Corriente de  colector (Carga) </p>       <p><i>R<sub>C</sub></i> Resistencia de carga </p>       <p><i>V<sub>CC</sub></i> Tensi&oacute;n de polarizaci&oacute;n </p>       <p><i>V<sub>RC</sub></i> Tensi&oacute;n resistencia de carga </p>       <p><i>V<sub>CE </sub></i>Tensi&oacute;n colector-emisor </p>       <p><i>P<sub>CC</sub></i> Potencia de la fuente de  alimentaci&oacute;n </p>       <p><i>P<sub>RC</sub></i> Potencia de la resistencia de  carga </p>       <p><i>P<sub>CE </sub></i>Potencia elemento de control  (Transistor BJT) </p>       ]]></body>
<body><![CDATA[<p>De  las ecuaciones (1) a (3), se observa que: </p>       <p>&bull; Si se asume una <i>V<sub>CC</sub></i> y una<i> I<sub>C</sub></i> constante, en la medida que  aumenta <i>R<sub>C</sub></i>, aumenta  <i>V<sub>RC</sub></i>,  lo que limita la operaci&oacute;n de la FCDC a valores de <i>R<sub>C</sub></i> restringidos a la  relaci&oacute;n:<i> R<sub>C</sub></i>  &lt;<img src="img/revistas/rfiua/n67/n67a08e00a.gif">, donde <i>V<sub>CEmin</sub></i> corresponde al voltaje m&iacute;nimo del  transistor BJT para garantizar la operaci&oacute;n en un rango lineal. </p>       <p>&bull; Bajo las mismas condiciones  anteriores, si <i>R<sub>C</sub></i> es muy peque&ntilde;a, el elemento de  control deber&aacute; disipar una potencia de <i>P<sub>CE</sub></i>=( <i>V<sub>CC</sub></i> - <i>R<sub>C</sub></i> &bull; <i>I<sub>C</sub></i> ) &bull; <i>I<sub>C</sub></i>, lo cual restringe el valor de  dicha resistencia a la capacidad del elemento de control (transistor m&aacute;s  disipador).</p>       <p>&bull; Si se precisa una fuente que opere  en amplios rangos de corriente, es necesario entonces evaluar las restricciones  de  <i>V<sub>CC</sub></i>  y <i>R<sub>C</sub></i>. </p>       <p>De esta  manera, ''Dise&ntilde;ar una FCDC para un amplio rango de valores de corriente y  resistencias'', implica muchas limitaciones, exigiendo la restricci&oacute;n tanto  de rangos de corriente como de  <i>R<sub>C</sub></i>. </p>      <p><b><i>Restricciones de los transistores</i></b></p>        <p>Como  elemento de control en la FCDC se decidi&oacute; trabajar con  transistores BJT de potencia, dado que por su principio de operaci&oacute;n en su  regi&oacute;n activa, ofrece un comportamiento lineal de <i>I<sub>C</sub></i>, con lo que se puede esperar una <i>I<sub>C</sub></i> constante ante variaciones de la <i>R<sub>C</sub></i> &#91;6&#93; (<a href="#Figura2">figura 2</a>).</p>      <p align="center"><a name="Figura2"></a><img src="img/revistas/rfiua/n67/n67a08i02.gif"></p>      <p>No  obstante, al analizar los transistores operando bajo corrientes y potencias  relativamente altas, se evidenci&oacute; que esta propiedad es v&aacute;lida para rangos  peque&ntilde;os de  <i>I<sub>C</sub></i>.  Por ejemplo, al evaluar el comportamiento del transistor (MJ15025), que  nominalmente permite corrientes del orden de 15A &#91;10&#93;, se observ&oacute; que para valores de <i>I<sub>C</sub></i> aproximadamente de 3A, el  transistor no oper&oacute; linealmente y la <i>I<sub>C</sub></i> present&oacute; una variaci&oacute;n muy notoria  para cambios de  <i>V<sub>CE</sub></i>.</p>     <p>Esta dificultad, exigi&oacute; reevaluar los conceptos de  dise&ntilde;o y elecci&oacute;n del dispositivo de control (BJT), fuentes de alimentaci&oacute;n y  rangos de carga, que a su vez, motiv&oacute; proponer una metodolog&iacute;a que facilite al  dise&ntilde;ador elegir los elementos y rangos apropiados de trabajo, cuando se  dise&ntilde;en fuentes de corriente mediante transistores BJT, debido a que las  expresiones resultantes del an&aacute;lisis circuital,  evidencian la importancia de  controlar cada uno de los par&aacute;metros involucrados, con el fin de conocer el  punto de linealidad de la <i>I<sub>C</sub></i> y  mantener un nivel de potencia adecuado del dispositivo de control.</p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<p>&nbsp;</p>     <p><font size="3"><b>Metodolog&iacute;a</b></font></p>        <p>Como  resultado del an&aacute;lisis y restricciones mencionadas, es clara la dificultad de  dise&ntilde;ar fuentes de corriente en amplios rangos de operaci&oacute;n, evidenci&aacute;ndose la  necesidad de facilitar la elecci&oacute;n de los dispositivos ajustados a las  necesidades y condiciones m&aacute;s apropiadas para el dise&ntilde;o de una FCDC basada en  transistores BJT; para ello, se propone un procedimiento sistem&aacute;tico que ayuda  a identificar la regi&oacute;n de trabajo del transistor y los rangos de tensi&oacute;n y  carga soportados por el elemento de control.</p>      <p><b><i>El transistor BJT como elemento de control de una FCDC</i></b></p>      <p>La regi&oacute;n  de trabajo del transistor estar&aacute; dada por el rango de valores de <i>R<sub>C</sub></i>, que permite una <i>I<sub>C</sub></i> constante ante las variaciones de <i>R<sub>C</sub></i>, lo cual se puede lograr bien sea  controlando la corriente de base (<i>I<sub>B</sub></i> ) por medio de la tensi&oacute;n de  control (<i>V<sub>DC</sub></i>),  o variando la  resistencia de base  (<i>R<sub>B</sub></i>) (<a href="#Figura3">figura 3</a>).</p>      <p align="center"><a name="Figura3"></a><img src="img/revistas/rfiua/n67/n67a08i03.gif"></p>     <p align="center">&nbsp;</p>     <p>Para  encontrar la regi&oacute;n de trabajo del transistor BJT como elemento de control en  una FCDC, se propone:</p>       <p>1. Hallar las  curvas carter&iacute;sticas reales del transistor a utilizar. Te&oacute;ricamente deber&aacute;n ser  similares a las curvas mostradas en la <a href="#Figura2">figura 2</a>, sin embargo, cuando los  valores de  <i>I<sub>C</sub></i>  son relativamente altos, las curvas difieren mucho de las ideales y las  tensiones de codo  (<i>V<sub>SA</sub></i>) var&iacute;an significativamente con la corriente (<a href="#Figura4">figura 4</a>); adicionalmente, la <i>I<sub>C</sub></i> deja de ser constante, por lo que  es muy importante registrar el punto donde dicha corriente es aproximadamente  constante ante las variaciones de <i>V<sub>CE</sub></i>.</p>       <p>2. Identificar el  voltaje de saturaci&oacute;n  <i>V<sub>SA</sub></i>,  valor que permitir&aacute; definir la resistencia m&aacute;xima de carga (<i>R<sub>max</sub></i>) (<a href="#Figura4">figura 4</a>).</p>       ]]></body>
<body><![CDATA[<p>3. Definir la <i>I<sub>C</sub></i> deseada, identificar la <i>I<sub>B</sub></i> con lo cual es posible calcular la  ganancia del transistor (&beta;), expresi&oacute;n (4).</p>      <p><img src="img/revistas/rfiua/n67/n67a08e04.gif"></p>        <p>4. Graficar la  curva de potencia m&aacute;xima  (<i>P<sub>Cmax</sub></i>), valor  que depender&aacute; de la capacidad del transistor. Se recomienda manejar potencias  de aproximadamente el 25% de la capacidad te&oacute;rica m&aacute;xima registrada en la hoja  de datos t&eacute;cnicos del dispositivo &#91;10&#93;, este dato es indispensable para el  c&aacute;lculo de la resistencia m&iacute;nima de carga (<i>R<sub>min</sub></i>) (<a href="#Figura4">figura 4</a>).</p>      <p align="center"><a name="Figura4"></a><img src="img/revistas/rfiua/n67/n67a08i04.gif"></p>     <p align="center">&nbsp;</p>     <p>En la <a href="#Figura4">figura 4</a> se  presentan las curvas caracter&iacute;sticas para un transistor BJT, siendo la regi&oacute;n  de trabajo la delimitada por los puntos de intersecci&oacute;n de la curva de <i>I</i><sub><i>B</i>1</sub> con la  curva de  <i>P<sub>Cmax</sub></i> y con <i>V</i><sub><i>SA</i>1</sub>.</p>       <p>Observ&aacute;ndose  que para una  <i>I</i><sub><i>B</i></sub>  relativamente alta (<i>I</i><sub><i>Bn</i></sub>), la l&iacute;nea de tensi&oacute;n de codo  recta de  <i>I</i><sub><i>C</i></sub>  por encima de la equipotencial  <i>P<sub>Cmax</sub></i>, indicando  que este valor de  <i>I</i><sub><i>C</i></sub>  est&aacute; por fuera de la regi&oacute;n de trabajo; adicionalmente, en la medida que se  aumenta  <i>I</i><sub><i>B</i></sub>,  la pendiente de la  <i>I</i><sub><i>C</i></sub>  en la regi&oacute;n activa cambiar&aacute;, y por tanto &eacute;sta no ser&aacute; constante.</p>       <p>La <a href="#Figura4">figura 4</a>  ilustra el caso particular de la <i>I</i><sub><i>B</i>1</sub>, en el cual se identifica las  rectas de carga permitidas, cuando se polariza el sistema con una tensi&oacute;n <i>I</i><sub><i>CC</i></sub>.  La pendiente de las rectas, en cada caso definir&aacute;n <i>R<sub>min</sub></i> y <i>R<sub>max</sub></i> para garantizar que la fuente de  corriente sea constante y que no exceda los l&iacute;mites de potencia ni de operaci&oacute;n  &#91;5-6&#93;. En consecuencia, a medida que se va aumentandoI_B, se disminuye el rango  de variaci&oacute;n de la resistencia de carga &#91;<i>R<sub>min</sub></i>  &ndash; <i>R<sub>max</sub></i>&#93;. Obs&eacute;rvese la dependencia de  este rango con los valores obtenidos anteriormente: <i>P<sub>Cmax</sub></i>,<i> P<sub>CEmax</sub></i>,<i> V<sub>SA</sub></i> y  la  <i>V<sub>CC</sub></i> .</p>      <p><b><i>Rango de resistencia de carga</i></b></p>        <p>Conocidas  las caracter&iacute;sticas y limitaciones del transistor, el procedimiento para hallar  las resistencias  <i>R<sub>min</sub></i>  y  <i>R<sub>max</sub></i> de cada curva, para una fuente de corriente espec&iacute;fica, es el siguiente:</p>       ]]></body>
<body><![CDATA[<p>a)  Se define una <i>V<sub>CC</sub></i>.</p>       <p>b)  Se registran los datos medidos en las pruebas de laboratorio y se hallan las  curvas caracter&iacute;sticas del transistor. Tom&aacute;ndose los siguientes datos: <i>V<sub>DC</sub></i>, Voltaje base-emisor (<i>V<sub>BE</sub></i>), &nbsp;<i>I<sub>B</sub></i>, <i>V<sub>RC</sub></i> , <i>I<sub>C</sub></i>  , &beta;, <i>V<sub>SA</sub></i>.</p>       <p>c) Se define la curva equipotencial,  con base en la capacidad del transistor &#91;11&#93;. En la <a href="#Figura5">figura 5</a>, se ilustra un  conjunto de curvas para diferentes potencias.</p>       <p>d) El cruce de la curva de <i>I</i><sub><i>C</i>1</sub> deseada, con la curva  equipotencial del transistor, definir&aacute; el <i>V<sub>CEmax</sub></i> admisible para no destruir el  transistor (<a href="#Figura4">figura 4</a>).</p>       <p>e) Se  hallan las resistencias  <i>R<sub>min</sub></i>  y  <i>R<sub>max</sub></i>  con las expresiones (5) y (6) respectivamente, estos 2 valores definir&aacute;n el  rango d&oacute;nde la  <i>I<sub>C</sub></i> permanecer&aacute;  aproximadamente constante. Las ecuaciones (5) y (6), se deducen de la <a href="#Figura4">figura 4</a>.</p>      <p><img src="img/revistas/rfiua/n67/n67a08e05.gif"></p>      <p align="center"><a name="Figura5"></a><img src="img/revistas/rfiua/n67/n67a08i05.gif"></p>     <p align="center">&nbsp;</p>     <p>Es  importante resaltar que para una FCDC definida, los rangos de <i>R<sub>C</sub></i> var&iacute;an ostensiblemente con <i>V<sub>CC</sub></i>, de tal suerte que cuando se  requieren peque&ntilde;as corrientes, es posible polarizar el transistor con tensiones  relativamente altas, con lo que el rango de resistencias de carga se hace m&aacute;s  amplio, mientras que para valores de corriente muy altas, <i>V<sub>CC</sub></i> ha de ser relativamente peque&ntilde;o  para garantizar un rango de <i>R<sub>C</sub></i> que permita mantener constante el  valor deseado de corriente. Esta dependencia est&aacute; restringida por las  caracter&iacute;sticas y requerimientos de la aplicaci&oacute;n.</p>      <p><b><i>FCDC implementada</i></b></p>      ]]></body>
<body><![CDATA[<p>Con el fin  de ejemplificar los procedimientos y validar el an&aacute;lisis previo, se dise&ntilde;&oacute; e  implement&oacute; un prototipo de FCDC de 2A organizado por m&oacute;dulos (M) que  representan cada una de las partes del prototipo desarrollado (<a href="#Figura6">figura 6</a>):</p>       <p>&bull; M1  garantiza mediante una fuente de tensi&oacute;n regulada, una <i>I<sub>B</sub></i> que controla la <i>I<sub>C</sub></i> deseada. </p>       <p>&bull; M2  suministra la tensi&oacute;n necesaria para alimentar la FCDC, que permite polarizar  el transistor. La tensi&oacute;n se obtiene mediante: la transformaci&oacute;n de la magnitud  de la se&ntilde;al de 110V<sub>ac-rms</sub> a 36,7V<sub>ac-rms</sub>, la  rectificaci&oacute;n y el filtrado de la se&ntilde;al, para disminuir el rizado. Con ello se  logra un de 49,1V<sub>dc</sub>, que no requiere ser muy regulado.</p>      <p align="center"><a name="Figura6"></a><img src="img/revistas/rfiua/n67/n67a08i06.gif"></p>     <p align="center">&nbsp;</p>     <p><b><i>Desarrollo de la metodolog&iacute;a (Caso de Estudio)</i></b></p>        <p>Con miras a  ilustrar la metodolog&iacute;a propuesta, a continuaci&oacute;n se explica el procedimiento  seguido, en el dise&ntilde;o de la fuente de 2A.</p>       <p>Se hallaron las  curvas caracter&iacute;sticas reales del transistor MJ15025, para determinar su variaci&oacute;n de  ganancia con el cambio de  <i>I<sub>B</sub></i> e <i>I<sub>C</sub></i>,  con miras a identificar la regi&oacute;n activa del transistor; adem&aacute;s, se identific&oacute;  el rango de tensi&oacute;n que hay entre <i>V<sub>SA</sub></i> y la intercepci&oacute;n con la curva  equipotencial, siendo estos los l&iacute;mites para evitar el calentamiento excesivo  del transistor.</p>       <p>De las curvas  reales del transistor halladas con un osciloscopio digital, partiendo del  montaje de la <a href="#Figura7">figura 7</a> y cambiando la <i>I<sub>B</sub></i>, se tom&oacute; la medida de <i>I<sub>C</sub></i> y <i>V<sub>SA</sub></i>, para cada caso. Se registraron  otros par&aacute;metros de inter&eacute;s como: la tensi&oacute;n base-emisor (<em>V<sub>BE</sub></em>)  , <em>V<sub>CC</sub></em> y <em>R<sub>B</sub></em>.</p>      <p align="center"><a name="Figura7"></a><img src="img/revistas/rfiua/n67/n67a08i07.gif"></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center">&nbsp;</p>     <p>Es importante  garantizar que las curvas caracter&iacute;sticas del transistor utilizado, presente el  comportamiento mostrado en la <a href="#Figura2">figura 2</a>. Por tanto, para determinar los  par&aacute;metros reales del transistor (MJ15025), se polariz&oacute; el transistor a una  tensi&oacute;n de 49,1V<sub>dc</sub>, poni&eacute;ndose una <i>R<sub>C</sub></i> y una <i>R<sub>B</sub></i> aproximadamente constante de 14&Omega; y  220&Omega; respectivamente, y se vari&oacute; <i>V<sub>DC</sub></i> para obtener una variaci&oacute;n de <i>I<sub>B</sub></i> con el fin de determinar la variaci&oacute;n  de la  <i>I<sub>C</sub></i>,  la estabilidad de la ganancia y la capacidad m&aacute;xima del transistor.</p>       <p>En la <a href="#Tabla1">tabla 1</a> se registran los valores y par&aacute;metros medidos experimentalmente. A partir de  estos valores, se observa que la corriente m&aacute;xima obtenida con este tipo de  transistor, sin causar da&ntilde;os a &eacute;ste fue de aproximadamente 3A, a pesar de que  su capacidad te&oacute;rica es de 15A &#91;10&#93;. Para un incremento mayor de corriente, la  ganancia deja de ser constante, lo que disminuye la eficiencia del transistor,  y la potencia aumenta considerablemente a medida que se incrementa <i>I<sub>C</sub></i>. Es de resaltar que la tensi&oacute;n  entregada por el transformador que se utiliz&oacute; para polarizar el transistor,  permite una regi&oacute;n de trabajo mayor, sin embargo la potencia m&aacute;xima que puede  soportar el transistor la limita.</p>      <p align="center"><a name="Tabla1"></a><img src="img/revistas/rfiua/n67/n67a08t01.gif" ></p>     <p align="center">&nbsp;</p>     <p><b><i>C&aacute;lculo de resistencias m&iacute;nima y  m&aacute;xima</i></b></p>        <p>Despu&eacute;s de  obtener las restricciones y par&aacute;metros del transistor MJ15025 (<a href="#Tabla1">tabla 1</a>), se  procedi&oacute; al dise&ntilde;o de la fuente de corriente, definiendo que la <i>I<sub>C</sub></i> ser&iacute;a de 2A. El procedimiento  utilizado para hallar la  <i>R<sub>min</sub></i>  y  <i>R<sub>max</sub></i>  fue:</p>       <p>a)  Se grafic&oacute; la curva de trabajo del transistor para una <i>I<sub>B</sub></i>=15,399 mA (<a href="#Figura8">figura 8</a>), ajustada mediante la  resistencia  <i>R<sub>B</sub></i>  de 280&Omega;.</p>       <p>b)  Se estableci&oacute; la tensi&oacute;n de polarizaci&oacute;n <i>V<sub>CC</sub></i>=49,1 <i>Vdc</i> como la m&aacute;xima tensi&oacute;n para hallar  las resistencias de carga.</p>       <p>c) Se grafic&oacute; la curva equipotencial,  buscando el valor de tensi&oacute;n  <i>V<sub>CEmax</sub></i>  para  <i>I<sub>C</sub></i>,  tal que no supere la potencia m&aacute;xima elegida (<a href="#Figura8">figura 8</a>).</p>       ]]></body>
<body><![CDATA[<p>d)  La potencia m&aacute;xima del transistor <i>MJ15025</i>, seg&uacute;n las especificaciones del  fabricante, es de 250W, no obstante, a pesar de que al transistor se fij&oacute; un  buen disipador, cuando se superaban los 90W &eacute;ste se quemaba, por dicha raz&oacute;n un  criterio muy conservador para la selecci&oacute;n de la potencia m&aacute;xima del transistor  es la del 25% de su capacidad m&aacute;xima &#91;11&#93;. Para el dise&ntilde;o de la FCDC se opt&oacute;  por trabajar con la curva equipotencial de 79W, la cual se encuentra entre la  potencia m&aacute;xima permitida sin da&ntilde;ar el elemento de control y la potencia  establecida con el criterio del 25%.</p>     <p>e) Se hallaron las resistencias <i>R<sub>min</sub></i> y <i>R<sub>max</sub></i>, con  las ecuaciones (5) y (6), obteni&eacute;ndose <i>R<sub>min</sub></i>= 4,8&Omega; y <i>R<sub>max</sub></i>= 23,95&Omega;, siendo estos valores los l&iacute;mites del  rango de la resistencia de carga para mantener aproximadamente constante la  corriente de 2A en la FCDC con el transistor utilizado.</p>      <p align="center"><a name="Figura8"></a><img src="img/revistas/rfiua/n67/n67a08i08.gif"></p>     <p align="center">&nbsp;</p>     <p>La FCDC  desarrollada fue sometida a algunas pruebas para verificar el rango de  operaci&oacute;n y la estabilidad de la corriente en el momento de variar la <i>R<sub>C</sub></i>. En la <a href="#Tabla2">tabla 2</a> se presentan algunos  resultados obtenidos de las variables que deben permanecer aproximadamente  constantes  (<i>V<sub>CC</sub></i>, <i>V<sub>RB</sub></i>, <i>V<sub>BE</sub></i> y <i>I<sub>C</sub></i> ) y de las variables que cambian  debido al incremento de la carga (<i>R<sub>C</sub></i>, <i>V<sub>CE</sub></i> &nbsp;y <i>P<sub>CE</sub></i>).</p>      <p align="center"><a name="Tabla2"></a><img src="img/revistas/rfiua/n67/n67a08t02.gif" ></p>     <p align="center">&nbsp;</p>     <p>Los  resultados de la <a href="#Tabla2">tabla 2</a> muestran que, para un aumento de 395.6% en la <i>R<sub>C</sub></i> con respecto a la resistencia  m&iacute;nima, el cambio que se present&oacute; en la <i>I<sub>C</sub></i> fue de un 18,6% con respecto a la  m&aacute;xima corriente; adem&aacute;s, la potencia en el transistor disminuy&oacute; a medida que  se increment&oacute; la carga. Bajo estas condiciones de dise&ntilde;o fue posible mantener  una  <i>I<sub>C</sub></i>  aproximadamente constante, donde el l&iacute;mite de potencia m&aacute;ximo seleccionado  evit&oacute; el calentamiento excesivo del transistor.</p>      <p>&nbsp;</p>     <p><font size="3"><b>Conclusiones</b> </font></p>         ]]></body>
<body><![CDATA[<p>Se  desarroll&oacute; una metodolog&iacute;a que permite encontrar la regi&oacute;n activa de cualquier  transistor BJT utilizado en el esquema de FCDC (<a href="#Figura7">figura 7</a>), a partir de las  curvas caracter&iacute;sticas, teniendo en cuenta: la tensi&oacute;n de polarizaci&oacute;n, la  tensi&oacute;n de codo y la potencia m&aacute;xima que soporta el dispositivo de control. Con  estos par&aacute;metros, se encuentra el rango espec&iacute;fico de resistencias que  garantiza que la corriente de carga sea constante.</p>        <p>Se utiliz&oacute;  la metodolog&iacute;a propuesta para encontrar la regi&oacute;n activa de un transistor BJT  MJ15025, y se desarroll&oacute; un prototipo de FCDC de 2A (<a href="#Figura6">figura 6</a>). El rango de  resistencias que garantiz&oacute; la salida constante de corriente fue entre 4,8&Omega; y  23,95&Omega; (<a href="#Tabla2">tabla 2</a>); obteni&eacute;ndose, para una variaci&oacute;n en la carga del 395.6%, un  cambio en la corriente de carga del 18,6%.</p>        <p>Se observ&oacute;  que en una FCDC que tenga como elemento de control un transistor, se deber&aacute;  definir adecuadamente su regi&oacute;n de trabajo, con el fin de garantizar la  corriente de carga aproximadamente constante (regi&oacute;n activa), la cual a su vez  est&aacute; limitada por la potencia m&aacute;xima que disipa el transistor. Por esta raz&oacute;n y  apoyados en trabajos previos &#91;11&#93;, se  propone trabajar con el 25% de  la potencia nominal del transistor, criterio que resulta ser conservador,  evitando el calentamiento excesivo del transistor y garantizando as&iacute; una  relaci&oacute;n lineal entre la corriente de base y de colector.</p>        <p>La potencia  del dispositivo de control es un par&aacute;metro de suma importancia en el desarrollo  de FCDC, puesto que la dependencia con la resistencia de carga y el voltaje de  polarizaci&oacute;n crean una limitante en el manejo de altas potencias. Para evitar  esto, se requiere variar la fuente de polarizaci&oacute;n, en la medida que var&iacute;e la  resistencia de carga, para una corriente determinada.</p>          <p>&nbsp;</p>        <p><font size="3"><b>Referencias</b> </font></p>       <!-- ref --><p>1. L. Marshall. ''Circuits  and Systems Expositions on the Application of Thevenin and Norton Equivalent  Circuits and Signal Flow Graphs to the Small-Signal Analysis of Active  Circuits''. <i>IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Fundamental  Theory and Application</i>. Vol. 43. 1996. pp. 885-893.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000119&pid=S0120-6230201300020000800001&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>        <!-- ref --><p>2. F. Mohamed. ''On  Thevenin's and Norton's Equivalent Circuits''. <i>IEEE Transactions  on Education</i>.  Vol. 25. 1982. pp. 99-102.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000121&pid=S0120-6230201300020000800002&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>        ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p>3. H. Zhao. <i>Discussion on the Thevenin's theorem and Norton's theorem</i>. International  Conference on Electronic  &amp; Mechanical Engineering and Information Technology. Harbin, Heilongjiang,  China. 2011. pp 520-522.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000123&pid=S0120-6230201300020000800003&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>        <!-- ref --><p>4. W. Hayt. <i>An&aacute;lisis en  circuitos en ingenier&iacute;a</i>. 7<sup>th</sup> ed. Ed. McGraw-Hill. M&eacute;xico D.F, M&eacute;xico. 2010. pp. 131&shy;145.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000125&pid=S0120-6230201300020000800004&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>        <!-- ref --><p>5. Bruce. A. <i>Circuitos - Ingenier&iacute;a, conceptos y  an&aacute;lisis de circuitos el&eacute;ctricos lineales</i>. Ed. Thomson Learning. M&eacute;xico D.F,  M&eacute;xico. 2001. pp. 66-78.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000127&pid=S0120-6230201300020000800005&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>        <!-- ref --><p>6. R. Boylestad, L. Nashelsky. <i>Electronic  Devices and Circuit Theory</i>. 6<sup>th</sup> ed. Ed. Prentice -Hall Inc. A Simon &amp; Schuster  Company. New Jersey, US. 1997. pp.138&shy;180.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000129&pid=S0120-6230201300020000800006&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>        <!-- ref --><p>7. H. Rashid. <i>Electr&oacute;nica de  potencia: circuitos, dispositivos y aplicaciones</i>. 2<sup>nd</sup>  ed. Ed. Pearson Education. M&eacute;xico D.F, M&eacute;xico. 1995. pp. 267-287.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000131&pid=S0120-6230201300020000800007&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </p>        ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p>8. S. Ern&eacute;,  H. Luther. ''High-Precision  DC-Current Source''. <i>IEEE  Transactions on Instrumentation and Measurement</i>. Vol. 24. 1975. pp. 345-348.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000133&pid=S0120-6230201300020000800008&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>        <!-- ref --><p>9. D.  Holburn. <i>A current source based on  JFET</i>. Departament of Engeering, University of Cambridge.  Available on: <a href="http://www.eng.cam.ac.uk"target="_blank">http://www.eng.cam.ac.uk</a>. Accessed: 2-May-2010.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000135&pid=S0120-6230201300020000800009&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>        <!-- ref --><p>10. Semiconductor Components  Industries.  <i>Silicon Power Transistor</i>. Available on: <a href="http://www.datasheetcatalog.org/datasheet2/6/0e6c74usfjjslcuocssiwi9j1p4cy.pdf"target="_blank">http://www.datasheetcatalog.org/datasheet2/6/0e6c74usfjjslcuocssiwi9j1p4cy.pdf</a>.  Accessed: 1-Nov-2009.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000137&pid=S0120-6230201300020000800010&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>      <!-- ref --><p>11. Y. Osorno.  <i>Dise&ntilde;o e implementaci&oacute;n  de fuentes de corriente  DC, para  aplicaciones did&aacute;cticas en el laboratorio de circuitos el&eacute;ctricos</i>. Trabajo de Grado. Universidad de Antioquia.  Medell&iacute;n, Colombia. 2011. pp. 51-64.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000139&pid=S0120-6230201300020000800011&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>        <p>&nbsp;</p>      ]]></body><back>
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